JTAG接口的定义及常见问题
jtag工作原理详解
jtag工作原理详解JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路（IC）的标准接口。
它提供了一种方便的方法来访问和控制IC内部的信号和寄存器，以便进行测试、调试和编程操作。
本文将详细解释JTAG工作原理，包括其基本原理、信号传输流程和应用案例。
一、JTAG的基本原理JTAG是一种串行接口，由四个主要信号线组成，即TCK（时钟线）、TMS（状态线）、TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）。
这四个信号线与目标IC的测试逻辑电路相连，通过JTAG接口与测试设备（如测试仪器或调试器）进行通信。
1. TCK（时钟线）：控制数据传输的时钟信号，用于同步数据传输。
2. TMS（状态线）：用于控制JTAG状态机的状态转换，控制JTAG接口的操作模式。
3. TDI（数据输入线）：用于将数据输入到目标IC的测试逻辑电路。
4. TDO（数据输出线）：用于从目标IC的测试逻辑电路输出数据。
JTAG接口的工作原理基于状态机的概念。
JTAG状态机有多个状态，包括测试逻辑重置状态（Test-Logic-Reset）、IDCODE读取状态（IDCODE）、数据移位状态（Data-Shift）、指令移位状态（Instruction-Shift）等。
通过TMS信号的控制，可以在不同的状态之间切换，实现不同的操作。
二、JTAG信号传输流程JTAG信号传输流程包括初始化、指令传输、数据传输和结束四个步骤。
下面将详细介绍每个步骤的具体操作。
1. 初始化在初始化阶段，测试设备通过TCK信号向目标IC发送一系列的时钟脉冲，将其置于测试逻辑重置状态（Test-Logic-Reset）。
这个过程称为测试逻辑重置。
2. 指令传输在指令传输阶段，测试设备通过TMS和TDI信号向目标IC发送指令，控制其进入指令移位状态（Instruction-Shift）。
指令可以是读取IDCODE、设置寄存器或执行其他特定操作的命令。
JTAG接口
JTAG接口JTAG接口1、JTAG(Joint Test Action Group；联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP （Test Access Port；测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。
JTAG 测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmer，在系统编程），对FLASH 等器件进行编程。
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。
JTAG 接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程。
具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：TCK——测试时钟输入；TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。
含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。
JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。
TAP控制器的状态机通过TCK和TMS 进行状态的改变，实现数据和指令的输入。
2、JTAG芯片的边界扫描寄存器JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。
寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。
AVR单片机JTAG接口的使用方法
AVR单片机JTAG接口的使用方法AVR单片机JTAG（Joint Test Action Group）接口是一种用于单片机的调试和编程工具。
它提供了一种高效的方式来进行硬件调试、固件编程和软件调试。
在本文中，我将详细介绍AVR单片机JTAG接口的使用方法。
1.JTAG接口简介JTAG接口由四条线组成，分别是TCK（时钟线）、TMS（状态线）、TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）。
它是一种串行接口，用于与其他外设进行通信。
JTAG接口能够通过硬件调试、固件编程和软件调试来提高系统调试的效率。
2.JTAG接口的初始化在使用JTAG接口之前，需要对其进行初始化。
首先，需要确定使用的JTAG接口类型，然后根据类型选择与之匹配的调试工具和软件。
接下来，需要连接JTAG接口的四个引脚到单片机的相应引脚上。
通常，这些引脚在单片机的数据手册中有详细的说明。
3.JTAG接口的连接连接JTAG接口的四个引脚到单片机的相应引脚上，确保连接正确无误。
通常，TCK（时钟线）和TMS（状态线）引脚是共享的，它们分别连接到单片机的相应引脚上。
TDI（数据输入线）和TDO（数据输出线）引脚则是分别连接到单片机的相应引脚上。
请务必根据单片机的数据手册正确连接JTAG接口引脚。
4.JTAG接口的编程在使用JTAG接口进行编程之前，需要确保已经安装了合适的调试工具和软件。
这些工具和软件可以帮助我们完成对单片机的编程操作。
