手机整机测试项目
智能机硬件测试用例
RF测量数据记录表 RF TEST DATA
4，完成了以上设置,将手机装上电池，UIM卡,开机并将RF针插在手机的天线馈点,按右 (CALL SETUP)键，先按F6软键(Register Mobile )进行注册，再按F3软键（Originate 对手机进行呼叫。当呼叫上时，屏幕下方的"Idle"将变成"Connetting"。
5，按下方的（Measurement selection），先选择"channal power"和"Frame Error 然后按F9软键（channel）将测试信道输入（先1013），再按F7软键（Cell Power）调整接 号强度并关注"Frame Error Rate"的值，在"Frame Error Rate"的值稳定小于“0.5%”时 （Cell Power）的最小值则为该手机该信道的接受灵敏度，并将该值记录在表中（如该值小 标准值则记标准值，如大于，则不合格并如实记录。
测量手机采用全数率进行信号 发射时的功率，如该值过高， 会造成手机待机时间短，过低
会造成手机拨打电话困难
工作流程图
接到测试任务
准备测试配件, 预估测试时间通 知测试结果等待 者
按要求和规范进 行测试，并如实 记录数据
整理数据,简要 分析数据,将测 试报告发送给等 待者
测试步骤
手机生产测试流程以及设备需求
手机生产测试流程以及设备需求生产测试流程包括：1前端主板测试流2后端整机组装测试流程流程详解：2.1 前端主板测试流程：SMT：SMT 贴片线贴装主板。
DownLoad： 通过下载工具将手机软件下载到手机的flash 芯片中。
(在SMT 贴片之前采用Socket 烧录器将手机软件直接烧录到手机的flash 芯片中也可)WriteSN：写手机主板板号，板号一般包括生产日期、主板型号、流水号等。
Calibration： 校准手机主板的射频指标以及电性能测试。
包括AFC、RX、APC、ADC 。
F/T： 主板综测、测试项目包括GSM、DCS 的功率、相差、均方根相差、频率误差、开关谱、调制谱、接收机灵敏度。
各项目的标准参照GSM 相关标准(GSM05.05 、GSM05.08) 。
2.2 后端整机组装测试流程：2.2.1 PCBA IQA：依照PCBA 的检验标准进行。
将不良品做不良品标识、返回前端。
2.2.2 LCD IQA： 参照LCD 模组的来料检验标准进行。
将不良品退仓，做不良品标识。
2.2.3 开机检查： 将LCD 模组和焊接好Speaker 和Mic 的主板连接好，插入测试用供电线缆，检查开机是否正常，以及开机电流是否小于400mA，是否能听到开机铃声音。
2.2.4整机组装： 手动测试(也可通过程序控制输入工程指令)： 参照整机组装方法组装整机。
2.2.5输入手机测试专用工程指令、测试响铃、振动、LED、主屏、小屏、音频回路、摄像、键盘。
2.2.6 外观检验： 对功能测试为良品的机头进行外观检验，具体的检验标准请参考《手机结构件外观验收要求》（客户可自行确定要求）。
2.2.7 整机测试： 整机终测、测试项目包括GSM、DCS 的功率、相差、均方根相差、频率误差、开关谱、调制谱接收机灵敏度。
各项目的标准参照GSM 相关标准(GSM05.05 、GSM05.08) ，已经最大发射电流。
2.2.8耦合测试：通过天线耦合测试手机整机的GSM、DCS 的功率、相差、均方根相差、频率误差。
手机中试过程中整机所要进行的检测项目和检测标准
本文件描述了手机试产时，所要进行的检测项目和检测标准，可作为以后类似产品的测试参考一、简介1.1目的制定×××整机中试过程中的检测标准。
1.2适用范围本程序书适用于×××中试过程中的整机。
1.3责任中试工程师、品质工程师、OEM厂家。
1.4定义ESD：electrostatic discharge 。
二、程序内容测试项目2.1电性能测试根据待测手机的机型，选择选择相应标准，测试手机的各项电性能指标。
