项目二极管性能测试
项目3二极管性能测试
一、实训目的
（1）了解二极管的结构和性能特点；
（2）测试普通二极管的单向导电性；
（3）学习绘制二极管伏安特性曲线；
（4）树立仪表的精度及误差等基本意识；
二、实训器材
三、基础知识
1、二极管概述
晶体二极管为一个由P型半导体和N型半导体形成的PN结，在其界面处两侧形成空间电荷层，具有单向导电性，当外界有正向电压偏置时，外界点成和自建电场的互相抑消作用使载流子的扩散电流增加引起了正向电流；当外界有反向电压偏置时，外界电场和自建电场进一步加强，形成在一定反向电压范围内与反向偏置电压值无关的反向饱和电流I0；当外加的反向电压高到一定程度时，PN结空间电荷层中的电场强度达到临界值产生载流子的倍增过程，产生大量电子空穴对，产生了数值很大的反向击穿电流，成为二极管的击穿现象。在正向偏置状态下，当加在二极管两端的正向电压很小时，二极管仍然不能导通，通过二极管的正向电流十分微弱，只有当正向电压达到某一数值（死区电压，鍺管约为0.2V，硅管约为0.7V）时，二极管才能真正导通，导通后二极管两端的电压基本保持不变（鍺管约为0.3V，硅管约为0.7V），成为二极管的“正向压降”。
二极管的种类很多，根据用途不同，有整流二极管、稳压二极管、开关二极管、发光二极管等。不同二极管的作用不同，稳压二极管具有稳压的作用，工作在反向击穿状态。
2、二极管好坏的检测
根据二极管的单相导电性，可用数字万用表测试二极管性能的好坏。测试前先把万用表的转换开关拨到欧姆档的RX1K档位（注意不要使用RX1，以免电流过大烧坏二极管）。将万用表红黑表笔分别接到二极管的阳极和阴极，若正向电阻小，反向电阻大，则二极管可以使用，若正、反向电阻都很小，说明二极管短路损坏，若正反向电阻接近无穷大值，说明二极管断路损坏。
3、二极管伏安特性曲线
任何一个二端元件的特性都可以用这个元件上的端电压U与通过该元件的电流I之间的函数关系I=f(U)来表示即用I---U平面上的一条曲线来表示。这条曲线称为该元件的伏安特性曲线。线性电阻器的伏安特性曲线是一条通过坐标原点的直线，该直线的斜率等于该电阻器的电阻值的倒数。
一般的白炽灯的灯丝在工作时处于高温状态，其电阻值随着温度的升高而增大。通过白炽灯的电流越大，其温度越高，阻值也越大。一般灯泡的“冷电阻”和“热电阻”的阻值可相差几倍至几十倍。
一般的半导体二极管是一个非线性电阻元件，其正向压降很小（一般的锗管为0.2--0.3伏，硅管为0.5--0.7伏），正向电流随正向压降的升高而急骤上升，而反向电压从零一直增加到十多伏甚至几十伏时，其反向电流增加很小，可视为零。二极管具有单向导电性，但是反向电压加得过高，超过管子的极限值，则会导致管子击穿损坏。
稳压二极管是一种特殊的半导体二极管，其正向特性与普通二极管类似，但反向特性较特别，在反向电压开始增加时，其反向电流几乎为零，但当电压增加到一定数值时，电流将突然增加。之后它的端电压将基本维持恒定，当外加的反向电压继续升高时其端电压仅有少量增加。
注意：流过二极管或稳压二极管的电流不能超过管子的极限值，否则管子会被烧坏。
4、二极管伏安特性测试方法
测定半导体二极管的伏安特性
将二极管串接于电路中，使用稳压电源提供电路电源，调节稳压电源的输出电压U。先将二极管的正接于电路，观察不同电源值下所对应的电流值，注意其正向电流不得超过35mA，
U可在0---0.75V之间进行取值。在0.5---0.75V之间应该多取几个测二极管的D的正向施压
D
+
U可达30V，记录所对应测量量点。测反向特性时，只需将二极管D反接，且其反向施压
D
-
点的电流值。
U
四、任务实施
任务一：用数字万用表测量二极管好坏及其极性
方法1：使用数字万用表二极管档，红黑表笔分别接于二极管的两端。 方法2：把万用表的转换开关拨到欧姆档的RX1K 档位（注意不要使用RX1，以免电流
过大烧坏二极管）。将万用表红黑表笔分别接到二极管的阳极和阴极，若正向电阻小，反向电阻大，则二极管可以使用，若正、反向电阻都很小，说明二极管短路损坏，若正反向电阻接近无穷大值，说明二极管断路损坏。
任务二：半导体二极管的伏安特性曲线
（1） 将二极管正向串接于电路中，调节稳压电源的输出电压U ；
（2） 改变输出电压值，二极管的D 的正向施压 D U 可在0---0.75V 之间进行取值。在
0.5---0.75V 之间应该多取几个测量点。记录所对应的电流值；
（3） 将二极管反向串联在电路中，调节稳压电源的输出电压U ，记录所对应的电流值； （
4） 将所得值绘制成曲线，即得伏安特性曲线。
注：1、测二极管正向特性时，稳压电源输出应从小到大逐渐增加，应时刻注意电流表读数。 2、进行不同测量时，应先估算电压和电流值，合理选择仪表的量程，勿使被测量超过仪表量程。仪表的极性也不可接错。
任务三：半波整流电路测试
将整流二极管正向串接于电路中，用信号发生器提供一定频率、幅值的V1，将示波器观察输出端电压波形。
任务四：认识并检测发光二极管
驱动几个发光二极管，观察发光二极管类型，发光二极管正常工作时的正向导通电压，以及电流。
使用数字万用表二极管档，红黑表笔分别接于发光二极管的两端（通常情况下发光二极管长管脚为阳极，短管脚为负极），正向连接时可观察到发光二极管的正向导通电压，使用数字万用表与发光二极管串联，观察发光二极管的工作电流。
任务五：整理、清洁
（1）将所有元器件放入元器件盒内，清点元器件数量及类别，如有损坏，及时向老师报告；
（2）将数字万用表置于合理的档位，拔下表笔，规整放入对应的包装盒内；
（3）将所有仪表、元器件放在工位对应位置，整齐有序；
（4）清洁工位及附近区域。
