植物冠层分析仪如何应用
实验六 植物冠层分析仪测量原理与使用方法
实验六植物冠层分析仪测量原理与使用方法【实验目的】通过本实验使学生了解叶面积指数这一重要生态系统结构与功能参数，掌握目前国际上流行的叶面积指数测定仪器——植物冠层分析仪的使用方法，并以灌木林为例，在老师的指导下分组具体测定灌木林地叶面积指数。
【实验原理】叶面积指数（Leaf Area Index，LAI）是一个重要的生态系统结构参数，定义为某一树木或林分的叶片在地面上投影的总面积。
叶面积指数不仅直接反映植物的生长状况，而且影响着植物的许多生物、物理过程，如光合作用、呼吸作用、蒸腾作用、碳氮循环和降水截获等。
由于叶面积的指数是一个很好反映植物对于环境变化响应的指标，又与植被的光合作用、蒸腾作用、水分利用及净初级生产力、碳氮循环直接相关，特别是在研究植被生产力与遥感数据的关系模型方面，叶面积指数显示了巨大的应用前景，因此，叶面积指数的快速和准确测定显得十分重要。
LAI是研究从叶片水平推移到森林冠层的重要参数，是一个无量纲、随着叶子数量的变化而变化的参数。
LAI值变化范围：针叶林的为0.6～16.9；落叶林为6～8；年收获的作物为2～4；绝大部分生物群系为3～19。
LAI测量方法包括直接测量法和间接测量法。
直接测量法通过先测定所有叶片的叶面积，再计算LAI，叶面积测量方法有求积仪测定法、称重法、方格计算法、排水法、经验公式计算法、异速生长法等。
其中常用的有利用叶片形状的标准形状法、根据叶面积与叶重之间关系的称重法以及利用叶面积与胸径的回归关系推算叶面积的易速生长法。
因要剪下全部待测叶片，直接测量多数属于毁坏性测量，或至少会干扰冠层，叶片角度的分布，从而影响数据的质量，直接测量法费时、费力。
间接测量法，利用冠层结构与冠层内辐射与环境的相互作用这一可定量耦合关系，通过测定辐射的相关数据推断冠层的结构特征，具体有顶视法和底视法。
间接测量法可以避免直接测量法所造成的大规模破坏植被的缺点，不受时间的限制，获取数据量大，仪器容易操作，方便快捷，还可以测定一年中森林冠层LAI的季节变化。
植物冠层分析仪功能特点及检测方法
植物冠层分析仪功能特点及检测方法植物感受光信号刺激引起的弯曲生长称为“向光性”，高等植物的地上部分，胚芽鞘、子叶、茎叶等多发生正向光弯曲生长，使叶片处于最适宜利用光能的位置。
在自然环境中，绿色植物叶片就有向光性反应，如某些在室内生长的植物，叶片朝向阳光照射的窗口，被遮阴叶片的叶柄伸长使叶片能够暴露在阳光下。
植物冠层分析仪HM-G10可应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米·秒上的微摩尔（μmol㎡/秒）。
一、什么是植物的向光性？向性运动是植物受单向外界因素的刺激而引起的定向运动。
按照刺激因素可将向性运动分为向光性、向重力性、向触性、向化性等，而植物感受光信号刺激引起的弯曲生长称为向光性。
二、植物为什么需要光能？植物之所以要吸收阳光，需要光能，是因为植物进行光合作用时需要阳光的参与才能完成制造有机物这个过程。
三、植物冠层分析仪器植物冠层分析仪可以测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系。
四、仪器功能特点1、植物冠层分析仪为一体化设计，包括液晶显示屏、操作按键、存储SD卡及测量探杆等。
2、菜单操作简单，体积小，携带方便。
存储介质为市场上通用的SD 卡，存储容量大，数据管理方便，在功耗上有合理的电源管理方案，测试过程中仪器根据实际情况自动进入待机状态，需要时按唤醒键即可唤醒屏幕，观察实际数据。
3、测量方式分为自动和手动两种。
自动测量时间间隔最小1分钟，自动测量次数最大99次，手动测量根据实际需要手动采集即可。
五、植物冠层分析仪检测方法操作说明1.打开电源开关，显示屏会自动进入到主菜单选择界面利用▲/▼移动光标到需要的选项，按ENT键进入光标所对应的选项，按ESC键可以退出当前界面。
