离子源
离子源 工作原理
离子源工作原理
离子源是一种常用的实验室设备，用于产生高能离子束。
它的工作原理是通过提供高电压电场和/或强磁场，将中性原子或
分子转化为带电的离子，并使其加速并聚焦成束。
离子源通常由两个主要部分组成：离子产生器和加速器系统。
离子产生器通常包括热发射阴极或电离区域，通过不同的方法将中性原子或分子转化为带电离子。
常见的方法包括热发射、化学电离和电子轰击。
在热发射过程中，阴极加热至高温，从而使阴极表面的原子或分子的能量增加，达到蒸发或过冷的程度，从而形成大量的离子。
化学电离是通过将原子或分子暴露在化学反应物中，使其发生离子化反应来实现的。
电子轰击通常通过向原子或分子发送高能电子，从而将其电离。
离子源的第二个重要组成部分是加速器系统，用于将产生的离子束加速到所需的能量和速度。
加速器通常包括多级电场和/
或磁场，通过对离子施加电场或磁场力来提高它们的速度。
这些离子束可以经过定向和聚焦，以便在实验室中进行各种实验和研究应用。
总之，离子源是通过将中性原子或分子转化为带电离子，并通过加速器系统将其加速和聚焦而产生的高能离子束。
它在物理、化学、生物等领域的研究中发挥着重要作用。
离子源系统
离子源系统一、介绍离子源系统是一种重要的科学实验装置，用于产生和传输离子束。
离子源系统在物理、化学、生物、材料科学等领域的研究中起着至关重要的作用。
本文将对离子源系统的原理、分类、操作和应用进行全面、详细、完整且深入地探讨。
二、离子源系统的原理离子源系统的核心是离子源，它通过不同的物理原理将中性粒子转变为带电粒子。
常见的离子源有静电离子源、电离离子源、基于离子源的离子化学蒸发源等。
2.1 静电离子源静电离子源是最常见的离子源之一，它利用静电场的作用将中性粒子离子化。
静电离子源可以分为空间电荷限制离子源和离子轰击离子源。
2.1.1 空间电荷限制离子源空间电荷限制离子源是将中性粒子注入到电场中，使其在电场中受到空间电荷力并离子化。
常用的空间电荷限制离子源有电子冲击离子源和电子注入离子源。
2.1.1.1 电子冲击离子源电子冲击离子源利用高能电子和中性粒子碰撞，使中性粒子失去电子从而变为带正电的离子。
电子冲击离子源具有较高的能量转化效率和较高的离子得到率。
2.1.1.2 电子注入离子源电子注入离子源通过电子束将能量输入到中性粒子系统中，使中性粒子失去电子并转化为离子。
2.1.2 离子轰击离子源离子轰击离子源利用离子束轰击中性粒子样品，将其离子化并引出离子源。
离子轰击离子源具有离子化效率高、操作简便等优点。
2.2 电离离子源电离离子源是另一种常见的离子源，它通过电离过程将中性粒子转化为带电离子。
电离离子源可以分为化学离子化和电离蒸发两种方式。
2.2.1 化学离子化化学离子化是使用化学反应将中性粒子离子化，常见的化学离子化方法有化学离子源、电化学离子源等。
2.2.2 电离蒸发电离蒸发是利用高能电子束或激光束的能量将中性粒子蒸发成离子。
电离蒸发具有高效率、高选择性的优点。
三、离子源系统的操作离子源系统的操作涉及到多个步骤，包括前处理、离子源调试、离子束传输和反应室控制等。
3.1 前处理前处理是指在离子源系统操作之前对样品进行处理。
2章离子源
7，溅射离子源 sputtering ion source
利用阴极溅射现象产生固体离子的离子源。它 是产生负重离子的主要离子源，可分为离子束溅 射负离子源和等离子体溅射负离子源两种结构。 米德尔顿（Middleton）等发展的通用型负离子源 是前者的典型。它由钽丝组成的圆柱形表面电离 器产生5－10 KeV, 5-15 mA 的Cs+ 束轰击溅射靶， 同时有足量铯原子喷射靶的表面，降低其功函数。 这样可得到数百微安的各种重负离子，如Pt-, Cu-, Au-, Si-, C- 等达到150－300µA。
