JTAG与SWD接口的工作原理
何宾 2011.12
本章内容
本章主要介绍PSoC3的编程和调试接口功能，其 内容主要包括：
测试控制器的模块结构和连接器接口； JTAG和SWD接口的工作原理； PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理； 8051的片上调试模块（DoC）； 非易失性存储器的编程。
位代码 0101
1010 1011 1000
1100
指令
PSoC3功能
CLASMP
DPACC APACC
将TDI和TDO连接到BYPASS寄存器，设置引脚到边界扫描 寄存器的当前内容
连接TDI和TDO到DP/AP寄存器，用于访问调试端口寄存器 连接TDI和TDO到DP/AP寄存器，用于访问访问端口寄存器
PSoC3 JTAG接口与IEEE1149.1-2001规范兼容，同 时提供了额外的指令。指令寄存器为4比特宽度。下表给 出了PSoC3额外的JTAG指令。
JTAG与SWD接口的工作原理 --PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理
位代码 1111 1110 0010
0000 0100
表 PSoC3额外的JTAG指令
2．10针连接器 如下图所示，10针连接器配置成双排，每针之间间隔
为50mil。
图 10针连接器
测试控制器
--连接器接口
表 不同通信协议的引脚分配
协议
信号
5针
10针
ISSP
SCLK
4
SDAT
5
XRES
3
JTAG
TMS
2
TCK
4
TDO
6
TDI
8
XRES
10
SWD/SWV
SDIO
5
2
SCK
4
4
SWV
JTAG与SWD接口的工作原理 --SWD工作原理
ACK Code 100 010 001
表 SWD接口可能的ACK位值
意义 认头部，后面跟着数据； WAIT-以前的传输仍然正在被处理，主机应该重试； FAULT-在调试端口控制/状态寄存器设置的一个默认标志。
9）地址，ACK和读/写数据总是从最低位开始传输。 SWD接口在50多个时钟周期复位，此时SWDIO为高。
JTAG与SWD接口的工作原理 --PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理
1．时钟 JTAG接口的TCK时钟和SWD接口的SWDCLK时钟共
享芯片的P1[1]引脚（一个可替换的SWDCK时钟能输入到 USB D-引脚，P15[7]）。时钟频率在1MHz和CPU_CLK/2 或者25MHz。 2．PSoC3的JTAG指令
测试控制器 --测试控制器模块结构
PSoC3结构包括一个测试控制器，主要用于下面 的目的：
用于边界扫描测试访问I/O引脚； 通过PSoC3的片上调试DoC模块来访问芯片的存储器和寄存
器。
测试控制器 --测试控制器模块结构
测试控制器通过边界扫描端口（Joint Test Action Group，JTAG）或者串行调试（Serial Wire Debug， SWD）接口连接到片外设备。测试控制器包含下面的特 性：
用于控制边界扫描单元值的接口叫做测试访问端口 （Test Access Port，TAP），也就是经常所说的JTAG接 口。
JTAG接口由：
测试数据输入（TDI）； 测试数据输出（TDO）； 测试模式选择(TMS)； 测试时钟信号（TCK）和其它信号构成。
下图给出了JTAG连接多个IC芯片的结构。
指令
BYPASS IDCODE SAMPLE/ PRELOAD EXTEST INTEST
PSoC3功能 参考IEEE1149.1-2001 参考IEEE1149.1-2001 参考IEEE1149.1-2001
参考IEEE1149.1-2001 与EXTEST一样
JTAG与SWD接口的工作原理 --PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理
在JTAG capture dr状态下或者从SWD接口读数据
时，下表给出了读寄存器的格式。
表 读寄存器的格式
