材料分析复习题
材料分析方法考试复习题
1）短波限:连续X 射线谱的X 射线波长从一最小值向长波方向伸展，该波长最小值称为短波限。
P7。
2）质量吸收系数指X 射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量，这样就摆脱了密度的影响，成为反映物质本身对X 射线吸收性质的物质量。
P12。
3）吸收限吸收限是指对一定的吸收体，X 射线的波长越短，穿透能力越强，表现为质量吸收系数的下降，但随着波长的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。
每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。
P12。
4）X 射线标识谱当加于X 射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值k U 时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，故称为X 射线标识谱。
P9。
5）连续X 射线谱线强度随波长连续变化的X 射线谱线称连续X 射线谱线。
P7。
6）相干散射当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X 射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X 射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。
P14。
7）闪烁计数器闪烁计数器利用X 射线激发磷光体发射可见荧光，并通过光电管进行测量。
P54。
8）标准投影图对具有一定点阵结构的单晶体，选择某一个低指数的重要晶面作为投影面，将各晶面向此面所做的极射赤面投影图称为标准投影图。
P99。
9）结构因数在X 射线衍射工作中可测量到的衍射强度HKL I 与结构振幅2HKL F 的平方成正比，结构振幅的平方2HKL F 称为结构因数。
P34。
10）晶带面（共带面）晶带轴我们说这些相交于平行直线的一组晶面属于同一晶带，称晶带面或共带面，其交线即为晶带轴。
P99。
11）选择反射镜面可以任意角度反射可见光，但X 射线只有在满足布拉格方程的θ角上才能发生反射，因此，这种反射亦称选择反射。
材料现代分析试方法复习题
《材料现代分析测试方法》习题及思考题一、名词术语波数、原子基态、原子激发、激发态、激发电位、电子跃迁（能级跃迁）、辐射跃迁、无辐射跃迁，分子振动、伸缩振动、变形振动（变角振动或弯曲振动）、干涉指数、倒易点阵、瑞利散射、拉曼散射、反斯托克斯线、斯托克斯线、 X射线相干散射（弹性散射、经典散射或汤姆逊散射）、X射线非相干散射（非弹性散射、康普顿-吴有训效应、康普顿散射、量子散射）、光电效应、光电子能谱、紫外可见吸收光谱（电子光谱）、红外吸收光谱、红外活性与红外非活性、弛豫、K系特征辐射、L系特征辐射、Kα射线、Kβ、短波限、吸收限、线吸收系数、质量吸收系数、散射角（2θ）、二次电子、俄歇电子、连续X射线、特征X射线、点阵消光、结构消光、衍射花样的指数化、连续扫描法、步进扫描法、生色团、助色团、反助色团、蓝移、红移、电荷转移光谱、运动自由度、振动自由度、倍频峰（或称泛音峰）、组频峰、振动耦合、特征振动频率、特征振动吸收带、内振动、外振动（晶格振动）、热分析、热重法、差热分析、差示扫描量热法、微商热重（DTG）曲线、参比物（或基准物、中性体）、程序控制温度、（热分析曲线）外推始点、核磁共振。
二、填空1.原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为( )跃迁或( )跃迁。
2.电子由高能级向低能级的跃迁可分为两种方式：跃迁过程中多余的能量即跃迁前后能量差以电磁辐射的方式放出，称之为( )跃迁；若多余的能量转化为热能等形式，则称之为( )跃迁。
3.多原子分子振动可分为( )振动与( )振动两类。
