X射线衍射技术的应用概述
X射线衍射技术在材料分析中的应用
X射线衍射技术在材料分析中的应用沈钦伟126406324 应用化学1引言X射线衍射分析法是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。
当某物质( 晶体或非晶体)进行衍射分析时,该物质被X射线照射产生不同程度的衍射现象, 物质组成、晶型、分子内成键方式、分子的构型、构象等决定该物质产生特有的衍射图谱。
X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。
因此,X射线衍射分析法作为材料结构和成分分析的一种现代科学方法, 已逐步在各学科研究和生产中广泛应用。
2X射线衍射基本原理X射线同无线电波、可见光、紫外线等一样,本质上都属于电磁波,只是彼此之间占据不同的波长范围而已。
X射线的波长较短, 大约在10-8~10-10cm之间。
X 射线分析仪器上通常使用的X射线源是X射线管,这是一种装有阴阳极的真空封闭管, 在管子两极间加上高电压, 阴极就会发射出高速电子流撞击金属阳极靶,从而产生X射线。
当X射线照射到晶体物质上,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射, 衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关，不同的晶体物质具有自己独特的衍射花样, 这就是X射线衍射的基本原理。
3 X射线衍射技术在材料分析中的应用由X射线衍射原理可知,物质的X射线衍射花样与物质内部的晶体结构有关。
每种结晶物质都有其特定的结构参数(包括晶体结构类型, 晶胞大小,晶胞中原子、离子或分子的位置和数目等)。
因此,没有两种不同的结晶物质会给出完全相同的衍射花样。
通过分析待测试样的X射线衍射花样,不仅可以知道物质的化学成分,还能知道它们的存在状态,即能知道某元素是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在。
同时,根据X射线衍射试验还可以进行结晶物质的定量分析、晶粒大小的测量和晶粒的取向分析。
xrd的应用及原理
XRD的应用及原理引言X射线衍射（X-ray Diffraction, XRD）是一种重要的材料表征技术，广泛应用于材料科学、化学、地质学等领域。
本文将介绍XRD的应用领域以及其原理。
XRD的应用领域1.材料结构分析–XRD可以用于分析材料的晶体结构、组分和晶体缺陷等。
–通过分析材料的衍射峰的位置、强度和形状，可以确定晶体的晶格参数、晶体结构和晶体缺陷类型。
2.材料相变研究–XRD可以用于研究材料的相变行为。
相变时，晶体结构会发生变化，导致衍射峰位置和强度的变化。
–通过监测材料衍射峰的变化，可以研究材料的相变温度、相变过程和相变机制。
3.薄膜和薄片分析–XRD可以用于分析薄膜和薄片的晶体结构和厚度。
–通过分析衍射峰的宽度和位置，可以确定薄膜或薄片的晶格参数和厚度。
4.晶体定向分析–XRD可以用于分析晶体的定向性。
不同晶面的衍射峰位置和强度不同，通过分析衍射峰的特征，可以确定晶体的定向性。
–晶体定向分析在材料加工和材料性能研究中具有重要意义。
XRD的原理XRD基于布拉格衍射原理，即入射X射线与晶体的晶面间距相等时，发生衍射现象。
下面是XRD的基本原理：1.生成X射线–通过X射线发生器产生X射线。
X射线发生器通常包括X射线管和高压电源，通过加热阴极产生电子束，电子束击打阳极时会产生X射线。
2.照射样品–产生的X射线照射到待测样品上。
样品可以是粉末、薄膜或块体，关键是样品需要是晶体结构。
3.衍射现象–入射X射线与晶体的晶面相互作用，发生衍射现象。
衍射是X 射线经过晶体后，按照一定的角度改变方向而形成的。
4.检测衍射信号–使用X射线探测器检测样品的衍射信号。
常用的探测器包括点状探测器和线状探测器，可以用于测量衍射峰的位置和强度。
5.分析数据–通过分析探测到的衍射信号数据，可以确定材料的晶格参数、晶体结构、晶体缺陷等信息。
–可以使用布拉格方程和衍射峰的位置计算晶格参数，使用峰的强度和形状分析晶体结构和缺陷。
论述x射线衍射的原理及应用
