X射线检验报告
X射线检测仪校验规程
X射线检测仪校验规程一、目的确保RT检测方法控制产品质量活动所使用的X射线检测仪性能的符合性和有效性。
二、适用范围本规程适用于额定管电压小于等于300KVX 射线探伤机的曝光曲线的制作校验及穿透力校验工作。
三、人员要求1、X射线探伤机校验人员都应经过专业培训，并持有国家质量技术监督局的Ⅱ级或Ⅱ级以上的射线检验人员资格证书。
2、X射线探伤机校验人员应熟悉所用设备的基本结构、各部分的作用及操作规程。
3、X射线探伤机校验人员应严格按照本规程操作X射线探伤机，并对设备使用的安全性负责。
四、引用标准JB/T4730-2005 《承压设备无损检测》JJG40-2011 《X射线探伤机检定规程》五、应用器材1、阶梯试块：阶梯级差为2mm，每级宽度不少于15mm，试块长度和宽度应不小于胶片尺寸，且宽度不小于80mm，长度不小于300mm。
2、CR-301黑度计3、胶片及暗室处理4、观片灯六、曝光曲线制作：每台设备的曝光曲线，应不少于3个选定管电压的参数曲线1、设计透照参数每台设备制作3条曲线，每条曲线应设计1张参数表，其管电压的选择应为设备的较低、中等以及较高管电压，如250KVX射线机，推荐选择150KV、200KV、240KV；参数设计表管电压KV 曝光量mA分5 10 15 25 对应厚度mm注：焦距600mm或常用焦距，显影20℃5分钟，胶片：天津Ⅲ型或常用型号胶片，铅增感屏0.03/0.1，取底片黑度为3.0。
2、曝光试验⑴根据选择的曝光参数进行透照,透照时暗盒背面要用1mm的铅板屏蔽。
⑵底片冲洗干燥后,用观片灯观察,并用黑度计测量,选择黑度3.0(或与之最相接近)的部位,填入参数设计表的对应栏.3、绘制曝光曲线⑴根据参数设计表中的数据,绘制曝光曲线。
⑵曝光曲线用对数坐标纸绘制。
纵坐标为曝光量的常用对数，横坐标为透照厚度。
胶片、增感屏、底片黑度、透照焦距、暗室处理条件、射线机型号及编号均在曝光曲线中注明。
钢结构焊缝X射线探伤检验指导书
作业指导书(一)Task Steering（第一版1nd edition）编制：审核：批准：执行日期：2007年10月20日1．目的Purpose1.1为使钢结构的部件和焊缝采用X射线检测时其全过程的操作规范化，以便获得合格的透照底片，正确反映产品质量。
Standardize the whole process of X-ray inspecting in order to acquire eligible negative reflecting quality of products correctly.2．适用范围Applied scope2.1本规程适用于钢结构中板厚3~40mm的对接焊缝的射线透照检测。
Thisregulations is applied to radial inspecting of butt weld of 3~40mm thickness steel structure plate.3．引用标准Quoted standards3.1ANSI/AWS D1.1(2006) “Structural welding code-steel”（钢结构焊接标准）3.2ASTM/E 747（使用金属线透度计控制射线照相检测质量的方法）3.3ASME SEC .V3.4ASME B31.34．实施步骤Procedure of performance4.1人员的要求Requirements of personnel4.1.1从事射线照相检测的人员，必须掌握射线探伤的基础技术，具有足够的部件和焊缝射线探伤经验，并掌握一定的材料，焊接基础知识。
Theperson who inspect must know basic technology of NDT, basicknowledge of welding and material but have enoughexperience.4.1.2探伤人员应由相关部门无损检测考核委员会培训和考核，并持有相关部门无损检测考核委员会认可的RTⅡ级或以上资格证书，才能从事与该等级相应的检验工作。