4.伸缩振动可分为( )和( )。
变形振动可分为( )和( )。
5.干涉指数是对晶面( )与晶面( )的标识。
6.晶面间距分别为d110／2，d110/3的晶面，其干涉指数分别为( )和( ).7. 倒易矢量r*HKL的基本性质为：r*HKL垂直于正点阵中相应的（HKL）晶面，其长度|r*HKL|等于(HKL)之晶面间距dHKL的( )。
材料现代分析方法(复习题及答案)
1、埃利斑由于光的波动性，光通过小孔发生衍射,明暗相间的条纹衍射的图样，条纹间距随小孔尺寸的变大，衍射的图样的中心有最大的亮斑，称为埃利斑。
2、差热分析是在程序的控制条件下，测量在升温、降温或恒温过程中样品和参比物之间的温差。
3、差示扫描量热法（DSC）是在程序控制条件下，直接测量样品在升温、降温或恒温过程中所吸收的或放出的热量。
4、倒易点阵是由晶体点阵按照一定的对应关系建立的空间点阵,此对应关系可称为倒易变换。
5、干涉指数在（hkl）晶面组（其晶面间距记为dhkl）同一空间方位，设若有晶面间距为dhkl/n(n 为任意整数)的晶面组(nh，nk，nl）即（H,K，L)记为干涉指数.6、干涉面简化布拉格方程所引入的反射面（不需加工且要参与计算的面）。
7、景深当像平面固定时（像距不变）能在像清晰地范围内，允许物体平面沿透镜轴移动的最大距离。
8、焦长固定样品的条件下，像平面沿透镜主轴移动时能保持物象清晰的距离范围.9、晶带晶体中，与某一晶向【uvw】平行的所有(HKL）晶面属于同一晶带，称为晶带射线若K层产生空位,其外层电子向K层跃迁产生的X射线统称为K系特征辐射，其中有L 10、α层电子跃迁产生的K系特征辐射称为Ka。
11、数值孔径子午光线能进入或离开纤芯（光学系统或挂光学器件）的最大圆锥的半顶角之余弦，乘以圆锥顶所在介质的折射率。
12、透镜分辨率用物理学方法(如光学仪器）能分清两个密切相邻物体的程度13 衍射衬度由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度成为衍射衬度。
射线若K层产生空位，其外层电子向K层跃迁产生的X射线统称为K系特征辐射，其中有L 14α层电子跃迁产生的K系特征辐射称为Ka。
15质厚衬度由于样品不同区间存在原子序数或厚度的差异而形成的非晶体样品投射电子显微图像衬度，即质量衬度，简称质厚衬度。
16 质谱是离子数量（强度）对质荷比的分布，以质谱图或质谱表的形式的表达。
一、判断题1)、埃利斑半径与照明光源波长成反比，与透镜数值孔径成正比。
材料分析方法考试复习题
一、名词解释（30分，每题3分） 1）短波限:连续X 射线谱的X 射线波长从一最小值向长波方向伸展，该波长最小值称为短波限。
P7。
2）质量吸收系数指X 射线通过单位面积上单位质量物质后强度的相对衰减量，这样就摆脱了密度的影响，成为反映物质本身对X 射线吸收性质的物质量。
P12。
3）吸收限吸收限是指对一定的吸收体，X 射线的波长越短，穿透能力越强，表现为质量吸收系数的下降，但随着波长的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。
每种物质都有它本身确定的一系列吸收限。
P12。
4）X 射线标识谱当加于X 射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值k U 时，在连续谱的某些特定的波长位置上，会出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，它们的波长对一定材料的阳极靶有严格恒定的数值，此波长可作为阳极靶材的标志或特征，故称为X 射线标识谱。
P9。
5）连续X 射线谱线强度随波长连续变化的X 射线谱线称连续X 射线谱线。
P7。
6）相干散射当入射线与原子内受核束缚较紧的电子相遇，光量子不足以使原子电离，但电子可在X 射线交变电场作用下发生受迫振动，这样的电子就成为一个电磁波的发射源，向周围辐射与入射X 射线波长相同的辐射，因为各电子所散射的射线波长相同，有可能相互干涉，故称相干散射。
P14。
