衍射增强CT的实验方法和数据处理
x射线衍射 实验报告

x射线衍射实验报告X射线衍射实验报告引言X射线衍射是一种重要的实验方法,通过研究物质中的晶体结构和晶格常数,可以深入了解物质的性质和结构。
本实验旨在通过X射线衍射实验,观察和分析晶体的衍射图样,进一步探究晶体的结构特征。
实验装置与方法实验中使用的装置主要包括X射线发生器、样品台、衍射仪和探测器等。
首先,将待测样品放置在样品台上,调整样品与X射线束的角度和位置,使其处于最佳的衍射条件。
然后,通过探测器采集衍射信号,并将信号转化为衍射图样。
最后,通过对衍射图样的分析,得出样品的晶体结构和晶格常数。
实验结果与分析在实验中,我们选取了一块晶体样品进行测量,并得到了相应的衍射图样。
通过对衍射图样的观察和分析,我们发现了几个明显的衍射峰,这些峰对应着不同的衍射角度。
根据布拉格定律,我们可以利用这些衍射峰的位置和间距来计算晶体的晶格常数。
通过对衍射图样的进一步分析,我们发现了一些有趣的现象。
首先,衍射峰的强度并不相同,有些峰非常强烈,而其他峰则较弱。
这表明晶体中存在着不同方向的晶面,而这些晶面的衍射强度不同。
其次,我们还观察到一些衍射峰的位置并不完全符合理论计算的结果。
这可能是由于实验中的误差或者晶体中的微观缺陷所导致的。
进一步地,我们对衍射图样中的衍射峰进行了定量分析。
通过测量衍射峰的位置和计算晶格常数,我们得到了晶体的结构参数。
同时,我们还计算了晶体的晶格畸变和晶体的晶格缺陷等参数。
这些参数的研究对于了解晶体的性质和结构非常重要。
结论通过X射线衍射实验,我们成功地观察和分析了晶体的衍射图样,并计算了晶体的晶格常数和其他结构参数。
实验结果表明,X射线衍射是一种有效的研究晶体结构的方法,可以提供关于晶体性质和结构的重要信息。
同时,我们也发现了实验中的一些问题和挑战,这些问题需要进一步的研究和改进。
总之,X射线衍射实验是一项重要的实验方法,可以用于研究晶体的结构和性质。
通过实验,我们可以观察和分析晶体的衍射图样,计算晶体的晶格常数和其他结构参数。
第5章 X射线衍射数据标准处理

2010-8-30
He ChongZhi
6
材料科学研究应用
半导体和超导 医药 化学与涂层 聚合物、纤维和催化剂 刑事鉴证科学 环境 地质、矿物 金属、合金 陶瓷材料 新材料 (纳米材料,无机非金属、有机高分子、复合 无机非金属、有机高分子、复合 材料等) 材料等 )
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He ChongZhi
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各种实验方法应用软件及功能简介
1) Diffrac Plus Measurement Package系统控制管理与数据采集 软件。 2) Diffrac Plus EVA 基本数据处理软件; 自动物相检索软件, 3) Diffrac plus Dquant(包括在EVA软件中) 用作物相的定量分析。 4) Diffrac Plus TOPAS 4软件在衍射分析中占有重要地位: 1. 谱线拟合: 以获得优质的线形参数(峰位、峰强、峰形或 峰宽),导致许多相关应用好的结果。线形拟合分为函数 和基本参数拟合法。后者从仪器几何参数和试样 性质拟合 线形,有确切物理意义,为无标样晶粒尺寸和微观应变测定 提 供解决办法。 2. 指标化、晶系类型、空间群确定。 3. 全谱分解(Pawley和Le Bail法):精修点阵参数,获得无标 样微观结构。 4. 解结构(在单晶体样品无法制备时,用粉末样品进行晶体结构 分析是个重要补充)。 5. Rietveld精修晶体和定量:全谱拟合结构修正,全谱拟合无 标样定量相分析,无标 样嵌镶尺寸和晶格畸变测定等。
PDF2 数 据 库 path 设 定 :
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He ChongZhi
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3. 数据标准处理与物相检索软件功能