（5）
2 光电二级管特性
课程设计任务书 课程设计任务书
目录： 实验目的 (1) 实验内容 (1) 实验仪器 (1) 实验原理 (1) 注意事项 (4) 实验步骤 (5) 实验结果 (12) 实验总结 (15) 参考文献 (15)
光电二极管特性测试实验 一、实验目的 1、学习光电二极管的基本工作原理； 2、掌握光电二极管的基本特性参数及其测量方法，并完成对其光照灵敏度、伏安特性、时间响应特性和光谱响应特性的测量； 3、通过学习，能够对其他光伏器件有所了解。 二、实验内容 1、光电二极管暗电流测试实验 2、光电二极管伏安特性测试实验 3、光电二极管光照特性测试实验 4、光电二极管时间特性测试实验 5、光电二极管光谱特性测试实验 三、实验仪器 1、光电二极管综合实验仪 1个 2、光通路组件 1套 3、光照度计 1个 4、电源线 1根 5、2#迭插头对（红色，50cm） 10根 6、2#迭插头对（黑色，50cm） 10根 7、三相电源线 1根 8、实验指导书 1本 四、实验原理 1、概述 随着光电子技术的发发展,光电检测在灵敏度、光谱响应范围及频率我等技术方面要求越来越高，为此，近年来出现了许多性能优良的光伏检测器，如硅锗光电二极管、PIN光电二极管和雪崩光电二极管（APD）等。光敏晶体管通常指光电二极管和光电三极管，通常又称光敏二极管和三敏三极管。 光敏二极管的种类很多，就材料来分，有锗、硅制作的光敏二极管，也有III－V族化合物及其他化合物制作的二极管。从结构我来分，有PN结、PIN结、异质结、肖特基势垒及点接触型等。从对光的响应来分，有用于紫外光、红外光等种类。不同种类的光敏二极管，具胡不同的光电特性和检测性能。例如，锗光敏二极管与硅光敏二极管相比，它在红外光区域有很大的灵敏度，如图所示。这是由于锗材料的禁带宽度较硅小，它的本征吸收限处于红外区域，因此在近红外光区域应用；再一方面，锗光敏二极管有较大的电流输出，但它比硅光敏二极管有较大的反向暗电流，因此，它的噪声较大。又如，PIN型或雪崩型光敏二极管与扩散型PN结光敏二极管相比具有很短的时间响应。因此，在使用光敏二极管进要了解其类型及性能是非常重要的。 光敏二极管和光电池一样，其基本结构也是一个PN结。与光电池相比，它的突出特点是结面积小，因此它的频率特性非常好。光生电动势与光电池相同，
web项目测试实战性能测试结果分析样章报告
5.4.2测试结果分析 LoadRunner性能测试结果分析是个复杂的过程，通常可以从结果摘要、并发数、平均事务响应时间、每秒点击数、业务成功率、系统资源、网页细分图、Web服务器资源、数据库服务器资源等几个方面分析，如图5- 1所示。性能测试结果分析的一个重要的原则是以性能测试的需求指标为导向。我们回顾一下本次性能测试的目的，正如错误！未找到引用源。所列的指标，本次测试的要求是验证在30分钟内完成2000次用户登录系统，然后进行考勤业务，最后退出，在业务操作过程中页面的响应时间不超过3秒，并且服务器的CPU 使用率、内存使用率分别不超过75%、70%，那么按照所示的流程，我们开始分析，看看本次测试是否达到了预期的性能指标，其中又有哪些性能隐患，该如何解决。 图5- 1性能测试结果分析流程图 结果摘要 LoadRunner进行场景测试结果收集后，首先显示的该结果的一个摘要信息，如图5- 2所示。概要中列出了场景执行情况、“Statistics Summary（统计信息摘要）”、“Transaction Summary（事务摘要）”以及“HTTP Responses Summary（HTTP响应摘要）”等。以简要的信息列出本次测试结果。 图5- 2性能测试结果摘要图
场景执行情况 该部分给出了本次测试场景的名称、结果存放路径及场景的持续时间，如图5- 3所示。从该图我们知道，本次测试从15:58:40开始，到16:29:42结束，共历时31分2秒。与我们场景执行计划中设计的时间基本吻合。 图5- 3场景执行情况描述图 Statistics Summary（统计信息摘要） 该部分给出了场景执行结束后并发数、总吞吐量、平均每秒吞吐量、总请求数、平均每秒请求数的统计值，如图5- 4所示。从该图我们得知，本次测试运行的最大并发数为7，总吞吐量为842,037,409字节，平均每秒的吞吐量为451,979字节，总的请求数为211,974，平均每秒的请求为113.781，对于吞吐量，单位时间内吞吐量越大，说明服务器的处理能越好，而请求数仅表示客户端向服务器发出的请求数，与吞吐量一般是成正比关系。 图5- 4统计信息摘要图 Transaction Summary（事务摘要） 该部分给出了场景执行结束后相关Action的平均响应时间、通过率等情况，如图5- 5所示。从该图我们得到每个Action的平均响应时间与业务成功率。
软件开发的性能测试与研究
软件开发的性能测试与研究 随着计算机网络技术的普遍化，软件性能的重要性也越来越明显，软件性能掌控着硬件配置的提升和改变。系统结构由网络、数据库和服务器等多部分组成的，整个系统中的每个成员都有着不可替代的作用，其中任何一个环节出现问题都影响着整个系统的正常操作。因此，软件开发的性能测试被列为重要问题。 1 软件性能的理论认识 软件性能指的是软件系统或部分应用是否达到一定的要求，在实现的过程中是否具有良好的及时性。软件的性能不仅包括系统的响应时间还包括一些内部因素和外部因素，内部因素有软件架构、代码、数据库结构等，而外部条件则包括用户或其他一些工作人员操作内容等。目前为止软件性能是否达标主要表现在操作的响应时间，如果用户通过按钮发出相对应的程序指令，从开始的按钮操作到最后反应出相对结果，中间反应的过程就是用户对软件性能是否得到肯定的直观现象。当然软件性能的体现还通过对CPU和内存的利用率、数据的状况、系统的可扩展性等，有了这些对软件性能的认识，我们就能更好的提高系统性能。 2 软件性能测试方法 在软件性能测试过程中，如果掌握的方法不恰当就会变成很随意的测试行为，没有实际的作用，更达不到预期想要的效果，因此在测试过程中必须注意一定的方式方法。测试过程主要包括洞悉测试目的、