7）闪烁计数器闪烁计数器利用X 射线激发磷光体发射可见荧光，并通过光电管进行测量。
P54。
8）标准投影图对具有一定点阵结构的单晶体，选择某一个低指数的重要晶面作为投影面，将各晶面向此面所做的极射赤面投影图称为标准投影图。
P99。
9）结构因数在X 射线衍射工作中可测量到的衍射强度HKL I 与结构振幅2HKL F 的平方成正比，结构振幅的平方2HKL F 称为结构因数。
P34。
10）晶带面（共带面）晶带轴我们说这些相交于平行直线的一组晶面属于同一晶带，称晶带面或共带面，其交线即为晶带轴。
材料分析复习题
第一章1.短波长的X射线称(硬X射线)，常用于(较深组织治疗)；长波长的X射线称(软X射线)，常用于(透视与摄像)。
2解释X射线相干散射与非相干散射。
⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
3.M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（B）A.Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。
4.当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（A）A.短波限λ0；B.激发限λk；C.吸收限；D.特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。
A.光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.（A+C）6X射线管的工作原理是什么？答：在阴极和阳极加高压直流电场，灯丝端加交流低压产生电子，直流电场会将阴极产生的电子加速并轰击阳极靶，阳极靶电子产生跃迁的同时产生X射线，电子的方向是从阴极到阳极，所以电流的方向是从阳极到阴极。
7写出并解释莫塞莱定律。
随着元素的原子序数的增加，特征X射线的波长有规律的变短，用式子表示为8滤波片的工作原理是什么？第二章1.有一倒易矢量为*ab2，与它对应的正空间晶面是（C）。
*cg2+*+=*A.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。
2.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（A）。
A．4；B．8；C．6；D．12。
3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（C）。
A．是否满足布拉格条件；B．是否衍射强度I≠0；C．A+B；D．晶体形状。
4.只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该（干涉面）满足（布拉格方程）条件，能产生（衍射）。
材料分析测试复习题及答案
1、分析电磁透镜对波的聚焦原理，说明电磁透镜的结构对聚焦能力的影响。
解：聚焦原理：通电线圈产生一种轴对称不均匀分布的磁场，磁力线围绕导线呈环状。
磁力线上任一点的磁感应强度B 可以分解成平行于透镜主轴的分量Bz 和垂直于透镜主轴的分量Br 。
速度为V 的平行电子束进入透镜磁场时在A 点处受到Br 分量的作用，由右手法则，电子所受的切向力Ft 的方向如下图（b ）；Ft 使电子获得一个切向速度Vt ，Vt 与Bz 分量叉乘，形成了另一个向透镜主轴靠近的径向力Fr ，使电子向主轴偏转。
当电子穿过线圈到达B 点位置时，Br 的方向改变了180°，Ft 随之反向，但是只是减小而不改变方向，因此，穿过线圈的电子任然趋向于主轴方向靠近。
结果电子作圆锥螺旋曲线近轴运动。
当一束平行与主轴的入射电子束通过投射电镜时将会聚焦在轴线上一点，这就是电磁透镜电子波的聚焦对原理。
（教材135页的图9.1 a,b 图）电磁透镜包括螺旋线圈，磁轭和极靴，使有效磁场能集中到沿轴几毫米的范围内，显著提高了其聚焦能力。
2、电磁透镜的像差是怎样产生的，如何来消除或减小像差？解：电磁透镜的像差可以分为两类：几何像差和色差。