ReadResult[31:0]
ACK[2:0]
1）[34:3]位：32位数据，如果端口寄存器小于32位宽 度，只传输最低的N（位宽度）比特。
2）[2:0]位：ACK确认符-取决于接口，下表给出了 JTAG/SWD接口的ACK响应。
表 JTAG/SWD接口的ACK响应
ACK
JTAG
SWD
OK
010
001
WAIT
001
010
JTAG与SWD接口的工作原理 --PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理
4．JTAG/SWD地址（PSoC3） 在PSoC3结构中，JTAG/SWD接口所传输的两位地
这个解决方案就是后来的IEEE1149.1-2001标准， 这个标准基于一个概念，即使用一个布线贯穿所有IC引 脚的移位寄存器（这也叫做边界扫描）。每个引脚上都 有一个边界扫描单元。在PSoC3中，大部分的GPIO和 SIO端口引脚都有边界扫描单元。
JTAG与SWD接口的工作原理 --JTAG工作原理
支持到调试主机的JTAG或者SWD接口； SWD接口可以使用GPIO或者USB引脚； 支持边界扫描IEEE标准1149.1-2001“Test Access Port and
Boundary-Scan Architecture”； 支持额外的JTAG指令/寄存器，用于访问芯片的剩余部分； 与PSoC3的调试模块接口用于访问芯片的剩余部分用于编程和
TAP内的寄存器包含：
1）Instruction：2-4位宽，存放当前指令，该指令定义了在 TDI-TDO移位通道上的数据寄存器，引起设备被旁路用于 JTAG模式；
2）Bypass：1位宽度，TDI和TDO直接连接； 3）ID：32位宽，用于读JTAG的制造商/芯片的ID号； 4）Boundary Scan Path（BSR）：宽度等于I/O引脚（有边
还是一个调试端口访问（逻辑‘0’）。 3）下一比特为RnW，‘1’表示从设备读；‘0’表示设备写； 4）ADD为寄存器选择位，用于选择访问端口或者调试端
口；
JTAG与SWD接口的工作原理 --SWD工作原理
5）Parity位是对APnDP，RnW和ADDR的奇偶校验位。如果 这些位域的逻辑‘1’的个数为奇数，则该位为‘1’；否则为 ‘0’。
其中：
1）ir：是指令寄存器； 2）dr：其它寄存器中的一个（包括边界扫描路径），由指
令寄存器的内容确定； 3）capture：将dr寄存器的内容传输到移位寄存器中，然后
移出TDO； 4）update：传输移位寄存器的内容，从TDI移入到一个dr；
JTAG与SWD接口的工作原理 --JTAG工作原理
ABORT SLEEP
只存在PSoC5，退出当前的AP访问指令。连接TDI和TDO到 DP/AP寄存器，
通知PSoC3/5电源管理器，如果必要的话，切断测试控制器 TC的电源。如果不设置该指令，则不能进入SLEEP。
JTAG与SWD接口的工作原理 --PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理
3．DP/AP访问寄存器 PSoC3有一个35位宽的DP/AP访问寄存器，该寄
如果奇偶位不正确，忽略头部（header），没有ACK响应； 当主机检测到头部被忽略，在进行另外一次传输时，必须等待一个完
整的读传输时间。
6）停止位为逻辑‘0’； 7）Park：该位不是由主机驱动，SWD接口将信号线拉高，
设备（芯片）读取该位为逻辑‘1’； 8）ACK：为设备到主机的响应。表7.2给出了可能的值。
6
XRES
3
10
I2C
SCK
4
SDA
5
JTAG与SWD接口的工作原理 --JTAG工作原理
为了应对IC芯片日益增加的高引脚密度，联合行 动测试小组（Joint Test Action Group，JTAG）提供了一 个用于测试电路板的方法，这个方法就是通过一个独立 的测试接口来控制IC的引脚（和读取它们的值）。
界扫描单元）的数量，用于设置或者读写这些I/O引脚的状 态；
JTAG与SWD接口的工作原理 --JTAG工作原理