基于静电约束，用 高密度载能电子束产 生高电荷态离子的装 置。它由电子枪产生 一束细长的具有确定 能量的高密度强流电 子束，被一强的螺旋 管磁场聚焦，沿束形 成负空间电荷静电离 子阱，以捕获正离子 并使离子逐级电离， 直至达到受电子能量 限制的最高电荷态， 然后改变轴上电位分 布而引出离子。
EBIS装置由超高真空室、电子枪、漂浮管、 电子收集器、离子引出器、聚焦磁场以及工作气体或 外注入低电荷态离子源等组成。它的电离特性主要由 电子的能量、流强密度和束的长度决定。EBIS的电 子束长度约1m，当它短到1cm左右则称谓EBIT （Electron Bean Ion Trap，电子束离子阱）。后者已 有引出U92＋的记录！不同装置的 电子束能量范围为2~200keV 聚焦束流密度为 102－103A/cm2， 磁场强度为1－5T。 按其磁场结构可分为 “低温EBIS”和“室温EBIS”， 前者采用超导螺旋管， 后者则为普通磁体。
5，潘宁离子源 penning ion source
• 阴极发射的电子受磁场 约束并在静电阱中振荡， 发生碰撞电离形成高密 度等离子体。
• 它可以从阳极侧边开孔或反阴极中心开孔 在吸极电场作用下引出离子，分别称为径 向或轴向引出离子源。阴极引出离子密度 高，阳极引出高电荷态离子比例高。 • 按阴极结构可分为冷阴极和热阴极PIG源。 前者结构简单，但是弧压高（>1KV）影响 寿命，需冷却阴极或限制平均弧功率。
离子源工作原理
离子源工作原理
离子源（Ion Source）是一种用于产生离子束的装置，它是一
种关键的技术环节，广泛应用于物理学、化学、材料科学、生物医学等领域的研究和实践中。
离子源的工作原理基于离子化过程，即将中性原子或分子转化为离子的过程。
通常，离子源包括一个热阴极或冷阴极，该阴极通过不同的机制（如热电子发射或场致电离）产生自由电子。
这些自由电子在外加电场的作用下被加速，并撞击到阴极材料或其它气体分子上，将原子或分子从中剥离出来，形成离子。
离子可以是正离子（失去一个或多个电子）或负离子（获得一个或多个电子）。
这些产生的离子被抽取并形成离子束。
在离子源内部，除了阴极和外加电场，通常还存在一个加速电子场、抽取电场和聚焦磁场等。
加速电子场用于加速中性气体分子，并将其能量提高到足以离解为离子的能量。
抽取电场则用于抽取和形成离子束。
聚焦磁场在一定程度上控制离子束的聚束效果，使其更加集中和稳定。
离子源的性能受到多种因素的影响，包括离子化过程的效率、离子的种类与能量分布、离子束的强度与稳定性等。
进一步的研究和改进离子源的技术将有助于提高离子束的质量和性能，从而在各种应用中发挥更大的作用，如材料改性、表面处理、质谱分析、离子植入等。
离子源工作原理
离子源工作原理
离子源是一种用于产生离子束的装置。
它的工作原理基于电离技术，通过电离原子或分子，将其转化为带正电荷的离子，并以束流形式输出。
离子源一般由以下几个主要部分组成：
1. 电离室：包含电离源和电离区域，用于电离原子或分子。
常用的电离技术包括电子轰击电离、化学离子化、光电离等。
2. 加速区域：用于加速已被电离的离子，使其达到所需的能量。
3. 准直系统：对离子束进行准直和聚焦，以保证束流的稳定性、一致性和空间分辨率。
4. 检测系统：用于检测和分析离子束的性质和特性，例如质量和能量分析器。
离子源的工作原理如下：
1. 电离：通过电离室中的电离技术，将原子或分子中的电子移除，使其转化为带正电荷的离子。
这些离子可以是单原子离子，也可以是多原子离子。
2. 加速：已经被电离的离子进入加速区域，受到加速电场的作用，获得一定的动能。
加速会使离子束的速度和能量增加。
3. 准直和聚焦：离子束经过准直系统，通过调节准直器、聚焦器等光学元件，使离子束的方向、形状和聚焦程度达到要求。
这样可以确保离子束可以精确地聚焦到需要的目标区域上。