确定性能指标，规划测试策略等环节，测试的充分准备和结果的有效性直接影响着性能测试需求分析的好坏。因此软件性能测试目的主要验证软件性能在软件开发合同、预定的设计目标、用户现在或未来的应用需求等方面是否达到明确性的指标；在无明确性能标准的情况下，通过对软件支持的最大用户数量，各种差异环境下的变化和最低正常运行需要的支持情况，最佳条件下能做到的用户最大数据量等，也可以说是是否符合软件性能的验证。这种方法主要就是在性能测试中通过分析性能缺陷问题找出软件性能缺陷的原因，方便工作人员能提高软件的性能优化，这将使得测试工作的步伐更迈出了一大步。 2.1 检查式测试与度量式测试的不同及对比 目前条件下，固定的软件项目本身具有不同的系统特征和特性，测试人员为顾及多方位的考虑，选择测试方法也多种多样，例如：黑白盒测试、单元测试、功能测试、压力、安全及兼容性等方面的测试。在逼真、独立、无毒软件、硬件和网络环境下，所使用的最常见的测试方法是检查式测试与度量式测试。检查式测试一般包括跟踪客户需求、了解测试人员的测试目的、测试前的准备工作和测试过程中所用到的数据等，测试用例的最终目的就是验证软件系统的某一项功能是否顺利实现和实施。这种测试用例无法预知最终结果，也无法确定能否顺利实施下去，直接由最终的测试结果来发言，通过或者淘汰。这种先检验性的测试统称为检查式测验，概括的范围也较广，如单元测试和功能测试都包括在检查式测验中。度量式测验与检查式测验不同，是通过针对软件的一项特定功能基于周边多项指标数据量化而产生，
基于光电二极管反偏的光电检测电路的噪声分析
基于光电二极管反偏的光电检测电路的噪声分析 发表时间：2017-03-09T11:18:47.780Z 来源：《电力设备》2017年第1期作者：王风敏 [导读] 在光电检测电路设计时，应该尽可能地减小噪声，从而提升系统的检测分辨率和信噪比。 （池州学院安徽池州 247100） 摘要：噪声是目前影响光电检测电路检测性能的重要因素，在光电检测电路设计时，应该尽可能地减小噪声，从而提升系统的检测分辨率和信噪比。为此，本文就对基于光电二极管反偏的光电检测电路的噪声进行了分析，首先简单介绍了光电二极管检测电路，然后对基于光电二极管反偏的光电检测电路设计进行了分析，随后探讨了光电检测电路的噪声，最后提出了光电检测电路的总噪声及低噪声的设计原则，旨在为低噪声光电检测电路的设计提供帮助。 关键字：噪声；光电检测电路；光电二极管；反偏 引言 现如今，光电检测技术已经被广泛地应用于诸多领域，从理论的角度分析而言，利用光电检测电路能够将任何存在光辐射信号地方的信号检测出来。然而，在实际检测过程中，经光电二极管转换的光电信号是非常微弱的，经常出现被检测信号被噪声淹没的情况，严重影响的光电检测电路的检测能力。因此，对光电检测电路的噪声进行分析具有非常重要的意义。 1.光电二极管检测电路 1.1光电二极管工作原理 光电二极管主要是利用半导体通过光电效应实现光信号到电信号的转换。受热运动的影响，耗尽层两侧没有电场的中性区域内有一些以扩散运动方式的空穴与光生电子进入到耗尽层，然后受电场的作用形成扩散电流，且方向与漂移电流相一致。光生电流为扩散电流分量与漂移电流分量的总和。所以，当N层和P层的连接电路打开时，在它们的两端会产生一定的电动势，而该效应则被称之为光电效应。当P 层与N层的连接电路出现闭合时，N区的过剩电子与P区的空穴电流会相互流动，从而形成一种光生电流。光生电流会随着入射光的变化而进行线性改变，从而实现光信号到电信号的转变。 1.2低噪声光电检测线路设计的意义 通常情况下，通过光电二极管转换而得到的光电信号是较为微弱的，且在光电信号的检测极易受到噪声的干扰。实际情况表明，当通过光电来检测相关线路时，其中光电转换器件的前置放大电路噪声往往会对整个系统产生较为严重的影响，因此，要想提升系统的检测分辨率和信噪比，在设计光电检测电路时，必须尽量地降低噪声。 1.3噪声的实用性分析 通过分析光电检测电路中噪声产生的原因，并对其噪声特点进行分析，并针对电路设计过程中有可能出现的所有问题，尽可能地降低电路噪声，从而确保西戎检测分辨率与信噪比的提高。现如今，诸多领域中都涉及到了微弱光信号的检测，当然检测方法也是各式各样的，但就实际应用效果来看，一部分常用检测方法的灵敏度不是很高，在工作中往往无法满足相关要求，而利用光电技术对微弱信号进行检测，具有较高的精度和稳定性。 2.基于光电二极管反偏的光电检测电路设计 光电二极管的工作状态在光电检测电路中存在反偏、无偏、正偏三种。当光电二极管处于反偏状态时，在反偏偏压的作用下，光生截流子的运动会加快，与其它两种状态相比较而言，所产生的光电流更大，更有利于弱光条件下的检测。本文所研究的基于光电二极管反偏的光电检测电路的设计思路为：首先采用光电二极管连接反向高压，对微弱光信号进行探测，实现光信号到电流信号的转换；然后，再利用三极管实现电信号的流压转换；最后，再通过运算放大器来放大电压，从而完成对弱光信号检测。光电检测电路中的所有期器件都不可避免会产生相应的噪声，从而对整个电路的噪声输出产生不良的影响，下面本文就电路的噪声进行进一步分析。 3.