在IEEE1149中，给出了标准的指令集： 1）EXTEST：该指令将使得TDI和TDO连接到边界扫
描通路上（BSR），芯片将从普通操作模式改变为测试模 式。芯片引脚的状态可以使用capture dr的JTAG状态进行 采样，使用updata dr状态新的值可以用于芯片引脚上。
1）包请求（Packet Request）：外部主机调试器向目标设 备发送一个包请求信号；
2）确认响应（Acknowledge Response）：目标设备向主机 发送一个响应信号；
3）数据（Data）：当包请求跟一个确认响应后，传输数据：
目标设备到主机-读请求后为-RDATA； 主机到目标设备-写请求后为-WDATA；
调试操作；
测试控制器 --测试控制器模块结构
如下图，PSoC3测试控制器将JTAG或者SWD访问转 换成DoC模块内寄存器的访问。
图 PSoC3测试控制器模块图
测试控制器 --连接器接口
1．5针连接器 如下图所示，5针连接器配置成单排，每针之间间隔
为100mil。
图 5针连接器
测试控制器 --连接器接口
存器用于在JTAG/SWD接口和调试/访问端口寄存器之 间进行数据传输。SWD直接读/写DP/AP寄存器；JTAG 使用DPACC和APACC指令读/写 DP/AP寄存器。
在JTAG updata dr 状态或者从SWD接口写到寄存 器，下表给出了DP/AP寄存器的结构。
B52-2.5-JTAG-SWD-调试接口
• 芯片内嵌 (JTAG/SWD)调试接口
典型调试系统:ARM7TDMI处理器的高级调试特性使 应用程序、操作系统和硬件的开发变得更加容易。
调试主机： 一台运行调试软件 的计算机。 ADS1.2+AXD1.2 MDK-Keil for ARM
协议转换器： 将调试主机发出的 高级命令转换到处 理器JTAG接口的 低级命令。有3种：
14/20PIN JTAG接口电缆
较新的基于USB接口接口转换器（USB←→SWD） 仅有4根联线：VCC、SWDIO、SWCLK、GND
调试目标： 具体的硬件目标板。 调试接口有2种 JTAG、SWD
1.LPT←→JTAG B←→JTAG B←→SWD
STM32F103核心板
早期（2000年前后） 基于IEE488并行打印口的 JTAG协议转换器 电路原理图
USB←→JTAG（14/20PIN）
并行打印机接口信号
jtag工作原理详解 (2)
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路（IC）的标准接口。
它提供了一种简单而有效的方法来访问和控制芯片内部的信号和电路。
本文将详细介绍JTAG的工作原理，包括其基本概念、信号架构、操作流程和应用场景。
1. JTAG的基本概念JTAG是由国际电子工程师学会（IEEE）创建的一组标准，旨在为集成电路的测试和调试提供一种统一的接口。
它定义了一组标准信号和协议，使得测试和调试工具可以通过这些信号与芯片进行通信。
2. JTAG的信号架构JTAG使用四个主要信号线来实现通信：TCK（Test Clock）、TMS（TestMode Select）、TDI（Test Data Input）和TDO（Test Data Output）。
其中，TCK是一个时钟信号，用于同步数据传输；TMS是一个控制信号，用于控制状态转换；TDI是测试数据输入信号，用于向芯片发送测试数据；TDO是测试数据输出信号，用于从芯片读取测试结果。
3. JTAG的操作流程JTAG的操作流程主要包括两个阶段：测试模式和用户模式。
在测试模式下，JTAG可以通过TMS和TCK信号来控制芯片进入不同的状态，如测试、重置和配置状态。
在用户模式下，芯片可以正常运行，并通过JTAG接口与外部设备进行通信。
4. JTAG的应用场景JTAG广泛应用于集成电路的测试和调试领域。
它可以用于测试芯片的功能和性能，并检测潜在的故障和缺陷。
此外，JTAG还可以用于芯片的调试和修复，通过读取和修改内部寄存器的值，以及观察和控制芯片的内部信号，来分析和解决问题。
5. JTAG的工作原理JTAG的工作原理可以简单概括为以下几个步骤：a. 初始化：JTAG控制器发送一系列的TMS和TCK信号，将芯片置于测试模式。