几何像差是因为投射磁场几何形状上的缺陷造成的，色差是由于电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的。
几何像差主要指球差和像散。
球差是由于电磁透镜的中心区域和边缘区域对电子的折射能力不符合预定的规律造成的，像散是由透镜磁场的非旋转对称引起的。
消除或减小的方法：球差：减小孔径半角或缩小焦距均可减小球差，尤其小孔径半角可使球差明显减小。
像散：引入一个强度和方向都可以调节的矫正磁场即消像散器予以补偿。
色差：采用稳定加速电压的方法有效地较小色差。
3、说明影响光学显微镜和电磁透镜分辨率的关键因素是什么？如何提高电磁透镜的分辨率？解：光学显微镜的分辨本领取决于照明光源的波长。
电磁透镜的分辨率由衍射效应和球面像差来决定，球差是限制电磁透镜分辨本领的主要因素。
材料分析技术复习
一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（）A.X射线透射学；B.X射线衍射学；C.X射线光谱学；D.其它2.M层电子回迁到K层后, 多余的能量放出的特性X射线称.. ）Kα；B.Kβ；C.Kγ；D.Lα。
3.当X射线发生装置是Cu靶, 滤波片应选..）Cu；B.Fe；C.Ni；D.Mo。
4.当电子把所有能量都转换为X射线时, 该X射线波长称.. ）短波限λ0；B.激发限λk；C.吸取限；D.特性X射线A. 5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后, L层电子回迁K层, 多余能量将另一个L层电子打出核外, 这整个过程将产生（）（多选题）光电子；B.二次荧光；C.俄歇电子；D.（A+C）1.有一倒易矢量为, 与它相应的正空间晶面是（）。
A.（210）；B.（220）；C.（221）；D.（110）；。
2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm, 用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（）衍射线。
A.三条...四条.C.五条；D.六条。
3.一束X射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（）。
A. 是否满足布拉格条件；B. 是否衍射强度I≠0；C. A+B；D. 晶体形状。
4.面心立方晶体（111）晶面族的多重性因素是（）。
A. 4；B. 8；C. 6；D. 12。
1.最常用的X射线衍射方法是（）。
A.劳厄法；B.粉末多法；C.周转晶体法；D.德拜法。
2.德拜法中有助于提高测量精度的底片安装方法是（）。
A.正装法；B.反装法；C.偏装法；D.A+B。
3.德拜法中对试样的规定除了无应力外, 粉末粒度应为（）。
A.<325目；B.>250目；C.在250-325目之间；D.任意大小。
4.测角仪中, 探测器的转速与试样的转速关系是（）。
A.保持同步1﹕.；B.2﹕.；C.1﹕.；D.1﹕.。
5.衍射仪法中的试样形状是（）。
A.丝状粉末多晶；B.块状粉末多晶；C.块状单晶；D.任意形状。
材料分析测试技术考试复习题三
填空题1.透射电镜、扫描电镜、电子探针、扫描燧道显微镜的英文字母缩写分别是、、、。
2.透射电镜主要由、、三大部分组成。
3.若一个分子是由N个原子组成，则非线性分子的振动自由度为，而线性分子的振动自由度为。
4.利用电子束与样品作用产生的特征X射线来分析样品的微区成分，有、i.二种方法。
5.透射电镜的复型技术主要有、、三类。
6.在光谱法中，测量的信号是物质内部能级跃迁所产生的发射、吸收或散射光谱的和。
7.根据光谱的波长是否连续，可将光谱分为三种类型，即光谱、光谱、光谱。
8.原子吸收分光光度计一般概括为四大基本组成部分，它们分别是：、、、。
9.根据分子轨道理论，当两个原子靠近而结合成分子时，两个原子的原子轨道就可以线性组合生成两个分子轨道。
其中一个分子轨道具有低能量，称为轨道。
