光纤测试报告简易说明手册
光纤测量实验报告
光纤测量实验报告光纤损耗测量一、实验目的1、掌握光功率计的原理及使用方法2、利用光功率计测量1310nm及1550nm光纤的损耗二、实验装置LD激光器，光功率计，直径不同的圆柱型物体若干，光纤跳线若干。
1、LD激光器半导体激光器是以一定的半导体材料做工作物质而产生激光的器件。
.其工作原理是通过一定的激励方式，在半导体物质的能带（导带与价带）之间，或者半导体物质的能带与杂质（受主或施主）能级之间，实现非平衡载流子的粒子数反转，当处于粒子数反转状态的大量电子与空穴复合时，便产生受激发射作用。
电注入式半导体激光器，一般是由砷化镓（GaAs）、硫化镉（CdS）、磷化铟(InP)、硫化锌(ZnS)等材料制成的半导体面结型二极管，沿正向偏压注入电流进行激励，在结平面区域产生受激发射。
2、光功率计光功率计是指用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗的仪器。
在光纤系统中，测量光功率是最基本的，非常像电子学中的万用表；在光纤测量中，光功率计是重负荷常用表。
通过测量发射端机或光网络的绝对功率，一台光功率计就能够评价光端设备的性能。
用光功率计与稳定光源组合使用，则能够测量连接损耗、检验连续性，并帮助评估光纤链路传输质量。
3、直径不同的圆柱型物体分别有笔芯、针管、胶棒等圆柱型物体，如下图所示。
三、实验步骤如下图所示，连接好实验装置后，首先将光纤拉直，在不进行缠绕的情况下测得初始光功率，再将光纤在不同的圆柱型外缠绕不同的圈数，分别记录下此时的光功率计显示的损耗值，列表分析数据并画出损耗曲线。
四、实验数据及结果分析1、波长值为1310nm （初始光功率值为5.37dBm ）2、波长值为1550nm （初始光功率值为2.40dBm ） （1）直径d=5mm（3）直径d=17mm（4）直径d=19mm（5）直径d=30mm五、实验结论1、不同波长的光在光电转换中会有不同的效率2、光纤的弯曲会为光的传输带来损耗，这个损耗与光纤弯曲的曲率半径以及缠绕的圈数有关。
光纤fluke测试报告解读
光纤fluke测试报告解读光纤（Fluke）测试报告解读光纤测试是确保光纤网络能够正常运行的重要步骤之一。
其中包括光损耗测试、OTDR测试、端到端测试等多项测试内容。
而Fluke是一家专业从事测试解决方案的公司，其光纤测试设备在行业内有着广泛的应用。
本文将针对光纤Fluke测试报告进行解读，帮助读者更好地理解测试结果。
第一部分：报告概述光纤Fluke测试报告的概述部分通常会包括测试的对象（例如，测试的是某个特定的光纤链路还是整个网络）、测试设备的型号与序列号、测试日期、测试人员等基本信息。
这些信息有助于读者了解测试的范围和可靠性。
第二部分：光损耗测试光损耗测试是光纤测试中的常见环节，用于检测信号在传输过程中的衰减情况。
光损耗测试通常通过连接光源和光功率计来进行。
报告中将给出每个测试点的光损耗值，并对其进行解读。
光损耗值通常用单位dB（分贝）来表示，它表示信号强度的衰减程度。
光纤一般会有一定的损耗，但这个值应该在一定的范围内，否则可能会影响网络的正常运行。
在解读光损耗测试结果时，需要首先比较测试点的损耗值与标准值的差异。
如果差异较大，可能需要进一步检查光纤是否有损坏或连接问题。
第三部分：OTDR测试OTDR（Optical Time Domain Reflectometer）是一种用于检测光纤连接质量的测试设备。
该设备可以测量光信号在光纤中传输的时间和强度，并能够定位光纤上的问题。
OTDR测试结果通常以曲线图的形式呈现，报告中将包含光纤的曲线图以及相应的参数解读。
在解读OTDR测试结果时，需要注意曲线的形状和特征。
一般来说，曲线的上升和下降速度应该相对平稳，如果出现陡峭的变化，可能表示光纤存在连接故障或者损坏。
此外，曲线中可能会出现反射点或散射点，它们是光信号被反射或散射回来的地方。
这些点的强度和位置也需要被注意，作为判断光纤连接质量的依据。
第四部分：端到端测试端到端测试是验证整个光纤网络是否正常运行的一种测试方法。
光缆测试报告
M L C项目通信传输系统光缆测试报告北京建谊建筑工程有限公司 2010年7月21日一、光缆测试说明1、通信系统说明MLC项目配套工程包括通信传输系统，由MLC在TCC通信机房、小营/西直门MLC机房分别新设一套传输设备，三套传输设备通过光缆组成4芯复用段保护环网，通过TCC既有配线架与各线OCC在TCC设置的传输设备业务层互联。