2.2ESD测试测试手机在静电环境中的性能。
2.3软件功能测试测试用户手册规定的各项功能，以及模拟软件的极端使用条件，测试软件的性能。
2.4环境测试模拟手机使用的各种恶劣环境，测试其性能是否达到要求；主要包括温度冲击、高、低温、湿热、盐雾等测试。
2.5寿命测试测试各易损部件的工作寿命是否达到规格要求；主要包括背光、马达、电池、振铃、按键测试。
2.6机械强度测试测试手机机械结构的强度以及关键部件的器抗磨损性；主要包含振动测试、跌落测试、冲击测试、翻盖强度及耐磨测试等。
2.7其它测试主要包括：铃声测试、时钟维持测试、最长待机时间、最长通话时间、待机电流及电池与旅充通配测试。
三、测试标准3.1其它测试电性能测试标准根据待测手机的机型，测试手机的电性能。
并作好相关记录。
3.2功能/软件测试根据用户手册的内容，详细测试手机的各项功能；以及人为使手机软件的负荷最大化（如使电话本、短消息信箱全部填满，闹钟全部设置等），然后测试软件的性能是否达到要求。
具体测试流程及规范参见《手机软件测试规程》。
3.3ESD静电测试；手机在充电和通话状态时，进行接触放电和空气放电测试，其中：1）接触放电为±4KV,对导电装饰圈、装饰牌不同的位置连续放电各10次后对地放电,要求：通话不中断，屏幕不闪烁，应无黑屏，黑条等；2）空气放电±8KV，对翻盖底壳/面壳、大小LCD四周、受话器、主机按键及主机底壳等处连续放电10次以上，检查LCD显示和通话状况应良好。
手机出厂检测报告
手机出厂检测报告一、检测目的二、检测范围1.基本性能：电池寿命、信号接收能力、通话质量、屏幕显示效果、触屏灵敏度等。
2.硬件功能：摄像头、音频输出、指纹识别、充电、耳机接口、无线连接等。
3.软件功能：操作系统、应用程序稳定性、用户界面简洁性、手势操作、多任务处理等。
4.安全性能：数据加密、应用软件安全性、系统漏洞修复、运行时权限管理等。
三、检测项目及方法1.基本性能检测：a.电池寿命：通过充电测试和待机测试来评估手机电池在正常使用情况下的续航能力。
b.信号接收能力：通过测量手机在不同地区信号强度情况下的通话质量来验证手机的信号接收能力。
c.屏幕显示效果：通过显示各种图案和颜色来检查手机屏幕的亮度、对比度、色彩准确性等指标。
d.触屏灵敏度：通过模拟用户滑动、点击等操作，检测手机触屏的灵敏度和响应速度。
2.硬件功能检测：a.摄像头：通过拍摄照片和视频来评估手机摄像头的成像质量、对焦速度等指标。
b.音频输出：通过播放不同类型音乐和视频文件来评估手机的音频输出质量。
c.指纹识别：通过录入指纹和解锁等操作来验证手机指纹识别功能的准确性和响应速度。
d.充电：通过连接不同充电器和USB接口来测试手机的充电速度和充电稳定性。
e.耳机接口：通过接入不同耳机设备来检测手机耳机接口的连接性和音频输出质量。
f.无线连接：通过连接Wi-Fi网络、蓝牙设备等来验证手机的无线连接功能和稳定性。
3.软件功能检测：a.操作系统：通过安装和运行各种应用程序和游戏来验证手机操作系统的稳定性和兼容性。
b.应用程序稳定性：通过多任务运行、频繁切换应用、网络连接等来检测应用程序的稳定性和响应速度。
c.用户界面简洁性：通过评估手机的界面设计、布局和操作流程等来验证用户界面的简洁性和易用性。
d.手势操作：通过模拟用户手势操作来检测手机对滑动、放大缩小等手势的识别和响应能力。
e.多任务处理：通过同时运行多个应用程序和任务来测试手机的多任务处理能力和资源管理效果。
整机测试标准——
15 吊带孔耐力 检验吊带孔结构强度 试验
寿命测试
1、手机插卡插电池开机； 2）按5转/分钟的频率，50cm高度，做旋转500转。第300/400/450/500转检验 。 3）每次检验外观和功能；第500次进行射频检验、拆机检验结构。
