分立器件测试系统软件平台的设计及实现

合集下载

半导体分立器件测试系统说明书

12
QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
１．２．５．４ＳＥＬＰＩＮ：用于扫描器时（ＳＣＡＮＮＥＲ）设定管脚排列（Ｐｉｎ）。１．２．５．４．１Ｓ，Ｂ，Ｃ（Ｋ），Ｅ（Ａ）输入器件的管脚（Ｐｉｎ）对应编号。如Ｂ＝２、Ｃ＝３、Ｅ＝１，则设定为ＳＣＡＮＮＥＲ的１脚为Ｅ端，２脚为Ｂ端，３脚为Ｃ端。
拣”设置）。１．２．４．２．３．２．２ＬｏｇｇｉｎｇＤｉｓａｐｐｅａｒ：显示器件的测试结果时不显示此项
目的测试结果。１．２．４．２．３．２．３ＲｅｓｕｌｔＣｏｌｏｒＢｌｕｅ：器件测试不通过时，测试结果用蓝色。１．２．４．２．３．２．４ＫｅｅｐＦｏｒｃｉｎｇ：保持加载。１．２．４．２．３．３标记：修改各设定值（ＬｉｍｉｔＭｉｎ／ＬｉｍｉｔＭａｘ／Ｂｉａｓ）的
１．文件／新建建立新的测试文件２．测试项／新增测试项目的输入３．分类项／新增分类项目的输入４．文件／保存保存编辑好的文件
8
QTEC-4000 半导体分立器件测试系统说明书
４．条件：作各Ｂｉａｓ的设定，输入电流、输入电压等的条件值。５．时间：设定加载／测试时间。可以使用系统的默认值。用户也可以根据器件
的不同及测试的需要自行设定。（注：若测试项的电流值小于１００ｕＡ时，时间应大于８ｍｓ．若测试项的电流值小于２００ｍＡ时，时间应小于１ｍｓ）６．反转极性：器件的极性反转（ＮＰＮ或者ＰＮＰ）。７．编辑明细：测试项目的详细设定窗口。８．点击“ 确定 ” 确认测试项目的各条件设定的输入。

基于FPGA的半导体分立器件分选机控制系统计

１．究目的２研
针对半导体分寺元件的封装测试环节，诞生了半导体分
立元件封装测试仪。该测试仪完成对芯片的功能、流参数、直交流参数等的测试，将测试结果数据及分选机通信方式设定参数传输给分选机控制系统，寄存在分选机控制系统内嵌的寄存器内：选机控制逻辑读取以ｔ据及参数，照设定的分－数按通信办式分选机握手并通信。通信的过程中将测试分类信
ｔｏｙｔｒＩｓｅｍｎｔｅｂａｅｏａｔｒｇｔｅｓｅｔｇｍａｓＯｈｓｆｍｓｅｉｈｅｌｃｉｎｎｃｈｎｓｆｎｔｉｙｔｍｌｉｅａｄｅｔｎｉｌｏｔａｒｂａ — ｉｅ。ｕｃｉＴｈｓｓｓｅｏｎｉｆｓｅｘｂｌｎｘｅｓｂｅｓｈｔｉｃａｌｅａｄｐｔｔｅｄｔａｙｋｎｅｅｔｎａｈｎｓｍｎｉｄｓｏｆｌｃｉｇｍｃｉｅｏｓ
Ｋｅｏｒ：Ｉｔｇｒｔｃｒｕｔｔｔｎ；ｓｌｃｉｇｍａｈｉｅＦＰｙｗｄｓｎｅａｅｉｉｅｓｉｇＩｅｅｔｃｎ；ＧＡ；ｒｏｇＨＤＬｃＣｎＶｅｉｌ
ＣＬｎｕＣｍｂｅ：ＰｒＴ３９
ＤｏｕｍｅｔｃｄｅＢｃｎｏ：
，
Ａｂｓｒｃ：ＴｈｓｐａｒｉｔｏｃｓｔｅｂａｉｍｐｓｉｆｓｍｉｎｃｏｏｍｐｎｔｔｓｉｇｙｔｍｏａｓｐｏｃｉｎａｄｔｅｔａｔｉｐｅｎｒｄｕｅｈｓｃｃｏｏｔｉｏｅｃｏｄｕｔｒｃｏｎｏｅｅｔｎｓｓｅｆｒｍｓｒｄｕｔｏｎｈｆｎｉｆｈｅｉｏｎｃｏｒｍｐｎｅｅｌｃｉｇｍａｉｅＴｅａｕｈｓａｄａｅｅｃｒｔｎｌｎａｏｐｒｇｒｍｍｅｔｉＯｌｕｃｔｏｎｏｅｓｍｃｄｕｔｔｃｏｏｔｅｔｃｈｎｈｔｏｒｕｅｈｒｗｒｄｓｉｉａｇｕｇｅｔｏａｓｎｐｏｈｓＣｉ— —

