光缆测试报告

M L C项目通信传输系统

光缆测试报告

北京建谊建筑工程有限公司 2010年7月21日

一、光缆测试说明

1、通信系统说明

MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。MLC新设的传输设备通过TCC

既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。

2、光纤使用说明

1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤；

2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤；

3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC 通信设备，新敷设1根24芯光纤；

4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；

5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；

6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）；

此次测试针对以上6部分进行。

3、测试仪器

采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。

4、相关图纸

《MLC项目通信系统光纤传输路由图》

二、光缆测试内容

光缆测试包括以下内容：

光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）；

3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减；

具体说明如下：

光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆；

3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；

三、测试目的

序号测试内容测试目的合格标准备注

1 光缆熔接损耗检查光纤熔接质量每个熔接点损耗

＜

光纤熔接规范

2 西直门8层MLC通信设备与京

投大厦西辅楼一层MLC通信

设备之间的链路衰减

检查光纤链路质量＜25dB

通信设备对光衰

减的要求

3 西直门8层MLC通信设备与京

投大厦东辅楼三层TCC机房

MLC通信设备之间的链路衰减

检查光纤链路质量＜25dB

通信设备对光衰

减的要求

4 京投大厦西辅楼一层MLC通

信设备与京投大厦东辅楼三

层TCC机房MLC通信设备之间

的链路衰减

检查光纤链路质量＜15dB

通信设备对光衰

减的要求

四、光缆测试记录

1、西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录

在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在西直门7层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：

2、京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录

在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼B1层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：

24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：

3、京投大厦新敷设2根4芯多模光纤熔接质量测试记录

在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的2根4芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼7层通信配线间，对本项目敷设的4芯多模光纤进行反向测试；多模光缆1测试结果如下：

4、西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减

在西直门8层MLC机房，对本项目南环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：

5、西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减

在西直门8层MLC机房，对本项目北环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，对本项目的北环光纤进行反向测试；测试结果如下：

6、京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减

在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目新增的1根24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房的MLC通信设备，对本项目的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：