2.在设置模式界面中，测量设置的前两位为采集时间间隔，后两位是采集次数设置。
实验六 植物冠层分析仪测量原理与使用方法
实验六植物冠层分析仪测量原理与使用方法【实验目的】通过本实验使学生了解叶面积指数这一重要生态系统结构与功能参数，掌握目前国际上流行的叶面积指数测定仪器——植物冠层分析仪的使用方法，并以灌木林为例，在老师的指导下分组具体测定灌木林地叶面积指数。
【实验原理】叶面积指数（Leaf Area Index，LAI）是一个重要的生态系统结构参数，定义为某一树木或林分的叶片在地面上投影的总面积。
叶面积指数不仅直接反映植物的生长状况，而且影响着植物的许多生物、物理过程，如光合作用、呼吸作用、蒸腾作用、碳氮循环和降水截获等。
由于叶面积的指数是一个很好反映植物对于环境变化响应的指标，又与植被的光合作用、蒸腾作用、水分利用及净初级生产力、碳氮循环直接相关，特别是在研究植被生产力与遥感数据的关系模型方面，叶面积指数显示了巨大的应用前景，因此，叶面积指数的快速和准确测定显得十分重要。
LAI是研究从叶片水平推移到森林冠层的重要参数，是一个无量纲、随着叶子数量的变化而变化的参数。
LAI值变化范围：针叶林的为0.6～16.9；落叶林为6～8；年收获的作物为2～4；绝大部分生物群系为3～19。
LAI测量方法包括直接测量法和间接测量法。
直接测量法通过先测定所有叶片的叶面积，再计算LAI，叶面积测量方法有求积仪测定法、称重法、方格计算法、排水法、经验公式计算法、异速生长法等。
其中常用的有利用叶片形状的标准形状法、根据叶面积与叶重之间关系的称重法以及利用叶面积与胸径的回归关系推算叶面积的易速生长法。
因要剪下全部待测叶片，直接测量多数属于毁坏性测量，或至少会干扰冠层，叶片角度的分布，从而影响数据的质量，直接测量法费时、费力。
间接测量法，利用冠层结构与冠层内辐射与环境的相互作用这一可定量耦合关系，通过测定辐射的相关数据推断冠层的结构特征，具体有顶视法和底视法。
间接测量法可以避免直接测量法所造成的大规模破坏植被的缺点，不受时间的限制，获取数据量大，仪器容易操作，方便快捷，还可以测定一年中森林冠层LAI的季节变化。
植物冠层分析仪的操作介绍
植物冠层分析仪的操作介绍什么是植物冠层分析仪植物冠层分析仪（Plant Canopy Analyzer）是一种用于测量植物覆盖度和植物冠层结构的工具。
它通过使用数字影像分析技术来获取大面积植被的生物学信息，例如植被密度、叶面积指数、植被高度等。
操作前准备在开始使用植物冠层分析仪之前，需要对设备进行一些准备工作：1.充电：确保设备电量充足，避免在使用过程中电力不足的情况发生。
2.测量站点准备：选择好测量站点，尽量避免有建筑物等遮挡物干扰。
3.数据记录与存储：选择与植物冠层分析仪兼容的软件，并测试是否可以成功连接。
操作步骤第一步：设备的设置将植物冠层分析仪放在测量站点上，按照设备说明书进行设置，例如语言选择、时间设置等。
第二步：连接电脑将植物冠层分析仪与电脑通过连接线（例如 USB）进行连接，并确保设备能够成功连接到电脑。
第三步：打开软件并设置参数打开植物冠层分析软件，选择合适的参数进行设置，如图像层面分析、数据存储位置、采集模式（自动/手动）等。
第四步：开始测量点击“开始测量”按钮，进行植物冠层分析。
在采集数据的同时，还可以通过软件实时查看相应的检测结果。
第五步：结束测量当完成了所需的测量时，可以选择结束测量并将数据存储到指定位置。
同时，还需注意将设备正确地关闭并存放好。
使用注意事项1.测量时尽量避免有建筑物、人行道、道路等遮挡物。
2.设备在测量前要进行一定的准备工作，如充电、设置时间等。
3.在测量过程中，要注意设备的保护，避免摔落、强震等情况。
同时也应避免设备长时间暴露在阳光直射下，防止电池、机器发热。