b. 测试模式选择：JTAG控制器通过TMS信号控制芯片进入特定的测试模式，如测试、重置或者配置模式。
JTAG与SWD接口的工作原理
JTAG与SWD接口的工作原理 --PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理
位代码 1111 1110 0010
0000 0100
表 PSoC3额外的JTAG指令
RnW
JTAG与SWD接口的工作原理 --PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理
注： 1）[34:3]位：32个数据位，如果端口寄存器小于32位
宽度，只传输最低的N（位宽度）比特。 2）[2:1]位：2位地址位，用于调试和访问端口寄存器
的选择 3）[0]位：‘1’读，‘0’写；
JTAG与SWD接口的工作原理 --PSoC3的JTAG和SWD接口的工作原理
存器用于在JTAG/SWD接口和调试/访问端口寄存器之 间进行数据传输。SWD直接读/写DP/AP寄存器；JTAG 使用DPACC和APACC指令读/写 DP/AP寄存器。
在JTAG updata dr 状态或者从SWD接口写到寄存 器，下表给出了DP/AP寄存器的结构。
表 DP/AP寄存器的结构
DATAIN[31:0] A[3:2]（访问端口/调试端口的地址）
调试操作；
测试控制器 --测试控制器模块结构
如下图，PSoC3测试控制器将JTAG或者SWD访问转 换成DoC模块内寄存器的访问。
图 PSoC3测试控制器模块图
测试控制器 --连接器接口
1．5针连接器 如下图所示，5针连接器配置成单排，每针之间间隔
为100mil。
图 5针连接器
测试控制器 --连接器接口
如果奇偶位不正确，忽略头部（header），没有ACK响应； 当主机检测到头部被忽略，在进行另外一次传输时，必须等待一个完
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试电子设备的标准接口。
它提供了一种简单而有效的方法，可以通过一个统一的接口来访问和控制设备内部的各个组件。
JTAG的工作原理基于一种称为“链”的结构。
链是由多个设备连接在一起组成的，每一个设备都有一个JTAG接口。
这些设备可以是处理器、存储器、逻辑芯片等。
通过链的连接，可以将所有设备串联在一起，形成一个完整的测试和调试系统。
在JTAG链中，设备被称为“目标设备”。
每一个目标设备都有一个JTAG接口，其中包含多个引脚，用于与其他设备进行通信。
这些引脚包括TCK（时钟信号）、TMS（状态信号）、TDI（数据输入信号）和TDO（数据输出信号）。
JTAG的工作流程如下：1. 初始化：JTAG控制器发送一系列的控制信号，将目标设备进入测试模式。
这些控制信号通过TMS引脚发送给目标设备。
2. 时钟信号：JTAG控制器通过TCK引脚向目标设备发送时钟信号，用于同步数据传输。
3. 数据传输：JTAG控制器通过TDI引脚向目标设备发送测试数据。
目标设备将接收到的数据进行处理，并通过TDO引脚返回结果。
4. 状态转移：通过改变TMS引脚的状态，JTAG控制器可以控制目标设备的状态转移。
这样可以实现目标设备内部各个组件的控制和访问。
JTAG的工作原理可以分为两个部份：测试和调试。
在测试方面，JTAG可以通过发送测试模式和测试数据来验证目标设备的功能和性能。
通过JTAG接口，可以对目标设备进行自动化测试，提高测试效率和准确性。
同时，JTAG还可以检测和诊断目标设备中的故障和缺陷。
在调试方面，JTAG可以提供对目标设备内部组件的访问和控制。
通过JTAG 接口，可以读取和修改目标设备的寄存器和内存内容。
这样可以实现对目标设备的断点调试、单步执行等功能，加快软件开辟和调试的速度。
总结起来，JTAG是一种用于测试和调试电子设备的标准接口。
JTAG电路的工作原理
JTAG电路的工作原理JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它是一种串行通信协议，通过该协议可以对芯片内部的逻辑电路进行测试、调试和编程操作。