标准处理包括扣背底, 准处理包括扣背底,峰值检索, 峰值检索,平滑处理, 平滑处理,Kα1 2分离, 分离,峰高或积分强度, 峰高或积分强度,半高宽和积分宽度等, 半高宽和积分宽度等,另有谱 线整体位移。 线整体位移。具体操作: 具体操作: (1)点击 (1)点击 DIFFRACplues /Eva.exe; /Eva.exe; (2)点击 (2)点击 File /Import/Scan 调入原 始数据文件 *.raw 进行处理; 进行处理; 点击 File/Open调入 File/Open调入* 调入*.EVA 文件。 文件。 (3) 在ToolBox 框内进行数据标样 处理: 处理:
射线衍射实验方法

cos
2
2
SO 2OO
'
R 2r
所以有:
r R
2 sin
聚焦圆的几何关系
测角仪圆的半径R是固定不变的,聚焦圆半径r则是随θ的 改变而变化的。当θ→ 0º,r → ∞;θ→ 90º,r → rmin = R/2。 这说明衍射仪在工作过程中,聚焦圆半径r是随θ的增加而逐 渐减小到R/2,是时刻在变化的;
聚焦圆的几何关系
当一束X射线从S照射到试样上的A、 O、B三点,它们的同一﹛HKL﹜ 的衍射线都聚焦到探测器F(解释
清楚几何关系!!)。圆周角 ∠SAF=∠SOF=∠SBF=π-2θ。设 测角仪圆的半径为R,聚焦圆半径 为r,根据图3-10的衍射几何关系, 可以求得聚焦圆半径r与测角仪圆 的半径R的关系:
有的仪器中样品台不动,而 X射线发生器与探测器联动。
测角仪
设计2:1的角速度比,目的是确保探测的衍射线与入射线始 终保持2θ的关系,即入射线与衍射线以试样表面法线为对称 轴,在两侧对称分布;
辐射探测器接收到的衍射是那些与试样表面平行的晶面产 生的衍射;
同样的晶面若不平行于试样表面,即使产生衍射,其衍射 线进不了探测器,不能被接受; X射线源由X射线发生器产生,其线状焦点位于测角仪周围 位置上固定不动。在线状焦点S到试样O和试样产生的衍射线 到探测器的光路上还安装有多个光阑以限制X射线的发散; 当探测器由低θ角到高θ角转动的过程中将逐一探测和记录 各条衍射线的位置(2θ角度)和强度。探测器的扫描范围可 以从-20º到+165º,这样角度可保证接收到所有衍射线。(不 同的仪器其可扫描的角度是不同的,而且需要特别注意的是, 在0º附近是不能扫描的。)
CT实验教学实验报告

近代物理实验实验报告实验课题:CT实验教学班级:物理学061姓名:任军培学号:06180130指导老师:林根金老师2008年10月24日摘要:简单介绍了CT系统的基本组成、CT教学实验装置的特点、CT扫描方式及工业CT。
之后重点介绍了CT实验原理和吸收定律。
简单说明了实验中要注意的事项,使用工业CT探测了物体。
引言:CT全称computed tomography,是一种功能齐全的病情探测仪器,它是电子计算机X射线断层扫描技术简称,是一种高新技术可它是核物理、核电子学、精密机械核计算机科学相结合的产物,是近代核科学技术应用研究领域很快发展的一个重要领域。
1971年英国EMI公司的工程师毫斯菲特研制成功的第一台临床用的计算机断层扫描装置,并于1972年首次应用于临床并获得了病者脑部囊肿得CT照片,同年毫斯菲特与医生阿姆勃劳斯在英国放射性学会上发表了他们关于CT技术的论文,毫斯菲特也因此获得了1979年的生理和医学诺贝尔奖。
如今,运用CT已发展到了第五代,即超高速动态三位CT。
因此CT技术被公认是20世纪后期最伟大的科技成果之一。
工业CT是计算机断层扫描技术的工业应用,目前也是发展飞速的高新技术,他不但成为工业设备和部件无损检测和质量评估的新军,并以强劲之势,步入工业生产过程的在线实时质量监控和工业设备在役安全检查等领域,显示出用常规手段无法替代的优异功能。
CT的工作程序是这样的:它根据人体不同组织对X射线的吸收与透过率的不同,应用灵敏度极高的仪器对人体进行测量,然后将测量所获取的数据输入电子计算机,电子计算机对数据进行处理后,就可摄下人体被检查部位的断面或立体的图像,发现体内任何部位的细小病变。
关键词:CT系统、CT实验原理、吸收定律,γ射线正文:I.CT系统CT系统的基本组成,如图1所示.图1CT系统基本组成。