1）带电池不开机，放入-25℃的试验箱内放置2小时； 2）取出后检验功能、外观，进行1米跌落试验； 3）LCD＞2.4寸跌落高度改为0.8M。 1）测试机插卡装电池待机状态； 2）垂直方向以25kg的力对手机正面及左侧面或右侧面（根据结构选）挤压 1000次；频率为30次/分； 1）测试机装卡装电池待机状态； 2）上下两端侧各夹住15mm，对其施加相应的扭矩（手机在关机状态下承受的 数值为手机厚度的0.08倍，厚度单位为mm，力度最大不超过2N.m，最小不小于 0.5N.m，顺逆扭曲交错500次，频率为30次/分； 拉住吊绳的尾端，静力5kg，持续10秒，然后再以每秒2圈的速度甩动60次（吊 绳穿上后长度10-15cm）
21
I/O充电口 插拔试验
电器对相关器件的影 响 检验充电器、耳机、 数据线与手机的匹配
示。 3）每500次检验手机功能，最后500次每100次检验功能； 4）耳机和充电器二合一则寿命≥3000次；如不共用，则耳机插拔寿命寿命≥ 2000次；充电器插拔寿命≥2000次；
22
USB塞插拔
检验USB塞与手机I/O 口的配合及USB塞的使
整机测试标准
试验室环境：温度15—35℃，相对湿度：45%—75%RH，大气压力：86—106KPa
环境测试
序号 测试项目
测试目的
测试方法
1 低温存储
检验手机在低温环境 条件下贮存的适应性
1） 测试机不包装、不带电池 。试验箱内任意2部机之间留有间隙。 2）试验箱内温度按≤3℃/min的速率达到-40±2℃开始计时，持续48小时。 3）放置2h，检查被测样机；
手机可靠性测试标准(手机)
测试环境：-20° C/+60°C；持续2小时；手机电池充满电，手机处于开机状态。4台手机
测试目的：高温/低温应用性性能测试
试验方法：对于翻盖手机，应将一半样品合上翻盖，一半样品打开翻盖；对于滑盖手机，应将一半样品滑开到上限位置。
试验标准：手机电性能参数指标满足要求，功能正常，外壳无变形。
试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
3.1.6滚筒试验（platen Test）
测试条件：0.50m长度，100转，4台手机(此项目仅供参考，不强制要求)
试验方法：将手机处于开机状态进行。
试验标准：手机外观，结构和功能符合要求。
3.1.7静电测试（ESD）
测试条件：+/-4kV~+/-8kV，开机并处于充电状态，+/-4kV接触和~+/-8kV空气放电各10次。，4台手机。具体测试方法详见公司测试标准细则。
试验标准：手机表面喷涂无异变，结构无异常，功能正常，可正常拨打电话。
3.1.3跌落试验（Drop Test）
测试条件：开发阶段：2.4寸及以上的屏跌1.2m，小于2.4寸屏跌1.5m，跌落表面：水泥地面，共2轮，每轮对手机的六个面四个角依次进行自由跌落（底部→右侧→左侧→顶部→反面→正面）。试验从手机的最小面开始跌落，每个循环中LCD面为最后跌落面；有翻盖（滑盖）的移动电话机应将盖合上；跌落后进行外观检查，磨损是可以的，但不应有裂缝；允许电池脱落，但仍具备正常通话功能；
3.1. 加速寿命测试ALT （Accelerated Life Test）
样机标准数量： PR1：12台 PR2：12台 PR3：12台 PIR：12台
手机标准及测试项目
1.目的
规定成品手机环境试验所遵循的测试标准及判定依据。
2.范围
3.参考文件
GB2421-89电子电工产品基本环境试验规程总则
GB/T移动通信调频无线电话机环境要求和试验方法
YD/T 1215-2006 900/1800HZ TDMA数字蜂窝移动通信网络分组无线业务（GPRS）设
备测试方法：移动台
YD/T 1539-2006移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法
4.内容
5. 1 PST测试目录
样品数量及分配
4. 3 测试内容
环境适应性测试
静电放电测试
机械寿命测试
MTBF 测试
a.试验采用30PCS 样品，每个样品试验时间为258H,试验共分3