4.操作过程中，建议尽量在原地不要移动设备，以免影响测量数据的准确性。
结语本文介绍的是植物冠层分析仪的使用方法及操作注意事项。
虽然正确的使用方法可以提高设备的测量精度和效率，但我们还需要注意保护设备并遵守操作规程，以确保测量结果的准确性。
植物冠层分析仪(叶面积指数仪)
植物冠层分析仪(叶面积指数仪）
仪器型号：TOP-1300型
仪器介绍：
植物冠层分析仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头成像测量植物冠层数据，只操作一次即可，简化了测量方法，而且利用图像法测量冠层可以主动避开不符合计算该冠层结构参数的冠层空隙部分，也可以躲开不符合测量计算的障碍物。
仪器用途：
1、可用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析
2、可用于不同植物群体结构的比较
3、可对农田作物群体生长过程进行动态监测
4、适用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学
5、适用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的研究与教学测试原理与方法：
采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理，根据光线穿过介质减弱的比尔定律，植物冠层图象分析仪采用的是对冠层下天穹半球图像分析测量冠层孔隙率的方法，该方法是各类方法中最精确和最省力、省时、快捷方便的方法。
功能特点：
1、无损测量叶面积指数、叶片平均倾角以及冠层结构。
2、探头体积小巧，装在测杠上可任意角度测量植物冠层结构。
3、摄像头可自动保持水平。
4、USB接口，测量时连接电脑实时查看图像，即时选取所需图像并保存。
5、外接大容量锂电池，适用于野外工作和长时间测量。
6、测量冠层不同高度，可得到群体内光透过率和叶面积指数垂直分布图。
7、配有专用分析软件，有选择所需图像区域的功能（天顶角可分10区，方位角可分10区），可屏蔽不合理的冠层部分，仅对有效图像区域进行分析，使测量数据更加精确。
可测参数：
可测算植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光系数，叶面积指数和叶片平均倾角等。
植物冠层分析仪测量时的注意事项 分析仪如何操作
植物冠层分析仪测量时的注意事项分析仪如何操作植物冠层分析仪是一莳植物分析仪器，可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，讨论作物的生长发育、产量品质与光能利植物冠层分析仪是一莳植物分析仪器，可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，讨论作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系。
植物冠层分析仪测量时的注意事项：1、遮盖帽的用途从传感器的视野中去除太阳；从视野中去除操的影响；天空亮度不均匀；冠层内有明显的空隙；减小对测量样地尺寸的需要；减小了森林内必需的空地尺寸。
2、斜坡的影响应当使传感器保持与斜坡相匹配，而不是实际的水平。
3、样地尺寸的影响假如样地尺寸太小，要注意保证传感器的视野范围是冠层高度的3倍，可以接受去除第5个环的数据来解决这个问题，也可以接受察看帽的方法。
4、光线的需求直射的阳光：应尽可能避开直射的阳光，尽量在日出日落时或多云的天气进行测量，假如避开不了，那么需要注意：使用270度的遮盖帽或更小的视野遮盖帽；背对阳光进行测量，遮挡住日光和操本身；对植物冠层进行遮阴处理；天空云分布不均匀导致光线不均匀的天气条件：等待云彩飘过并遮挡了阳光时再进行测量。
适合光线条件：均匀的阴天或者散射光照下才能测量。