论述x射线衍射的原理及应用
X射线衍射是一种利用X射线与晶体相互作用而产生的衍射现象来研究晶体结构的方法。
其原理可以归纳为以下几点：
1. X射线的波长与晶格常数的数量级相近，因此X射线与晶体的原子相互作用较强。
当X射线入射到晶体上时，会被晶体中的原子散射，并且由于晶体的周期性排列，散射光的干涉效应会形成衍射图样。
2. 晶体中的各个晶面对X射线的散射光具有相干性，且满足布拉格衍射条件。
根据布拉格方程，当入射角、散射角和晶面间距之间满足一定关系时，会出现衍射峰，即特定方向的散射光强度增强。
3. 通过测量衍射峰的位置和强度，可以推断出晶体中的原子排列方式、晶胞尺寸和晶格常数等结构信息。
X射线衍射在材料科学、物理学和化学等领域有广泛应用：
1. 确定晶体结构：X射线衍射是确定晶体结构的重要方法，可以用于研究晶体的晶胞参数、晶格对称性和原子排列方式等信息。
2. 相变研究：X射线衍射可以用于研究材料的相变行为，例如晶体的相变温度、相变机制和相变过程等。
3. 晶体缺陷分析：通过分析衍射峰的形状和位置变化，可以研究晶体中的缺陷、畸变和应力等信息。
4. 晶体取向分析：通过测量衍射图样的方向和强度，可以确定晶体的取向信息，用于材料的定向生长和晶体学研究等。
5. 薄膜和多层结构研究：X射线衍射可以用于研究薄膜和多层结构的晶体学性质，包括晶格常数、晶面取向和晶体品质等。
总之，X射线衍射是一种重要的研究晶体结构和材料性质的方法，具有广泛的应用价值。
材料研究方法-第三章X射线衍射分析
X射线衍射分析的优势和局限性
1 优势和应用价值
X射线衍射分析能够提供高分辨率的晶体结构信息，可用于研究材料相变、配位化学、催 化作用等领域。
2 局限性
X射线衍射分析只对晶体材料适用，对非晶态和纳米材料无法应用。
X射线衍射分析实例
1
研究锂离子电池电解质固体界面的晶体结构
Hale Waihona Puke 用单晶X射线衍射仪分析高效锂离子电解质与电极材料的交界面结构。
材料研究方法-第三章X射 线衍射分析
欢迎来到材料研究方法-第三章：X射线衍射分析。在这个演示中，我们将介 绍X射线衍射分析的原理、应用及其优势和局限性。让我们来探索这项有趣的 技术！
X射线衍射分析概述
定义和原理
X射线衍射分析是通过分析X射线穿过材料时的 衍射模式，探究材料的晶体结构和组成的技术。
仪器和设备
2
研究含铁亚铁酸盐的质子传导性质
通过Powder X射线衍射技术研究不同硅酸盐基质中铁亚铁酸盐的晶体结构和质 子导电机制。
3
研究金属氧化物的杂质掺杂过程
用Texture X射线衍射仪研究镉氧化物和钴氧化物的杂质掺杂过程，探究了掺杂 元素对材料结构的影响。
X射线衍射分析在材料研究领域中的应用
材料结构
材料相变
• 研究分子晶体的结构和 功能性固体材料的结构
• 探究半导体中的晶格畸变等
• 研究金属的相变和相变 动力学
• 分析材料在不同温度下 的相变特性
配位化学
• 研究金属络合物和配位 化合物的晶体结构和配
• 位探键究不同金属离子之间 的配位作用
新兴技术趋势-暴露在X射线下的人体结构
除了材料研究，X射线衍射技术还被应用于医学领域。最近，有研究者使用层析技术来分析复杂的人体结构， 如神经系统。这为神经疾病的诊断和治疗提供了新的思路。
x射线在化学中的应用
X射线在化学中有着广泛的应用，主要包括以下几个方面：
1. 晶体结构分析：X射线衍射技术是研究晶体结构的重要手段。
通过测量晶体对X射线的衍射强度和方向，可以得到晶体的结构参数，如原子间的距离、角度等。
这对于理解物质的性质和行为具有重要意义。
2. 元素分析：X射线荧光光谱法是一种常用的元素分析方法。
当物质受到X射线照射时，其内部的原子会被激发并发出特征性的X射线荧光。
通过测量这些荧光的波长和强度，可以确定物质中的元素种类和含量。
3. 分子结构分析：X射线衍射技术也可以用于研究分子的结构。
通过测量分子对X射线的衍射强度和方向，可以得到分子的结构参数，如键长、键角等。
这对于理解分子的性质和行为具有重要意义。
4. 表面分析：X射线光电子能谱（XPS）是一种常用的表面分析方法。
通过测量材料表面对X射线的光电效应，可以得到表面元素的化学状态和浓度分布。
这对于理解材料的表面性质和行为具有重要意义。