MLC新设的传输设备通过TCC既有ODF与MLC机房新设ODF通过光缆连接，实现各线LC业务接入MLC。
2、光纤使用说明1）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心），占用南环4芯光纤；2）西直门8层MLC机房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，占用北环4芯光纤；3）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC 通信设备，新敷设1根24芯光纤；4）西直门8层MLC机房（灾备中心）至西直门7层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；5）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼B1层通信配线间（南环在此处上光纤配线架），新敷设1根24芯光纤；6）京投大厦西辅楼一层MLC机房（生产中心）至京投大厦西辅楼7层配线间，新敷设2根4芯多模光缆。
（此处的2根4芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）；此次测试针对以上6部分进行。
3、测试仪器采用信维牌OTDR（光时域反射仪），具体型号为S20。
4、相关图纸《MLC项目通信系统光纤传输路由图》二、光缆测试内容光缆测试包括以下内容：光缆熔接损耗（MLC项目中的光缆熔接点）；3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减；具体说明如下：光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的1根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根24芯光缆；京投大厦本项目敷设的2根4芯多模光缆；3处MLC通信设备之间光纤传输链路的光衰减：西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减；西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减；三、测试目的序号测试内容测试目的合格标准备注1 光缆熔接损耗检查光纤熔接质量每个熔接点损耗＜光纤熔接规范2 西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量＜25dB通信设备对光衰减的要求3 西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量＜25dB通信设备对光衰减的要求4 京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质量＜15dB通信设备对光衰减的要求四、光缆测试记录1、西直门新敷设1根24芯光纤熔接质量测试记录在西直门8层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在西直门7层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：2、京投大厦新敷设2根24芯光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的24芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼B1层通信配线间，对本项目敷设的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：3、京投大厦新敷设2根4芯多模光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目敷设的2根4芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼7层通信配线间，对本项目敷设的4芯多模光纤进行反向测试；多模光缆1测试结果如下：4