分立元器件实验报告

一、实验目的1. 熟悉分立元器件的基本特性和工作原理。

2. 掌握分立元器件在电路中的应用方法。

3. 培养电路搭建、调试和故障排除能力。

二、实验器材1. 电阻、电容、电感等基础分立元器件2. 晶体管（NPN、PNP）、场效应管、二极管等特殊分立元器件3. 万用表、信号发生器、示波器等测量仪器4. 电路板、导线等搭建工具三、实验内容1. 基础分立元器件特性测试- 电阻：测试不同阻值的电阻，观察其伏安特性。

- 电容：测试不同容值的电容，观察其伏安特性。

- 电感：测试不同感值的电感，观察其伏安特性。

2. 晶体管特性测试- NPN型晶体管：测试其输入特性、输出特性和转移特性。

- PNP型晶体管：测试其输入特性、输出特性和转移特性。

3. 场效应管特性测试- 结型场效应管：测试其漏源特性、转移特性和栅源特性。

- 晶体管场效应管：测试其漏源特性、转移特性和栅源特性。

4. 二极管特性测试- 晶体二极管：测试其伏安特性。

- 整流二极管：测试其伏安特性。

5. 分立元器件在电路中的应用- 电阻在电路中的应用：限流、分压、滤波等。

- 电容在电路中的应用：滤波、耦合、去耦等。

- 电感在电路中的应用：振荡、滤波、变压器等。

- 晶体管在电路中的应用：放大、开关、稳压等。

- 场效应管在电路中的应用：放大、开关、稳压等。

- 二极管在电路中的应用：整流、稳压、开关等。

四、实验步骤1. 根据实验要求，搭建相应的电路。

2. 使用万用表测量各元器件的参数，如电阻、电容、电感等。

3. 使用示波器观察电路的输出波形，如放大电路的输出波形。

4. 分析实验数据，总结实验结果。

五、实验结果与分析1. 通过测试，掌握了不同分立元器件的基本特性和工作原理。

2. 学会了如何搭建和调试分立元器件电路。

3. 掌握了分立元器件在电路中的应用方法。

4. 通过实验，提高了电路分析、设计和调试能力。

六、实验总结本次实验使我们对分立元器件有了更深入的了解，掌握了分立元器件的基本特性和工作原理，以及它们在电路中的应用方法。

分立元件自动测试仪图形化编程的实现

ａｏｔｍｅｉｅｏｇｎｒｔｓｐｏａｏｔｓｆｗｈｒ．ａｔｉｒｅｅｘｃｔｌｆｅａｃｍｐｌｒａｄｌｒｈｉｄｓｇｉｓｎｇｄｔｅｅａｅｔｔｒｇｍｆｍｅｔｏｃａｔＬｓｎｏｄｒｏｇｔｅｕａｅｉ，ｏｉｍｅｅｒｒｌ，ｔｅｂｌｅｎ