光电检测电路的噪声 3.1光电二极管的噪声 （1）热噪声。热噪声指的是导电材料两端因其中截流子的不规则热运动而产生涨落的电流或电压，并且电流或电压的涨落是随机的。材料的噪声等效带宽、电阻及温度是决定材料热噪声电压的主要因素，其中电阻是主要的热噪声源，在电阻不变的情况下，减少温度及噪声等效带宽能够使热噪声得到有效地减少。 （2）散粒噪声。散粒噪声是指导电材料中由于光生截流子流动与形成密度的涨落而产生的噪声，散粒噪声电流和电压均方值取决于通过光电二极管的电流和噪声带宽，并且散粒噪声电压与电流的均方值与电流及噪声带宽呈正比例关系，减少电流和噪声带宽能够使散粒噪声得到有效地降低。在光电检测电路中，散粒噪声电流与热噪声电流是相互独立的，总电流的均方值为散粒噪声电流均方值与热噪声电流均方值之和。 3.2三极管的噪声 三极管的噪声主要取决于工作电流、发射结阻抗以及基区电阻等参数，光电检测电路设计时，应该选用噪声系数较小的三极管，同时，在对负载电阻的阻值进行确定时，需要对噪声与三极管静态放大倍数之间的关系进行充分地考虑，从而实现电路设计优化。 3.3运算放大器的噪声 光电检测电路中的运算放大器是由电容、电阻、晶体管等集成的，其中电阻和晶体管分别会产生相应的热噪声和散粒噪声。运算放大器的输出噪声电压与其自身的增益、带宽、模型以及反馈电阻等因素有关。在光电检测电路设计时，其它需求条件都满足的情况下，运算放大器应尽可能地选用小的，同时放大倍数确定后，对电路阻值进行调整时，应尽可能地减少反馈电阻的阻值，从而实现电路噪声的减少。 4.光电检测电路的总噪声及低噪声的设计 通过上文分析，我们不难得出光电检测电路主要包括光电二极管、三极管流压转换以及运算放大器三个模块，在对整个电路的噪声进行分析时，必须对这三部分进行级联。除与电路器件自身相关之外，光电检测电路的输出噪声电压还与其它众多因素相关联。（1）从理论的角度来看，三极管的负载电阻与其静态增益的并联值越小，电路噪声越小，越有利于检测，然而随着负载电阻与静态增益的减小，输出信号也在随之变小。因此，在实际条件过程中，应该首先尽可能地满足负载电阻的值，然后再结合负载电阻对静态增益进行调节。（2）从
APD光电二极管特性测试实验
APD光电二极管特性测试实验 一、实验目的 1、学习掌握APD光电二极管的工作原理 2、学习掌握APD光电二极管的基本特性 3、掌握APD光电二极管特性测试方法 4、了解APD光电二极管的基本应用 二、实验内容 1、APD光电二极管暗电流测试实验 2、APD光电二极管光电流测试实验 3、APD光电二极管伏安特性测试实验 4、APD光电二极管雪崩电压测试实验 5、APD光电二极管光电特性测试实验 6、APD光电二极管时间响应特性测试实验 7、APD光电二极管光谱特性测试实验 三、实验仪器 1、光电探测综合实验仪 1个 2、光通路组件 1套 3、光照度计 1台 4、光敏电阻及封装组件 1套 5、2#迭插头对（红色，50cm） 10根 6、2#迭插头对（黑色，50cm） 10根 7、三相电源线 1根 8、实验指导书 1本 9、示波器 1台 四、实验原理 雪崩光电二极管APD—Avalanche Photodiode是具有内部增益的光检测器，它可以用来检测微弱光信号并获得较大的输出光电流。 雪崩光电二极管能够获得内部增益是基于碰撞电离效应。当PN结上加高的反偏压时，耗尽层的电场很强，光生载流子经过时就会被电场加速，当电场强度足够高(约3x105V／cm)时，光生载流子获得很大的动能，它们在高速运动中与半导体晶格碰撞，使晶体中的原子电离，从而激发出新的电子一空穴对，这种现象称为碰撞电离。碰撞电离产生的电子一空穴对在强电场作用下同样又被加速，重复前一过程，这样多次碰撞电离的结果使载流子迅速增加，电流也迅速增大，这个物理过程称为雪崩倍增效应。 图6-1为APD的一种结构。外侧与电极接触的P区和N区都进行了重掺杂，分别以P+和N+表示；在I区和N+区中间是宽度较窄的另一层P区。APD工作在大的反偏压下，当反偏压加大到某一值后，耗尽层从N+-P结区一直扩展(或称拉通)到P+区，包括了中间的P层区和I区。图4的结构为拉通型APD的结构。从图中可以看到，电场在I区分布较弱，而在N+-P区分布较强，碰撞电离区即雪崩区就在N+-P区。尽管I区的电场比N+-P区低得多，但也足够高(可达2x104V／cm)，可以保证载流子达到饱和漂移速度。当入射光照射时，由于雪
Web性能测试方案
Web性能测试方案 1测试目的 此处阐述本次性能测试的目的，包括必要性分析与扩展性描述。 性能测试最主要的目的是检验当前系统所处的性能水平，验证其性能是否能满足未来应用的需求，并进一步找出系统设计上的瓶颈，以期改善系统性能，达到用户的要求。 2测试范围 此处主要描述本次性能测试的技术及业务背景，以及性能测试的特点。 编写此方案的目的是为云应用产品提供web性能测试的方法，因此方案内容主要包括测试环境、测试工具、测试策略、测试指标与测试执行等。 2.1测试背景 以云采业务为例，要满足用户在互联网集中采购的要求，实际业务中通过云采平台询报价、下单的频率较高，因此云采平台的性能直接决定了业务处理的效率，并能够支撑业务并发的压力。 例如：支撑100家企业用户的集中访问，以及业务处理要求。 2.2性能度量指标 响应时间（TTLB） 即“time to last byte”，指的是从客户端发起的一个请求开始，到客户端接收到从服务器端返回的响应结束，这个过程所耗费的时间，响应时间的单位一般为“秒”或者“毫秒”。响应时间＝网络响应时间+应用程序响应时间。 响应时间标准：