通常，这些工具和软件提供了一些简单的命令和接口，用于与单片机进行通信。
通过这些命令和接口，我们可以读取和写入单片机的内部寄存器，从而实现对单片机的编程操作。
5.JTAG接口的调试使用JTAG接口进行调试可以帮助我们找到系统中的错误和问题。
通过读取和写入单片机的内部寄存器，我们可以查看程序的执行状态、输入和输出数据、栈的使用情况等信息。
通过这些信息，我们可以判断程序中的错误和问题，并进行调试操作。
6.JTAG接口的注意事项在使用JTAG接口之前-确保JTAG接口的引脚连接正确无误，避免引脚连接错误导致的通信问题。
jtag功能以及故障分析说明
JTAG功能说明以及故障分析提示：在进行JTAG测试之前，确保每块板卡在上电前已经完成短路测试，并且上电后测量每点电压正常。
1 Infrastucture JTAG链测试Infrastructure测试主要是由三部分组成的,Capture, Identification,以及Trst功能测试,该测试主要是测试芯片的JTAG的TAP控制器基本功能是否正常,如果该项测试通过,可以认为芯片的供电基本正常,JTAG控制器相关的五个管脚焊接正常，芯片JTAG控制器工作正常。
可以支持下一步的JTAG测试.(注释: 上电最好等待1秒以后再进行JTAG测试,等待芯片上电自身初始化结束以后，否则Infrastucture 测试可能会出现问题)。
如果该项目的测试出现问题，可以首先关注供电是否正常，确保每个工作点的电压都正常。
其次是JTAG的接插件焊接是否正常，焊接的是否平整，然后考虑提供给芯片的几个基本信号是否有，TMS，TCK，TDO，TDI，TRST这些信号是否都有（示波器测量），以前出现过很多上拉电阻短路的情况，这个需要注意。
测量的时候注意测量244驱动器的前后是否都有，驱动器异常的可能性还是很高的。
注意，FPGA和EPLD这些可编程逻辑器件不需要TRST信号。
在分析问题的时候，可以从Infrastructure的第一项开始考虑，capture测试不需要TDI信号输入给芯片，只需要TMS信号和TCK信号就可以有TDO输出，便于分析和解决问题。
最后去考虑芯片的焊接是否正常。
对于某些芯片infra不过，还需要考虑是否reset信号常低输入给芯片，导致其工作不正常。
2 Interconnection连接测试这个测试主要是测试在支持JTAG功能的芯片之间的连接是否正常以及芯片外置的上拉和下拉电阻配置是否正常。
各芯片设置在JTAG功能的EXTEST模式。
在Infrastructure测试通过的基础上才能进行该项测试。
（注意，在测试之前，确保各卡之间的接插件连接到位，而且供电正常）如果该项目的测试出现问题，很可能是芯片的焊接问题，也可能是串联在电路里面的串联电阻断路，虚焊，现在维修下来的情况，电阻没有焊好的概率比较大。
JTAG各类接口针脚定义及含义
JTAG各类接口针脚定义及含义JTAG有10pin的、14pin的和20pin的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。
一、引脚定义Test Clock Input (TCK) -----强制要求1TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2TMS信号在TCK的上升沿有效。
TMS在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TMS信号用来控制TAP状态机的转换。
通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。
Test Data Input (TDI) -----强制要求3TDI在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDI是数据输入的接口。
所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。
Test Data Output (TDO) -----强制要求4TDO在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDO是数据输出的接口。
所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。
Test Reset Input (TRST) ----可选项1这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。
TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。
因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。
所以有四线JTAG与五线JTAG之分。
(VTREF) -----强制要求5接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。
这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V?）Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK信号的产生,不使用时直接接地。
JTAG各类接口针脚定义及含义
JTAG 各类接口针脚定义及含义JTAG 有10pin 的、14pin 的和20pin 的，尽管引脚数和引脚的排列顺序不同，但是其中有一些引脚是一样的，各个引脚的定义如下。