ＮＭａｅｉｕｅｏｃｍｐｌｎｎｅｔｓｐｏａＴｈｓｇａｈｃｌｒｇａｋｓｓｄｔｏｉａｄｌｋｔｅｔｒｇｍ．ｉｒｐｉａｐｏｍｍｉｇｔｃｎｌｇｋｓｔｅｓｏｅｐｎｅｅｉｈｒｒｎｅｈｏｏｙｍａｅａｙｔｘａｄｔｉｈｄｓｒｔｏｏｅｔｙｅｉｃａｌｅｔｓｅ，ｎｖｎｃｎｅｉｎｐｒｔｈｓｒｔｏｏｅｔａｔｍａｃｔｓｒｉｅｅｃｍｐｎｎｐｓｃｔｗｈｈｃｒｂｅｔｄａｄｅｅｏｖｎｅｔｏｏｅａｅｔｅｄｃｅｅｃｍｐｎｎｓｕｏｔｔ．ｔｉｉｅｅＫｅｗｏｄ：ｉｒｔｏｏｅｔａｔｍａｃｔｓｅ；ｇａｈｃｒｇａｙｒｓｄｓｅｅｃｍｐｎｎｓｕｏｔｅｔｒｒｐｉａｐｏｍｍｉｇ；ＡｄＦｏ；ｔｓｆｗｈｔｔｓｐｏａｃｉｌｒｎｄｌｗｅｔｏｃａ；ｅｔｒｇｍｌｒ
２１０１年 ¨ 月簟＂期
电子测试
ＥＬＥＣＴＲＯｌｆＴＥｓＴ、ｃＩ

基于DSP的半导体分立器件外观检测系统设计

心，包括：Ｅ光源、ＣＤ相机、图像处理单元ＬＤＣ
和ＬＤ显示屏等，系统结构如图１Ｃ所示。系统工作流程如下：分立器件到达工位后，分选机通过Ｉ口向ＤＳ／ＯＰ发送就位信号，ＤＳＰ通
务ｌ
訇似
国墙
基于ＤＳ的半导体分立器件外观检测系统设计Ｐ
ＤｅｓｇｎｏｆｅｌｉｅｃｔｏｎｉｒｃｃｏｍｐｏｎｅｎｔｎｓｓｉｐｅｃｔｏｎｂａｓｉｅｄｏｎＤＡｌｉ．ｎＣＨＥＫａＭＮｉ
Ｄｉ１．９９ＪＩｓ．０９１４２１．（）１ｏ：３６／．ｎ１０－０．０１９下．２０ｓ３
０引言
机器视觉检测具有非接触、速度快、精度高和抗干扰能力强等优点ｎ，在半导体制造中得到】了广泛的应用。半导体分立器件（下简称分立以
。
第３卷第９２１— （）【５３期０１９－３】Ｆ
及计算；图像识别完毕后ＤＳＰ通过Ｉ口把分选／Ｏ
结果传送给分选机，完成相应分选动作；作为人
１３ｚ３ＭＨ，用于系统运行时存储程序代码、数据
（东南大学机械工程学院。南京２１８）１１９摘要：针对半导体分立器件生产过程中外观检测的需求，本文研究了基于机器视觉技术快速检测半导体分立器件外观参数的方法。介绍了以ＴＳ２Ｄ６２Ｍ３０Ｍ４为核心的图像处理单元的硬件，图该像处理单元具有处理速度快、体积小和功耗低的优点。为适应半导体分立器件产量大、检测实时性要求高的特点，提出了以少量特征点代替元件全部轮廓特征的快速外观检测算法。实验表

半导体分立器件综合测试系统项目立项申请报告

半导体分立器件综合测试系统项目立项申请报告项目名称：半导体分立器件综合测试系统项目一、项目背景近年来，半导体分立器件市场持续增长，尤其是在电子、通信、汽车、工业控制等领域，对半导体分立器件的需求日益增加。