、西直门8层MLC通信设备与京投大厦西辅楼一层MLC通信设备之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目南环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：5、西直门8层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减在西直门8层MLC机房，对本项目北环的4根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备，对本项目的北环光纤进行反向测试；测试结果如下：6、京投大厦西辅楼一层MLC通信设备与京投大厦东辅楼三层TCC机房MLC通信设备之间的链路衰减在京投大厦西辅楼一层MLC机房，对本项目新增的1根24芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层TCC机房的MLC通信设备，对本项目的24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：。
光纤光缆(实验报告)
光纤光缆技术实验报告书指导教师：刘孟华、魏访报告人：吴宁峰组员：吴思童李金活姜峰曹健保王鹏实验时间：2014.06.08光缆的接续一、实验目的：通过接续盒将光缆接续。
二、实验仪器：准备工具、材料（接续盒、环割刀、光缆、工具、以表齐全，摆放整齐）。
三、操作步骤：1、光缆开剥：在开剥前检查光缆是否损坏，清洁光缆的端头，在光缆端头约1m处用割刀环切光缆外护套，割断外护套之后将外护套抽离（注意切伤光纤），剥去内护套露出加强芯、光纤束管。
依次用棉纱、酒精加强芯、光纤束管擦拭干净。
2、光缆端头及加强芯的固定安装将光缆端头正确放到接续盒固定处，固定。
3、光纤束管开剥理顺光纤束管，确定光纤束管的拨开位置。
用专用束管刀或钳使束管外部受伤，切勿伤及光纤。
去掉束管时，顺着束管方向用力，剥除后用脱脂棉将光纤上的油膏轻轻擦拭干净，放在干净的作业台上。
4、光纤预留盘：把束管放入收容盘内，收容盘两端用尼龙扎带将束管固定在收容盘内，注意扎带不要太紧使光纤变形增加损耗。
5、用相同的方法使另一个光缆接头同样处理。
6、光纤熔接保持作业台和熔接机的清洁，并打开熔接机设定好参数、预热。
光纤接续要按顺序一一对应接续，不得交叉错接。
7、光纤的盘纤每接一管光纤要将接好的光纤编号收入收容盘内，收容时可从一端或两端向光纤保护管方向收容，将光纤保护管安全牢固的固定在光纤保护管的固定槽内。
确认无误后盖上盘盖并测试。
8、光纤接头盒的封装：在进行光缆与接头盒的密封时，要先进行密封处的光缆护套的打磨工作，用纱布在外护套上垂直光缆轴向打磨，以使光缆和密封胶带结合得更紧密，密封得更好。
接头盒上下盖板之间的密封，主要是注意密封胶带要均匀地防止在接头盒的密封槽内，将螺丝拧紧，不留缝隙四：实验感想通过这次实验我们初步了解到了光纤光缆的内部结构及各部分结构的作用，初步了解到了光缆的连续。
光纤的熔接一、实验目的：通过熔接的方法使光纤无缝的接续在一起。
二、实验仪器：光纤熔接机、剥纤钳、光纤切割刀、清洁棉等。
光纤传输特性测试报告
一、实验目的和要求1、了解光纤损耗的定义。
2、学会用插入法测量光纤的损耗。
3、主要通过对光纤线路系统设备的主要性能进行测试。
二、实验内容和原理传输损耗是光纤很重要的一项光学性质，它在很大程度上决定着传输系统中的中继距离。
损耗的降低依赖于工艺的提高和对石英材料的研究。
对于光纤来说，产生损耗的原因较复杂，主要由以下因素造成：1、纤芯和包层物质的吸收损耗，包括石英材料的本征吸收和杂质吸收；2、纤芯和包层材料的散射损耗，包括瑞利散射损耗以及光纤在强光场作用下诱发的受激喇曼散射和受激布里渊散射；3、由于光纤表面的随机畸变或粗糙所产生的波导散射损耗；4、光纤弯曲所产生的辐射损耗；5、外套损耗。
这些损耗可以分为两种不同的情况。
一是石英光纤的固有损耗机理，像石英材料的本征吸收和瑞利散射，这些机理限制了光纤所能达到的最小损耗；二是由于材料和工艺所引起的非固有损耗机理，它可以通过提纯材料或改善工艺而减小甚至消除其影响，如杂质的吸收、波导散射等。