JTAG电路的工作原理涉及到以下几个方面：测试模式选择、数据传输、时序控制和电路连接。
1. 测试模式选择：JTAG电路的工作原理首先涉及到测试模式选择。
在测试模式下，芯片内部的逻辑电路可以通过JTAG接口进行测试和调试。
测试模式选择由测试模式寄存器（TAP）控制。
TAP是JTAG电路的核心组件，它包含了状态机和寄存器，用于控制和管理JTAG操作。
2. 数据传输：JTAG电路的工作原理还包括数据传输。
JTAG使用4条线（TCK、TMS、TDI和TDO）进行数据传输。
TCK是时钟线，用于同步数据传输。
TMS是状态线，用于控制状态机的状态转换。
TDI是数据输入线，用于向芯片内部输入测试数据。
TDO是数据输出线，用于从芯片内部输出测试结果。
3. 时序控制：JTAG电路的工作原理还涉及到时序控制。
时序控制由TAP中的状态机控制。
状态机根据TMS的状态转换，控制TAP的状态变化。
TAP的状态包括测试逻辑重置状态（Test-Logic-Reset）、运行-测试-空暇状态（Run-Test-Idle）、选择-测试状态（Select-Test）、捕获状态（Capture）、移位状态（Shift）和更新状态（Update）等。
4. 电路连接：JTAG电路的工作原理还涉及到电路连接。
JTAG接口通过连接芯片的引脚，与芯片内部的逻辑电路进行通信。
通常，JTAG接口与芯片内部的测试逻辑电路（Test Access Port）相连，通过该接口可以对芯片内部的逻辑电路进行测试、调试和编程操作。
总结：JTAG电路的工作原理是通过测试模式选择、数据传输、时序控制和电路连接等方式，实现对芯片内部逻辑电路的测试、调试和编程操作。
通过JTAG接口，可以对芯片进行功能测试、故障诊断和固件编程等操作。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解引言概述：JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它提供了一种非常有效的方法，可以在芯片制造过程中进行测试和调试，以确保芯片的质量和可靠性。
本文将详细介绍JTAG的工作原理，包括其基本原理、信号传输方式、链路结构、测试模式和调试功能。
一、基本原理：1.1 逻辑层次：JTAG是一种基于逻辑层次的测试方法。
它通过在芯片上添加一组专用的测试逻辑电路，实现对芯片内部逻辑电路的测试和调试。
这些测试逻辑电路包括扫描链（Scan Chain）、测试模式选择器（Test Mode Selector）和测试控制器（Test Controller）等。
1.2 扫描链：扫描链是JTAG的核心组成部分。
它由一系列可编程的触发器（Flip-flop）组成，用于存储和传输芯片内部的测试数据。
在测试过程中，测试数据可以通过扫描链逐个传递到芯片内部的逻辑电路中进行测试。
1.3 测试模式选择器和测试控制器：测试模式选择器用于选择测试模式，将芯片切换到测试模式。
测试控制器则用于控制测试过程的执行，包括扫描链的操作、测试模式的切换和结果的读取等。
二、信号传输方式：2.1 TDI和TDO信号：JTAG使用两个主要的信号线进行数据传输，即测试数据输入（TDI）和测试数据输出（TDO）。
TDI用于将测试数据输入到芯片中，而TDO则用于将测试结果输出到外部。
2.2 TCK信号：TCK是时钟信号，用于同步测试数据的传输。
它控制着扫描链中的触发器按照时序进行数据的移位和存储。
2.3 TMS信号：TMS是测试模式选择信号，用于控制测试模式的切换。
通过改变TMS信号的状态，可以将芯片从一种测试模式切换到另一种测试模式。
三、链路结构：3.1 JTAG链路：JTAG链路是由多个JTAG设备连接而成的链状结构。
每个JTAG设备都包含一个扫描链，可以通过TDO和TDI信号进行级联连接。
JTAG电路的工作原理
JTAG电路的工作原理JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它提供了一种简单而有效的方法，用于在集成电路中插入测试和调试功能，以确保电路的正确性和可靠性。