最易找到合适的测量时间往往是黎明之前和日落之后的瞬间。
作为一般原则，假如可以看到地上的影子或者林冠上有阳光照射的叶子，这时的天空的光照条件就没有充分。
5、叶片与传感器的距离限制一个叶片与传感器的距离是紧要的，太近将导致测量的误差。
简单的计算方法是依据接受的遮盖帽的角度来得到距离因子参数，再除以B值的重复次数，再乘以叶片的宽度，即得到最小需要的距离了。
假如距离无法缩小，可以考虑加添重复次数来解决这个问题。
6、冠层内的空隙（林窗）由于LAI是空隙比例的对数，那么可以的情况是取对数后进行平均，而不是平均后取对数。
假如一个视野内既有稠密的冠层又有稀疏的冠层，那么可以接受遮盖帽来削减其同时显现在同一视野的可能（这样将导致对叶面积指数的低估）。
植物冠层测量仪的使用有什么注意事项
植物冠层测量仪的使用有什么注意事项以植物冠层测量仪的使用有什么注意事项为标题植物冠层测量仪是一种用于测量植物冠层结构和生长状态的工具，它可以提供有关植物生长的重要信息。
然而，在使用植物冠层测量仪时，需要注意一些事项，以确保测量结果的准确性和可靠性。
本文将介绍一些使用植物冠层测量仪时需要注意的事项。
使用植物冠层测量仪前，需要确保仪器的正常运行。
检查仪器的电源和连接线是否正常，以及传感器和仪器的状态是否良好。
如果发现任何故障或损坏，应及时修理或更换仪器，以避免对测量结果产生不良影响。
使用植物冠层测量仪时，需要选择适当的测量时间和位置。
测量时间应选择在植物生长活跃的阶段，例如早晨或黄昏时分。
测量位置应选择具有代表性的植物冠层，避免受到其他因素的干扰，如建筑物、遮挡物等。
第三，使用植物冠层测量仪时，需要正确安装传感器。
传感器应安装在与植物冠层平行的位置上，以确保测量结果的准确性。
传感器的高度和角度应根据具体测量目的进行调整，以获得所需的测量参数。
第四，使用植物冠层测量仪时，需要注意测量参数的选择。
根据具体的研究目的，可以选择测量植物冠层的高度、密度、覆盖率等参数。
在选择测量参数时，应根据实际情况和研究需要进行合理的选择，避免过多或过少的测量参数。
第五，使用植物冠层测量仪时，需要注意测量数据的处理和分析。
测量数据应进行合理的处理和分析，以提取有用的信息。
可以使用统计方法和数据处理软件进行数据处理和分析，以获得可靠的结果。
使用植物冠层测量仪时，需要注意安全问题。
在操作仪器时，应注意安全操作规范，避免发生意外或伤害。
同时，还需要合理使用仪器，避免对环境和植物造成不必要的伤害。
使用植物冠层测量仪时，需要注意仪器的正常运行、测量时间和位置的选择、传感器的安装、测量参数的选择、测量数据的处理和分析，以及安全操作规范。
只有注意这些事项，才能保证植物冠层测量仪的有效使用，并获得准确可靠的测量结果。
植物冠层数字图像分析仪自动采集软件使用说明
植物冠层数字图像分析仪自动采集软件使用说明在现代农业中使用植物冠层数字图像分析仪来测量冠层截取的光合有效辐射量，其实是因为植物的累积生物量与冠层截获光合有效辐射量有很紧密的联系，光合有效辐射是植物在生长发育过程中需要的能量基础，所以利用托普云农植物冠层数字图像分析仪测量和记录光合有效辐射，可以有利于科研人员更好的研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，实现更好的光能利用，为高效农业生产提供依据。
植物冠层数字图像分析仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录,测量值的单位是平方米•秒上的微摩尔（μmols-1m-2）。
植物冠层数字图像分析仪自动采集软件使用说明：仪器连接好后，将鱼眼探头放在要测量的植物冠层下方，打开冠层自动采集软件，选择“连接”，您可以在计算机屏幕上看到动态的高精度的植物冠层黑白鱼眼图像，然后选择串口（一般为COM3），再选择“实时显示”便会显示实时光合有效辐射强度值，将PAR探头放在植物冠层内外的不同位置，可以测出各个位置的PAR值。