4. 检测和分析：离子束通过检测系统，例如质量分析器，可以对离子束的质量、能量、强度等进行检测和分析。
这些参数可以用于确定离子束的性质和特性，以及对样品进行分析和表征。
离子源的工作原理可以根据不同的电离技术、离子源结构和应用领域的需求而有所差异。
离子源在科学研究、材料表征、医学影像等领域具有广泛的应用。
离子源介绍
离子源介绍2.1 离子源概述离子源是通过中性原子或分子电离，然后将它们引出并形成离子束流的装置。
它是各种类型的离子加速器、质谱仪、离子推进器、离子束加工设备等仪器中不可缺少的关键部件。
离子源一般分为气体型离子源和固体型离子源。
2.1.1 结构与组成一般离子源的结构如图1.1所示，基本工作原理为：热发射或场致发射的电子在放电室里面被加速，被加速的电子撞击气体分子使之离解、电离，形成等离子体，由引出系统从等离子体中引出离子束。
图2.1 离子源的一般结构2.1.2 离解、电离及复合过程解离是指分子在载能电子的作用下离解成原子；电离是指分子或原子在载能电子的作用下电离形成离子。
我们以氢为例给出一个典型的离解和电离方程：1H + e （离解过程）2H2 + e → 21H + e → H++ 2e （电离过程）++ 2e（分子离子）2H2 + e → H22H+ + e → 2H++ 3e （原子离子)第1页复合过程是指离子捕获电子形成中性原子或分子的过程。
离解、电离及复合是一动态过程，当电离过程与复合过程达到动态平衡，放电就达到了平衡，稳定的等离子体就形成了。
2.1.3 等离子体的密度等离子体的密度是离子源的重要参数。
等离子体的密度越高，引出的离子束流就越强，离子源的性能就越好。
提高等离子体密度的方法，一般是在放电室中加一轴向磁场，其主要作用为：a）使电子做螺旋运动，提高电子与原子的碰撞次数，提高电离几率。
b）使离子受到径向的约束力，减少与放电室内壁碰撞而复合的几率。
2.1.4 离子源引出系统和聚焦系统气体放电，电子与原子、分子的碰撞，用离子轰击阴极材料以及表面电离过程都能够产生离子，然后通过引出系统形成离子束。
离子源的引出系统是离子源的重要结构。
聚焦系统用于调节离子束的发射度、能散度和线性度等等，离子束的各项指标都与引出系统和聚焦系统密切相关。
2.2 离子源的种类根据使用条件和用途的不同，离子源的类型有很多。
离子源工作原理
离子源工作原理离子源是一种用于产生离子束的装置，广泛应用于物理、化学、材料科学等领域。
离子源的工作原理涉及离子的产生、加速和聚焦等过程。
下面将详细介绍离子源的工作原理。
1. 离子的产生离子源通常通过电离的方式产生离子。
常见的电离方式包括电子轰击电离、化学电离和热电离等。
其中，电子轰击电离是最常用的方式。
离子源内部通常包含一个电子枪，通过加热阴极产生电子，然后使用高压电场将电子加速，并轰击到气体分子上，使其电离成离子。
产生的离子会被加速器加速并形成离子束。
2. 离子的加速离子源中的加速器主要用于加速离子束，使其具有一定的能量。
加速器通常由电场和磁场构成。
其中，电场加速器是最常见的一种。
电场加速器通过施加电场使离子受到加速，并增加其动能。
加速器的加速电压可以通过调节电场强度来控制离子束的能量。
离子的能量决定了其在实验中的穿透能力和反应性能。
3. 离子的聚焦离子源中的聚焦系统主要用于将离子束聚焦到较小的尺寸，以便在实验中进行精确的照射或反应。
聚焦系统通常由磁场和电场构成。
磁场聚焦器通过施加磁场使离子受到磁力的作用，从而使离子束聚焦。
电场聚焦器则通过施加电场使离子受到电力的作用，实现离子束的聚焦。
聚焦系统的设计和调节对于获得高质量的离子束至关重要。
4. 离子束的控制和调节离子源中还包括一些控制和调节系统，用于控制离子束的强度、能量、流强等参数。
这些系统通常包括束流诊断装置、束流控制器、能量选择器等。
束流诊断装置用于测量离子束的强度、能量分布、发散度等参数，以便进行实验参数的调节和优化。