而半导体分立器件的质量和性能对产品的稳定性和可靠性起着关键作用。

为了确保半导体分立器件的质量和性能满足要求，需要进行多种测试和检测。

然而，目前市场上的半导体分立器件测试系统存在一些问题，如测试效率低、测试过程繁琐等，无法满足用户的需求。

针对上述问题，我们计划开发一款半导体分立器件综合测试系统，旨在提高测试效率，简化测试流程，提高测试精度，满足用户对半导体分立器件测试的需求。

二、项目目标1.开发一款功能全面的半导体分立器件综合测试系统，能够对常见的半导体分立器件进行多种测试和检测，如电气特性测试、参数分析等。

2.提高测试效率，通过优化测试流程和提高测试精度，减少测试时间，降低测试成本。

3.简化操作流程，界面友好，操作简单，降低用户的学习成本，提高用户体验。

4.可以灵活配置和扩展，支持不同型号和规格的半导体分立器件的测试需求。

三、项目计划1.项目启动阶段（1个月）-召集项目团队成员，明确项目目标和范围。

-进行市场调研，分析目前市场上的测试系统的优缺点和用户需求。

-制定项目计划和里程碑。

2.系统设计阶段（2个月）-进行半导体分立器件测试系统的整体设计，包括硬件和软件设计。

-设计系统的主要功能和测试流程。

-确定系统所需的关键技术和核心算法。

3.系统开发阶段（6个月）-按照设计文档进行系统的硬件和软件开发。

-进行系统的集成和测试。

-不断优化系统的性能和稳定性。

4.系统验收阶段（1个月）-对系统进行总体验收测试，确保系统能够满足预期的功能和性能要求。

-完成系统的相关文档，包括用户手册、技术规格等。

四、项目预算本项目预计总投资为100万元，具体分配如下：-软件开发费用：50万元-硬件采购费用：20万元-人员培训费用：10万元-验收测试费用：10万元-其他费用（包括市场调研、宣传等）：10万元五、项目收益分析根据市场调研表明，半导体分立器件市场规模巨大，且需求稳定增长。

半导体分立器件设计仿真流程

半导体分立器件设计仿真流程下载提示：该文档是本店铺精心编制而成的，希望大家下载后，能够帮助大家解决实际问题。

文档下载后可定制修改，请根据实际需要进行调整和使用，谢谢！本店铺为大家提供各种类型的实用资料，如教育随笔、日记赏析、句子摘抄、古诗大全、经典美文、话题作文、工作总结、词语解析、文案摘录、其他资料等等，想了解不同资料格式和写法，敬请关注！Download tips: This document is carefully compiled by this editor. I hope that after you download it, it can help you solve practical problems. The document can be customized and modified after downloading, please adjust and use it according to actual needs, thank you! In addition, this shop provides you with various types of practical materials, such as educational essays, diary appreciation, sentence excerpts, ancient poems, classic articles, topic composition, work summary, word parsing, copy excerpts, other materials and so on, want to know different data formats and writing methods, please pay attention!1. 简介半导体分立器件被广泛应用于电子设备中，如晶体管、二极管等。