另一个分子轨道具有高能量，称为轨道。
10.根据朗伯—比尔定律，一束平行电磁辐射，强度为0I，穿过厚度为b、组分浓度为c的透明介质溶液后，由于介质中粒子对辐射的吸收，结果强度衰减为e I，则溶液的吸光度A表示为。
11.透射电镜、扫描电镜、傅里叶变换红外光谱、核磁共振的英文字母缩写分别是、、、。
12.根据衍衬成像原理，透射电镜可进行二种衍衬成像操作，分别得到像和i.像。
13.电子探针分析主要有三种工作方式，分别是分析、分析和分析。
14.高能电子束照射在固体样品表面时激发的信号主要有、、、等。
（至少答四种信号）15.简正振动可分为振动和振动两种基本类型。
16.拉曼位移定义为_________________散射线与______________或________________i.散射线之间的频率差。
17.在电子能谱仪的试样系统中, 真空度往往要达到10-6~10-8Pa , 这是因为_________。
18.在电子能谱法中, 从X射线管中发出的特征X射线, 常常选择K系X射线作为激发辐射, 其原因是_______________________。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
材料分析复习题一．-----名词解释一．名词解释：光电效应质厚衬度X射线谱特征X射线谱：二次电子系统消光俄歇效应衍射衬度连续谱背散射电子结构因数激发电压等同晶面明场成像暗场成像景深相干散射非相干散射短波限特征谱干涉面衬度焦长晶带复型标准零层倒易面相机常数多重性因子吸收电子光电效应：以光子激发原子所产生的激发和辐射过程称为光电效应。
质厚衬度：由试样的厚度和密度造成的衬度。
X射线谱： x射线管发出的x射线束的波长和强度的关系曲线。
特征X射线谱：在连续谱的基础上叠加若干条具有一定波长的谱线,称为特征X 射线谱。
它和可见光的单色相似，亦称单色X射线。
二次电子：在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子。
系统消光：因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射线消失的现象称之为系统消光。
俄歇效应如果原子在入射的x射线光子的作用下， K层电子被击出，L层电子向K层跃迁，其能量差不是以产生K系X射线光量子的形式释放，而是被邻近电子所吸收，使这个电子受激发而逸出原子成为自由电子-----俄歇电子(Auger electrons)。
这种现象叫做俄歇效应。
衍射衬度:由于样品中不同晶体(或同种晶体不同位向)衍射条件不同而造成的衬度差别称为衍射衬度。
连续谱：具有连续波长的X射线，构成连续X射线谱，它和可见+-光相似，亦称多色X射线。
（或答：管压很低时，X射线谱的曲线是连续变化的，称连续谱。
）背散射电子：背散射电子是被固体试样表面的原子核反射回来的一部份入射电子，包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。
结构因数F2：反映了晶胞内原子种类、原子个数、原子位置对（hkl）晶面衍射方向上衍射强度的影响。
焦长：物平面固定,在保证象清晰的条件下，像平面沿透镜主轴上下移动的距离。
（或答：透镜像平面允许的轴向偏差）等同晶面：晶面间距相同,晶面上原子排列规律相同的晶面.明场成像：让透射束通过物镜光阑，而把衍射束挡住得到图象衬度的方法叫明场成像。
暗场成像：用物镜光阑挡住透射束及其余衍射束，而只让一束强衍射束通过光阑参与成像的方法，称为暗场成像。
景深：透镜物平面允许的轴向偏差。
即当像平面固定时,在保证像清晰的条件下，试样在物平面沿镜轴上下移动的最大距离。
●相干散射●入射X射线光子与原子中束缚较紧的内层电子相碰撞，电子发生受迫振动，向四周辐射电磁波，其辐射出电磁波的波长和频率与入射波完全相同，新的散射波之间将可以发生相互干涉-----相干散射。
非相干散射当X射线光子与束缚力不大的原子外层电子相撞时，得到的散射波的波长和频率与入射波不同，且随散射角增大而移向长波，它们不能相互干涉。