CT 系统主要由射线源防护系统、探测器系统、数据采集系统、机械扫描运动系统、控制系统、计算机图像系统等6部分组成.CT 扫描方式有平行束扫描方式、窄角扇形束扫描、广角扇形束扫描3种基本的扫描方式.CT 设备主要有以下三部分:①扫描部分由X 线管、探测器和扫描架组成;②计算机系统,将扫描收集到的信息数据进行贮存运算;③图像显示和存储系统,将经计算机处理、重建的图像显示在电视屏上或用多幅照相机或激光照相机将图像摄下。
x射线衍射分析实验报告

x射线衍射分析实验报告X射线衍射分析实验报告。
实验目的:本实验旨在通过X射线衍射技术对晶体结构进行分析,以了解晶体的结构和性质,并掌握X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验仪器与设备:1. X射线衍射仪,用于产生X射线,并测量样品对X射线的衍射情况。
2. 样品,需要进行分析的晶体样品。
3. 数据处理软件,用于处理和分析实验得到的数据。
实验步骤:1. 样品制备,取得晶体样品,进行必要的处理和制备。
2. 实验仪器准备,打开X射线衍射仪,调试仪器参数,确保仪器正常工作。
3. 进行X射线衍射,将样品放置在X射线衍射仪中,进行X射线衍射实验。
4. 数据处理与分析,使用数据处理软件对实验得到的数据进行处理和分析,得出样品的晶体结构信息。
实验结果与分析:通过本次实验,我们成功得到了样品的X射线衍射图谱,并进行了数据处理和分析。
根据X射线衍射图谱的特征峰值和衍射角度,我们确定了样品的晶体结构信息,包括晶格常数、晶胞结构等。
通过对实验数据的分析,我们得出了样品的晶体结构参数,并对样品的性质进行了初步了解。
实验结论:本次实验通过X射线衍射技术对样品的晶体结构进行了分析,得出了样品的晶体结构信息,并初步了解了样品的性质。
实验结果表明,X射线衍射技术是一种有效的手段,可用于分析晶体结构和性质。
通过本次实验,我们对X射线衍射技术有了更深入的了解,并掌握了X射线衍射技术的基本原理和操作方法。
实验总结:本次实验对我们了解晶体结构分析技术具有重要意义,通过实际操作,我们深入掌握了X射线衍射技术的原理和方法。
同时,本次实验也为我们今后的科研工作奠定了基础,为我们进一步深入研究晶体结构和性质打下了良好的基础。
希望通过今后的努力,能够更深入地探索X射线衍射技术在晶体结构分析中的应用,为科学研究做出更大的贡献。
通过本次实验,我们不仅学习到了X射线衍射技术的基本原理和操作方法,还对晶体结构分析有了更深入的了解。
我们相信,通过不断的学习和实践,我们一定能够运用所学知识,取得更加丰硕的科研成果。
X射线衍射仪操作实验

X射线衍射仪及操作一、实验内容1.X射线相关中的安全与基本操作2.样品要求3.实验参数的确定4.实验结果的分析与整理5.论文中试验方法的介绍、图表处理与相关说明二、X射线衍射仪型号D/max 2000/PC三、操作过程1、X射线操作中注意事项以及自保功能1)每次开门之前按“Door”,待听到“滴滴”的响声再打开门。
2)关门一定要注意,不可太用力,防止门没关严实,仪器中自检功能启动,自动切断X射线发生器的电源。
3)冷却水保护电路——冷却水流量不足时,将自动断开X射线发生器的电源,以免X射线管受到损坏4)功率过载保护电路——当管子的运行功率超过设定值时,自动切断X射线发生器的电源5)KV过低和KV过高保护电路——当管压低于10KV或超过设定限制时,自动切断X射线发生器的电源2、制备样品用于X射线衍射的样品可以是粉末样或块状样1.粉末样品制备a.样品颗粒度小于300目b.用药勺取1g粉末放入玻璃样品架样品槽内,用毛玻璃轻压粉末,使之充满槽内,轻轻刮去多余的粉末,最后压平压实样粉末,使样品表面与玻璃架表面在同一平面内2.块状样品要求a.表面尺寸不得大于15mm*18mm,表面(被照射面)采用金相水磨砂纸磨平,无应力和织构b.取铝样品架正面朝下(正面左上角有白点,反面下端有两道擦痕)放在平析玻璃上,取制好的块状样品放入样品架的样品框内,同样正面朝下。
取少量橡胶泥搓成长2cm的长条,放在样品架上,在橡皮条的两端与样品背面轻压,使样品固定在样品架上,注意不要太用力,否则橡胶泥突出到样品表面,造成多余的衍射线条。
