焊点可靠性之焊点寿命预测
工程预测焊点疲劳寿命

工程预测焊点疲劳寿命介绍了一种预测焊点疲劳寿命的工程计算方法及其软件系统。
这一方法用有限元中的刚性梁单元模拟焊核,用壳单元模拟连接板,求取通过梁单元传递的力和力矩;根据这些力和力矩计算焊核附近连接板和焊核周围的“结构应力”;然后通过一组以结构应力为控制参数的焊点S—N曲线估计焊点的疲劳损伤。
描述了软件系统的框架和特点,用两个简单的例子说明这一方法的应用。
结果表明,分析结果与试验结果相比有一定的保守性。
在汽车工业中,点焊被广泛地用于零部件和结构的制造。
点焊构件的耐久性主要取决于焊点的疲劳强度。
在一条生产自动线上装备一个焊点的点焊机械装置可能需要30万美元,为了补救某一问题而必须在生产时再增加一个点焊装置,其费用可能不止2倍。
如果我们能在设计的早期预测焊点的疲劳寿命,那么显然这些费用可以降到最低点。
更有意义的是,它也有助于缩短产品的开发周期,提高产品的质量。
Smith和Cooper用断裂力学方法研究过受剪切载荷焊点的疲劳寿命预测问题。
他们指出:“一个焊点也许可以被认为是一个外表面有一环向深裂纹的实心圆棒,当这一圆棒受一个Ⅰ—Ⅱ复合型载荷时,它会在最大的局部Ⅰ型方向产生分叉裂纹并扩展”。
他们说明了根据计算的裂纹扩展速率可以较好地预测焊点的疲劳寿命,并用他们的计算结果作出一些简单的设计曲线。
Smith和Cooper所建议的方法基于对简单受剪搭接接头的有限元模拟,这种方法需要进一步的发展才能用于其它不同的焊点型式,处理变幅异相复杂载荷。
发展的结果可能是一个简单的专门针对焊点的规范,按照英国标准BS7608的方法,给出适用于不同点焊类型的载荷—寿命曲线族。
事实上,关联不同加载条件下焊点的疲劳强度,载荷是一个相当糟糕的参量。
Raji和Sheppard提到,不同型式受不同载荷的焊点,它的疲劳耐久性能够通过分析板内焊点周边的局部应力得到更好的理解,这一局部应力指的是焊点附近的结构应力。
Rupp等人描述了如何计算这些结构应力。
焊点可靠性之焊点寿命预测

焊点可靠性之焊点寿命预测— 1 —焊点可靠性之焊点寿命预测在产品设计阶段对SMT 焊点的可能服役期限进行预测,是各大电子产品公司为保证电子整机的可靠性所必须进行的工作,为此提出了多种焊点寿命预测模型。
(1) 基于Manson-Coffin 方程的寿命预测模型M-C 方程是用于预测金属材料低周疲劳失效寿命的经典经验方程[9]。
其基本形式如下:C N p f =ε?β(1-1)式中 N f —失效循环数;εp —循环塑性应变范围;β, C —经验常数。
IBM 的Norris 和Landzberg 最早提出了用于软钎焊焊点热疲劳寿命预测的M-C 方程修正形式[2]:)/exp()(max /1kT Q Cf N n p m f -ε?= (1-2)式中 C, m, n —材料常数;Q —激活能;f —循环频率;k — Boltzmann 常数;T max —温度循环的最高温度。
Bell 实验室的Engelmaier 针对LCCC 封装SMT 焊点的热疲劳寿命预测对M-C 方程进行了修正[10]:c f f N /1'221???? ??εγ?= (1-3))1ln(1074.1106442.024f T c s +?+?--=-- (1-4)式中?γ —循环剪切应变范围;f 'ε—疲劳韧性系数,2f 'ε=0.65;c —疲劳韧性指数;T s —温度循环的平均温度。
采用M-C 型疲劳寿命预测方程,关键在于循环塑性应变范围的确定。
主要有两种方法:一种是解析法[10,11],通过对焊点结构的力学解析分析计算出焊点在热循环过程中承受的循环应变范围,如Engelmaier 给出[10]:—— 2 40010)]()([2-?-α--α=γ?T T T T h Ls s c c (1-5)式中 L — LCCC 器件边长;h —焊点高度;αc , αs —分别为陶瓷芯片载体和树脂基板的热膨胀系数;T c , T s —分别为陶瓷芯片载体和树脂基板的温度;T 0 — power-off 时的稳态温度。
焊点可靠性之焊点寿命改善

焊点可靠性之焊点寿命改善提高SMT焊点可靠性的方法主要有以下四种:(1) 研制开发新型基板材料以减小陶瓷芯片载体与树脂基板之间的热膨胀系数差。