个循环，每个循环按标 准规
b.振动试验要求参考表1：
c.结果判断：1、允许失效数小于或等于2
2、MTBF观察值不低于国标GB/对手持台的要求
MTBF验证值2=60% （下限值/上限值）。
整机环境及可靠性试验测试要求
将手机设置成开机状态直接或借助安装夹具固定在冲击台上，在三个互相垂直轴线的每一个方向上施加3次连续冲击，总共18次，进行外观、机械和电性能检查
手机各项功能正常，外壳无变形、破裂，显示屏无破碎
碰撞试验
加速度：100m/s2 (10g)碰撞脉冲持续时间：16ms；每分钟碰撞次数：40~80
5台
在三个互相垂直的轴线方向上，垂直方向400次，水平及侧面各300次，共1000次，进行外观、机械和电性能检查
湿度试验
40oC，90~95%
将手机设置成关机状态，放入温度循环实验箱内的架子上，要确保手机被固定好，以防止实验中产生的水积聚在手机表面。持续16个小时之后取出，恢复4小时，然后进行外观、机械和电性能检查。将手机设置成开机状态放入实验箱。持续8个小时之后取出，恢复4个小时进行全功能及信号测试以确保电性能和机械性能完好。
寿命试验/耳机孔塞子拉拔试验
将耳机孔塞子塞在手机耳机插孔内，然后拔出，反复1000次
要求耳机塞子无变形现象，塞入手机耳机插孔时不会松动，跌落试验时塞子不会掉下来。
可靠性试验
测Hale Waihona Puke 环境样机数量试验方法
试验标准
常温试验
25° C常温
5台
将手机设置成开机状态放置于常温状态下，然后进行初始检查
振动试验
振幅：0.38mm；振频：10~30Hz；振幅：0.12mm；振频：30~55Hz；时间：3小时试验设备：振动实验台试验
在垂直方向以5Kg正面平压手机视窗，受力均匀，并持续5秒，平压3次
LCD无裂开现象，且显示正常
机壳试验/吊孔拉力试验
将吊绳栓在手机吊孔内，然后拉住吊绳的尾端，以5Kg的力拉拔，持续10秒；以每秒2圈的速度甩动手机60次。
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样机出现功能暂时性（失效时间大于3 秒）或永久性失效（故障不恢复）判为 不合格。样机出现屏闪或3秒内可自行 恢复之故障判为合格。 样机出现射频对比测试数据异常（接收 报告电平与功率相差大于3）判为不合 格。样机出现严重外观不良(如镜片及 装饰牌严重掉漆)，应判定为不合格
RMB500/样
自由跌落试验
检验手机在搬运期间由 于粗率装卸遭到跌落的 适应性。
4 sets
被测样机不包装、不带电池状态，以正常位置放进试验箱内。高温为 70℃（最低标准60度），稳定温度保持时间2h；低温为－30℃(最低标 准：-25度)，稳定温度保持时间2h；转换时间不大于3分钟；循环次数 通过基本功能测试；外观和结构正常。 为12次（1个循环周期为4小时）。循环期满，在正常大气条件下放置 2h。放置期满，被测样机进行试验后检查。 待机状态下，按照-20℃放置1h；55℃放置1h；转换时间30min设置进 行试验，共连续进行5个循环；试验结束后立即进行测试。 通过基本功能测试；外观和结构正常。
被测样机不包装、处于通电待机状态，以正常位置放进试验箱内。使 温度达到-20±3℃，温度稳定后持续4小时，持续期满。立即进行被测 通过基本功能测试；外观和结构正常。 样机试验后检查。 被测机不包装、不通电，以正常位置放进试验箱内。使试验箱内温度 达到70±2℃，温度稳定后持续16小时。持续期满，在正常大气条件下 通过基本功能测试；外观和结构正常。 放置2h。放置期满，被测样机进行试验后检查。 被测样机不包装、处于通电待机状态，以正常位置放进试验箱内。使 温度达到55±2℃，温度稳定后持续4小时，持续期满。立即进行被测 样机试验后检查。 被测样机不包装、处于通电待机状态，以翻盖打开位置放进试验箱内 。使温度达到40±2℃，湿度达到95%，稳定后持续48小时，持续期满 。放置2H后检测被测样机试验后检查。 通过基本功能测试；外观和结构正常。