5.化学反应动力学：X射线小角散射技术可以用于研究化学反应的动力学过程。
通过测量反应过程中粒子的大小和形状的变化，可以得到反应速率常数和反应机理等信息。
综上所述，X射线在化学中有着广泛的应用，主要包括晶体结构分析、元素分析、分子结构分析、表面分析、化学反应动力学。
x射线衍射技术的应用
x射线衍射技术的应用以X射线衍射技术的应用为标题,我们将探讨X射线衍射技术在不同领域的应用。
X射线衍射技术是一种利用X射线在物质中的相互作用进行分析和研究的方法。
该技术已经被广泛应用于材料科学、生物医学、地质学等领域，为我们的科学研究和工程实践提供了重要的支持和突破。
在材料科学领域，X射线衍射技术被用于材料的结构分析和晶体学研究。
通过研究材料的衍射图案，可以获得材料的晶体结构、晶格常数以及晶体中原子的排列方式等信息。
这些信息对于材料的性能和应用具有重要意义。
例如，在材料研发过程中，研究人员可以利用X射线衍射技术来确定新合成材料的晶体结构，从而指导进一步的材料设计和优化。
在生物医学领域，X射线衍射技术被广泛应用于蛋白质结构研究。
蛋白质是生物体中最重要的功能分子之一，其结构与功能密切相关。
通过X射线衍射技术，研究人员可以获得蛋白质的三维结构信息，进而揭示其功能机制。
这对于药物研发、疾病治疗等具有重要意义。
例如，通过研究蛋白质的结构，科学家们可以设计出更加高效的药物分子，提高药物的选择性和疗效。
在地质学领域，X射线衍射技术被广泛应用于矿物成分的分析和研究。
地球是由各种不同的矿物组成的，研究矿物的成分和结构对于地质学家来说是十分重要的。
通过X射线衍射技术，可以准确地确定矿物的成分和晶体结构，从而推断地质过程和环境的演化历史。
例如，在石油勘探中，研究人员可以利用X射线衍射技术来分析地下岩石中的矿物成分，从而判断油气的储集情况和潜在资源量。
除了上述领域，X射线衍射技术还被应用于材料缺陷分析、晶体生长研究、纳米材料表征等领域。
例如，在材料缺陷分析中，通过研究材料的X射线衍射图案，可以检测和定量分析材料中的晶体缺陷，如晶格畸变、晶界、位错等。
这对于材料性能的改进和缺陷修复具有重要意义。
在晶体生长研究中，X射线衍射技术可以用于监测晶体生长动态过程，了解晶体生长机制和控制晶体质量。
在纳米材料表征中，X射线衍射技术可以用于研究纳米材料的晶体结构和尺寸分布，揭示其特殊的物理和化学性质。
X射线衍射在材料分析测试中的应用
X射线衍射技术在材料分析测试中的应用摘要：X 射线衍射分析技术是一种十分有效的材料分析方法, 在众多领域的研究和生产中被广泛应用。
介绍了X 射线衍射的基本原理, 从物相鉴定、点阵参数测定、微观应力测定等几方面概述了X 射线衍射技术在材料分析中的应用进展。
1 X射线基本原理由于X 射线是波长在1000Å~0. 01Å之间的一种电磁辐射, 常用的X 射线波长约在2. 5Å~ 0. 5Å之间, 与晶体中的原子间距( 1Å )数量级相同, 因此可以用晶体作为X 射线的天然衍射光栅, 这就使得用X射线衍射进行晶体结构分析成为可能。
当X射线沿某方向入射某一晶体的时候, 晶体中每个原子的核外电子产生的相干波彼此发生干涉.当每两个相邻波源在某一方向的光程差(Δ)等于波长λ的整数倍时, 它们的波峰与波峰将互相叠加而得到最大限度的加强, 这种波的加强叫做衍射, 相应的方向叫做衍射方向, 在衍射方向前进的波叫做衍射波。
Δ= 0的衍射叫零级衍射, Δ = λ的衍射叫一级衍射, Δ = nλ的衍射叫n级衍射. n不同, 衍射方向也不同。
在晶体的点阵结构中, 具有周期性排列的原子或电子散射的次生X射线间相互干涉的结果, 决定了X射线在晶体中衍射的方向, 所以通过对衍射方向的测定, 可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。
晶体结构= 点阵+ 结构基元, 点阵又包括直线点阵, 平面点阵和空间点阵. 空间点阵可以看成是互不平行的三组直线点阵的组合, 也可以看作是由互相平行且间距相等的一系列平面点阵所组成. 劳厄和布拉格就是分别从这两个角度出发, 研究衍射方向与晶胞参数之间的关系。