一、引脚定义Test Clock Input (TCK) -----强制要求1TCK 在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TCK 为TAP 的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号，TAP 的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。
Test Mode Selection Input (TMS) -----强制要求2TMS 信号在TCK 的上升沿有效。
TMS 在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TMS 信号用来控制TAP 状态机的转换。
通过TMS 信号，可以控制TAP 在不同的状态间相互转换。
Test Data Input (TDI) -----强制要求3TDI 在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDI 是数据输入的接口。
所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI 接口一位一位串行输入的（由TCK 驱动）。
Test Data Output (TDO) -----强制要求4TDO 在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
TDO 是数据输出的接口。
所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO 接口一位一位串行输出的（由TCK 驱动）。
Test Reset Input (TRST) ----可选项1这个信号接口在IEEE 1149.1标准里是可选的，并不是强制要求的。
TRST 可以用来对TAPController 进行复位（初始化）。
因为通过TMS 也可以对TAP Controll 进行复位（初始化）。
所以有四线JTAG 与五线JTAG 之分。
(VTREF) -----强制要求5接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply 。
这个可以用来确定ARM 的JTAG 接口使用的逻辑电平（比如3.3V 还是5.0V?）Return Test Clock ( RTCK) ----可选项2可选项可选项，，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK 信号的产生,不使用时直接接地。
jtag的pin电压
jtag的pin电压摘要：1.JTAG简介2.JTAG的PIN电压定义3.JTAG PIN电压的作用4.JTAG PIN电压的常见问题及解决方案5.总结正文：JTAG（Joint Test Action Group）是一种国际标准测试接口，主要用于芯片内部测试、调试和编程。
它提供了一种非侵入性的方法，使测试仪能够与芯片进行通信，并控制内部信号以进行各种测试操作。
JTAG接口通常包括四个或五个引脚，即TDI（Test Data In，测试数据输入）、TDO（Test Data Out，测试数据输出）、TMS（Test Mode Select，测试模式选择）、TCK（Test Clock，测试时钟）和可选的TRST（Test Reset，测试重置）。
JTAG的PIN电压定义如下：- TDI, TDO: 低电平有效，高电平无效。
通常为3.3V或1.8V。
- TMS: 低电平有效，高电平无效。
通常为3.3V或1.8V。
- TCK: 是一个时钟信号，频率通常为1-100MHz。
- TRST（可选）：高电平有效，低电平无效。
通常为3.3V或1.8V。
JTAG PIN电压的作用如下：- TDI, TDO: 用于输入和输出测试数据。
- TMS: 用于选择和控制测试模式。
- TCK: 用于产生测试时钟，驱动JTAG操作。
- TRST（可选）：用于重置测试状态，以便在测试过程中进行复位操作。
在实际应用中，JTAG PIN电压可能遇到一些常见问题，例如：1.不同电压等级的PIN连接在一起，可能导致信号干扰或损坏。
2.PIN电压与实际电路中的其他电压等级不匹配，可能影响JTAG功能的正常工作。
3.JTAG接口的ESD保护不足，可能导致静电放电损坏。
针对以上问题，可以采取以下解决方案：1.确保使用相同电压等级的PIN连接，避免不同电压等级的PIN直接相连。
2.在设计电路时，确保JTAG PIN电压与其他电路电压等级匹配。
jtag参考电压 -回复
jtag参考电压-回复JTAG（Joint Test Action Group）是一种用于测试和调试集成电路的技术标准。
在JTAG接口中，参考电压是其中一个重要的参数。
本文将一步一步回答关于JTAG参考电压的问题。
第一步：什么是JTAG？JTAG是一种用于测试和调试集成电路的标准化接口。
它由IEEE（Institute of Electrical and Electronics Engineers）制定的标准1149.1定义，并于1990年首次发布。
JTAG接口为设计者和制造商提供了一种在芯片内部进行访问和控制的方式，以帮助诊断问题和验证电路功能。
第二步：为什么需要参考电压？JTAG接口中的参考电压是用来确保信号正确传输和有效测试的关键参数。