研究主要集中于印刷电路板材料,已经研制开发了42%Ni-Fe合金(CTE=5ppm/o C)、Cu-因瓦合金-Cu复合材料板(CTE=2.8~13ppm/o C)等新型基板材料,效果较好[41]。
但是由于新型材料制作工艺复杂、价格昂贵,其实用性受到很大限制,90年代起极少有此类研究见于文献。
(2) 提高软钎料合金自身的力学性能,向Sn-Pb共晶合金基体中加入微量合金元素以实现合金强化。
由于实际生产中需综合考虑成本、工艺性等多方面问题,对Sn-Pb基钎料合金而言,这方面的工作较少,主要是添加Ag[42]。
朱颖博士开发了Sn-Pb-RE系列钎料合金,不仅提高表面组装焊点热循环寿命2-3倍,而且在成本和工艺性方面均有很好的应用前景[43]。
近年来,随着环境保护呼声的日益提高,开发无铅钎料(Lead-Free Solder)成为了软钎焊材料研究的热点,HP公司的Glazer对此作了很好的综述[44],焦点在于新型无铅钎料合金在保证润湿性的前提下,其熔点要与现有工艺条件匹配且其力学性能要优于Sn-Pb共晶合金。
(3) 焊点形态优化设计。
作为承受载荷的结构件,不同的焊点形态将导致焊点内部不同的热应力-应变分布,从而导致不同的焊点热疲劳性能。
焊点形态优化设计包括两方面的内容:一是焊点形态预测,即在钎料量、焊点高度、焊盘几何、软钎焊规范等工艺参数确定的条件下,借助于焊点成型的数学物理模型计算出焊点的最终形态。
近年来提出了多种基于能量最小原理的焊点形态预测模型[45-47]。
二是优化设计,即何种焊点形态才具有最优的热疲劳性能。
优化判据的确定是一个涉及到焊点失效机制的理论问题,目前还远没有—1 —解决,现有的优化设计工作的优化判据均是不同形态焊点的热疲劳寿命试验数据[48]。
焊接件寿命试验

焊接件寿命试验引言:焊接件是现代工程中常见的连接方式之一,其质量和寿命直接影响到工程的安全和可靠性。
为了确保焊接件的寿命能够满足工程要求,需要进行焊接件寿命试验。
本文将从试验目的、试验方法、试验过程和试验结果等方面进行详细介绍。
一、试验目的焊接件寿命试验的主要目的是评估焊接件在实际工作环境中的使用寿命。
通过试验,可以得到焊接件在不同载荷、温度和腐蚀环境下的寿命特性,为工程设计和材料选型提供依据。
同时,试验还可以检验焊接工艺的可靠性和焊接接头的强度。
二、试验方法焊接件寿命试验通常采用加速寿命试验的方法,即在较短的时间内模拟出焊接件在实际工作环境中的使用寿命。
常用的试验方法有以下几种:1. 加速腐蚀试验:将焊接件置于具有一定腐蚀性的介质中,通过提高温度、增加腐蚀剂浓度等手段,加速腐蚀过程,评估焊接件在腐蚀环境下的寿命。
2. 加速载荷试验:通过施加静态或动态载荷,模拟焊接件在实际工作中承受的力学载荷,评估焊接件在不同载荷下的寿命。
3. 加速热循环试验:通过交替施加高温和低温,模拟焊接件在温度变化环境下的热应力,评估焊接件在热循环环境下的寿命。
三、试验过程焊接件寿命试验的过程包括试样制备、试验条件设定、试验操作和数据记录等环节。
1. 试样制备:根据实际工程需要,制备符合规范要求的焊接件试样。
试样的准备应符合焊接工艺规范,确保试验结果的可靠性。
2. 试验条件设定:根据实际工程环境,设定试验条件,如温度范围、腐蚀剂种类和浓度、载荷大小等。
试验条件的设定应尽量接近实际工作环境,以保证试验结果的准确性。
3. 试验操作:按照设定的试验条件,进行试验操作。
根据不同试验方法,进行腐蚀介质的加注、载荷的施加或温度的变化等操作。
同时,对试验过程中的数据进行记录,以便后续分析和评估。
四、试验结果焊接件寿命试验结束后,根据试验数据进行结果分析和评估。
主要包括以下几个方面:1. 寿命曲线分析:根据试验数据绘制寿命曲线,分析焊接件在不同试验条件下的寿命特性。
焊点可靠性研究详解

SMT焊点可靠性研究前言近几年﹐随着支配电子产品飞速发展的高新型微电子组装技术--表面组装技术(SMT)的飞速发展﹐SMT焊点可靠性问题成为普遍关注的焦点问题。
与通孔组装技术THT(Through Hole Technology)相比﹐SMT在焊点结构特征上存在着很大的差异。
THT焊点因为镀通孔内引线和导体铅焊后﹐填缝铅料为焊点提供了主要的机械强度和可靠性﹐镀通孔外缘的铅焊圆角形态不是影响焊点可靠性的主要因素﹐一般只需具有润湿良好的特征就可以被接受。