电子设备模拟测试平台框架的设计与实现

针对真实的手机运行的环境以及
运行机制提出了模拟器平台的体系架构，所设计的体系结构实现了两个目标，即应用程序代码的独立性和系统的可配置性。最后，根据所设计的体系结构，使用Ｐｃ机模拟器对其进行了实现实验的结果显示，在模拟器上进行软
层与用户之间的交互，它的工作方式分为两种，即主动的方式和被动的方式。被动方式：用户需要输入，然后调用底层的函数返回结果，并将结果返回给用户。主动方式：对底层的消息进行接收，针对接收到的消息主动的反馈给用户，比如说接收到了电话，手机的电量不足等。从图１我们可以看到，有三种不同的信息传递的表示方式，但是我们用实线箭头来表示函数调用，比如申请动态内存，如图１中的虚线所示，大多数是通过消息这一机制来运行
ＥｌｅｃｔｒｏｎｉｃＴｅｃｈｎｏｌｏｇｙ・电子技术
电子设备模拟测试平台框架的设计与实现
文／陈果
本文首先从移动电子设备的软件开发和软件测试的现状开始介绍，然后根据现状分析了当前开发测试模式存在的问题：然后
的。
ห้องสมุดไป่ตู้
２．３消息大致有以下几类
ＭＭＩ要想指定的服务器发送某个消息，服务器会在一定的时间间隔内返回给ＭＭＩ成功的消息或者是失败的消息，这是标准的双向消息。ＭＩ琏畏控制台界面缝理飘务缱程ＭＭＩ会以Ｈａｎｄｌｅｒ为目标发送请求消息，比如说ＭＭＩ通过发送一个ＣＬＯＣＫ消息获取时间，然后在指定的时间间隔内ＣＬＯＣＫ会向ＭＭＩ发送当前的时间，这个也是标准的双向【关键词】电子设备软件测试模拟器消息。图２：模拟器体系结构定时器消息。ＭＭＩ程序显示类似于屏保这样的画面需要用到定时器消息，这个消息不可以是一定数量的返回消息，比如说定时器消需要返回消息，所以说这种消息是单向的。１现状和存在的问题息，当ＭＭＩ向ＣＬＯＣＫ发送时间的请求消息时，单向的消息还有很多，比如说，ＭＭＩ任ＣＬＯＣＫ会定时向ＭＭＩ发送当前时间的消息，务要求刷新屏幕需要请求ＬＣＤ任务，而不需现在的手机越来越高级，性能越来越高，比如没３０秒就会给ＭＭＩ发送消息。能够在手机上运行的应用程序越来越多，几乎要返回消息，这就是单向的消息；又比如，键发送按压键盘还是释放键盘的３．３应用程序代码的独立性每个人的手机上都安装了各种各样的软件，因盘可以向ＭＭＩ此导致了手机复杂性的显著提高，另外由于手消息，只需要提示而不需要返回消息，这也是对于应用在手机上的代码，要完整的原机单一的测试条件，大大限制了手机软件的开单向的。封不动的复制到模拟器上运行，只有这样才能发。而且在用手机进行测试的时候，许多发生保证发生在手机上的事情也能够在模拟器上真的情况会影响到测试的结构，所以，现在国内实的显现出来，能够使测试的结果最大限度的的许多厂家都使用ＰＣ机进行开发软件，然后在一个系统中，有一个ＭＭＩ任务和许多接近现实情况，也能够因此证明模拟器的可靠下载到手机上，通过串口通信将Ｔｒａｃｅ信息写的服务任务，但是对于每一个任务，他只有一性。的ＰＣ机上，然后通过Ｔｒａｃｅ信息定位问题。个消息队列和唯一的ＩＤ标识。但是针对手机通话这种相对来说比较复杂的问３Ｐｃ模拟平台体系结构设计・模拟器体系结构题，通常情况下是通过内部蜂窝站多人协同测试，相率怎么样可想而知。如图２所示。３．１系统应该提供的函数上面所涉及到的是ＰＣ机的优点，可否利（１）ＭＭＩ向服务器发送请求消息用ＰＣ机的开发环境来辅助手机的软件开发是（２）服务器向ＭＭＩ发送的回应消息或ＲＴＯＳ提供的内存分配函数用于实现各个个值得思考的问题？再一个问题是，能否利任务的调用，发送的消息电泳完成之后要能够正确的释放。者是服务器主动给ＭＭＩ用所提到的模拟平台来测试多方通话等现实生（３）控制台线程主动给ＭＭ你发送的带对于ＲＴＯＳ的消息派发函数，根据所接活中能够遇到却很难把握的情况。收到的四元组的信息，包括发送方ＩＤ、消息缺省参数的消息或者通知消息服务模块的功能（４）控制台界面线程发送给服务器的内ＩＤ、接收方ＩＤ、和实际消息数据块这四个部分，２手机运行环境将所接收到的四元组的信息正确无误的放在接部的超时消息，服务器模块可以实现特定时间间隔向ＭＭＩ发送消息；实时操作系统是多任务的操作系统，核受任务的消息队列中等待处理。（５）模拟ＰＴＯＳ给ＭＭＩ发送的延时消息。对于定时器的实现，所使用的的函数参心软件，能够提供许多功能，比如内存分配功

1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。

分立器件测试系统软件平台的设计及实现罗猛;詹惠琴;古军【摘要】In order to solve the high cost and low maintainability fault of current domestic discrete semiconductor device testing system, a set of testing system with high performance to price ratio, sample operation and high automatic degree was developed . And the software platform for the discrete semiconductor device testing system was designed, with using hierarchical and modular software architecture design methods. The software platform can complete a series of function such as the self-check and calibration of system hardware resource、account management、flow charts program automatically coverts、test index report generation and printing and so on, and make the test procedures and system hardware independent of each other , greatly improving the efficiency of development. The software platform has better versatility, maintainability and scalability.%为解决目前国内分立器件测试系统成本高,可维护性低等特点,开发了一套性价比高、操作简单、自动化程度较高的测试系统。