束流控制器用于控制离子束的强度和流强，以满足实验需求。
能量选择器用于选择所需能量的离子束，以适应不同实验的需要。
总结：离子源的工作原理主要包括离子的产生、加速和聚焦等过程。
离子源通过电离的方式产生离子，并通过加速器增加离子的能量。
聚焦系统将离子束聚焦到较小的尺寸，以便在实验中进行精确的照射或反应。
离子束的强度、能量和流强等参数可以通过控制和调节系统进行控制。
离子源工作原理
离子源工作原理离子源是一种用于产生离子束的装置，广泛应用于物理、化学、材料科学等领域。
它是将中性原子或分子转化为带电粒子（离子）的装置，通过控制离子束的性质和能量，可以实现对材料表面的改性、薄膜沉积、离子注入等多种应用。
离子源的工作原理可以分为三个主要步骤：产生、加速和聚焦。
1. 产生离子离子源中最常用的产生离子的方法是电离。
电离可以通过不同的方式实现，例如电子轰击电离、化学电离、表面电离等。
其中，电子轰击电离是最常用的方法。
在这种方法中，通过加热阴极，产生电子，并通过加速电场将电子加速到阴极表面。
当高能电子撞击阴极表面时，会将阴极上的原子或分子电离，形成带电粒子（离子）。
2. 离子加速产生的离子会被引入到离子源中的加速区域。
在加速区域，离子会经过一系列的电场加速，使其获得足够的能量。
加速区域中的电场可以通过引入直流电压或射频电场来实现。
这些电场会对离子施加力，使其加速。
3. 离子聚焦加速后的离子束会进入到离子源的聚焦区域。
在聚焦区域，通过引入磁场或电场来调节离子束的传输性质，使其达到所需的聚焦效果。
聚焦区域的磁场或电场可以通过调节磁铁或电极的位置和形状来实现。
离子源的工作原理可以根据不同的离子源类型和应用需求而有所不同。
例如，离子源可以分为热离子源和非热离子源。
热离子源通过加热阴极使其产生电子，非热离子源则通过其他方式产生电子。
此外，离子源还可以根据离子束的能量、形状和强度进行调节，以满足不同的实验需求。
总结起来，离子源的工作原理包括离子的产生、加速和聚焦三个主要步骤。
通过控制这些步骤中的参数和条件，可以实现对离子束的精确控制，从而实现对材料的表面改性、薄膜沉积、离子注入等应用。
离子源的工作原理是物理、化学、材料科学等领域研究和应用的基础。
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目前，气相质谱和液相质谱的联用已经越来越普及。
作为质谱仪中的一个重要组成部分—离子源有哪些种类以及各自不同的用途呢？首先对于气相质谱（GS/MS）来说，主要有电子轰击电离源（EI）、化学电离源（CI）和场致电离源（FI）及场解吸电离源（FD）。
EI是利用一定能量的电子与气相中的样品分子相互作用（轰击），使分子失去电子，电离成离子。
当分子离子具有的剩余能量大于其某些化学键的键能时，分子离子便发生碎裂，生成碎片离子。
其优点在于它是非选择性电离，只要样品能气化都能够离子化，且离子化效率高、灵敏度高；能够提供丰富飞结构信息，是化合物的指纹谱；有庞大的标准谱库供检索。
其缺点在于不适用于难挥发、热不稳定的样品，而且只能检测正离子，不检测负离子。
CI是指引入一定的反应气进入离子化室，反应气在具有一定能量的电子流的作用下电离或裂解，生成的离子和反应气分子进一步反应或和样品分子发生离子分子反应，通过质子交换使样品分子电离。
其优点在于可以通过控制反应，根据离子亲和力和电负性选择不用的反应试剂，用于不同化合物的选择性检测。
其缺点在于也不适用于难挥发和热不稳定样品，谱图重复性不如EI图谱，而且反应试剂容易形成较高的本底，影响检测限。
FI和FD是一种软电离方式，由一个电极和一组聚焦透镜组成，形成高达几千伏的强电场，使气态分子的电子被拉出而电离。
其优点在于几乎没有碎片离子，没有本底，图谱很干净。
缺点在于仅适用于扇形磁场质谱和飞行时间质谱仪，我们常见的四级杆质谱和离子肼质谱都不能配置FI和FD源，而且高压容易产生放电效应，操作也更难一些。