事务能力TPS（transaction per second） 服务器每秒处理的事务数； 一个事务是指一个客户机向服务器发送请求然后服务器做出反应的过程。 客户机在发送请求时开始计时，收到服务器响应后结束计时，一次来计算使用的时间和完成的事务个数。它是衡量系统处理能力的重要指标。 并发用户数 同一时刻与服务器进行交互的在线用户数量。 吞吐率（Throughput） 单位时间内网络上传输的数据量，也可指单位时间内处理的客户端请求数量，是衡量网络性能的重要指标。 吞吐率=吞吐量/传输时间 资源利用率 这里主要指CPU利用率（CPU utilization），内存占用率。 3测试内容 此处对性能测试整体计划进行描述，包括测试内容以及关注的性能指标。Web性能测试内容包含：压力测试、负载测试、前端连接测试。 3.1负载测试 负载测试是为了测量Web系统在某一负载级别上的性能，以保证Web系统在需求范围内能正常工作。负载级别可以是某个时刻同时访问Web系统的用户数量，也可以是在线数据处理的数量。例如：Web应用系统能允许多少个用户同时在线？如果超过了这个数量，会出现什么现象？Web应用系统能否处理大
软件开发系统性能测试报告
订单系统二期_Order接口 性能测试报告
目录 1.术语 (3) 2.测试环境 (3) 2.1服务器&客户端环境信息 (3) 3.测试场景 (4) 4.测试目的&策略 (5) 5.结果分析 (5) 5.1基本数据统计分析&对比 (5) 5.1.1.测试场景PT1 (5) 5.1.2.测试场景PT2 (5) 5.1.3.测试场景PT3 (6) 5.2.详细数据分析 (6) 5.2.1.测试场景PT1(getOrderList Interface） (6) 5.2.2.测试场景PT2(getOrderRow Interface) (9) 5.2.3.测试场景PT3(getOrderGoodsList) (14) 6.测试结论 (17)
1.术语 2.测试环境 2.1服务器&客户端环境信息 服务端配置： 10.19.141.57 应用服务器： CPU: Intel(R) Xeon(R) CPUE5620 @ 2.40GHz 8个逻辑CPU 内存：15GB 网卡: 1000M 操作系统: CentOS release 5.8 (Final) 辅助软件: nmon 10.19.141.58 数据库服务器： CPU: Intel(R) Xeon(R) CPUE5620 @ 2.40GHz 8个逻辑CPU 内存：8GB 网卡: 1000M 操作系统: CentOS release 5.8 (Final) 辅助软件: nmon 客户端配置：（2台） CPU:4核8线程Intel(R) Xeon(R) CPU E5620 @ 2.40GHz 内存：8.00GB 网卡: 1000M 操作系统: Windows2008 浏览器/版本号: IE9.0 测试工具: LoadRunner11.0、nmon
硅光电二极管在光电检测电路中的应用研究_付文羽
第20卷 第5期 许昌师专学报 Vol.20.No.5 2001年9月 JOURNAL OF XUCHANG TE AC HERS C OLLE GE Sep.,2001 文章编号:1000-9949-(2001)05-0019-04 硅光电二极管在光电检测电路中的应用研究 付文羽,彭世林 (庆阳师范高等专科学校物理系,甘肃西峰745000) 摘 要:分析了光电检测时硅光电二极管线性响应及噪声特性,给出了硅光电二极管的线性 度及信噪比公式,并结合噪声E n—I n模型[1],对光电二极管用于光电检测时影响电路信噪比的 因素进行了探讨. 关键词:光电检测;信噪比;噪声模型 中图分类号:TN710.2 文献标识码:A 0 引言 硅光电二极管由于响应快、灵敏度高、性能稳定、测量线性好、噪声低而被广泛用于光电检测电路中,尤其在激光通讯测量中,通常要测量微瓦以下的光信号,就更离不开硅光电二极管.质量好的硅光二极管用于激光功率测量时,测量下限可达10-8W,分辨率可达10-12W.在许多场合,光电检测电路接收到的是随时间变化的光信号,其特点是:单一频率或包含着丰富的频率分量的交变信号,当信号很微弱时,由于背景噪声和电路热噪声的影响,还需要对信号进行低噪声处理、放大.因此,在交变光电信号作用下,怎样正确选择硅光电二极管的参数,以获得最小非线性失真信号及信号检测的灵敏度就成为人们所关心的问题. 1 硅光电二极管的基本结构及等效电路 光电二极管是一种光电转换器件,其基本原理是当光照射在P—N结上时,被吸收的光能转变为电能,这是一个吸收过程,与发光二极管的自发辐射和激光二极管的受激幅射过程相逆.P—N型硅光电二极管是最基本和应用最广的管子.基本结构如图1所示,它是在N型硅单晶片的上表面扩散一薄层P型杂质,形成P+型扩散层.由于扩散,在P+区和N型区形成一个P+N结.P+区是透明的,光子可以通过P+区到达PN结区产生光电子.在N型硅单晶下表面扩散N型杂质以形成高浓度的N+扩散区,以便给金属电极提供良好的电接触.另一种常用的硅光电二极管是P—I—N型硅光电二极管,其结构同P—N型类似.位于P层和N层之间的耗尽层由本征半导体构成,可以提供一个较大的耗尽深度和较小的电容,适合于反向偏压工作.硅光电二极管的等效电路如图2所示,图中I s为电流源,它是硅光电二极管接收辐射后所产生的光电流I p和暗电流I d以及噪声电流I n之和,即: 图1 平面扩散型PN结光电二极管结构图图2 硅光电二极管等效电路 收稿日期:2001-03-19 作者简介:付文羽(1963-),男,甘肃宁县人,庆阳师专物理系讲师,工程硕士,主要从事光电检测与传感技术应用研究.