3、启动设备1)实验室条件室内温度保持恒定在20C,室内相对湿度保持在70%以下2)真空系统打开电源,按下Pump面板上的START按钮,启动真空系统,实验要求真空度在10-5托或更高3)冷却系统采用循环水冷却系统,开机时打开循环水开启开关4、XG的控制1)打开计算机,双击桌面上的XG Control 图标2)点亮POWER,控制电源供给3)点亮X ray 按钮,启动X射线发生器,设置基准电压为40KV,电流200mA 4)最小化XG图标5、XG Ageing(老练)(时效)1)真空系统关闭一段时间后,光管内部不能保持真空状态,在再次实验前必须进行老练,老练的作用是使光管能适应KV/mA的变化2)老练按预设的程序进行,一般停用一天需老练4h,停用一周需老练6h,停用一月需12h6、样品安装1)按下衍射仪面板上的Door按钮,蜂鸣器发出报警声,向右拉开衍射仪保护门2)将样品表面朝上安装样品到样品台上3)特别警告:开门时必须记住先按下D o o r,关门时必须握住左边门使之不能动,否则,系统自动关闭X射线发生器7、常规测量程序在计算机桌面上双击Right Measurement System 图标,打开测量控制系统软件,进入控制主界面8、测量条件选择在主界面上,双击Condition 下‘1’,进入测量条件设置界面,选择START Angle, End Angle、Scan speed等参数。
X射线衍射实验报告

X射线衍射实验报告实验目的:1.理解X射线的基本原理和衍射现象;2.学习使用X射线衍射技术进行晶体结构分析;3.掌握X射线衍射仪器的操作和数据处理方法。
实验原理:X射线衍射是利用物质对X射线的散射现象来研究物质的结构的一种方法。
当X射线照射到晶体上时,晶格中的原子会对X射线进行干涉和散射,形成一系列的衍射斑。
通过测量和分析这些衍射斑的位置和强度,可以确定晶体的晶格结构和晶胞参数。
实验步骤:1.将待测试的晶体样品固定在X射线衍射仪器的样品台上;2.调节X射线束的能量、强度和角度,使其照射到样品上;3.调整检测仪器的位置和参数,记录衍射斑的出现位置和强度;4.根据衍射斑的位置和强度,利用衍射理论计算晶体的晶格结构和晶胞参数;5.对实验数据进行处理和分析,得出相应的结论。
实验结果:根据实验测量到的衍射斑的位置和强度,通过衍射理论计算得到了待测晶体的晶胞参数和晶格结构。
比较实验结果与已知数据,验证了实验的准确性和可靠性。
实验讨论:2.实验方法的改进和优化;3.实验结果的意义和应用。
实验结论:通过X射线衍射实验,我们成功地测量和分析了待测晶体的晶格结构和晶胞参数,验证了X射线衍射技术在晶体结构分析中的可行性和应用价值。
同时,我们也进一步了解了X射线的基本原理和衍射现象,对X射线衍射仪器的操作和数据处理方法有了更深入的认识和理解。
总结:X射线衍射实验是一种重要的手段,用于研究物质的结构和性质。
通过实验,我们不仅学到了理论知识,还提高了实验操作和数据处理的能力。
这些都对我们今后的学习和工作具有重要意义。
需要进一步加强对实验原理和技术的理解,不断优化和改进实验方法,使实验结果更加准确、可靠和有意义。
衍射增强CT的实验方法和数据处理

DEIreconstructor的使用
转轴最佳值判断(DEI-CT):
转轴错误,会发生重影现象! 正确
转轴:810
转轴:823
转轴:830
2013-11-27
42
DEIreconstructor的使用
转轴最佳值判断(DPI-CT):
转轴错误,重建图像会不闭合! 正确
2013-11-27
12
CT重建的基本原理
迭代算法的原理
X
( k 1)
X
(k )
(k )
pik rik X ( k ) rik
2
rikT
2013-11-27
13
CT重建的基本原理
解析重建算法:速度快、精确重建,要求数据完备
2013-11-27
14
CT重建的基本原理
解析重建算法的原理
0 0 0
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40
DEIreconstructor的使用
推荐,计算快
转轴优化界面,重建界面
Angle:角度误差值 SliceNo:重建第几层 RotRa:采集CT数据时样品 选择角度 Step:采集CT数据时样品采 样间隔 Axis:转轴扫描重建选择 Image Step:利用多少重建数 据进行重建,4,即利用1/4的 输入数据重建。越大重建质 量越差,速度越快!