EI源是我们最常见的气质离子源。
对于液相质谱（LC/MS）来说，主要有大气压离子源（API）、快原子轰击源（FAB）和基质辅助激光解析电离源（MALDI）三种电离方式。
API主要给出分子量信息，一定条件下可以提供有限的信息结构，它又包括电喷雾电离（ESI）和大气压化学电离（APCI）。
ESI是指样品溶液从毛细管流出时，在电场及辅助气流的作用下喷成雾状的带电液滴，液滴中溶剂被蒸发，使液滴直径变小，发生“库伦爆炸”，把液滴炸碎，此过程不断重复，形成样品离子。
其优点在于能够给出分子量信息，适合于离子型和极性分析物，灵敏度高，高分子量测定，适合毛细管高效液相色谱，缺点在于对液相的流速有一定的限制，在高盐浓度下对离子有抑制。
APCI是指样品被迫通过一根窄的管路喷雾针，使其得到较高的线速度，并且给喷雾针高温加热及雾化气，使液流在脱离管路的时候快速蒸发成液体，然后再大气压条件下利用尖端高压放电而使分析物发生气相化学电离。
其优点在于使用方便，耐用性好，灵敏度高，可以匹配高流速，适合于非极性至弱极性样品，小分子样品以及抗菌素和碱性药物等。
其缺点在于有可能发生热裂解，有低质量端的化学噪声大，有限的结构信息。
因此ESI和APCI是互补的。
FAB离子化能力强，适用于强极性、挥发性低、热稳定性差和相对分子质量大的样品，对非极性样品灵敏度下降、低质量区以下产生较多干扰峰。
MALDI的准分子离子峰很强，几乎没有碎片离子，可以直接分析蛋白质酶解后多肽混合物，对样品中杂质的耐受量较大，适用于多肽、蛋白质、糖蛋白、DNA片段、多糖及其他生物技术产品的分析。
API源是我们最常用的液质离子源。
ELEMENT GD双聚焦辉光放电质谱仪USB在数据采集系统中的应用质谱仪的种类和历史2011-11-26 19:44:32| 分类：默认分类| 标签：|举报|字号大中小订阅质谱仪简介又称质谱计(mass spectrometer)。
进行质谱分析的仪器，即根据带电粒子在电磁场中能够偏转的原理，按物质原子、分子或分子碎片的质量差异进行分离和检测物质组成的一类仪器。
质谱仪以离子源、质量分析器和离子检测器为核心。
离子源是使试样分子在高真空条件下离子化的装置。
电离后的分子因接受了过多的能量会进一步碎裂成较小质量的多种碎片离子和中性粒子。
它们在加速电场作用下获取具有相同能量的平均动能而进入质量分析器。
质量分析器是将同时进入其中的不同质量的离子，按质荷比m/z大小分离的装置。
分离后的离子依次进入离子检测器，采集放大离子信号，经计算机处理，绘制成质谱图。
离子源、质量分析器和离子检测器都各有多种类型。
质谱仪按应用范围分为同位素质谱仪、无机质谱仪和有机质谱仪；按分辨本领分为高分辨、中分辨和低分辨质谱仪；按工作原理分为静态仪器和动态仪器。
分离和检测不同同位素的仪器。
仪器的主要装置放在真空中。
将物质气化、电离成离子束，经电压加速和聚焦，然后通过磁场电场区，不同质量的离子受到磁场电场的偏转不同，聚焦在不同的位置，从而获得不同同位素的质量谱。
质谱方法最早于1913年由J.J.汤姆孙确定，以后经F.W.阿斯顿等人改进完善。
现代质谱仪经过不断改进，仍然利用电磁学原理，使离子束按荷质比分离。
质谱仪的性能指标是它的分辨率，如果质谱仪恰能分辨质量m和m＋Δm，分辨率定义为m／Δm。
现代质谱仪的分辨率达105 ～106 量级，可测量原子质量精确到小数点后7位数字。
质谱仪最重要的应用是分离同位素并测定它们的原子质量及相对丰度。
测定原子质量的精度超过化学测量方法，大约2／3以上的原子的精确质量是用质谱方法测定的。
由于质量和能量的当量关系，由此可得到有关核结构与核结合能的知识。
对于可通过矿石中提取的放射性衰变产物元素的分析测量，可确定矿石的地质年代。