选择获取方式（自动采集和手动采集。
如果选择自动采集方式，软件会每隔3分钟采集一次图片，采集间隔可自己设定，最小时间间隔为1分钟。
如果选择手动采集方式。
点击一次采集便可获得一张冠层图片）获取冠层图像和光合有效辐射强度，图像格式为标准的位图图像(.BMP)，图像和光合有效辐射强度值保存于计算机的D:\CanopyFiles文件夹内。
冠层图像采集完成后，采集到的植物冠层图像可以通过植物冠层分析软件来计算冠层的各项指标。
（2）光斑设置的用法是：在没有遮挡物的状态下点击“设置光斑”，然后点击“实时显示”，这时所显示的数值为没有遮挡物的光和有效辐射强度值减实时的光合有效辐射强度值。
此数值不作为结果保存，只做参考。
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植物冠层分析仪如何应用
植物的冠层分析在生产和研究中有着很广泛的应用，最直接的方法就是全株收获法，但由于实际应用中工作量过大和对植物会造成破坏的原因，存在一定的局限性。
尽管使用扫描仪提高了工作效率，但每片叶子的扫描过程仍较繁琐。
全株收获法是规范的叶面积测定方法，公认最准确，因而被用来校正其它简便LAI 测定方法并评判其它方法的准确性。
卫星遥感法能够确定植被的叶面积系数LAI，但小面积的斑块景观植被在遥感图像中难以区分，且其测量精度不高，如对水稻冠层遥感测定LAI与现场实测相关系数仅为0.6859；对城市森林遥感与实测LAI相关系数最大为0.66 。
法国airphen植物冠层分析仪有较可靠的分析模型研究基础，在农林植物均匀冠层分析中得到了广泛的应用。
它可以很好地测得叶面积指数LAI、平均叶倾角MTA、DIFN等参数。
这些参数能很好地描述均匀植物冠层的状态，并应用于农田、作物冠层、人工林木、种苗、苗圃等生产和研究中。
但不利于均匀植物冠层，如防护林带、果农间作以及植物个体态演替研究等领域。
太阳辐射的测定
先选取一个荆条丛样株，在测试点水平安装一个传感器，并在附近的开阔地面安装另一个传感器，同时测定透过荆条冠层前后的太阳辐射强度，计算冠层透射率。
传感器是通过数据采集器自动采集数据的，将数据采集器设置每分钟采样一次，每株荆条灌丛样株采样5min，然后选下一荆条灌丛样株，重复以上测点的传感器布置和采样。
直至所有的样株全部采样完成。
从数据采集器上下载辐射测定数据，进行冠层透光率计算。
LAI、DIFN测定
根据事先量得的荆条灌丛株高和影响中的株高计算出图像与灌丛实体尺度的比例，然后根据此比例计算出荆条灌丛冠层轮廓上其他各点坐标。
灌丛轮廓线上的点的数量和位置也不一定均匀分布。
冠层轮廓按近似半球面，对冠层表面参数不齐的枝叶可取其平均位置作为冠层轮廓的表面。
设置好采样方式后，对每一株荆条的测点位置，将镜头放置于冠层上面对准天空，测定一个数值后在将镜头放置于冠层下所选的测点，做4次重复测定，植物冠层分析仪计算给出冠层的LAI和DIFN。
植物冠层分析仪测量叶面积指数与叶倾角分布关系
叶面积指数和叶倾角分布都是表征植被冠层结构的重要参数，用来反映植物叶面数量、叶子角度分布、植被群落生命活力及其环境效应，为植物冠层表面物质和质量交换的描述提供结构化的定量信息，是植被定量遥感研究中的关键问题。
LAI是一个无量纲度量的参数，其大小与植被种类、生长期、LAD、叶簇和非生物量等因素有关。
LAI的测量
LAI测量分为直接测量和间接测量，直接测量对叶片具有破坏性，如格点法、方格法、落叶收集法和分层收割法等。
间接测量方法主要是通过光学仪器测量相关参数直接或间接推算得到LAI。
应用比较多的就是间接测量方法。
间接测量方法按照测量原理可分为两种，一种是基于冠层空隙大小的分布来确定的，如植物冠层分析仪和鱼眼镜头等。
一种是基于冠层空隙率来确定的，如植被冠层分析仪。