JTAG接口通过边界扫描链（Boundary-Scan Chain）提供了与外部测试设备的通信。
在该链中，每个芯片管脚被替换为输入或输出逻辑细胞，并与相邻管脚连接。
参考电压在这些逻辑细胞的工作过程中起到关键作用，确保信号稳定和可靠。
第三步：JTAG参考电压的作用是什么？JTAG参考电压的作用是为JTAG操作提供一个确定的基准，以确保正常的信号传输和可靠的测试。
在JTAG操作期间，参考电压用于提供正确的电平，使得逻辑细胞在每个时钟周期上都能以正确的方式切换。
第四步：如何确定JTAG参考电压的值？确定JTAG参考电压的值需要根据具体的芯片和测试环境来决定。
一般来说，JTAG参考电压应该与芯片工作电压相匹配。
这是因为在测试和调试过程中，JTAG接口需要与芯片的电源系统保持同步，以确保正确的信号传输。
第五步：如何提供JTAG参考电压？提供JTAG参考电压有多种方式。
最常见的方式是通过使用外部电源或模拟器来提供参考电压。
外部电源可以供应适当的电压级别，并通过连接到JTAG接口上的相应引脚来提供参考电压。
另一种方法是使用模拟器，它可以模拟芯片的电源系统，并提供所需的参考电压。
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JTAG接口的定义及常见问题ARM系统的JTAG接口的设计不当往往使硬件系统无法调试，所以在设计ARM 系统前要先熟悉ARM系统的JTAG接口的定义和常见问题。
1．ARM系统的JTAG接口是如何定义的？每个PIN又是如何连接的？下图是JTAG接口的信号排列示意：接口是一个20脚的IDC插座。
下表给出了具体的信号说明：表 1 JTAG引脚说明序号信号名方向说明1 Vref Input 接口电平参考电压，通常可直接接电源2 Vsupply Input 电源 (设备提供)3 nTRST Output (可选项) JTAG复位。
在目标端应加适当的上拉电阻以防止误触发。
4 GND -- 接地5 TDI Output Test Data In from Dragon-ICE to target.6 GND -- 接地7 TMS Output Test Mode Select8 GND -- 接地9 TCK Output Test Clock output from Dragon-ICE to the target10 GND -- 接地11 RTCK Input (可选项) Return Test Clock。
由目标端反馈给Dragon-ICE的时钟信号，用来同步TCK信号的产生。
不使用时可以直接接地。
12 GND -- 接地13 TDO Input Test Data Out from target to Dragon-ICE.14 GND -- 接地15 nSRST Input/Output (可选项) System Reset，与目标板上的系统复位信号相连。
可以直接对目标系统复位，同时可以检测目标系统的复位情况。
为了防止误触发，应在目标端加上适当的上拉电阻。
16 GND -- 接地17 NC -- 保留18 GND -- 接地19 NC -- 保留20 GND -- 接地2．目标系统如何设计？目标板使用与Dragon-ICE一样的20脚针座，信号排列见表1。
RTCK和 nTRST 这两个信号根据目标ASIC有否提供对应的引脚来选用。
nSRST则根据目标系统的设计考虑来选择使用。
下面是一个典型的连接关系图：复位电路中可以根据不同的需要包含上电复位、手动复位等等功能。
如果用户希望系统复位信号nSRST能同时触发JTAG口的复位信号nTRST，则可以使用一些简单的组合逻辑电路来达到要求。
后面给出了一种电路方案的效果图。
图3一个复位电路结构的例子在目标系统的PCB设计中，最好把JTAG接口放置得离目标ASIC近一些，如果这两者之间的连线过长，会影响JTAG口的通信速率。
另外电源的连线也需要加以额外考虑，因为Dragon-ICE要从目标板上吸取超过100mA的大电流。
最好能有专门的敷铜层来供电，假如只能使用连线供电的话，最小线宽不应小于10mil (0.254mm)。
3. 14脚JTAG如何与20JTAG连接?Dragon-ICE使用工业标准的20脚JTAG插头，但是有些老的系统采用一种14脚的插座。
这两类接口的信号排列如下：这两类接口之间的信号电气特性都是一样的，因此可以把对应的信号直接连起来进行转接。
Dragon-ICE配备这种转接卡，随机配备。
原文出处：/faq2.htm1 JTAG(Joint Test Action Group;联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。
现在多数的高级器件都支持JTAG 协议，如DSP、FPGA器件等。
标准的JTAG接口是4线：TMS、 TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP （Test Access Port;测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。
JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
现在，JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable�在线编程），对FLASH等器件进行编程。
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。
JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义：TCK——测试时钟输入；TDI——测试数据输入，数据通过TDI输入JTAG口；TDO——测试数据输出，数据通过TDO从JTAG口输出；TMS——测试模式选择，TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式。
可选引脚TRST——测试复位，输入引脚，低电平有效。
含有JTAG口的芯片种类较多，如CPU、DSP、CPLD等。
JTAG内部有一个状态机，称为TAP控制器。
TAP控制器的状态机通过TCK和TMS 进行状态的改变，实现数据和指令的输入。
图1为TAP控制器的状态机框图。
2 JTAG芯片的边界扫描寄存器JTAG标准定义了一个串行的移位寄存器。
寄存器的每一个单元分配给IC芯片的相应引脚，每一个独立的单元称为BSC（Boundary-Scan Cell）边界扫描单元。
这个串联的BSC在IC内部构成JTAG回路，所有的BSR（Boundary-Scan Register）边界扫描寄存器通过JTAG测试激活，平时这些引脚保持正常的IC功能。
图2为具有JTAG口的IC内部BSR单元与引脚的关系。
3 JTAG在线写Flash的硬件电路设计和与PC的连接方式以含JTAG接口的StrongARM SA1110为例，Flash为Intel 28F128J32 16MB容量。
SA1110的JTAG的TCK、TDI、TMS、TDO分别接PC并口的2、3、4、11线上，通过程序将对JTAG口的控制指令和目标代码从PC的并口写入JTAG的BSR中。
在设计PCB时，必须将SA1110的数据线和地址线及控制线与Flash的地线线、数据线和控制线相连。
因 SA1110的数据线、地址线及控制线的引脚上都有其相应BSC，只要用JTAG指令将数据、地址及控制信号送到其BSC中，就可通过BSC 对应的引脚将信号送给Flash，实现对Flash的操作。
JTAG的系统板设计和连线关系如图3所示。
4 通过使用TAP状态机的指令实行对Flash的操作通过TCK、TMS的设置，可将JTAG设置为接收指令或数据状态。
JTAG常用指令如下：SAMPLE/PRELOAD——用此指令采样BSC内容或将数据写入BSC单元；EXTEST——当执行此指令时，BSC的内容通过引脚送到其连接的相应芯片的引脚，我们就是通过这种指令实现在线写Flash的；BYPASS——此指令将一个一位寄存器轩于BSC的移位回路中，即仅有一个一位寄存器处于TDI和TDO之间。
在PCB电路设计好后，即可用程序先将对JTAG的控制指令，通过TDI送入JTAG 控制器的指令寄存器中。
再通过TDI将要写Flash的地址、数据及控制线信号入BSR中，并将数据锁存到BSC中，用EXTEST指令通过BSC将写入Flash。
5 软件编程在线写Flash的程序用Turbo C编写。
程序使用PC的并行口，将程序通过含有JTAG的芯片写入Flash芯片。
程序先对PC的并口初始化，对JTAG口复位和测试，并读Flash，判断是否加锁。
如加锁，必须先解锁，方可进行操作。
写Flash 之前，必须对其先擦除。
将JTAG芯片设置在EXTEST模式，通过PC的并口，将目标文件通过JTAG写入Flash，并在烧写完成后进行校验。
程序主流程如图4所示。
通过JTAG的读芯片ID子程序如下：void id_command(void){putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle;使JTAG复位putp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,1,IP);putp(1,1,IP); //选择指令寄存器putp(1,0,IP); //捕获指令寄存器putp(1,0,IP); /移位指令寄存器putp(0,0,IP); //SA1110JTAG口指令长度5位，IDCODE为01100putp(1,0,IP);putp(1,0,IP);putp(0,0,IP);putp(0,0,IP);putp(0,1,IP); //退出指令寄存器putp(1,1,IP); //更新指令寄存器，执行指令寄存器中的指令putp(1,0,IP)； //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,1,IP);putp(1,0,IP);if(check_id(SA1110ID))error_out("failed to read device ID for the SA-1110");putp(1,1,IP); //退出数据寄存器putp(1,1,IP); //更新数据寄存器putp(1,0,IP); //Run-Test/Idle,使JTAG复位putp(1,0,IP); //Run-Test/Idleputp(1,0,IP); //Run-Test/Idle}6 电路设计和编程中的注意事项①Flash芯片的WE、CE、OE等控制线必须与SA1110的BSR相连。
只有这样，才能通过BSR控制Flash的相应引脚。
②JTAG口与PC并口的连接线要尽量短，原则上不大于15cm。
③Flash在擦写和编程时所需的工作电流较大，在选用系统的供电芯片时，必须加以考虑。
④为提高对Flash的编程速度，尽量使TCK不低于6MHz，可编写烧写Flash程序时实现。