并采用层次化、模块化的软件结构设计方法,设计开发了分立器件测试系统的软件平台。

该软件平台可以完成系统硬件资源自检与校准、软件账号管理、流程图测试程序自动转换、测试指标报表生成及打印等一系列功能,并做到测试程序和硬件系统的相互独立,大大提高了开发效率,具有较好的通用性、可维护性和可扩充性。

【期刊名称】《电子测试》【年(卷),期】2011(000)011【总页数】5页(P62-66)【关键词】分立器件测试系统;流程图测试程序;通用性【作者】罗猛;詹惠琴;古军【作者单位】电子科技大学自动化工程学院,四川成都611731;电子科技大学自动化工程学院,四川成都611731;电子科技大学自动化工程学院,四川成都611731【正文语种】中文【中图分类】TP20 引言在早期的测试系统中,软件平台一般只提供文本编程方式给用户使用，其测试程序是以测试流程为依据从上至下一步一步排下来的,所有与测试相关的参数、程控指令、测试结果等都内置于一个文本测试软件中, 这种编程具有面向过程的编程规范，包含特定的语法规则，灵活性很强[1]。

但是这种方式有其不足的一面，其一是一般测试程序编程过程较为复杂，这就要求测试人员必须具有较深的编程功底；其二是这种方式可维护性差，不适于进行快速高效的现代自动化测试。

而本文提出的基于图形化编程语言的软件平台为测试工程师提供一个灵活简便的可编程环境。

实现了测试参数和测试程序的分离，开发人员更加专注于测试方法本身，而不用花太多时间在构建测试系统所需的测试流程和控制策略上[2]。

1 软件平台的总体架构ATS是整个测试系统的核心和关键，它是联系测试资源和被测对象的软桥梁，其体系结构的好坏直接关系到整个自动测试系统的性能[3]。

硬件资源自检与校准、软件账号管理、流程图测试程序自动转换、测试指标报表生成及打印等功能都与软件系统的设计息息相关。

本着层次化，组件化，标准化的要求，同时为了满足测试程序的可移植性及仪器的互换性以及测试系统软件结构的开放性、可扩充与裁减性等要求[4]，我们将分立器件测试系统软件总共分为3个层次，包括ARM程序层，USB驱动层和上位机软件层,图1所示为系统软件平台总体架构框图。

每个层的具体功能如下：ARM程序层：主要包括各个功能板和测试板的驱动程序，以及实现ARM内核对各个功能板进行控制的执行程序。

USB驱动层：主要是USB的接口驱动函数，完成下层ARM与上位机软件层的通信，进行数据的编排和解析，是整个测试系统软件的纽带。

上位机软件层：是整个软件系统的最上层，也是最直接与用户接触的层次。

用户需要设置和保存的所有个人信息、群组信息、测试工程及测试项目信息都要通过该层来完成，同时在硬件通信良好的情况下接收并在显示屏上显示测试仪的测试结果数据供用户查看分析。

图1 系统软件平台总体架构框图2 上位机软件的设计2.1 开发环境的选择C#是由Microsoft为.NET Framework量身订做的程序设计语言。

C#语言是由C/C++演变而来的，除了拥有C/C++的强大功能外，还具有Visual Basic简易使用的特性，也是一种面向对象设计语言。

它继承了C++中类得继承、封装、多态、重载等特性，另外它现代、简单、完全面向对象和类型安全等新特性，从而使我们开发出来的测试系统软件具有良好的用户体验，优良的兼容性，较高的灵活性和可扩展性。