电芯x-ray标准
电芯x-ray标准全文共四篇示例，供读者参考第一篇示例：电芯X-ray标准主要包括以下几个方面：一、外观检测：X-ray技术可以帮助检测电芯外壳的完整性和封装是否良好。
通过X-ray照射，可以检测是否有裂纹、漏液等缺陷，确保电芯的外观符合标准要求。
二、内部结构检测：X-ray技术可以穿透电芯外壳，对内部结构进行检测。
通过X-ray照射，可以看到电芯内部的正极、负极和隔离层的布局情况，检测是否存在异物、热点等问题，确保电芯内部结构正常。
三、焊接质量检测：在电芯的制造过程中会涉及到焊接工艺，焊接质量对电芯的性能和安全性至关重要。
X-ray技术可以检测焊点的质量，包括焊接是否均匀、焊接是否牢固等，确保焊接质量符合标准要求。
四、材料成分分析：X-ray技术还可以用于分析电芯内部材料的成分，包括正极、负极和隔离层的材料组成。
通过X-ray分析，可以检测材料成分是否准确，是否符合规定的标准，确保电芯的化学成分正常。
电芯X-ray标准是电芯质量控制的重要手段，通过X-ray技术可以对电芯进行全面、准确的检测和评估，帮助生产厂家确保电芯的质量和安全性。
在电子产品日益普及的今天，电芯的质量和性能更加重要，电芯X-ray标准的制定和实施对于电芯行业发展具有重要意义。
希望各电芯生产厂家能够遵守电芯X-ray标准，确保生产出优质、安全的电芯产品，为电子产品的发展贡献力量。
第二篇示例：电芯X射线检测是一种常用的质量检验方法，用于检测电芯内部结构及焊接质量，确保电池的性能和稳定性。
电芯X射线标准是指对电芯X射线检测过程中的参数、规范以及结果进行统一规定的标准，以确保检测结果的准确性和可靠性。
本文将探讨电芯X射线标准的相关内容。
一、电芯X射线检测的重要性电芯X射线检测是电池制造过程中必不可少的一环，通过X射线检测可以快速、准确地了解电芯内部的结构和焊接情况，确保电芯的质量达到标准要求。
电芯X射线检测可以帮助制造商及时发现电芯内部存在的缺陷或问题，避免因电芯质量不达标导致的产品召回或安全事故。
XRR实验报告
X射线反射实验报告实验目的1.了解X射线测试仪器的组成；2.理解X射线反射测试的原理和基本操作步骤；3.学习X射线反射测试数据的基本处理方法。
实验原理在薄膜材料的研究中，其结构参数的测量，特别是厚度和表面粗糙度的测量对薄膜材料的结构和性能研究至关重要。
Ｘ射线反射(XRR)以其无损伤性、高精度以及测量速度快等特点被认为是目前测量薄膜厚度和表面粗糙度等参数的主要手段。
XRR通过X射线的总外部反射效应来研究薄层结构、表面和界面。
多用于表征磁性、半导体和光学材料中的单层和多层结构及涂层。
Ｘ射线以很小的入射角斜入射到薄膜介质中时，将在薄膜表面和薄膜与衬底的界面处发生折射和反射现象，如图1所示，在薄膜上下界面反射的光线符合干涉条件，将发生干涉相长与干涉相消，所得到的反射强度随入射角变化的周期性振荡曲线中包含有薄膜厚度、表面粗糙度和密度等参数信息,反射曲线上θc的位置、衍射峰的周期Δθ和反射强度减小的趋势分别决定了薄膜的密度ρ、厚度d 和表面粗糙度σ。
图中Κi、Κr和Κt分别表示入射、反射和折射Ｘ射线的波矢，θi，θr和θt分别是入射、反射和折射Ｘ射线与界面的夹角，q z＝Κr－Κi为散射波矢，n0，n1和n2分别表示在真空、薄膜和衬底三种介质中Ｘ射线的折射率。
图1光入射到单层薄膜上发生反射和折射的示意图厚度是薄膜的基本参数，当利用XRR测试薄膜试样时，膜层的厚度会对测试产生三种影响：①衍射强度会随薄膜厚度而变，膜越薄，衍射体积越小，衍射强度就越小；②薄膜上下界面的反射（衍射）光束将发生干涉，显示出干涉条纹，条纹的周期与薄膜厚度有关；③衍射峰将随薄膜厚度的减小而宽化，膜越薄，则衍射峰宽度越宽。