跌落实验机
4 sets
2.机械试验
30cm裸机跌落试验
检验手机在使用中产生 轻微撞击的适应性
硬木板
4 sets
测试后手机基本功能均需正常，马达振 被测样机不包装、不装附件、处于通电待机状态。从1m高度（如果LCM 动需无杂音及异常响动，壳体不允许爆 面积超过手机表面积60%，跌落高度为50CM），初速度为0并自由跌落 裂、不可恢复的离壳，但允许轻度的磨 于光滑混凝土地面上，每面跌落2次，翻盖手机加跌翻盖打开2面，8面 损，摇动手机不允许出现任何的异常的 共计16次。试验结束，取出被测样机进行试验后检查。 响声。 不允许手机表面存在任何程度的爆裂， 测试中手机处于开机状态，跌落面为木地面，跌落高度为30CM；跌落 离壳及变形，但允许轻度的磨损，摇动 方式:手机的六个面每面跌落1次为一个循环，总共3个循环；跌落顺序 手机不允许出现任何的异常的响声，不 为：翻面—左侧面—右侧面—天线面—I/O面—电池面，每个循环跌落 允许出现掉电、不识卡（SIM卡、存储 后检查手机的外观及各项功能，全部循环完成后进行电性能测试。 卡等）现象。 滚筒长度50CM，频率：5转/分钟，即手机跌落10次/分钟；次数：旋转 250转，即手机跌落500次；每旋转10转，需要检查一次试验样机的外 观和基本功能， 按外观结构检查→基本功能测试→RF测试→开壳检查 功能无不可复原的故障，结构无不可复 顺序进行。每跌落100次，进行外观检查，有部件松脱，可复原装回再 原的破坏，RF性能正常。 进行下一次试验；每跌落100次进行基本功能测试，记录外观结构损伤 地方和功能异常项目。试验结束进行RF测试。 翻盖寿命至少为8万次；外观和结构正 手机在开机状态下，以25-45次/分的速度机械或手工翻动翻盖，要求 常，未有明显的裂纹、破损；无明显异 翻盖达到最大活动位置，来回为一次；每500次后对手机外观、功能全 常响声；允许打开时有阻滞感，打开后 检一次；翻盖总次数为80000次。 整个翻盖组件可前后左右轻微晃动；必 须通过基本功能测试。 按键寿命至少为15万次，侧键5万次； 被测样机不包装、处于通电待机状态。以50~60次/分的速度、3.5N的 按键应能正常工作，且按键表面颜色及 力度均匀地按键，按下、松开为一次。每500次进行基本功能测试，记 字符应无磨损、脱落；导电胶未有裂纹 录外观结构损伤地方和功能异常项目。开壳检查内部结构。按键寿命 /破损；必须通过基本功能测试和综测 至少为15万次，侧键5万次。 。 测试条件:250g力度, 用尖端R0.8的POM笔,敲击频率为1次/秒, 测试
整机可靠性测试规划
备注：绿色部分为英语通T001项目需要进行的整机可靠性测试 测试类别 测试项目
高低温充电测试
实验目的
检验手机在高低温环境 条件下充电的适应性 检验手机在低温环境条 件下贮存的适应性
实验设备
恒温恒湿试验箱
测试样 品数量
4sets
测试要求、内容
判定标准
实验报价
被测样机不包装、充电状态，以正常位置放进试验箱内。实验温度-10 -5℃~40℃能充电来检验，在-10℃左右 ℃~45℃，每隔5℃进行1小时充电测试，中间冷却时间为2小时。 及45℃左右会报警，无其它异常。 被测样机不包装、不通电，以正常位置放进试验箱内。使试验箱内温 度达到-40±3℃，温度稳定后持续16小时，持续期满。在正常大气条 件下放置2h。如有水滴可以通过摇动和吹风去除。放置期满，被测样 机进行试验后检查。
RMB90*48h=4320
1.环境测试
温度循环试验 沙尘试验
检验手机经受环境温度 逐渐变化的能力 检验手机结构密闭性。
恒温恒湿试验箱 沙尘试验机
4 sets 4 sets
RMB40*15h=600 RMB2000+1000/样