伦琴发现X射线之后, 1912年德国物理学家劳厄首先根据X 射线的波长和晶体空间点阵的各共振体间距的量级, 理论预见到X 射线与晶体相遇会产生衍射现象, 并且他成功地验证了这一预见, 并由此推出了著名的劳厄定律。
x衍射在医学上的应用原理
X衍射在医学上的应用原理1. 引言X衍射是一种物理现象，通过X射线与物质相互作用产生的干涉和衍射效应来研究物质结构和性质。
在医学领域中，X衍射技术被广泛应用于诊断、治疗和研究等方面。
本文将介绍X衍射在医学上的应用原理。
2. X衍射在医学影像学中的应用X衍射技术被广泛应用于医学影像学，用于获得有关人体内部结构和组织的信息。
以下是一些常见的X衍射在医学影像学中的应用：•X线摄影：X线摄影是一种将X射线通过人体或物体，然后记录下通过的射线的技术。
通过对X射线的吸收能力不同的组织进行摄影，可以获得有关骨骼结构、肺部疾病等的信息。
•计算机断层扫描（CT）：CT扫描结合了X衍射和计算机处理技术，可以通过多个方向的X射线摄影来获取更精确的图像。
这种技术可以提供比传统X射线摄影更详细的人体内部结构信息。
•正电子发射断层扫描（PET）：PET扫描使用放射性同位素，通过测量放射性同位素在体内的分布来获得信息。
X衍射技术在PET扫描中用于定位放射性同位素的分布和活动。
3. X衍射在医学研究中的应用除了医学影像学外，X衍射技术还被广泛应用于医学研究领域，用于研究生物分子的结构和功能。
以下是一些常见的X衍射在医学研究中的应用：•蛋白质结构研究：X衍射技术可以用来确定蛋白质的分子结构，进而揭示其功能和相互作用。
通过对蛋白质晶体进行X射线衍射实验，可以得到高分辨率的蛋白质结构信息。
•药物设计：X衍射技术可以帮助研究人员了解药物与靶标之间的相互作用，从而指导药物设计和优化。
通过确定药物与靶标结合的位置和方式，研究人员可以针对性地设计新的药物。
•DNA/RNA结构研究：X衍射技术可以用来研究DNA或RNA的分子结构，从而帮助理解遗传信息的存储和传递机制。
通过对DNA或RNA晶体进行X射线衍射实验，可以揭示其结构和构象变化。
4. X衍射在放射治疗中的应用除了诊断和研究应用，X衍射技术还被广泛应用于放射治疗中，用于治疗癌症等疾病。
以下是一些常见的X衍射在放射治疗中的应用：•放射性碘治疗：放射性碘治疗是一种常见的治疗甲状腺癌的方法。
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普用衍射仪
大型设备或制件中的宏观应力
X射线应力测定仪
应力测定仪为专用衍射仪，因被测部位不动，为改变ψ角，X 射线管和探测器应能沿衍射仪圆移动。
基本方法
两点法：
在ψ＝0°和45°各扫测一次，将测得的2θφψ代入(6)式，即可解 得σφ。
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2θ
sin2ψ法： 在不同的ψ下扫测，如在 ψ＝0°、15°、30°、45° 扫测出各自的2θφψ，然后以 2θφψ为纵坐标， sin2ψ为横坐 标作直线，按(6)式，从直线斜 率即求得σφ。
形，再计算残余应力。是破坏性检测。 无损法： 利用超声、磁性、中子衍射、X射线衍射等对应力的敏感性测
量应力。是不破坏构件的无损检测法。
X射线衍射是无损检测，并具有快捷、准确可靠、能测量小 区域内的应力，又可区分和测出三种不同类别的应力。
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X射线宏观应力测定的基本原理
X射线衍射法是通过测量弹性应变来求得应力值。 多晶体无应力时，不同方位的同族晶面面间距是相等的，而当受到 一定的宏观应力σφ时，不同晶粒的同族晶面面间距将随晶面方位不同 和应力大小发生有规律的变化。
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定性物相分析的步骤：
1. 测衍射花样，求d值，强度分五级(最强、强、中、弱、最弱)； 2. 按d值递减为序，列出全部被测物花样的d值； 3. 将数据改排， 在2θ＜90°内三强线先排，其余按强度递减跟上； 4. 查数字索引，按d1找可能卡片的小组，按d2找可能的卡片号； 5. 将可能相的卡片与被测花样数据仔细对照，最吻合者即为被测物。
