美国、欧洲GD&T

美国/欧洲GD&T
——几何尺寸与公差
ASME标准、ISO标准、GB标准
美国、加拿大等国在全球的公司使用美国ASME 标准。 欧洲公司及其在全球的公司大多数使用国际ISO 标准，少数欧洲公司使用美国ASME标准。日本 、中本国课澳使程大CH用按利ENG新亚BS标等标HA准国准N A等。DSI 同ME或Y1等4效.5C使MH-2用E0N国0S9H际、AIINSSDOOI标11准01。2012、ISO 8015-2011、ISO 5459-2011等和 GB/T16671-2009、 GB/T1182-2008 授课。
SHAN
D（Ib）
（c）
CHEN
SHAN
D（I d）
（e）
（f）
（g）
（h）
基准要素的标注
轮廓要素
（a）
中心要CH素EN
SHAN
DI
（b）
CHEN SHAN（Dc）I
（d）
（e）
（f）
（g）
被测要素的标注
CCHHEENNSSHHAANNDDII
CHEN SHAN DI
基准要素的标注
A
C B
φ
S
M
D
向基本一致的被测圆柱面。
CHEN SHAN DI
CHEN SHAN DI
a
谢谢
DI
参考尺寸
弧长
尺寸起点
两者之间
全周符号
全面符号
(
符号
ST CF φ Sφ R SR CR
()
公差值形状限制
含义 被测要素只许中间向材料外凸起
被测要素只许中间向材料内凹下 被测要素只许从左至右减少 被测要素只许从右至左减少
Ct(H) EN StHAN DI
符号
（）
示例
t（ ）
（）
t（ ）
（）
t（ ）
CHEN SHAN DI
CHEN
SHAN注基D准(约I 平束面条A是件)：
固定面(用64
个M6×1的螺
栓以 9～15
Nm的扭矩固
定)，基准B由
其相应规定的
尺寸边界约束。
约束状态
约束状态一般用于非刚性零件，约束条件必须 在图样上注明。
CHECNHESNHASNHADNI DI
CHEN SHAN DI
从基准到模拟基准
CHEN SHAN DI
（a）
（b）
（c）
基准目标
（a）
CHEN
SHAN
DI
（b）
CHEN S（Hc）AN DI （d）
（e）
（f）
（g）
（h）
（i）
基准目标
CHEN SHAN DI
CHEN SHAN DI
（a）
（b）
（c）
基准目标
CHEN SHAN DI
CHEN
SHAN DI
（a）
CHEN SHAN DI CHEN SHAN DI
SHAN
DI
第三基准
最小或最次要 的表面（限制 一个自由度）
CHEN SCHHAENNDSI HAN DI
三基面体系（盘类）
CHEN CHEN
SHAN SHAN
DI DI
（a）
CHEN SHAN DI
（b）
三基面体系（盘类）
CHE（Na）SHAN DI
CHEN SHA（Nb）DI
（c）
（d）
（e）
电感测微仪
被测零件
记录器
（a）转台式
记录器
（b）转轴式
圆柱度
（a）
CHEN
SHAN
DI
（b）
CHEN
SHAN
DI
（c）
（d）
（e）
圆柱度
两点检测法 用于横截面为偶数棱且沿轴向基本一致的被
测圆柱面
CHEN SHAN DI
CHEN SHAN DI
圆柱度
三点检测法 适用于横截面轮廓为奇数棱形状误差且沿轴
图纸上标注的是基准,但在实际制造或检测 中,使用的是模拟基准
（a）
CHEN SHAN DI
（c）
（b）
CHEN SHAN DI
（d）
(e)
（f）
（g）
(h)
公共基准（复合基准）
（a）
CCHHEENN（SSc）HHAANN
DI DI
（b）
CHENCSHHEANN（SdD）HIAN DI
（e）
（f）
几何特征符号
公差
特征
符号 基准要求
应用 公差的类型
特征
符号
直线度
无
平面度
无
直线度
形状
圆度 圆柱度
无