web性能测试计划
XXXX性能测试 页脚内容1
目录 1.文档介绍 (4) 1.1 文档目的 (4) 1.2 参考文献 (4) 1.3编写目的 (4) 2.性能相关描述 (5) 2.1性能测试指标 (5) 2.2性能测试范围 (5) 2.3 名词术语约定 (6) 页脚内容2
3 测试环境 (7) 3.1生产环境系统架构 (7) 3.2测试环境系统架构 (8) 3.3 生产环境软硬件配置 (9) 3.4 测试环境软硬件配置 (9) 3.5 负载机软硬件配置 (10) 4.需求分析 (11) 4.1业务模型 (11) 4.2 性能指标 (12) 5 测试策略 (14) 5.1测试执行策略 (15) 5.2 测试监控策略 (16) 6测试场景 (17) 6.1前台开单测试场景 (17) 7测试准备 (19) 7.1测试工具准备 (19) 7.2测试脚本及程序准备 (20) 页脚内容3
7.3测试数据准备 (21) 7.4测试环境准备 (21) 8测试组织架构 (22) 9项目风险 (23) 1.文档介绍 1.1 文档目的 本测试报告为XXX平台项目的性能测试报告，目的在于总结测试阶段的测试以及分析测试结果，描述系统是否符合性能需求。 1.2 参考文献 1.3编写目的 从文档描述XXX发布系统性能测试的范围、方法、资源、进度，作为XXX发布系统性能测试的依据，该文档的目的主要有： 1、明确测试范围、测试对象 2、明确测试目标 3、明确测试环境需求，包括：测试需要的软、硬件环境以及测试人力需求 4、确定测试方案，测试的方法和步骤 页脚内容4
5、指定测试工作的时间安排 6、分析测试的风险，寻找规避办法 7、确定测试需求输出的结果和结果表现形式 2.性能相关描述 2.1性能测试指标 (1).基于XXX业务量的要求,评估XXX平台是否能满足性能要求 (2).进行配置测试,找到相对合理的测试 (3).对XXX进行定容定量,提供规划参考 (4).验证系统的稳定性,验证系统的容错能力 (5).测试并找到系统可能存在的性能问题,分析系统瓶颈 2.2性能测试范围 通过性能测试需求调研,分析用户使用行为.对系统的用户及业务数据量作了定量分析,性能测试将主要集中在表A-1中列出的业务过程. 表A-1 测试范围 页脚内容5
光电二极管的性能测试
北方民族大学 课程设计报告 院（部、中心）电气信息工程学院 姓名学号 专业测控技术与仪器班级测控技术与仪器101 同组人员 课程名称光电技术综合技能训练 设计题目名称光敏二极管的性能测试 起止时间 成绩 指导教师签名盛洪江 北方民族大学教务处制 摘要 随着光电子技术的发发展,光电检测在灵敏度、光谱响应范围及频率我等技术方面要求越来越高，为此，近年来出现了许多性能优良的光伏检测器，如硅锗光电二极管、PIN光电二极管和雪崩光电二极管（APD）等。光敏晶体管通常指光电二极管和光电三极管，通常又称光敏二极管和三敏三极管。 关键词:光敏二极管、ELVIS实验平台、LABView8.6、OSLO软件 引言 光敏二极管的种类很多，就材料来分，有锗、硅制作的光敏二极管，也有III－V族化合物及其他化合物制作的二极管。从结构我来分，有PN结、PIN结、异质结、肖特基势垒及点接触型等。从对光的响应来分，有用于紫外光、红外光等种类。不同种类的光敏二极管，具不同的光电特性和检测性能。 光敏二极管和光电池一样，其基本结构也是一个PN结。与光电池相比，它的突出特点是结面积小，因此它的频率特性非常好。光生电动势与光电池相同，但输出电流普遍比光电池小，一般为数微安到数十微安。按材料分，光敏二极管有硅、砷化铅光敏二极管等许多种，由于硅材料的暗电流温度系数较小，工艺较成熟，因此在实验际中使用最为广泛。
目录 摘要 1 引言 1 目录 2 光敏二极管 3 光电效应 4 光电导效应 4 光生伏特效应 4 光敏二极管的工作原理 5 光敏二极管 5 LabVIEW软件5 总结 6 附录7 程序设计原理图7 结果图8 实验连线9 光敏二极管 光敏二极管的种类很多，就材料来分，有锗、硅制作的光敏二极管，也有III－V族化合物及其他化合物制作的二极管。从结构我上来分，有PN结、PIN结、异质结、肖特基势垒及点接触型等。从对光的响应来分，有用于紫外光、红外光等种类。不同种类的光敏二极管，具胡不同的光电特性和检测性能。 光敏二极管的结构和普通二极管相似，只是它的PN结装在管壳顶部，光线通过透镜制成的窗口，可以集中照射在PN结上，图1（a）是其结构示意图。光敏二极管在电路中通常处于反向偏置状态，如图1（b）所示。 光电效应 光电导效应 若光照射到某些半导体材料上时，透过到材料内部的光子能量足够大，某些电子吸收光子的能量，从原来的束缚态变成导电的自由态，这时在外电场的作用下，流过半导体的电流会增大，即半导体的电导会增大，这种现象叫光电导效应。它是一种内光电效应。 光电导效应可分为本征型和杂质型两类。前者是指能量足够大的光子使电子离开价带跃入导带，价带中由于电子离开而产生空穴，在外电场作用下，电子和空穴参与电导，使电导增加。杂质型光电导效应则是能量足够大的光子使施主能级中的电子或受主能级中的空穴跃
《Web项目测试实战》性能测试需求分析章节样章