织构的测定
通过逐个晶粒取向测定而后综合。TEM、SEM和X射线单 晶定向，用SEM的电子背散射衍射测定晶粒取向是全新的技术。
通过多晶衍射测出材料某一晶面的取向在空间的分布，再 经数据处理而得。电子衍射、中子衍射和X射线衍射测定。
X射线多晶衍射测定织构应用最广。
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织构的表示方法 ★ 取向分布函数（图） 晶粒取向是指晶粒相对其所在材料的取向。
这种在晶粒间相互平衡的应力 在X射线检测的体积内总是拉压成 对出现，且大小因晶粒间方位差不 同而异，故引起衍射线宽化。
27.09.起变形、尺寸稳定性下降，张 应力还会造成应力腐蚀。
但如构件表面有适当的压应力可提高其疲劳寿命。
宏观残余应力是一种弹性应力，测定方法有 应力松驰法： 用钻孔、开槽或剥层等方法使应力松驰，用电阻应变片测量变
16
5.3 宏观残余应力的测定 内应力的分类
残余应力是一种内应力，是指产生应力的各种因素不复存在时，由 于形变、体积变化不均匀而存留在工件内部并自身保持平衡的应力。
按平衡的范围分为三类： 第一类内应力 在物体宏观体积内存在并平衡的应力，此应力的释放，会引起物体
的宏观体积或形状发生变化。又称宏观应力或残余应力。宏观应力使衍 射线位移。
某一方向（φ，ψ）的正应变εφψ为： 1 2 1 2 2 2 2 3 3 （2）
主应力与主应变的关系为： 1E 1123
2E 1231 （3） 3E 1312
E ：弹性模量 ν：泊松系数
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按试样特征外观建立坐标架OABC，
晶面法向用极角 和辐角 表示。
用极密度定量表示
｛HKL｝法向分布
qhkl ,Kqsi n V /V
无织构时在所有方向 的极密度均为1。
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以OABC的O点为球心作球面，以等值线标出所有方向的｛hkl｝ 极密度值，所成球面图表示了试样中｛hkl｝法向（极密度）的分布。
如 001100在(0°,0°,0°)点；
00 11 1 0 在(0°,0°,45°)点等。
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冷轧含磷钢板ODF图，恒ψ截面
φ
ψ
ODF
面一为 图般便 。做于
成分 恒析
， 或 恒
图 截
10
★ 极图
表示的是试样中各晶粒任一选定的｛HKL｝面的法向在试 样空间的(以材料外观特征方向OABC为参照坐标系)分布。
☆ 分析时要考虑实验误差，允许d值±0.01d ☆ 实验条件的差别，线条强度仅供参考，卡片上弱线条被测花样
可不出现，但花样上的线条卡片上必须有。 ☆ 被测物所用辐射比卡片短时，可出现卡片没有的小d值线条。
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5.2 织构测定
多晶材料经不同处理后，晶粒取向可能不再呈统计分布，而是呈 现出某种程度的规律性。晶粒取向的这种规律性分布称为择优取向， 具有择优取向的组织即是织构。
σφ+π/2
o
σX22
由式(7)可得出
ta n2 /2 2 /2/4 (8)
X1 σ1
σφ
σφ+π/4
材料表面主应力的确定
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从实测的三应力值按(8)式求出φ 后，代回(7)式即可求出σ1和σ2值。
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宏观应力测定简述
小制件或试样中的宏观应力
（6）
或 21E co 0t s2i2 n
无应力时的d0 27.09.2019
有应力时的dφψ
用(6)式即可求任一φ方向的σφ。
22
主应力的确定
材料表面任一点的主应力如已知，按(4)式 1co 2s 2si2 n
该点所有方向的应力均可求出。
5. X射线 (多晶)衍射技术的应用