JTAG电路的工作原理主要包括以下几个方面：1. JTAG接口JTAG接口是一种标准的串行接口，它由四根线组成，分别是TCK（时钟线）、TMS（状态线）、TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）。
通过这四根线，可以实现对集成电路的测试和调试操作。
2. JTAG测试模式JTAG测试模式是通过在TMS线上传输不同的状态序列来实现的。
在测试模式下，集成电路会进入特定的状态，从而可以通过TCK和TDO线来读取和写入内部寄存器的值。
3. JTAG链JTAG链是由多个JTAG设备连接而成的链路，每个设备都有一个唯一的ID号，用于区分不同的设备。
通过JTAG链，可以同时对多个设备进行测试和调试。
4. JTAG寄存器JTAG寄存器是集成电路中的一种特殊寄存器，用于存储和传输测试和调试数据。
它可以是输入寄存器（IR）或输出寄存器（DR）。
通过TMS和TDI线，可以选择要访问的寄存器，并通过TCK和TDO线进行数据的读取和写入。
5. JTAG指令JTAG指令是通过IR寄存器传输的特殊指令，用于控制集成电路的测试和调试操作。
常见的JTAG指令包括读取和写入寄存器的指令、设置和清除断点的指令、启动和停止运行的指令等。
6. JTAG Boundary ScanJTAG Boundary Scan是JTAG的一种重要应用，用于测试和调试电路板上的外部引脚连接。
通过在芯片的外部引脚上添加特殊的边界扫描电路，可以通过JTAG接口对引脚进行测试和调试，从而提高电路板的可靠性和生产效率。
总结：JTAG电路通过简单而有效的接口和寄存器，提供了一种方便的方法来测试和调试集成电路。
它可以用于验证电路的正确性、检测故障、读取和写入寄存器的值等操作。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解引言概述：JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于集成电路测试和调试的标准接口。
它提供了一种快速、可靠的方法来测试和调试芯片的内部电路。
本文将详细解释JTAG的工作原理。
一、JTAG的基本概念1.1 JTAG的定义和发展历史JTAG是一种由IEEE（Institute of Electrical and Electronics Engineers）制定的标准接口，最早是为了解决集成电路测试的问题而提出的。
它的发展历史可以追溯到20世纪80年代，现在已成为一种广泛应用于各种芯片的测试和调试接口。
1.2 JTAG的组成部份JTAG接口由四个主要部份组成：测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。
这四个信号线构成为了JTAG接口的核心，通过它们可以实现对芯片内部电路的测试和调试。
1.3 JTAG的工作原理JTAG的工作原理是通过在芯片内部插入一组特殊的测试逻辑电路（Test Access Port，TAP）来实现的。
TAP是一个状态机，通过TMS信号的控制，可以进入不同的状态，如测试模式、数据移位等。
通过TAP，可以将测试数据输入到芯片内部电路中，然后通过TDO信号输出测试结果。
二、JTAG的测试模式2.1 JTAG的测试模式概述JTAG接口支持多种测试模式，常见的有测试模式、数据移位模式和配置模式。
测试模式用于测试芯片内部电路的功能，数据移位模式用于读取或者写入芯片内部的寄存器，配置模式用于加载或者读取芯片的配置信息。
2.2 测试模式的使用在测试模式下，可以对芯片内部电路进行功能测试。
通过设置TMS信号的状态，可以进入测试模式，并通过TDO信号输出测试结果。
测试模式可以匡助检测芯片内部电路的故障和错误。
2.3 数据移位模式的使用数据移位模式用于读取或者写入芯片内部的寄存器。
通过设置TMS信号的状态，可以进入数据移位模式，并通过TDO信号读取或者写入寄存器的数据。