0 1 0
0 0 0
我们考虑孤立点源反投影重建, 中心点A经n条投影线投影后,投 影值均为1: p1=p2=...=pn=1 因此重建后
fA
1 ( p1 p2 ... pn ) 1 n
1/n 1/n 1/n 1/n 1 1/n
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峰位像:
t t I I 0 exp ( x, y, z)dy ( x, y, z)dy R A o 0
左腰像
右腰像 折射像:
1 IL IH CL I L I H
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衍射增强CT的原理
传统吸收CT:
sin d
0
r
n( x, y, z ) z
n ( x , y , z ) (
d
0
1 ( x cos y sin xr ) dxr z ( xr , , z ) F u
n 2 n 2 ) ( ) x y
6
2013-11-27
X射线成像的局限性
传统的X射线成像是二维成像
X-ray
投影图像
2013-11-27
7
X射线成像技术与CT技术的结合
换一个角 度来观察
2013-11-27
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CT技术的工作原理
CT设备主要包括: 1.X射线光源 2.样品转台 3.探测器
数据采集
断层重建
3D重建
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CT重建的基本原理
图像显示窗口 投影数据路径显示 背景数据路径显示 信息分离算法
31
推荐配置:64位操作系统,8G以上内存,4核以上CPU 最低配置:32位操作系统,2G内存,单核CPU
DEIreconstructor的使用
软件安装
双击DEIReconstor_pkg.exe文件
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DEIreconstructor的使用
通过计算得到一个理论值: Angle 和RotAxis
通过扫描的方法对Angle 和 RotAxis进行优化。 例子:理论计算得到 Angle=1 那么在 Angle=0.8~1.2之间分 别重建,确定Angle的最佳值。
2013-11-27
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DEIreconstructor的使用
转轴校正
180度投影像 0度投影像
2013-11-27
40
DEIreconstructor的使用
推荐,计算快
转轴优化界面,重建界面
Angle:角度误差值 SliceNo:重建第几层 RotRa:采集CT数据时样品 选择角度 Step:采集CT数据时样品采 样间隔 Axis:转轴扫描重建选择 Image Step:利用多少重建数 据进行重建,4,即利用1/4的 输入数据重建。越大重建质 量越差,速度越快!