这种散射现象称为不相干散射。
λ，称为短波短波限：在各种管压下的X射线连续谱都存在一个最短的波长值限。
干涉面：为简化布拉格方程引入的实际存在或不存在的假想（虚拟）晶面。
衬度：在荧光屏上或照相底片上，眼睛能观察到的光强度或感光度的差别。
焦长：物平面固定,在保证像清晰的条件下，像平面沿透镜主轴上下移动的距离。
晶带在晶体中，平行于某一晶向的所有晶面统称为一个晶带，这个晶向为晶带轴。
复型：把由浸蚀产生的金相试样表面显微组织浮雕复制到一种很薄的膜上，然后把复制薄膜放到透射电镜中去观察分析，该薄膜称为复型。
标准零层倒易面：零层倒易面中，去掉结构消光条件倒易点的倒易面。
相机常数： Lλ被称为相机常数，它是一个协调正、倒空间的比例常数。
多重性因子：等同晶面个数对衍射强度的影响因子叫多重性因子，用P表示。
吸收电子：二．填空1.材料的性能由其内部的决定2.X射线的本质是，与所有的基本粒子一样，X射线具有二象性。
波长较长的X射线，较低，穿透性弱，称为 X射线，可用于非金属的分析。
3.X射线的频率ν、波长λ以及其光子的能量ε、动量p之间存在如下关系：ε= =P= 。
4. K系特征谱线包含Kα和Kβ两种类型谱线，其中波长λKαλKβ，能量EKαEKβ,强度IKαIKβ( 填大于，小于或等于)5. 当X射线照射物质时，其强度随透入深度呈衰减。
6. 一束X射线通过物质时，它的能量会分为三部分：、、。
7.非相干散射会增加连续背底，给衍射图象带来不利的影响8. 只有当入射x射线的波长λλk 时才能产生荧光辐射。
1.产生衍射必须满足布拉格方程；在满足布拉格方程的方向并不一定都有衍射线发生。
2.用单色x射线照射多晶体粉末试样，衍射线分布在一组以入射线为轴的圆锥面上。
在垂直于入射线的平底片上，得到一组同心圆。
一般用以试样为轴的圆筒底片来记录，可看到一系列的对称弧线。
3.获得衍射花样的基本方法有劳埃法、周转晶体法、粉末法。
1.结构振幅是以单个散射能力为单位的、反映一个散射能力的参量，是单位晶胞中所有原子散射波叠加的波。
2.影响多晶体衍射强度的因数有多重性因子、吸收因子、结构因数、温度因子、角因子。
1.X射线衍射仪的主要组成部分有、、、。
1.电磁透镜由线圈、铁壳和极靴组成。
2.为使景深和焦长明显增大，在电镜中插入一个直径较小的光阑。
孔径半角越小 ,景深越大。
1.透射电镜的组成包括、、。
其中,电子光学系统统称为，是透射电镜的核心。
2.透射电镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。
电子枪是透射电镜的电子源。
电子束斑直径为几十微米。
常用的是热阴极三极电子枪。
由发夹形钨丝阴极、栅极帽和阳极组成。
3.在透射电镜的成像系统中，物镜是一个强激磁、短焦距透镜，像差小，它决定了电镜的分辨率。
作用是。
4.透射电子显微镜中用磁场来使电子波聚焦成像的装置就是，它由、、、三部分组成。
1.质厚衬度是建立在非晶体样品中和和基础上的成像原理。
2.复型成像是根据复型膜的成像，而晶体薄膜成像是根据成像。
1.若倒易阵点G落在厄瓦尔德球面上，则可能发生。
2.相机常数是一个协调正、倒空间的比例常数1.明场像看到的是成像。
暗场像看到的是成像。
1.分析，也可用来显示原子序数衬度，定性地作分析。
二次电子在表层5-10nm深度发射出来，能非常有效地显示样品的表面形貌。
特征X射线可用来判定。
2.SEM的构造包括、、。
3.被称为。
它在表层5-10nm深度发射出来，能非常有效地显示样品的。
三、判断题x射线的波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播。
（）⒉德拜—谢乐法中，德拜相机条状底片的安装方法有正装法、反装法、偏装法几种。
（）⒊在X射线衍射分析中，设靶物质原子序数为Z靶，当Z靶<40时，则Z片=Z靶-2。
（）⒋X射线管的阴极是使电子突然减速和发射x射线的地方。
（）⒌特征x射线的特点是改变管流、管压，只改变强度，而波长值固定不变。