滑石粉300目，沙尘浓度10.6±7g/m3、风速8.9±1.27m/s、温度23± 手机功能、性能方面正常,镜片内无异 2℃、持续时间4h；样机45度打开放置，正、反两面。 物等不良。 1）盐溶液是用化学纯氯化钠和电阻率不低于50000Ω •cm的蒸馏水或去 离子水制成。用5份质量的氯化钠和95份质量的水，经过充分的混合， 制成氯化钠含量为5±1％的盐溶液； 2）每次配制的盐溶液，温度在35℃时，经喷雾后的收集液，其PH值为 6.5～7.2。允许用稀释后的化学纯盐酸或氢氧化钠调整PH值。检测PH 值，可用酸度计或PH精密试纸； 通过基本功能测试；外观和结构正常。 3）试验有效空间内，任意一个位置的洁净收集器，连续收集喷雾的时 间最少为16h，平均每小时在80cm2的水平收集面积（直径为10cm） 内，盐雾沉降量为1～2ml； 4）试验有效空间内的温度为35℃；压力桶温度为47℃；试验样品承受 连续喷雾的试验时间最为48h；试验样品在试验箱内恢复到正常的试验 大气条件，直至试验样品达到温度稳定后检查外观和功能。
RMB1000/5万次*2=2000
耳机插拔试验
检验手机长期插拔耳机 拔插寿命测试机或 对相关器件的影响。 手工 检验耳塞外观及紧固程 度
2 sets
RMB1000/样
耳塞拉拔试验
拉力计
2 sets
RMB1000/样
3.寿命测试
卡座与电池插拔
检验手机长期插拔电池 及SIM卡对相关器件的 影响
手工
2 sets
RMB500/样
RMB500/样
滚筒跌落试验
确定手机频繁跌落到硬 滚筒跌落测试机、 表面时，经受重复跌落 综测仪 的适应性
2 sets
RMB1000/样
翻盖试验
验证机壳材料、FPC、 转轴的寿命，以及翻盖 组件结构的配合寿命
翻盖寿命测试机 或手工
4 sets
RMB2000/样
按键寿命试验
检验手机按键的使用寿 按键寿命测试机或 命及长期按键对周围器 手工；综测仪 件的影响 验证手机触摸屏ITO敲 触摸屏寿命测试机 击寿命的可靠性和稳定 或手工 性 验证手机触摸屏笔化的 触摸屏寿命测试机 可靠性和稳定性 或手工
2 sets
RMB1000/5万次*3=3000
触摸屏点击测试
3 sets
部位为触摸屏功能区域9点；每500次作一次全功能检测,总敲击次 数为25万次.
表面无损伤，直线性、端间电阻等各项 相关电性能指标达部品标准。
RMB1000/5万次*5=5000
触摸屏划线测试
2 sets
测试条件: 250g力度, 用尖端R0.8的POM笔,测试频率为40～60次/分, 表面无损伤，直线性、端间电阻等各项 测试面积可视产品大小而定。抽检周期: 每500次作一次全功能检测, 相关电性能指标达部其部品标准。 总测试次数为10万次. 将样机设置为开机状态；耳机垂直方向插入耳机孔之后，手机显示“ 插入耳机”，再以垂直方向拔出耳机时显示“拔出耳机”，如此反复 必须通过耳机话音通信测试；外观和结 插拔。按外观结构检查→耳机话音通信检查顺序进行。每100次检查其 构正常 耳机发受话功能，插拔寿命至少为1000次。 1.5Kg静拉力，拉伸1分钟；正常拉拔5次 按正常步骤，插入SIM卡与存储卡，装上电池，然后取下电池和SIM卡 与存储卡，如此反复安装，按外观结构检查→开机功能测试顺序进 行，存储卡每插拔10次作一次开机全功能检测; SIM卡插拔20次作一次 开机全功能检测；前期电池插拔100次作一次开机检测；100次后不再 拔插存储卡，100次后不再拔插SIM卡,仅进行电池插拔，每50次检查开 机是否正常。电池插拔800次。 耳塞拔不出，无破损 试验后SIM卡扣无变形松动，SIM卡触片 无下陷及变形，电池推扭弹性良好，电 池触片及电池连接器无明显变形，电池 无掉漆等外观不良。电池标签内容允许 掉漆，轻微破损。
低温贮存试验
恒温恒湿试验箱
4 sets
通过基本功能测试；外观和结构正常。
RMB35*18h=630
低温工作试验
检验手机在低温环境条 件下使用的适应性 检验手机在高温环境条 件下贮存的适应性 检验手机在高温环境条 件下使用的适应性 检验手机在恒定湿热 环境条件下使用的适应 性。