在θ小于全反射临界角θc时，入射光束在薄膜表面发生全反射，反射光束的强度几乎没有变化；而当θ大于θc时，一部分入射光束在薄膜表面发生反射，并随着θ的增大反射光束强度呈指数型减小，另一部分入射光束将穿透薄膜并在薄膜与衬底的界面上发生反射。
X射线检测规程
X射线检测规程1人员资格和职责1.1从事射线照相人员必须持有国家有关部门颁发的资格证书，II级证书具有评片、审核和签发报告的权利。
1.2 评片人员的视力应每年检查一次，校正视力不低于1.0。
1.3 射线人员应努力学习专业理论和技术法规，不断提高技术水平。
1.4射线人员应严格坚持质量标准，保证工程质量，实事求是，认真负责，忠于职守。
1.5认真做好无损检测设备的维护保养工作，严格执行安全防护措施。
2 检测操作流程图3 透照方式3.1 透照原理射线在穿透物体过程中会与物质发生相互作用，因吸收和散射而使其强度减弱。
强度衰减程度取决于物质的衰减系数和射线在物质中穿越的厚度。
如果被透照物体的局部存在缺陷，且构成的物质的衰减系数又不同于该试件，该局部区域的透过射线强度就会与周围产生差异。
把胶片放在适当的位置使其在透过射线的作用下感光，经暗室处理后得到底片。
底片上各点的黑化程度取决于射线透照量（射线强度乘以时间），由于缺陷部位和完好部位的透射射线强度不同，底片上相应部位就会出现黑度差异。
底片上相邻区域的黑度差定义为对比度。
把底片放在观片屏上借助透过光线观察，可以看到由对比度构成的不同形状的影象，评片人员据此判断缺陷情况并评价焊缝质量。
3.2 定向机透照。
选用80×150胶片透照，每张底片的标记如下图3.3曝光量选择定向X射线机拍片时，曝光量推荐应不低于15mA·min。
焦距选择600mm3.4检测设备与材料采用XXG-2505定向X光机检测。
管线与法兰连接处，采用着色磁粉方法进行检测。
3.5 选择原则根据NB/T47013-2015和SY/T4109-2013标准对K值的要求，考虑缺陷的检出率，其次要考虑到工作效率并应结合现场条件的可能，选用单壁透照和双壁单影透照技术，根据实际应选择内透法。
3.6 象质计：选择线形象质计（GB5618-85、SY/T4109-2013、NB/T47013-2015）4 胶片保存4.1 胶片、底片不可接近氨、硫化氢、煤气、乙块、酸等有害气体，否则会产生灰雾。
X射线衍射实验报告模板【精品】
一、实验目的1. 了解X射线衍射仪的结构；2. 熟悉X射线衍射仪的工作原理；3. 掌握X射线衍射仪的基本操作。
二、实验原理X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。
晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。
由于大量原子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。
满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsinθ=λ应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。
三、仪器组成X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要部件包括4部分。
（1）高稳定度X射线源提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X 射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。
（2）样品及样品位置取向的调整机构系统样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。
（3）射线检测器检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。