质谱方法还可用于有机化学分析，特别是微量杂质分析，测量分子的分子量，为确定化合物的分子式和分子结构提供可靠的依据。
由于化合物有着像指纹一样的独特质谱，质谱仪在工业生产中也得到广泛应用。
固体火花源质谱：对高纯材料进行杂质分析。
可应用于半导体材料有色金属、建材部门气体同位素质谱：对稳定同位素C、H、N、O、S及放射性同位素Rb、Sr、U、Pb、K、Ar测定，可应用于地质石油、医学、环保、农业等部门有机质谱仪有机质谱仪基本工作原理：以电子轰击或其他的方式使被测物质离子化，形成各种质荷比（m/e）的离子，然后利用电磁学原理使离子按不同的质荷比分离并测量各种离子的强度，从而确定被测物质的分子量和结构。
有机质谱仪主要用于有机化合物的结构鉴定，它能提供化合物的分子量、元素组成以及官能团等结构信息。
分为四极杆质谱仪、离子阱质谱仪、飞行时间质谱仪和磁质谱仪等。
有机质谱仪的发展很重要的方面是与各种联用仪（气相色谱、液相色谱、热分析等）的使用。
它的基本工作原理是：利用一种具有分离技术的仪器，作为质谱仪的进样器，将有机混合物分离成纯组分进入质谱仪，充分发挥质谱仪的分析特长，为每个组分提供分子量和分子结构信息。
可广泛用于有机化学、生物学、地球化学、核工业、材料科学、环境科学、医学卫生、食品化学、石油化工等领域以及空间技术和公安工作等特种分析方面。
无机质谱仪无机质谱仪与有机质谱仪工作原理不同的是物质离子化的方式不一样，无机质谱仪是以电感耦合高频放电(ICP)或其他的方式使被测物质离子化。
无机质谱仪主要用于无机元素微量分析和同位素分析等方面。
分为火花源质谱仪、离子探针质谱仪、激光探针质谱仪、辉光放电质谱仪、电感耦合等离子体质谱仪。
火花源质谱仪不仅可以进行固体样品的整体分析，而且可以进行表面和逐层分析甚至液体分析；激光探针质谱仪可进行表面和纵深分析；辉光放电质谱仪分辨率高，可进行高灵敏度，高精度分析，适用范围包括元素周期表中绝大多数元素，分析速度快，便于进行固体分析；电感耦合等离子体质谱，谱线简单易认，灵敏度与测量精度很高。
质谱分析法的特点是测试速度快，结果精确。
广泛用于地质学、矿物学、地球化学、核工业、材料科学、环境科学、医学卫生、食品化学、石油化工等领域以及空间技术和公安工作等特种分析方面。
同位素质谱仪同位素质谱分析法的特点是测试速度快，结果精确，样品用量少（微克量级）。
能精确测定元素的同位素比值。
广泛用于核科学，地质年代测定，同位素稀释质谱分析，同位素示踪分析。
离子探针离子探针是用聚焦的一次离子束作为微探针轰击样品表面，测射出原子及分子的二次离子，在磁场中按质荷比（m/e）分开，可获得材料微区质谱图谱及离子图像，再通过分析计算求得元素的定性和定量信息。
测试前对不同种类的样品须作不同制备，离子探针兼有电子探针、火花型质谱仪的特点。
可以探测电子探针显微分析方法检测极限以下的微量元素，研究其局部分布和偏析。
可以作为同位素分析。
可以分析极薄表面层和表面吸附物，表面分析时可以进行纵向的浓度分析。
成像离子探针适用于许多不同类型的样品分析，包括金属样品、半导体器件、非导体样品，如高聚物和玻璃产品等。
广泛应用于金属、半导体、催化剂、表面、薄膜等领域中以及环保科学、空间科学和生物化学等研究部门。
质谱的基本概念1、质谱是什么？Mass Spectromety特殊的天平：称量离子的质量。
质谱学：是一门研究气相离子结构、性质及反应行为的科学。
2、质谱能做什么？定性：化合物的结构定量：混合物的组成领域：化学、生物学、医学、药学、环境、物理、材料、能源等3、质谱的独到之处是什么？4S特性：Sensitivity 灵敏Speed 快速Specificity 特异Stoichiometry 化学计量质谱分类质谱学的发展历史一、质谱学领域的诺贝尔（Nobel）奖1906年：物理奖J. I. Thomson贡献：正电荷离子束在磁场中的偏转→磁质谱仪的基础同位素分析1989年：物理奖W. Paul贡献：离子阱技术的发明。