5.1.2性能测试需求提取 复习了一些常见的理论概念后，我们开始性能测试需求的提取。这个过程是非常重要的，往往测试失败，就是因为在这个过程中不知道如何得到确切的性能指标，而导致测试无法正常开展。性能测试需求提取一般的流程如图5- 1所示。 图5- 1性能测试需求提取流程 分析提取指标 在用户需求规格说明书中，会给出系统的功能、界面与性能的要求。规范的需求规格说明书都会给出明确的性能指标，比如单位时间内访问量要达到多少、业务响应时间不超过多少、业务成功率不低于多少、硬件资源耗用要在一个合理的范围中，这些指标都会以可量化的数据进行说明。如果，实际项目并没有这些正规的文档时，项目经理部署测试任务给测试组长时，一般就会说明是否要对项目的哪些业务模块进行性能测试，以及测试的要求是什么的。最麻烦的就是项目经理或者客户要求给出一个测试部门认为可以的数据，这样非常难做的。可是“甲方”往往都是提要求的，“乙方”只能“无条件”接受！ 表5- 1需求规格说明书中的性能要求 表5- 1给出的指标非常明确，在测试过程中，我们只需收集用户登录模块的响应时间、登录成功率、并发数、CPU使用率、内存使用率的数据，然后与表5- 1的指标进行比较即可，通过的，就认为达到了客户要求的性能，未达到就分析原因，并给出测试报告及解决建议。 大多数是没有明确的需求，需要我们自己根据各种资料、使用各种方法去采集测试指标。以OA系统为例，假设《OA系统需求规格说明书》中并未指明系统的性能测试要求，需要测试工程师自己分析被测系统及采集性能衡量指标。 分析OA系统的结构，所有功能中仅有考勤模块可能是被测系统最终用户经常使用的业务点，那么我们的重点应该在放在该模块上。一般我们可以从下面三个方面来确定性能测试点： 第一、用户常用的功能。常用的功能一旦性能无法满足，比如登录功能，从输入用户名与密码点击登录按钮到显示成功登录信息，花了5分钟，这样的速度是 人无法忍受的。而对于用户不常用的，比如年度报表汇总功能，三个季度甚 至是一年才使用，等个10分钟也是正常的，这些是跟用户的主观感受相关 的，得根据实际情况区分。
项目性能测试报告
XXX项目or府门户网站性能测试报告
目录 第一章概述 (4) 第二章测试活动 (4) 2.1测试用具 (4) 2.2测试范围 (4) 2.3测试目标 (5) 2.4测试方法 (5) 2.4.1基准测试 (5) 2.4.2并发测试 (6) 2.4.3稳定性测试 (6) 2.5性能指标 (6) 2.6性能测试流程 (6) 2.7测试术语 (7) 第三章性能测试环境 (8) 3.1服务器环境 (8) 3.2客户端环境 (9) 3.3网络结构 (9) 第四章测试方案 (10) 4.1基准测试 (11) 4.2并发测试 (13) 4.3稳定性测试 (15) 第五章测试结果描述和分析 (16) 6.1基准测试性能分析 (16) 6.2并发测试性能分析 (21) 6.3稳定性性能测试分析 (28) 第六章测试结论 (29)
摘要 本文档主要描述XXXX网站检索和页面浏览性能测试中的测试内容、测试方法、测试策略等。 修改历史 注释：评审号为评审记录表的编号。更改请求号为文档更改控制工具自动生成的编号。
第一章概述 由于当前对系统要接受业务量的冲击，面临的系统稳定、成熟性方面的压力。系统的性能问题必将成为焦点问题，海量数据量的“冲击”，系统能稳定在什么样的性能水平，面临业务增加时，系统抗压如何等这些问题需要通过一个较为真实的性能模拟测试来给出答案，通过测试和分析为系统性能的提升提供一些重要参考数据，以供后期系统在软硬件方面的改善和完善。 本《性能测试报告》即是基于上述考虑，参考当前的一些性能测试方法而编写的，用以指导即将进行的该系统性能测试。 第二章测试活动 2.1测试用具 本次性能测试主要采用HP公司的Loadrunner11作为性能测试工具。Load runner主要提供了3个性能测试组件：Virtual User Generator, Controller,Analysis。 ●使用Virtual User Generator修改和优化脚本。 ●使用Controller进行管理，控制并发的模拟并发数，记录测试结果。 ●使用Analysis进行统计和分析结果。 2.2测试范围 此次性能测试实施是对吴忠市门户网站系统性能进行测试评估的过程，我们将依据系统将来的实际运行现状，结合系统的设计目标和业务特点，遵循着发生频率高、对系统或数据库性能影响大、关键和核心业务等原则选取需要进行测试的业务，模拟最终用户的操作行为，构建一个与生产环境相近的压力场景，对系统实施压力测试，以此评判系统的实际性能表现。 根据与相关设计，开发人员的沟通和交流，本次测试主要就是针对大量用户在使用吴忠市门户网站进行信息查询，而选取的典型事务就是用户使用检索进行关键字搜索以及界面浏览和反馈回搜索结果，这是用户使用最频繁，反应最多的地方，也是本系统当前以及以后业务的一个重要压力点所在。所以本次测试只选取检索业务的性能情况和界面浏览进行记录和
Web Tours网站性能测试计划
Web Tours网站性能测试计划 作者：fzw 发布日期:2012 文档版本： 文档编号： 文档历史： 变更记录 变更日期作者版本变更摘要 相关文档 发布日期文档标题版本备注
文档目的 描述Web Tours性能测试流程、范围、环境、风险等因素作为性能测试实施依据。 项目背景介绍 Web Tourd是HP LoadRunner软件自带一个飞机订票系统网站，是一款基于https://www.360docs.net/doc/2514146898.html,平台的网站。基于先进的.NET Framework，默认支持SOL Server数据库，可扩展支持ACCESS、MySql等多种数据库。支持基于IE、Chrome、Firefox、Opera等浏览器。 Web Tours网站主要是提供方全世界用户进行网上订票、查看订票信息、预订机票、修改预订机票的功能支持。 术语及缩写 性能测试（Performance Testing）：在一定负载的情况下，系统响应时间、吞吐量等性能是否满足用户特定的性能需求。 负载测试（Load Testing）：在一定的软件、硬件及网络环境下，在不同虚拟用户数量的情况下进行一种或多种业务，测试服务器的性能指标是否在用户要求的范围内，用于确定系统所能承受的最大用户数、最大有效用户数以及不同用户数下的系统响应时间和服务器的资源利用率。 压力/强度测试：(stres Testing）：在一定软件、硬件及网络环境下，通过模拟大量的虚拟用户向服务器产生负载，使服务器的资源处于极限状态下长时间持续运行，以测试服务器在高负载情况下是否能够稳定工作。 配置测试（Configuration Testing）：在不同软件、硬件及网络环境下，在一定的虚拟用户数量的情况下运行一种或者多种业务，获得不同配置的性能指标，用于选择最佳的设备及参数配置。 输入 《项目计划文档》 《性能需求规格说明书》 《系统架构计划文档》 其他性能测试文档 入口标准 系统运行环境 1）网络拓扑图