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的标准接口。
它提供了一种简单而有效的方式来访问和控制芯片内部的电路，以便进行故障检测、调试和编程等操作。
本文将详细解释JTAG的工作原理，并介绍其在集成电路测试和调试中的应用。
1. JTAG工作原理概述JTAG接口是由IEEE 1149.1标准定义的，它包含了四个主要的信号线：TCK、TMS、TDI和TDO。
其中，TCK是时钟信号，TMS是状态控制信号，TDI是数据输入信号，TDO是数据输出信号。
通过这四个信号线，JTAG接口可以实现对芯片内部电路的访问和控制。
2. JTAG工作模式JTAG接口定义了四种工作模式：测试模式（Test-Logic-Reset）、编程模式（Programming）、用户模式（User）和配置模式（Configuration）。
在测试模式下，可以通过JTAG接口对芯片内部的逻辑电路进行测试和故障检测。
在编程模式下，可以通过JTAG接口对芯片进行编程和配置。
在用户模式下，芯片将正常运行。
在配置模式下，可以对芯片的配置进行修改。
3. JTAG链JTAG链是由多个JTAG设备连接而成的链路。
每个JTAG设备都有一个唯一的ID码，用于在链路中进行识别和选择。
在JTAG链中，每个设备都有一个TDO输出和一个TDI输入，通过这种方式，可以将多个设备连接在一起，形成一个长链。
4. JTAG测试JTAG测试是通过JTAG接口对芯片内部的逻辑电路进行测试和故障检测的过程。
测试模式下，可以通过TMS信号控制JTAG状态机的状态转移，通过TDI和TDO信号进行数据的输入和输出。
通过在测试模式下对芯片的逻辑电路进行测试，可以检测出逻辑错误、电路故障和短路等问题。
5. JTAG调试JTAG调试是通过JTAG接口对芯片进行调试和故障排除的过程。
调试模式下，可以通过TMS信号控制JTAG状态机的状态转移，通过TDI和TDO信号进行数据的输入和输出。
JTAG电路的工作原理
JTAG电路的工作原理引言概述：JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试电子设备的接口标准。
它通过一系列的信号线连接到目标设备，并提供了一种非侵入式的方法来检测和控制设备的内部状态。
本文将详细介绍JTAG电路的工作原理。
一、JTAG电路的基本原理1.1 信号线连接JTAG接口通常由四根信号线组成，包括TCK（时钟线）、TMS（状态线）、TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）。
这些信号线通过连接到目标设备的JTAG接口引脚，实现了与目标设备的通信。
1.2 状态机JTAG电路内部包含一个状态机，用于控制和管理测试和调试操作。
状态机根据TMS信号的状态转换来确定当前的操作状态，包括测试模式和用户模式等。
1.3 串行数据传输JTAG通过串行方式传输数据。
在测试模式下，数据可以从TDI输入到目标设备，经过内部逻辑电路处理后，从TDO输出到JTAG接口。
这种方式使得JTAG 可以在不影响设备正常运行的情况下进行测试和调试。
二、JTAG电路的工作流程2.1 进入测试模式在开始测试和调试之前，需要将JTAG接口切换到测试模式。
通过在TMS上发送一系列的状态转换序列，可以将JTAG状态机从用户模式切换到测试模式。
2.2 扫描链测试扫描链测试是JTAG的一项重要功能。
它通过扫描链（Scan Chain）将测试数据输入到目标设备的内部逻辑电路中，以检测和验证电路的功能和性能。
扫描链是由多个触发器（Flip-Flop）组成的链式结构。
2.3 调试功能JTAG还提供了丰富的调试功能，包括读取和写入设备内部寄存器的值、设置断点和单步执行等。
这些功能可以帮助开发人员快速定位和解决问题，提高开发效率。
三、JTAG电路的应用领域3.1 芯片测试在芯片制造过程中，JTAG被广泛用于测试芯片的功能和性能。
通过JTAG接口，可以对芯片进行自动化测试，提高测试效率和可靠性。
3.2 调试和故障排除JTAG在调试和故障排除中发挥着重要作用。