（4）衍射图的处理分析系统现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。
四、实验步骤1）开启循环水系统：将循环水系统上的钥匙拧向竖直方向，打开循环水上的控制器开关ON，此时界面会显示流量，打开按钮RUN即可。
调节水压使流量超过3.8L/min，如果流量小于3.8L/min，高压将不能开启。
2）开启主机电源：打开交流伺服稳压电源，即把开关扳到ON的位置，然后按开关上面的绿色按钮FAST START, 此时主机控制面板上的“stand by”灯亮。
3）按下Light（第三个按钮），打开仪器内部的照明灯。
4) 关好门，把HT钥匙转动90°，拧向平行位置，按下X'Pert仪器上的Power on（第一个按钮），此时HT指示灯亮，HT指示灯下面的四个小指示灯也会亮，并且会有电压（15KV）和电流（5mA）显示，等待电压电流稳定下来。
射线检测(RT)II级
射线检测（RT） II级笔 试 考 卷资料整理：无损检测资源网沧州市欧谱检测仪器有限公司一是非判断题（在每题后面括号内打“X”号表示“错误”，画“○”表示正确）（共20题，每题1分，共20分）1 X射线、γ射线、中子射线都是电磁辐射。
（X）2 波长相同的Χ射线和γ射线具有相同的性质。
（0）3 X射线的波长愈长μ愈大,穿透物质的原子序数愈大μ愈大,穿透物质的密度愈高μ愈大(0)4 在光电效应中，光子并没有被完全吸收,而在康普顿效应中则是光子完全被吸收（X）5 电子对效应只能产生在入射光子能量低于1.022MeV的情况下（X）6 连续谱X射线穿透物体时，较长波长的成分不断减弱，表现为射线的不断“硬化”。
（0）7 Χ射线管的管电压是指阴极和阳极间的电压有效值（X）8 新的或长期不用的Χ射线机，使用前要进行“训练”，其目的是提高射线管的真空度。
（0）9 X射线管中撞击靶的电子数量越大，则发出的射线能量就越高（X）10 X射线管中电子的动能在靶上大部分转换成X射线能，少部分转换成热能（X）11 GB 18871-2002规定公众照射的剂量限值为年有效剂量1mSv（0）12 粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片好（X）13 像质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。
（X）14 通常认为对比度，清晰度，颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。
（0）15 铅增感屏有增感作用，但是也会增加散射线影响底片的清晰度（X）16 射线透照方向的选择，应尽可能使射线与缺陷延伸方向垂直（X）17 选用高的管电压可以提高底片对比度，从而提高射线检验灵敏度（X）18 在焊缝上摆放丝型像质计时，应使细线端接近射线透照场边缘（0）19 铅增感屏上的深度划伤在射线底片上呈白色条痕（X）20 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状（X）二选择题（将认为正确的序号字母填入题后面的括号内，只能选择一个答案）（共45题，每题1分，共45分）1.工业超声波检测中,产生和接收超声波的方法,最经常利用的是某些晶体的(c)a.电磁效应b.磁致伸缩效应c.压电效应d.磁敏效应2.适用于渗透检测法的缺陷是(a)a.表面开口缺陷b.近表面缺陷c.内部缺陷d.以上都对3.能够进行磁粉探伤的材料是（a）a．碳钢 b．奥氏体不锈钢 c．黄铜 d．铝4.涡流检测技术利用的基本原理是(c)a.毛细现象b.机械振动波c.电磁感应d.放射性能量衰减5.对于无损检测技术资格等级人员,有权独立判定检测结果并签发检测报告的是(d)a.高级人员b.中级人员c.初级人员d.a和be.以上都可以6.焊缝中常见的缺陷是下面哪一组?(b)a.