但在表面组装技术中﹐铅料的填缝尺寸相对较小﹐铅料的圆角(或称边堡)部分在焊点的电气和机械连接中起主要作用﹐焊点的可靠性与THT焊点相比要低得多﹐铅料圆角的凹凸形态将对焊点的可靠性产生重要影响。
另外﹐表面组装技术中大尺寸组件(如陶瓷芯片载体)与印制线路板的热膨胀系数相差较大﹐当温度升高时﹐这种热膨胀差必须全部由焊点来吸收。
如果温度超过铅料的使用温度范围﹐则在焊点处会产生很大的应力最终导致产品失效。
对于小尺寸组件﹐虽然因材料的CTE 失配而引起的焊点应力水平较低﹐但由于SnPb铅料在热循环条件下的粘性行为(蠕变和应力松弛)存在着蠕变损伤失效。
因此﹐焊点可靠性问题尤其是焊点的热循环失效问题是表面组装技术中丞待解决的重大课题。
80年代以来﹐随着电子产品集成水平的提高,各种形式﹑各种尺寸的电子封装器件不断推出﹐使得电子封装产品在设计﹑生产过程中,面临如何合理地选择焊盘图形﹑焊点铅料量以及如何保证焊点质量等问题。
同时﹐迅速变化的市场需求要求封装工艺的设计者们能快速对新产品的性能做出判断﹑对工艺参数的设置做出决策。
目前﹐在表面组装组件的封装和引线设计﹑焊盘图形设计﹑焊点铅料量的选择﹑焊点形态评定等方面尚未能形成合理统一的标准或规则﹐对工艺参数的选择﹑焊点性能的评价局限于通过大量的实验估测。
因此﹐迫切需要寻找一条方便有效的分析焊点可靠性的途径﹐有效地提高表面组装技术的设计﹑工艺水平。
无铅焊点寿命预测及IMC对可靠性影响的研究

哈尔滨理工大学硕士学位论文无铅焊点寿命预测及IMC对可靠性影响的研究姓名:姜志忠申请学位级别:硕士专业:材料加工工程指导教师:孙凤莲20070301钎料的呼声越来越高。
最终拥有悠久历史的传统型SnPb钎料,将会逐渐被新的绿色环保型钎料所替代翻。
如无铅汽油的广泛使用就是一个很好的范例。
另一方面,微电子产品焊点尺寸越来越小,引线间距越来越窄,而其所承受的热学、电学及力学载荷却都越来越高,这就要求钎料应具有优良的抗疲劳、蠕变性能,而传统的SnPb钎料抗蠕变性能差,已经不能满足使用要求。
工业界一直致力于无铅钎料的开发工作,准备迎接无铅化带来的挑战161。
无铅化技术由于钎料的差异和焊接工艺参数的调整,必不可少的会给焊点可靠性带来一定的影响。
而SMT、MCM焊点是直接实现异质材料间电气及机械连接,它的质量与可靠性很大程度决定了电子产品的质量171。
图1-1电子封装结构与组装中的微连接技术示意图Fig.1-lS仇lcturescheroaficofBGA,cSPpackageandthemicroweldingtechnology1.2无铅钎料的研究现状1.2.1无铅钎料的性能要求在无铅焊接组装工艺中,焊接材料的选择是最具挑战性的。
在选择材料时要考虑到焊接元件的类型、线路板的类型,以及它们的表面涂敷状况。
近年来由于SMT的普遍应用,在提高电路的组装密度和可靠性方面,对钎料合金提出了更高的要求嘲:(1)合金共晶温度近似于sn37Pb的共晶温度(183"c),且熔化温度区间越小越好。
C2)无毒或毒性很小。
(3)润湿性能和机械性能良好,焊点要有足够的可靠性。
图1-2BGA焊点中不同大小的空洞Fig.1-2VarioussizeofvoidsinBGAsolderjoints空洞对EBGA焊点可靠性的影响,并通过非线性有限元分析方法分析不同位置和不同大小的空洞对焊点应力、应变和可靠性的影响,为制定科学的焊点空洞接收标准提供依据。
工程预测焊点疲劳寿命

工程预测焊点疲劳寿命介绍了一种预测焊点疲劳寿命的工程计算方法及其软件系统。
这一方法用有限元中的刚性梁单元模拟焊核,用壳单元模拟连接板,求取通过梁单元传递的力和力矩;根据这些力和力矩计算焊核附近连接板和焊核周围的“结构应力”;然后通过一组以结构应力为控制参数的焊点S—N曲线估计焊点的疲劳损伤。
描述了软件系统的框架和特点,用两个简单的例子说明这一方法的应用。
结果表明,分析结果与试验结果相比有一定的保守性。
在汽车工业中,点焊被广泛地用于零部件和结构的制造。
点焊构件的耐久性主要取决于焊点的疲劳强度。
在一条生产自动线上装备一个焊点的点焊机械装置可能需要30万美元,为了补救某一问题而必须在生产时再增加一个点焊装置,其费用可能不止2倍。
