核衰变统计规律的验证
核衰变统计规律

实验二 核衰变的统计规律实验人:*** 合作者:*** 实验时间:2011/06/03一、引言对核衰变产生的射线可用计数方式测量。
然而多次测量相同时间间隔内的计数,即使保持相同的实验条件,每次测量的结果并不相同,而是围绕某一平均值上下涨落,反映出核衰变的随机性二、实验目的1、了解并验证原子核衰变及放射性计数的统计性2、了解统计误差的意义,掌握计算统计误差的方法3、学习检验测量数据的分布类型的方法三.原理1.放射性测量的随机性和统计性在做重复的放射性测量中,即使保持完全相同的实验条件(例如放射性的半衰期足够长,因此在实验时间内可以认为其强度基本上没有变化;源与计数器的相对位置始终保持不变;每次测量时间不变;测量仪器足够精确,不会产生其它的附加误差等等),每次的测量结果并不完全相同,而是围绕其平均值上下涨落,有时甚至有很大的差别,也就是说物理实验的测量结果具有偶然性,或者说随机性。
物理测量的随机性产生原因不仅在于测量时的偶然误差,而且更是物理现象(当然包括放射性核衰变)本身的随机性质,即——物理量的实际数值时刻围绕着平均值发生微小起伏。
在微观现象领域,特别是在高能物理实验中,物理现象本身的统计性更为突出。
按照量子力学的原理,对处于同一个态的微观粒子,测量同一个可观测的物理量时,即使不存在任何测量误差,各次测量结果也会不同,除非粒子处于这个可观测量的本征态;比如同一种粒子的寿命,其实测值分布在从相当短到相当长的范围内。
另一方面,所谓偶然的东西,是一种有必然性隐藏在里面的形式;我们正是要通过研究其统计分布规律从而找出在随机数据中包含的规律性。
2.核衰变数的统计分布放射性原子核衰变数的统计分布可以根据数理统计分布的理论来推导。
放射性原子核衰变的过程是一个相互独立彼此无关的过程,即每一个原子核的衰变是完全独立的,与其他原子核是否衰变无关;因此放射性原子核衰变的测量计数可以看成是一种伯努里试验问题。
在N 0个原子核的体系中,单位时间内对于每个原子核来说只有两种可能:A 类是原子核发生衰变,B 类是没有发生核衰变。
G-M特性及核衰变统计规律

G-M特性及核衰变统计规律实验目的1.了解G-M计数器的工作原理,有关特性及使用方法。
2.以G-M计数器为探测设备,验证核衰变的统计规律。
3.了解统计误差的意义,掌握计算统计误差的方法。
实验内容1.在一定甄别阈值下,测量G-M计数管的坪曲线,确定坪曲线的各个参量,并确定其工作电压。
2.用示波器测定计数装置的分辨时间。
3.观察G-M计数管的工作电压与输出脉冲幅度的关系。
4.在相同条件下,对某放射源进行重复测量,画出放射性计数的频率直方图,并与理论正态分布曲线作比较。
5.在相同条件下,对本底进行重复测量,画出本底计数的频率分布图,并与理论泊松分布作比较。
实验原理1G-M计数管1.1G-M管的结构和工作原理G-M计数管是一种气体探测器,结构类型很多,最常见的有圆柱形和钟罩形两种,它们都是由同轴圆柱形电极构成。
图1是其结构示意图,中心的金属丝为阳极,管内壁圆筒状的金属套(或一层金属粉末)为阴极,管内充有一定量的混合气体(通常为惰性气体及少量的猝灭气体),钟罩形的入射窗在管底部,一般用薄的云母片做成;圆柱形的入射窗就是玻璃管壁。
测量时,根据射线的性质和测量环境来确定选择哪种类型的管子。
对于α和β等穿透力弱的射线,用薄窗的管子来探测;对于穿透力较强的γ射线,一般可用圆柱型计数管。
G-M 管工作时,阳极上的直流高压由高压电源供给,于是在计数管内形成一个柱状对称电场。
带电粒子进入计数管,与管内气体分子发生碰撞,使气体分子电离即初电离(γ粒子不能直接使气体分子电离,但它在阴极上打出的光电子可使气体分子发生电离)。
初电离产生的电子在电场的加速下向阳极运动,同时获得能量,当能量增加到一定值时,又可使气体分子电离产生新的离子对,这些新离子对中的电子又在电场中被加速再次发生电离碰撞而产生更多的离子对。
由于阳极附近很小区域内电场最强,则此区间内发生电离碰撞几率最大,从而倍增出大量的电子和正离子,这个现象称为雪崩。
雪崩产生的大量电子很快被阳极收集,而正离子由于质量大、运动速度慢,便在阳极周围形成一层“正离子鞘”,阳极附近的电场随着正离子鞘的形成而逐渐减弱,使雪崩放电停止。
核衰变的指数规律