测量原理基于贝尔定律，结合Norman和Campbell线性最小二乘理论，可以反演
出对应LAD区间的LAI分布，定量确定LAI和LAD的关系。
Campbell椭球分布函数则可以拟合出不同树种分布参数，以LAD为纽带，对比分析两种理论可判断测量的准确性。
Norman和Campbell线性最小二乘理论所需要的已知参数包括：太阳天顶角、冠层下的透光率和叶片的聚集指数，计算出冠层的有效LAI，结合聚集指数推算出真正的有效LAI。
太阳方位角即太阳所在的方位，指太阳光线在地平面上的投影与当地子午线的夹角，可近似地看作是竖立在地面上的直线在阳光下的阴影与正南方的夹角。
反演的过程其实就是求解多元方程组，因太阳天顶角的个数必须大于叶倾角在0°到90°内所分的区间个数，方程组才能解。
最后根据反演得到的各个叶倾角区间内的有效LAI，可以得出对应区间的叶倾角概率密度分布情况，当叶倾角区间的个数越多叶倾角概率密度曲线就越平滑，但还需要通过线性回归分析来确定叶倾角区间个数是多少时，反演是最优的。
事实上叶倾角概率密度分布曲线属于单峰型曲线，无论区间个数多少，实测结果的叶倾角概率分布曲线介于线性最小二乘理论反演结果和Campbell函数拟合结果曲线之间。
Campbell函数拟合的概率密度要比实测的要偏小，线性最小二乘理论由于得到的是对应叶倾角区间中值的离散结果，反演结果偏大在其他叶倾角区间时，两者存在一种互补关系。
如何运用植物冠层分析仪测量苹果园的叶面积指数
叶面积指数是果树冠层生物学特征的一个重要参数，它可以影响果园的产量、品质以及光能的截获，在一定程度上决定了果园的生产效率。
测量叶面积指数的方法有直接测量法和间接测量法，直接测量法具有破坏性，且费时费力、不能重复，操作困难难以测量叶面积的动态变化等。
间接测量法分为相对生长法和光学法，应用比较广泛。
植物冠层分析仪就是属于光学法的，特点是携带方便，不需要进行额外的资料处理，可以直接给出叶面积指数值，原理是在假定植物冠层内的各元素随机分布，依据冠层间隙度或光学特性反演叶面积指数。
缺点是测量所得叶面积指数有着较大的偏差。
叶片的聚集效应越强，偏差越大。
因此在测量时，一般需要用直接法校正。
测量时根据果园的大小。
分别设置3-5个测量点，在每个测量点再分别用方框取样法和冠层分析法测量叶面积指数。
方框取样法是将方框随机放在树冠上，将方框内的的叶片全部摘下，用叶面积仪测量框内的叶面积，然后根据树冠体积和栽植密度计算叶面积指数。
测点的选择与冠层分析仪方法相同。
冠层分析仪是分别对应测量天空5个范围的散射辐射，这5个范围的中心视天顶角分别为7°、23°、38°、53°和68°，分别与冠层上部和下部测量辐射通透密度，并根据转换模型估算叶面积指数。
在每一个测点的冠层顶部测一次，下部重复测量6-10次，冠层下方的测量在同一水平面上，且在无直接辐射的条件下进行。
为了避免光环境迅速的变化对测量结果的影响，最好选择无直接辐射的条件下进行，然后用冠层分析仪附带的软件对测量的资料进一步加工以校正估值叶面积指数。
不同植园中直接测量与间接测量的对比
在密植园中，用方框取样法测得的叶面积指数范围在3.2-5.8之间，其平均值5.0±0.2；校正前用冠层分析仪估计叶面积指数在2.3-4.8之间，其平均值为3.3±0.2，冠层分析法低估了32.0%。
校正后，冠层分析仪估计的叶面积指数范围在2.5-5.2之间，其平均值为4.4±0.1，比校正前提高了33.3%，且通过校正冠层分析仪的估计值减少到了12.0%。
在间伐园，用方框取样法测得的叶面积
指数在2.3-4.6之间，其平均值为3.6±0.2，而校正前用冠层分析仪估计叶面积指数在1.2-3.3，其平均值为2.0±0.2，冠层分析仪低估了35.5%。
与密植园相比，间伐园的叶面积指数较小，通过校正后冠层分析仪的叶面积指数在1.4-3.9之间，其平均值为2.7±0.2，比校正前提高了35.0%,通过校正后减少到了12.9%。