测量光纤损耗时，只要测出光纤输入端的光功率 P１和输出光功率P2，即可得到光纤总的平均损耗，则光纤损耗为：插入法插入法的测量原理图如图3所示，标准光源发出光信号，扰模器的作用是使光信号达到稳态模功率分布，测量时，可通过连接器，先将自环线（损耗可忽略的光纤）接入，用光功率计测出此时的光功率值为P1，然后，撤去自环线，将待测光纤插入，读出光功率值P2，则根据（1）式即可算出光纤损耗值。
插入法的特点是：操作简单，不具有破坏性，但精度不高，这是由于连接器性能不佳或光注入状态发生变化时，可能带来误差。
剪断法剪断法的测量框图如图2所示，标准光源发出光信号，扰模器的作用使光信号达到稳态模分布，利用光功率计先测出光纤的输出光功率P2，然后在距离输入端2-3m的地方将光纤剪断，测量出输入光功率P1，最后根据6-1式即可算出光纤的损耗。
剪断法的特点是：简单、准确，但对光纤具有一定的破坏性。
光纤损耗测试实验测试方案：本实验利用剪断法测量光纤损耗，由于光纤的损耗很小，一般为0.2~0.5dB/km，为了使实验效果明显，则至少需要数千米的光纤，实现起来比较困难，所以在实验中我们建议使用小可变衰减器来代替光纤进行实验。
光纤实验报告
四、实验体会 通过本次实验了解了光纤通信实验系统的组成，以及其各部分的功能，对光 纤实验系统的应用和使用方法也有了初步的了解， 掌握了如何利用该系统进行信 号光纤传输的验证实验，并对波形进行观察比较，检测是否有误码。同时学习了 CMI 码的编码规则以及特点，通过实验示波器观测 P115 测试点和发端的 P101 测试点，结果两个测试点的波形一样，说明 CMI 码的误码率很小，几乎为零， 适合传输。 在这次实验中，我也学会了光功率计的使用，学会了光功率的测量方法， 光 功率计是用于测量绝对光功率或通过一段光纤的光功率相对损耗的仪器， 利用它 可以很方便的测量得到光纤通信系统的特性。通过使用光功率计，体会到在使用 光功率计的时候要注意单位和波长的选择，并且要做正确的记录，否则会有一定 的错误。最后，每次实验我们都应该养成良好的习惯，在实验结束后将仪器和配 件归回原位。
（7） 关闭系统电源。 三、实验结果
当连接 101—201 时，测量 Tx1310 口的输出光功率： 拨码器的设置 00000000 11111111 10101010 输出光功率 90.0μw -10.7nw 44.9μw
当连接 103—201 时，测量 Tx1310 口的输出光功率： 拨码器的设置 00000000 11111111 10101010 输出光功率 46.0μw 45.5nw 45.3μw
实验二 数字光发送性能测量
一、实验原理 1、消光比 设光发射机的数字驱动电路送全“0”码，测得此时的光功率为 P0，光发射机的 数字驱动电路送全“1”码，测得此时的光功率 P1，消光比定义为
EXT 10 Lg
2、半导体激光器 P-I 曲线 半导体激光器的功率特性示意图
P0 P1
p
受激 辅射
光缆测试分析报告
光缆测试分析报告第一点：光缆测试的基本原理与方法光缆测试是确保光缆网络传输质量和稳定性的关键环节。
其主要目的是通过对光缆的各项性能指标进行检测，以评估其在实际应用中的表现。
本节将详细介绍光缆测试的基本原理与方法。
1.1 光缆测试的基本原理光缆测试的基本原理是基于光纤的传输特性，通过测量光信号在光纤中的传输参数，来评估光缆的质量。
光纤的传输特性主要包括衰减、色散、非线性效应等。
在测试过程中，通过对这些参数的测量，可以得到光缆的传输性能指标。
1.2 光缆测试的方法光缆测试的方法主要有以下几种：1.衰减测试：测量光信号在光纤中传输的衰减程度，以评估光缆的损耗性能。
常用的测试设备有光功率计和光源。
2.色散测试：测量光信号在光纤中传输过程中的波长扩散现象，以评估光缆的色散性能。
常用的测试设备有光谱分析仪和色散测试仪。
3.非线性效应测试：测量光信号在光纤中传输过程中的非线性效应，如自相位调制、交叉相位调制、四波混频等。
常用的测试设备有非线性效应测试仪。
4.接头和连接器测试：测量光缆接头和连接器的损耗、反射等性能指标。
常用的测试设备有光功率计和连接器测试仪。
5.光纤长度和类型测试：测量光纤的长度和类型，以确认光缆的规格和长度。
常用的测试设备有光纤长度测试仪和光纤类型测试仪。
第二点：光缆测试的关键性能指标及测试结果分析光缆测试的关键性能指标主要包括衰减、色散、非线性效应等。
通过对这些指标的测试结果进行分析，可以评估光缆的传输性能和质量。