只需要在半腰位置360 度旋转样品,即可获 得样品在0~180度范围 内的投影像。
2013-11-27
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探测器的选择
了解探测器的像素尺寸,一般情况下像素尺寸的2~3倍是实际空间分辨率。
2013-11-27
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投影数目的选择
720张投影数据
投影数目:
2000张投影数据
N 2
N为样品直径,用像素数表示
y1 r11 r12 r r y2 21 22 yi ri1 ri 2
r1 j x1 r2 j x2 rij x3
256*256像素的图像,会产生256*180个方程
CT重建就是求解吸收系数的分布
u1t u2t u3t u4t u5t
I I 0e
udt
L
I ln( 0 ) udt I L
I ln( 0 ) u1 u2 I
投影的定义
uN
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10
CT重建的基本原理
2013-11-27
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CT重建的基本原理
迭代算法:速度慢,对噪声有很好的控制能力
0 1 0
0 0 0
我们考虑孤立点源反投影重建, 中心点A经n条投影线投影后,投 影值均为1: p1=p2=...=pn=1 因此重建后
fA
1 ( p1 p2 ... pn ) 1 n
1/n 1/n 1/n 1/n 1 1/n
而其他点均为1/n 这类伪迹成为星状伪迹
1/n 1/n 1/n
单色器晶体 样品转台 分析晶体
t t I I 0 exp ( x, y, z)dy ( x, y, z)dy R A o 0
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18
衍射增强CT的原理
左、右半腰像: 峰位像
t t I I 0 exp A D ( x , y , z )dy ( x , y , z )dy R 2 o 0 t t D I I 0 exp ( x, y, z)dy ( x, y, z)dy R A 2 o 0
使用说明书 重建程序
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DEIreconstructor的使用
软件工作流程
2013-11-27
34
DEIreconstructor的使用
数据导入和显示
Play 菜单
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DEIreconstructor的使用
数据校正:correct菜单,optimization菜单
2013-11-27
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DEIreconstructor的使用
得到转轴坐标的估计值
X=(X0+X180)/2 通常转台的角度误差小于1度
直接在 Optimization菜单中, 打开 RotAxis 对话框, 在Angle中输入1 在Axis中 输入X附近的值进行 扫描重建,查找最优化的转轴 值
u1t u2t u3t u4t u5t
I ln( 0 ) u1 u2 I
投影的定义
uN
相位衬度折射CT:
n1 t x n2 t x n3 t x n4 t x
n1 n2 n3 x x x 1 IL IH CL I L I H
nn x
峰位CT:
衍射增强CT的实验方法和数据处理
报告人:张凯 射线CT成像技术
2 DEI-CT的原理和实验参数确定 数据处理
3
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2
X射线的发现
Conrad Roentgen (1845- 1923)
2013-11-27 3
电磁波谱与X射线谱
• X射线是一种电磁波
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12
CT重建的基本原理
迭代算法的原理
X
( k 1)
X
(k )
(k )
pik rik X ( k ) rik
2
rikT
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13
CT重建的基本原理
解析重建算法:速度快、精确重建,要求数据完备
2013-11-27
14
CT重建的基本原理
解析重建算法的原理
0 0 0
重建信息输入框:Recon info
Rotat Range:采集CT数据时样品的 旋转范围,一般情况下都填180,表 示样品在CT数据采集过程中,从 0°旋转到180°。 Step:采集CT数据的过程中,投影 数据的采样间隔,1即为1° Slice Num:重建第几层断层图像。 Start 从第几层开始重建 End 重建到第几层
校正算法
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DEIreconstructor的使用
选择转台在0°下采集的样品投影数据
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DEIreconstructor的使用
选择转台在180°下采集的样品投影数据
2013-11-27
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DEIreconstructor的使用
选择五组对称的特征点,自动计算出Angle 和RotaAxis
r
( xr , , z )
1 ( x cos y sin xr )dxr 2 2 xr
cos d
r
( xr , , z ) F 1 u ( x cos y sin xr )dxr
( x cos y sin xr )dxr ( xr , , z ) F 1 u
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DEIreconstructor的使用
转轴最佳值判断(DEI-CT):
转轴错误,会发生重影现象! 正确
转轴:810
转轴:823
转轴:830
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DEIreconstructor的使用
转轴最佳值判断(DPI-CT):
转轴错误,重建图像会不闭合! 正确
Interval :允许向计算机中一次导入多少层的断层数据进行同时重建 32位操作系统 ,4G内存,Interval<=10;64位系统,32G内存,Interval<=1000
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DEIreconstructor的使用
输入信息判断
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DEIreconstructor的使用
快速找转轴,适合样品衬度差,无法利用Correct菜单找到特征点情 况。 3 1
2
1. 打开0度下投影图像图 片 2. 选取样品上某一点 3. 读取X0坐标值
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DEIreconstructor的使用
3
2 1
1. 打开180度下投影图像 图片 2. 选取样品上某一点 3. 读取X180坐标值
A
折射角:
OA SA
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