如果我们能在设计的早期预测焊点的疲劳寿命,那么显然这些费用可以降到最低点。
更有意义的是,它也有助于缩短产品的开发周期,提高产品的质量。
Smith和Cooper用断裂力学方法研究过受剪切载荷焊点的疲劳寿命预测问题。
他们指出:“一个焊点也许可以被认为是一个外表面有一环向深裂纹的实心圆棒,当这一圆棒受一个Ⅰ—Ⅱ复合型载荷时,它会在最大的局部Ⅰ型方向产生分叉裂纹并扩展”。
他们说明了根据计算的裂纹扩展速率可以较好地预测焊点的疲劳寿命,并用他们的计算结果作出一些简单的设计曲线。
Smith和Cooper所建议的方法基于对简单受剪搭接接头的有限元模拟,这种方法需要进一步的发展才能用于其它不同的焊点型式,处理变幅异相复杂载荷。
发展的结果可能是一个简单的专门针对焊点的规范,按照英国标准BS7608的方法,给出适用于不同点焊类型的载荷—寿命曲线族。
事实上,关联不同加载条件下焊点的疲劳强度,载荷是一个相当糟糕的参量。
Raji 和Sheppard提到,不同型式受不同载荷的焊点,它的疲劳耐久性能够通过分析板内焊点周边的局部应力得到更好的理解,这一局部应力指的是焊点附近的结构应力。
Rupp等人描述了如何计算这些结构应力。
SMT焊点疲劳寿命的预估

新技术新工艺2020年第11期SMT焊点疲劳寿命的预估$刘新胜,李晓聪,杨丽娜,兰治军,王萍,张瑶,徐璐,王婕(中国北方车辆研究所,北京100071)摘要:表面组装工艺的优劣直接影响印制电路板组件的质量及可靠性,进而对整机系统的可靠性能产生决定性影响。
特别是,无铅元器件有铅焊料的混装技术较为复杂,相比传统有铅工艺,具有更高的焊接峰值温度和更窄的工艺窗口。
其焊点失效主要是由于产品周期性工作导致的温度变化以及外界环境周期性的温度变化,导致产品的互连焊点发生周期性的应力应变作用,引起焊点的热疲劳和蠕变疲劳,进而发生互连失效。
为提升电子产品的质量和可靠性,基于PCBA组件的典型工作剖面及装备使用的环境条件,以组件中有高可靠性风险的器件为工艺研究对象,制备了菊花链线路的寿命评估板,设定典型应力水平的温度循环开展试验,并根据加速模型进行外推,预测了焊点寿命数据。
关键词:焊点疲劳寿命;混装焊点;菊花链测试结构;温度循环;加速试验;可靠性中图分类号:TG405文献标志码:APrediction of SMT Solder Joint Fatigue LifeLIU Xinsheng#LI Xiaocong#YANG Lina,LAN Zhijun,WANG Ping,ZHANG Yao#XU Lu,WANG Jie(China North Vehicle Research Institute#Beijing100071#China)Abstract:The good and bad of the surface assembly process directly affected the quality and reliability of the printed circuit board components and finally affected the reliability of the whole system.In particular#the mixing technology of lead-freecomponentswithleadsolderwasmorecomplicated#andhadahigherpeaksolderingtemperatureandanarrowerprocess windowthanthatofthetraditionalleadedprocess+Thefailureofthesolderjointswasmainlyduetothetemperaturechanges causedbytheperiodicworkoftheproductandtheperiodictemperaturechangesofexternalenvironment#whichresultedin periodicstressandstraine f