平面度
无
单一要素
形状
圆度
线轮廓度
无
面轮廓度
无
圆柱度
平行度
有
方向
垂直度
倾斜度
线面轮轮廓廓C度度 HEN
SHAN
DI有 有 有 有
单一或关 联要素
轮廓
CHE方向N
线轮廓度
SH面倾A轮斜廓度N度DI
垂直度
位置
收集平面
CHEN SHAN DI
（a）
CHEN SHAN DI
（b）
半径和受控半径
CHEN（Sa）HAN DI
CHEN （SbH）AN DI
（c）
（d）
局部被测要素、局部基准要素
（a）
（b）
CHEN SHAN DII
（c）
CHEN SHAN DI
（d）
（e）
（f）
基准目标
CHEN SHAN DI
基准体系中的基准顺序
CHEN SHAN DI
（a）
CHEN SHAN DI
（b）
基准体系中的基准顺序
CHEN SHAN D（Ia）
CHEN SHAN DI
（b）
（c）
阵列形体基准
CHEN SHAN DI
（a）
CHEN SHAN DI
（b）
多基准体系
CHEN SHAN DI
CHEN SHAN DI
（）Biblioteka t（ ）CHENt(-S) HAN DI
t
（a）
t(+)
t
（b）
（c）
基准符号
A
CHEN SH（Aa）N DI
A
CHE（Nb）SHAN DI
A
（c）
公差框格（要素控制框）
CHEN（SaH）AN DI
（b）
CHEN
SHAN
DI
（c）
（d）
（e）
（f）
被测要素的标注
轮廓要素
（a）
中心要CH素EN
（g）
（h）
（i）
（j）
螺纹、花键或齿轮轴线的标注
CHEN SHAN DI
（a）
CHEN SHAN DI
（b）
扩孔符号、锪面符号、深度符号
CHEN SHAN DI
（a）
CHEN SHAN DI
（b）
（c）
沉头符号、正方符号
CHEN（Sa）HAN DI
CHEN（SbA）HNANDIDI
（c）
连续形体符号
两者之间
（a）
CHEN SHAN
DI
（b）
CHEN SHAN
DI
（c）
方向要素
CHEN SHAN DI
CHEN SHAN DI
相交平面
（a）
CHEN SHAN DI
（b）
CHEN SHAN
DI
（c）
（d）
取向平面
CHEN CSHHAENN SDHI AN DI
（a）
CHEN SHAN DI
（b）
基准坐标系
CHEN SHAN DI
CHEN SHAN DI
自定义基准
CHE（Na）SHAN DI
（b）
CHEN
SHAN
DI
（c）
（d）
（e）
基准平移
CHEN SHAN DI
CHEN SHAN DI
目标基准移动
CHEN CHEN
SHAN SHAN
DI DI
（a）
CHEN SSHHAANNDDII
（b）
百分表检测法
a
c
b
CHEN SHAN DI 可调支撑
平板
c bCHEN SHAN DI
平板
d
可调支撑
（a）百分表三远点等高法
（b）百分表对角等高法
平面度
平面平晶检测法
用平晶干涉法检测平面度适用于高精度小平
面。检测时，将平晶紧帖在被测平面上，由于光
波的干涉作用，会出现干涉条纹。根据干涉条纹
的数目和条纹的形状，经过计算得到平面度误差
f＝CaHλEN/2SbHAN DI
CHEN SHAN DI
（a）
b
（b）
平面度
斑点显示检测法
将被测平面均匀地涂上一层薄薄的显示 剂（如红丹粉），然后将该平面放置在标准 平板的工作面上，用手带动零件作前后、左 右摩面的积擦往内C去H复的，EN移斑并SH动点成A数，N为D及则黑I 分被亮布测斑的平点均面，CH匀高根E度点N据S来的2H5A评显mNm定示×DI被剂25测被mm 表面的平面度误差。
A
（a）
CHEN
SHAN （DbI）
φ
φ
φ
P
（c）
CHENM
SHAN
A
DI
（d）
C
Sφ E