基于系统开发的要求和C#语言的特点，我们最终选择了Visual Studio 2008作为上位机软件的开发工具。

2.2 上位机软件的层次结构上位机软件层次结构如图2所示。

其中驱动层包括USB驱动以及hp万用表驱动，其中USB通信API和hp万用表通信API是通过动态链接库（dll）形式封装，向中间层提供通信接口。

中间层包括.net平台、微软控件以及第三方控件，这一层起到承上启下的作用。

应用层即仪器界面，是整个程序框架的顶层。

图2 上位机软件层次结构图3 USB驱动的设计本测试系统中USB中间层主要负责上位机与下层ARM的数据信息交换，是上位计算机与分立器件测试系统连接的纽带。

USB驱动程序主要完成两个方面的工作：一是通过USB驱动向下层ARM发送上位机的设置数据和控制信息；二是接收下层ARM发回的测试结果数据。

驱动程序采用VC++6.0进行开发，以动态链接库的形式进行调用。

3.1 USB发送数据当在界面上点击“下载”按钮后，上位机程序会将包含有数据类型、数据字节长度和数据信息或者控制命令信息的字符串按照规定的数据格式通过USB处理向下发送。

图3所示为USB数据的下载流程。

图3 USB数据下载流程图3.2 USB接收数据当下位机完成一个器件的完整测试后会及时将测试结果数据通过USB中间层传输到上位机软件中，但是上位机软件并不能直接接收下位机送回的测试结果数据，而需要经过USB中间层的处理。

所以当USB接收到下层ARM发回的测试结果数据后，USB驱动层要对测试的结果数据进行处理，调整结果数据的格式，并将包含有数据类型信息和数据长度信息的测试结果数据以字符串的形式按照某一协议格式送回到上位机软件中，供上位机软件调用。

图4所示为USB数据上传的流程。

图4 USB上传数据流程图3.3 USB驱动在系统中的调用在分立器件测试系统中需要用到的USB动态链接库函数的调用方法如下：（a）[DllImport("2440usbDLL.dll", EntryPoint ="UsbTransmit", CallingConvention = CallingConvention.StdCall)]public static extern void UsbTransmit(IntPtr hwnd); 该函数调用主要实现的功能是下载ARM程序编译生成的BIN文件。

BIN文件是将系统的ARM程序编译生成的二进制文件，只有将BIN首先下载到ARM中整个系统才能开始工作，否则后续其他一切工作都不能完成。

（b） [DllImport("2440usbDLL.dll", EntryPoint ="strpc2arm3", CharSet = CharSet.Ansi, CallingConvention=Callin gConvention.StdCall)]public static extern int strpc2arm3(string dataString);该函数主要实现的功能是上位机工程设置参数的下载。

参数dataString表示要下载的工程设置参数。

（c）[DllImport("2440usbDLL.dll", EntryPoint = "arm2pc_Data", CharSet = CharSet.Ansi, CallingConvention=CallingConve ntion.StdCall)]public static extern string arm2pc_Data();该函数主要实现的功能是接收由ARM传回的测试结果数据。

另外，本系统中USB动态链接库的编写借助了部分MFC类库中的函数，所以在应用本动态库时，需要同时添加四个MFC的动态库文件：MFCD42D.DLL、MFC42D.DLL、MFCO42D.DLL和MSVCRTD.DLL。

4 下位机软件设计4.1 下位机arm程序的编译方法基于GCC的诸多优点在设计初期，我们曾经考虑过使用GCC来编译下位机arm程序，但使用GCC需要编写makefile文件搭建编译平台，这不是一件容易的事情。

但后来发现ADS1.2 IDE提供了此问题的解决方案，ADS1.2 IDE提供了一个菜单项可以把ADS1.2工程转化为一个和工程对等的.xml文件，然后调用ADS1.2提供的mcp2make工具将.xml文件转化为makefile文件。

这使得设计下位机软件时可以用IDE界面搭建编译环境，设置编译信息，规避了编写makefile文件的诸多细节问题。

得到了makefile文件后，我们就可以使用VC++6.0提供的nmake工具调用makefile文件编译整个下位机工程。

在makefile文件里分别调用ADS1.2提供armcc编译器以及armlink连接器最终把整个下位机工程编译成一个.axf文件；最后使用“fromelf -bin –output xxx.bin xxx.axf”命令将.axf文件转化为.bin文件下载到下位机，图5为测试程序自动转换及编译流程图。