2002年：化学奖J. B. Fenn Virginia Commonwealth University, USA贡献：电喷雾(ESI)电离方法生物大分子分析Electrospray Ionization for Mass Spectrometry of Large Biomolecules, J.B. Fenn, M. Mann,C. K. Meng, S. F. Wong and C. M.Whitehouse,Science246, 64 (1989)Koichi Tanaka (田中耕一) Shimadzu Corporation,Japan贡献：激光辅助解吸电离质谱(MALDI)电离方法生物大分子分析Rapid Communications in Mass Spectrometry 2, 151 - 153 (1988), Koichi Tanaka, Hiroaki Waki, Yutaka Ido, Satoshi Akita, Yoshikazu质谱学的历史事件1886年，Goldstein 发现正电荷离子1898年，Wien 利用电场和磁场使正电荷离子偏转1912年，Thomson 研制第世界上一台质谱仪，氖同位素的发现1918年，Dempster 电子轰击电离(Electron ionization)及磁聚焦1919年，Aston 精密仪器，测定50多种同位素，第一张同位素表1934年，Stephens 均匀扇形磁场，球差和质量色散公式Herzog 和Hintenberger 电磁场组合，离子光学系统1940年，Nier 扇形磁场偏转质谱计，双聚集系统商品仪器的雏形235U，电磁制备方法，第二次世界大战期间在石油、化工等领域的应用1946年，Stephens 飞行时间质谱(Time-of flight mass analysis)1952年，Martin 气相色谱方法1953年，Paul等四极杆分析器(Quadrupole analyzers) 1956年，Gohlke and McLafferty 气相色谱-质谱联用(GC/MS)Beynon 高分辨质谱仪(High-resolution MS) 1965年，Hipple等离子回旋共振(Ion Cyclotron Resonance)1966年，Munson and Field 化学电离(Chemical ionization)1967年，McLafferty and Jennings 串联质谱(Tandem mass spectrometry) 1973年，McLafferty 液相色谱-质谱联用(LC/MS)，热喷雾方法1974年，Comisarow和Marshall 傅立叶变换离子回旋共振质谱(FT-ICR-MS)1981年，Barber等快原子轰击电离质谱(FAB MS)，生物中，小分子，2000以内1989年，J. B. Fenn 电喷雾电离Koichi Tanaka 基质辅助激光解吸电离1990年，Katta and Chait 电喷雾电离质谱观察蛋白质构象改变1993年，商品电喷雾质谱仪1995年，付立叶变换离子回旋共振质谱仪（与ESI和MALDI联用）1998年，高分辨飞行时间质谱仪（Delay Extract, Reflectron技术）我国质谱发展概况20世纪50年代，同位素质谱研究，配合核研究，技术来自于前苏联70年代，引进质谱仪，磁质谱：VG-ZAB-2F, 3F（7台，北大，南京、南开、兰州、中科大、武汉、中山）VG-7070E（20多个单位） Finnigan MAT系列80年代，中国科学院科学仪器厂，仿制7070E型质谱仪KYKY系列 1980年，中国质谱学会，杭州成立，依托于科学仪器厂《质谱学报》创刊中国质谱学会机构：无机专业委员会、同位素专业委员会、有机质谱专业委员会、生物医学专业委员会、仪器与教育专业委员会。