2.1 衰减性能指标及分析衰减是光缆传输性能的最基本指标，反映了光信号在光纤中传输的损耗程度。
衰减测试结果通常以分贝（dB）为单位表示。
在分析衰减测试结果时，需要注意以下几点：1.整体衰减水平：评估光缆的整体衰减水平是否符合设计要求，以确保光信号在传输过程中的强度。
2.衰减不均匀性：测量光缆不同部位的衰减差异，以评估光缆的均匀性。
3.接头和连接器损耗：评估光缆接头和连接器的损耗性能，以确保光信号在连接过程中的损耗最小。
光纤的测试实验报告
光纤的测试实验报告
《光纤的测试实验报告》
光纤是一种用于传输光信号的先进技术，其在通信、医疗、工业控制等领域都
有着广泛的应用。
为了确保光纤传输的稳定性和可靠性，我们进行了一系列的
测试实验，并将结果进行了报告。
首先，我们对光纤的损耗进行了测试。
通过在不同长度的光纤上发送光信号，
并测量接收端的光功率，我们得出了光纤在不同长度下的损耗曲线。
实验结果
表明，光纤的损耗随着长度的增加而增加，但在一定范围内保持在可接受的范
围内。
其次，我们对光纤的带宽进行了测试。
通过发送不同频率的光信号，并测量接
收端的带宽，我们得出了光纤在不同频率下的传输性能。
实验结果表明，光纤
的带宽在高频率下会有所减小，但在常规通信频率范围内能够满足需求。
此外，我们还对光纤的折射率进行了测试。
通过测量光纤中不同位置的折射率，并进行数据分析，我们得出了光纤的折射率分布规律。
实验结果表明，光纤的
折射率在不同位置有所差异，但整体上符合设计要求。
最后，我们对光纤的耐压性进行了测试。
通过在光纤上施加不同程度的压力，
并测量光纤的传输性能，我们得出了光纤在不同压力下的稳定性。
实验结果表明，光纤能够在一定范围内承受压力，并且不会对传输性能产生明显影响。
综合以上实验结果，我们得出了光纤的测试实验报告，证明了光纤在传输性能、稳定性和可靠性方面都具有良好的表现。
这些实验结果为光纤的应用提供了有
力的支持，也为光纤技术的进一步发展提供了重要参考。
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光纤测试报告简易说明手册
④
②
③
①
⑤
⑥
⑦
①：所测试光缆名称及编号。
②：光缆编号、光纤编号、起始位置、结束位置、光纤类型及操作者说明。
本图中的所测试光缆是东区2#教学楼的第01芯光纤，本光缆系从实验楼（起始位置）敷设至2#教学楼（结束位置），光纤类型系单模光纤，操作测试人员为徐虎。
③：光纤测试所需的参数。
本图中采用统计平均的方法，设置OTDR获取数
据取样的最大范围为2.5公里，测试波长为1310nm，发射100ns的光脉冲，以折射率为1.6459的投射光对总长度为0.2991千米的光纤进行测试，得出3个事件个数（事件个数详见⑥）。
④：起始位置A端到结束位置B端的曲线图，所测试的光缆从A端到B端
总长度为298.59m（约299.1m）的取样曲线图。
A-B之间的曲线图最能反映所测试光缆的通断情况以及衰减情况。
正常情况是在仪器和光纤的连接点，通常会产生一个反射信号，同时光功率会因此降低，表现在OTDR曲线图上就是突然出现一个反射峰，图中的B端出现反射峰已表示光纤测试通过。
若光纤尾端被压、损坏或光纤没连接上，B端就不会出现反射峰，或是与A端的曲线持平、或是低于A端的曲线。
⑤：杂波（看图时请忽略）。
因测试时设定的数据取样最大测量范围是
2.5km，实际测试光缆的长度为298.59m，因此图⑤中的曲线不是实际需要关心的数据。
⑥：光纤测试的结果事件表。
编号1和2显示所测量光纤的总长度及衰减情况，编号3是反射回来的杂波。
⑦：衰减值。
由编号1、2看出，光纤衰减值是0.057dB/km，表明光纤的衰减较少。
注：（1）单模光纤在1310nm波长的衰减常数一般为0.3~0.4dB/km（长度不同的光纤测试结果不一样）
（2）看图时，④、⑥、⑦是工程中需要的直观结果，用户只需要了解这三个地方的数据。
一般来说看图④时，B端有反射峰则可说明光纤熔接好并且无损坏，再看图⑥⑦，就知道所测量光纤的衰减值，工程上使用中，单模光纤衰减值低于3dB属于正常范围。
（3）因不同颜色的纤芯的衰减都不一样，请见下表：
同一条光缆不同的纤芯，由于施工、熔接工艺、所使用的测试跳线接口的洁净度等各方面原因，每一条芯所测试出来的衰减值是不一样的。
广州京豪网络科技有限公司
2015年7月30。