实验四 PIN光电二极管特性测试
实验四PIN光电二极管特性测试 一、实验目的 1、学习掌握PIN光电二极管的工作原理 2、学习掌握PIN光电二极管的基本特性 3、掌握PIN光电二极管特性测试的方法 4、了解PIN光电二极管的基本应用 二、实验内容 1、PIN光电二极管暗电流测试实验 2、PIN光电二极管光电流测试实验 3、PIN光电二极管伏安特性测试实验 4、PIN光电二极管光电特性测试实验 5、PIN光电二极管时间响应特性测试实验 6、PIN光电二极管光谱特性测试实验 三、实验器材 1、光电探测综合实验仪1个 2、光通路组件1套 3、光照度计1台 4、PIN 光电二极管及封装组件1套 5、2#迭插头对（红色，50cm）10根 6、2#迭插头对（黑色，50cm）10根 7、三相电源线1根 8、实验指导书1本 9、示波器1台 四、实验原理 光电探测器PIN管的静态特性测量是指PIN光电二极管在无光照时的P-N结正负极、击穿电压、暗电流Id以及在有光照的情况下的输入光功率和输出电流的关系（或者响应度），光谱响应特性的测量。 图5-1 PIN光电二极管的结构和它在反向偏压下的电场分布 图5-1是PIN光电二极管的结构和它在反向偏压下的电场分布。在高掺杂P型和N型半导体之间生长一层本征半导体材料或低掺杂半导体材料，称为I层。在半导体PN结中，掺杂浓度和耗尽层宽度有如下关系： LP/LN=DN/DP
其中：DP和DN 分别为P区和N区的掺杂浓度；LP和LN分别为P区和N区的耗尽层的宽度。在PIN中，如对于P层和I层(低掺杂N型半导体)形成的PN结，由于I层近于本征半导体，有 DN<
软件性能测试报告
Official Test Report正式的测试报告 测试项目：软件性能测试 Project Information项目信息: Project Code: 项目代码 072V24S Project Phase: 项目阶段 研发 Software Version: 软件版本 V1.2 Sample Information样品信息: Sample Level: 样品类型 BMS Quantity: 数量 1 Serial Number: 序列号 020151025 Test Operation Information测试信息: Location: 地点上海博强 Start Date: 开始日期 2015-12-18 Finish Date: 完成日期 2015-12-21 Conclusion结论: Pass通过Fail 不通过 Other其它: Performed by测试: 樊佳伦Signature Date: 2015-12-22 Written by撰写: 邓文签名：日期：2015-12-23 Checked by核查: 董安庆2015-12-24 Approved by批准: 穆剑权2015-12-25
Revision History修订履历 SN 序号Report No. 报告编号 Report Version 报告版本 Contents 变更内容 Release Date 发行日期 1 BQ-72V-BMS-0007 V1.0 New release. 2015-12-25 2 BQ-72V-BMS-0007 V1.1 RTC时间再次验证2015-1-7
光电二极管检测电路的组成及工作原理
光电二极管及其相关的前置放大器是基本物理量和电子量之间的桥梁。许多精密应用领域需要检测光亮度并将之转换为有用的数字信号。光检测电路可用于CT扫描仪、血液分析仪、烟雾检测器、位置传感器、红外高温计和色谱分析仪等系统中。在这些电路中,光电二极管产生一个与照明度成比例的微弱电流。而前置放大器将光电二极管传感器的电流输出信号转换为一个可用的电压信号。看起来好象用一个光电二极管、一个放大器和一个电阻便能轻易地实现简单的电流至电压的转换,但这种应用电路却提出了一个问题的多个侧面。为了进一步扩展应用前景,单电源电路还在电路的运行、稳定性及噪声处理方面显示出新的限制。 本文将分析并通过模拟验证这种典型应用电路的稳定性及噪声性能。首先探讨电路工作原理,然后如果读者有机会的话,可以运行一个SPICE模拟程序,它会很形象地说明电路原理。以上两步是完成设计过程的开始。第三步也是最重要的一步（本文未作讨论）是制作实验模拟板。 1 光检测电路的基本组成和工作原理 设计一个精密的光检测电路最常用的方法 是将一个光电二极管跨接在一个CMOS输入 放大器的输入端和反馈环路的电阻之间。这种 方式的单电源电路示于图1中。 在该电路中,光电二极管工作于光致电压 （零偏置）方式。光电二极管上的入射光使之 产生的电流I SC从负极流至正极,如图中所示。由于CMOS放大器反相输入端的输入阻抗非常高,二极管产生的电流将流过反馈电阻R F。输出电压会随着电阻R F两端的压降而变化。 图中的放大系统将电流转换为电压,即 V OUT = I SC×R F（1） 图1 单电源光电二极管检测电路 式（1）中,V OUT是运算放大器输出端的电压,单位为V;I SC是光电二极管产生的电流,单位为A;R F是放大器电路中的反馈电阻,单位为W 。图1中的C RF是电阻R F的寄生电容和电路板的分布电容,且具有一个单极点为1/（2p R F C RF）。 用SPICE可在一定频率范围内模拟从光到电压的转换关系。模拟中可选的变量是放大器的反馈元件R F。用这个模拟程序,激励信号源为I SC,输出端电压为V OUT。 此例中,R F的缺省值为1MW ,C RF为0.5pF。理想的光电二极管模型包括一个二极管和理想的电流源。给出这些值后,传输函数中的极点等于1/（2p R F C RF）,即318.3kHz。改变R F 可在信号频响范围内改变极点。