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1
5.1 物相分析
分析依据：各物相有独具的晶体结构、特定花样 定性分析：被测物衍射花样与标准纯物相花样对照 定量分析：不同相间衍射线累积强度互比
建立花样（数据）库和有效率的对比程序
花样库：衍射线的面间距d和累积强度I/I1 ，附有化学、晶 体学及可供参考的信息，记录为8×13cm的卡片。 旧名为ASTM卡，现名PDF(Powder Diffiraction File)
材料中任一点的σφψ通过主应力与εφψ联系起来。
21
在平面应力条件下，σ3＝0。 令σφ为表面上与σ1成φ角方向的正应力，则
1co2s2si2 n（4）
将(3)式代入(2)式并考虑(4)式和σ3＝0，则 1 E si2 n E 1 2（5）
设无应力下(hkl)面间距为d0；有应力时法向为φ,ψ的(hkl)
有应力时，某方位面间距dφψ相对于无应力时的变化 为(dφψ-d0)/d0=△d/d0 ，反映了由应力所造成的面法线 方向上的弹性应变，即εφψ＝△d/d0 。
可见，晶面间距随方位的 变化率与作用应力之间存在一 定的函数关系。
通过建立待测残余应力σφ 与空间某方位上的应变εφψ之间 的关系，即可测量出残余应力。
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应力与晶面间距的关系
在图示的主应力坐标系中，某一方向（φ，ψ）的正应力σφψ为： 1 2 1 2 2 2 2 3 3（1）
α1、α2、α3为相对与主方向的方向余弦，即
1si n co s 2si n si n 3cos
面间距为dφψ ，则
d d 0 - d 0 d d
-c0 o t- 0
θ0为无应力时的布喇格角；θφψ有应力时法向为(φ,ψ)的布喇格角。
将代回(5)式，改变ψ角后整理得
21 E co 0 ts2i2 n 2 2 --2 s i2 1 n 1
第二类内应力 在数个晶粒范围内存在并平衡的应力，衍射效应主要是引起线形的 变化。如双相合金经变形后，各相处于不同的应力状态时，此应力同时 引起衍射线位移。（微观应力） 第三类内应力 在若干原子范围内存在并平衡的应力，如各种晶体缺陷周围的应力 场。此类应力使衍射强度降低。（微观应力）
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为测量方便，常以入射 线与制件被测点法线OX3间 的夹角ψ0＝0°、45°或 0°、15°、30°、45°来 替代ψ，
ψ＝ψ0+（90°-θ）
Ψ为入射线与晶面法线 间的夹角。
以材料外观特征方向 (如轧向、横向和轧面法线)为轴建立参照 坐标架OABC。
以晶轴OXYZ为参照坐标架固定在晶粒上代表晶粒取向。 为表示晶粒取向，即OXYZ相对于OABC的取向，用三个参数 (ψ、θ、φ)表示。 晶粒的每一取向，均用一组参数(ψ、θ、φ)表示。 以ψθφ为坐标轴，建立直角坐标系Oψθφ，则晶粒的每一取 向均可在此图中用一点表示，将材料所有晶粒的取向均标于图中， 即为该材料的取向分布图。（ODF图）
数
以花样八强线的d值编制而成。
字
前三线为特征线，2θ＜90°中取。
索
后五线按强度排出，强度分十级用脚标。
引
索
有强度脚标的八个d值、物质名称、卡片号。
按八数组第一值递减分成若干小组，d值范围
引
印在页眉。如 3.49-3.45Å，3.44-3.40Å
字
母
按物质英文名的字母顺序编排。
索
引
名称、化学式、三强线的d值及强度、卡片号。
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2
1. 卡片号 5. 晶体学数据 2.3. 物相名 6. 光学数据 4. 实验条件 7. 试样参考资料
卡片号
实验条件 晶体学数据
光学数据 试样参考资料
物相名
质量 标志
83年前
衍射线的 hkl 及 I/I1 值
卡片号 物相名 实验条件
晶体学数据 光学数据
试样参考资料
质量标志
84年后
为方便构绘和交流，用极射赤面投影将球面投影到OAB平面，此 平面即为试样的｛hkl｝极图
112
立方系 11 11 1 2
取向的｛100｝极图
001
010