（）⒍非晶态复型样品是依据“衍射衬度成像”的原理成像的。
（）⒎透射电镜以波长极短的电子束作为照明源。
（）⒏薄晶体电子衍射成像时，暗场成像看到的是衍射束成像。
（）⒐焦长是指透镜物平面允许的轴向偏差。
（）⒑像散是由于入射电子波长或能量的非单一性所造成的。
（）1.一束X射线通过物质时，它的能量会分为二部分：被散射、被吸收。
（）2.复型成像是根据复型膜的质厚衬度成像，而晶体薄膜成像则是根据衍射衬度成像的。
（）3.焦长是指透镜像平面允许的轴向偏差。
焦长随孔径半角减小而减小。
（）4．透射电子显微镜分辨分辨本领的高低主要取决于中间镜。
（）5.质厚衬度是建立在非晶体样品中原子对入射电子的散射和透射电子显微镜小孔径角成像基础上的成像原理。
（）6.进行晶体结构分析时，通过测定X射线衍射束的方向，可以测出晶胞的尺寸和形状。
（）7. X射线衍射仪法中，测角仪在工作时，如试样表面转到与入射线成30°角时，计数管与入射线成90°角。
（）8．利用扫描电镜进行样品分析时，样品的原子序数越小，背散射电子越多，吸收电子越少。
（）9． K系特征谱线包含Kα和Kβ两种类型谱线，其中波长λKα<λKβ。
( )10．标准电子衍射花样是标准零层倒易截面的比例图象，倒易阵点的指数就是衍射斑点的指数（）。
1.由莫塞莱定律可知，特征X射线的波长只取决于阳极靶物质的原子能级结构，而与其它外界因素无关。
（）2.周转晶体法是X射线衍射方法中的一种，它是采用连续X射线照射静止不动的单晶体。
（）3.非相干散射是X射线晶体衍射分析的基础。
( )4．X射线衍射强度反应的是晶体原子种类与原子在晶胞中的位置。
（）5.在电镜操作过程中，主要是利用物镜的可变倍率来控制电镜的总放大倍数。
（）6.用单色x射线照射多晶体粉末试样，衍射线分布在一组以衍射线为轴的圆锥面上。
（）7. 质厚衬度是由试样的厚度和密度造成的衬度。
（）8．德拜—谢乐法中，采用反装法安装底片能记录较全的衍射线条，故适用于物相分析。
（）9．景深是指透镜像平面允许的轴向偏差，景深随孔径半角减小而减小。
（）10．对单晶样品而言，衍射花样简单地说就是落在爱瓦尔德球面上所有倒易点阵所构成的图形的投影放大像。
（）三、问答题1．照射铁粉的德拜相，请选择靶材和滤片，简述缘由。
2．计算面心立方晶体的结构因子，确定系统消光规律，写出可能出现的衍射晶面指数。
3．简述X射线管的基本组成及各部分作用4．像差的分类、产生原因及对分辨率的影响5．已知相机常数和样品晶体结构，说明单晶体电子衍射花样的标定程序6.分别说明连续x射线谱、标识x射线谱的产生机理。
7.计算体心立方晶体的结构因子，确定系统消光规律，并写出可能出现的衍射晶面指数。
8.简述塑料一级复型和碳一级复型的不同点。
9.说明相机常数未知,晶体结构已知时单晶体电子衍射花样的标定程序。
10.晶体结构未知，相机常数已知时衍射花样的标定11. 说明相机常数未知,晶体结构已知时单晶体电子衍射花样的标定程序。
12. 写出面心立方晶系[100]晶带的标准零层倒易面上与中心斑点最近邻的8个斑点指数，并说明其形成规律13计算当管电压为50kv时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的X 射线短波限。
14计算底心立方晶胞的结构因数，确定系统消光规律。
15. 试计算波长1.93A（Fe-αK）和1.79 A（Co-αK）的X射线束，其频率和每个量子的能量？16.写出面心立方晶系[011]晶带的标准零层倒易面上与中心斑点最近邻的8个斑点指数，并说明其形成规律。
17．用爱瓦尔德图解法证明布拉格定律。
18. 影响X射线衍射强度的主要因数有哪些？19确定简单立方点阵的系统消光规律，并写出两个反射晶面指数。
20．写出布拉格方程，并说明布拉格方程在实验中的两大应用方面21 简要说明明场成像和暗场成像原理22如图解释X射线和物质相互作用时，俄歇电子和荧光X射线的产生过程。
23.在扫描电镜分析方法中，简要说明电子束与固体样品作用时产生的信号有哪几种？24.德拜—谢乐法中，底片的安装方法有那几种？各有哪些特点？。