ectsontheinterconnectsolderjointsoftheproducts#andcausedthermalfatigueandcreepfa-tigueofthesolderjoints#thenaninterconnectionfailureoccurred+Inordertoimprovethequalityandreliabilityofelectronic products#based on the typical working profile of PCBA components and the environmental conditions that the equipment used#thecomponentswithhighreliabilityrisksinthecomponentswereusedastheresearchprocessobjectstopreparethe lifeevaluationboardofthedaisychaincircuit#thetemperaturecycletestwascarriedoutwithatypicalstresslevel#andthe acceleration modelwasextrapolatedtopredictthesolderjointlifedata+Key words:solder joint fatigue life#mixed solder joint#daisy chain test structure#temperature cycle#accelerated test# reliabiliEy电装工艺的优劣直接影响印制电路板组件的质量及可靠性,在电子器件或电子整机的所有故障原因中,约70%以上为焊点失效造成(1),特别是,无铅元器件-有铅焊料的混装技术较为复杂,相比于传统有铅工艺,具有更高的焊接峰值温度和更窄的工艺窗口,此外,混合焊料较宽的熔点范围、较差的润湿能力和较高的弹性模量等特征也给混装工艺电子装备的质量和可靠性带来了隐患閃。
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焊点可靠性之焊点寿命预测
在产品设计阶段对SMT 焊点的可能服役期限进行预测,是各大电子产品公司为保证电子整机的可靠性所必须进行的工作,为此提出了多种焊点寿命预测模型。
(1) 基于Manson-Coffin 方程的寿命预测模型
M-C 方程是用于预测金属材料低周疲劳失效寿命的经典经验方程[9]。
其基本形式如下:
C N p f =ε∆β
(1-1)
式中 N f — 失效循环数;
∆εp — 循环塑性应变范围;
β, C — 经验常数。
IBM 的Norris 和Landzberg 最早提出了用于软钎焊焊点热疲劳寿命预测的M-C 方程修正形式[2]:
)/exp()(max /1kT Q Cf N n p m f -ε∆= (1-2)
式中 C, m, n — 材料常数;
Q — 激活能;
f — 循环频率;
k — Boltzmann 常数;
T max — 温度循环的最高温度。
Bell 实验室的Engelmaier 针对LCCC 封装SMT 焊点的热疲劳寿命预测对M-C 方程进行了修正[10]:
c f f N /1'221⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛εγ∆= (1-3)
)1ln(1074.1106442.024f T c s +⨯+⨯--=-- (1-4)
式中 ∆γ — 循环剪切应变范围;
f 'ε— 疲劳韧性系数,2f 'ε=0.65;
c — 疲劳韧性指数;
T s — 温度循环的平均温度。
采用M-C 型疲劳寿命预测方程,关键在于循环塑性应变范围的确定。
主要有两种方法:一种是解析法[10,11],通过对焊点结构的力学解析分析计算出焊点在热循环过程中承受的循环应变范围,如Engelmaier 给出[10]:
— — 2 40010)]()([2-⨯-α--α=γ∆T T T T h L
s s c c (1-5)
式中 L — LCCC 器件边长;
h — 焊点高度;
αc , αs — 分别为陶瓷芯片载体和树脂基板的热膨胀系数;
T c , T s — 分别为陶瓷芯片载体和树脂基板的温度;
T 0 — power-off 时的稳态温度。