裂纹,气孔,夹渣,白点和疏松b.未熔合,气孔,未焊透,夹渣和裂纹c.气孔,夹渣,未焊透,折叠和缩孔d.裂纹,未焊透,未熔合,分层和咬边7.10居里钴60γ射线源衰减到1.25居里,需要的时间约为(c)a.5年b.1年c.16年d.21年8.X射线照相检测的工艺参数主要是(e)a.焦距b.管电压c.管电流d.曝光时间e.以上都是9.下面哪种辐射源具有最高的穿透力？（d）a.192Irb.60Coc.300KV X射线机d.15MeV的加速器10.在X射线管内，高速电子轰击到哪个部件上产生X射线？（b）a.聚焦罩b.阳极靶c.灯丝d.阴极11.当管电压一定，管电流加大时，产生的连续X射线的线质有何变化？强度有何变化？波长有何变化？（b）a.线质变硬，强度不变，波长变短b.线质不变，强度增加，波长不变c.线质变软，强度降低，波长变长d.线质不变，强度降低，波长变长12.X射线管焦点的大小直接影响下面哪个参数？（b）a.穿透力b.几何模糊度c.固有不清晰度d.灰雾度13.放射性比活度通常以每克多少居里数表示或以每立方厘米多少居里数表示，它是辐射源浓缩程度的物理量。
X射线
X射线的研究历史
• 而为何X射线为什么不被称为特斯拉射线 而是伦琴射线呢？
关于第一个制造出X射线的人是谁，其实是有争议的，就连第一张 X射线照片究竟是哪张也众说纷纭，除了最广为流传伦琴的故事之外，
还有一个关于特斯拉的传说，据说特斯拉早在伦琴创世纪的实验之前就
已经制造出了X射线，并将清晰的影像寄给了伦琴。 不过特斯拉虽然制作出产生 X射线的装置，却没有正确地认识 X 射 线的本质，伦琴被称作X射线的发现者也无可厚非，但特斯拉真正传奇
迷人的X光片~~在X射线下， 任何东西都会很美！！
• 当威廉姆-伦琴宣布他发 现X射线时，在他的论文 中附有一张其妻子戴戒指 的手部的X光照片。伦琴 的发现得到了科学界的认 可。在此后的数十年间， 这张带有金属环的手部骨 骼照片成为了X射线被发 现的标志。
伦琴的发现轰动了欧美，美国《生活》杂志于 1896年发表的这幅漫画，着实渲染了一番X射线的 穿透一切的威力。
X射线的研究历史
• 1869年（清同治八年），物理学家约翰· 威廉· 希托夫观 察到，真空管中的阴极发出的射线遇到玻璃管壁会产 生荧光。顺便说一句，这一年，俄国化学家门捷列夫 发现了元素周期表，震动了科学界，而此时X线的发现 还处于胚胎时期，属于一个不重要的意外。1876年这 种射线被欧根· 戈尔德斯坦命名为“阴极射线”。随后 ，英国物理学家克鲁克斯研究稀有气体里的能量释放 ，并且制造了克鲁克斯管。这是一种玻璃真空管，内 有可以产生高电压的电极。他还发现，当将未曝光的 相片底片靠近这种管时，一些部分被感光了，但是他 没有继续研究这一现象。
X线机产生的X线穿透人体后，形成带有人体内部结构信息的 不可见的X线像。透视时，通过荧光屏、X-TV或数字X线装置；摄 影时，通过X线胶片或数字X线装置，最终得到人眼可分辨的可见 图像，供诊断医师分析，达到诊断疾病的目的。 诊断用X线机 产生X线 穿透人体 不可见X线像
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X射线检验报告
项目名称
分部工程
施工单位
合 同 段
分项工程
监理单位
单位工程
工程部位
检验单位
桩号范围
施工日期
检测日期
检件名称
检件规格
检件材质
设计要求
检测数量
焊接型式
检测比例
焊工代号
检件总数
检验依据
拍片条件射线源种类胶片类型来自设备型号胶片规格
焦距
增感方式
管电压/同位素类型
像质剂型号
管电源/活度
像质指数
曝光时间
黑度
透照方式
拍片数量
焊口拍片总张数
合格张数
一次返修张数
二次返修张数
三次返修张数
扩透张数
评定结果
Ⅰ级张数
Ⅱ级张数
Ⅲ级张数
Ⅳ级张数
序号
底片编号
透照日期
焊缝等级标准
缺陷记录
评定级别
评定结论
Ⅰ级
Ⅱ级
Ⅲ级
Ⅳ级
缺陷性质
缺陷尺寸
说明
结论