另一种方法是基于有限元数值模拟的结果给出循环塑性应变范围[12-14]。
由于所采用的软钎料合金本构方程的不同,在M-C 方程中采用循环塑性应变范围、或循环蠕变应变范围、或循环非弹性总应变范围存在着争议。
M-C 方程作为一经验方程,对疲劳失效数学规律的宏观描述是成功的。
但是在实际应用中,由于方程中的参数均须来自于初期试验结果,而不同的试件形式、载荷条件等因素将导致不同的参数结果,外推性相当差。
例如Engelmaier 的修正方程中参数确定依据的是Wild [15]的试验数据,而其他研究者在引用时则引起了较大的误差[16]。
需要指出的是,由于SMT 焊点的微细特征,通过试验方法获得焊点在热循环过程中的循环应变范围数据极为困难。
近年来开始了一些尝试[17-20],主要方法是光学干涉法。
Motorola 公司的Guo 等人对近年来光学技术的发展及其在应力/应变试验测量方面的应用作了综述[19]。
来自同一公司的Lu 提出了一种具有更高精度,基于数字图象处理技术的数字灰度值校正技术[20]。
但目前为止采用有限元数值模拟方法还是主流。
(2) 基于断裂力学的寿命预测模型
既然SMT 焊点失效过程的宏观表象为裂纹的萌生与扩展,因此采用断裂力学的方法通过预测疲劳裂纹扩展速率从而预测出疲劳寿命是一种自然的思维方式,物理概念也比较清晰。
在断裂力学中对于疲劳裂纹扩展速率也存在一经典经验方程—Paris 方程,其基本形式如下[21]:
m H C dN
da )(∆= (1-6) 式中 a — 裂纹长度;
∆H — 主控裂纹扩展的力学参量;
C, m — 表征疲劳裂纹扩展阻力的材料参数。
Paris 方程的应用重点在于确定主控裂纹扩展的力学参量,这在断裂力学中也是一个存在争议的问题。
出身于Boeing 公司的Paris 最初在线弹性断裂
力学的应用中采用的是应力场强度因子∆K[22],Westinghouse研发中心的Liaw 等人将其引入了软钎焊焊点的疲劳问题分析[23]。
后继研究中,HP公司的Lau 提出采用循环∆J积分[24];Ford公司的Pao提出采用可以表征材料蠕变行为的C*积分[25];北卡罗来纳大学的Guo提出采用循环塑性功密度∆W p[26];最
近Ford公司的Hu提出采用一种基于应变的主控力学参数a
γ
∆[21]。
π
总体而言,由于焊点的表面裂纹扩展及长度可以进行试验观测(通常采用光学显微镜对表面裂纹长度进行观察,精确性较差。
Auburn大学的Krishnamoorthy等人已提出采用Moire干涉技术直接测量软钎焊焊点钎料合金/Cu界面的断裂参数—裂纹张开位移[27]),断裂力学的应用可以进行试验的验证。
但是由于断裂力学的发展水平,其应用有相当大的局限性。
一方面,基于断裂力学的寿命预测模型中不包含金属学因素的影响;另一方面,作为弹塑性断裂力学基石的J积分在卸载载荷条件下丧失了物理意义,因此其在循环载荷条件下的应用受到了置疑[28]。
(3) 基于损伤力学的寿命预测模型
损伤力学中将材料的失效过程看作是损伤的累积过程。
对于材料失效过程的数值模拟及寿命预测的一般研究途径为:将损伤度量变量引入材料的本构方程或定义一种变量为损伤度量,而后进行结构在一定载荷条件下损伤度量演化的试验或数值模拟,并规定损伤度量达到一临界值时材料失效。
对于表面组装焊点,力学试验中可以采用裂纹总面积[29]、焊点接触电阻变化[30]、焊点热阻变化[31,32]、循环应力幅值下降[33,34]等作为损伤度量。
有限元数值模拟中通常采用不可逆变形或耗散能作为损伤度量。
西北大学的Dasgupta从能量耗散的角度建立了损伤度量[35],而Solomon等人却指出采用耗散能作为损伤度量不能导致唯一的损伤值,因为载荷和应变速率对系统能量有很大影响[36]。
Ford公司的Pan建立了临界累积应变能损伤度量[37];Basaran等人提出一种基于热力学第二定律和统计力学的以熵变为基础的损伤度量,并将之纳入软钎料合金的损伤耦合型粘塑性本构方程[38-40]。
基于损伤力学的寿命预测方法可以模拟材料失效的全过程,但是限于损伤力学目前还处于发展阶段,损伤度量的物理意义及其临界值—损伤判据的定义均不是很清楚。
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