核衰变的指数规律在我们生活的这个世界里,存在着许多神奇而又神秘的现象,核衰变就是其中之一。
核衰变,这个听起来有些高深莫测的名词,实际上与我们的生活息息相关。
而核衰变所遵循的指数规律,更是为我们揭示了原子核内部的奇妙变化。
要理解核衰变的指数规律,首先得知道什么是核衰变。
简单来说,核衰变就是原子核自发地放出粒子或射线,从而转变为另一种原子核的过程。
在这个过程中,原子核的质子数和中子数会发生改变,导致其化学性质和物理性质也发生相应的变化。
那么,为什么核衰变会遵循指数规律呢?这得从原子核的内部结构说起。
原子核是由质子和中子组成的,它们之间存在着强大的相互作用力。
然而,这种相互作用力并不是绝对稳定的,在一定条件下,原子核会处于一种不稳定的状态,从而有自发衰变的倾向。
想象一下,在一个装有许多小球的盒子里,每个小球都代表着一个原子核。
这些原子核都有可能发生衰变。
在某一时刻,一部分原子核衰变了,而剩下的原子核在接下来的时间里,发生衰变的概率并不会受到已经衰变的原子核的影响。
这就好比抛硬币,每次抛硬币得到正面或反面的概率都是独立的,不会因为之前抛的结果而改变。
核衰变的指数规律可以用一个数学公式来表示:N = N₀ × e^(λt) 。
在这个公式中,N 表示经过时间 t 后尚未衰变的原子核数目,N₀表示初始时刻的原子核数目,λ 则被称为衰变常数。
这个衰变常数λ是一个非常重要的参数,它反映了原子核衰变的快慢程度。
λ 的值越大,原子核衰变的速度就越快,反之则越慢。
不同的原子核具有不同的衰变常数,这也就决定了它们衰变的速度和半衰期的长短。
半衰期,这是一个在核衰变中经常提到的概念。
它指的是放射性原子核数目衰变掉一半所需要的时间。
比如说,某种放射性物质的半衰期是 10 天,那么经过 10 天后,原来的放射性物质就只剩下一半了。
再过 10 天,剩下的一半又会衰变掉一半,也就是只剩下四分之一了。
核衰变的指数规律在许多领域都有着重要的应用。
核衰变与放射性计数的统计规律

第一部分G-M计数器【实验目的】1、了解G_M计数器的工作原理,掌握其基本性能及测试方法。
2、学会正确使用G-M计数器的方法。
3、了解探测器输出信号与输出回路参数的关系,学会正确选择G-M计数器系统输出回路参数。
【实验内容】1.在一定的甄别阈下,测量卤素G-M管的坪曲线,确定这些坪曲线的各个参数并选择工作电压。
2.用示波器测定G-M计数器的分辨时间。
3.观察并记录G-M管的输出电流、电压脉冲与工作电压及输出回路参数的关系。
【实验器材】按下图连接各仪器。
并用定标器的自检功能检查定标器是否正常工作。
【实验步骤】1、J-306型卤素管的性能研究。
1) 前置盒R=1 MΩ,C=0 pF,在甄别阈值最低(逆时针调到最小)及中间阈值时(调节甄别阈旋钮,直到定标器没有计数时阈值最大,取0和最大阈值之间的值为中间阈值),分别测GM管的坪曲线。
要求:坪区计数率在200 /s左右,计数的相对标准偏差<2%。
在方格纸上画出坪曲线,讨论结果,并分析甄别阈对坪曲线的影响。
注意:①在测量坪曲线过程中改变高压时,一定要使定标器处于计数状态,以反映计数管的工作状态。
尤其当测到接近坪区末端时,如果看到计数率已明显增加(即已经开始发生连续放电时),要立即把工作电压降下来,以保护管子。
(另外,即使观察不到特别明显的计数率显著增加,高压最大也不要超过600V)②在换G-M管或停止工作以前,必须先把高压降到“0”并关上高压开关再进行操作。
2) 由最低甄别阈条件下测得的坪曲线,选择合适的工作电压值。
3) 观测输出电流脉冲与工作电压及输出回路参数的关系:②置盒R=1 MΩ,C=0 pF,改变三个工作电压;②固定工作电压与R,取三个C值;(背面还有)③固定工作电压与C,取三个R值;要求在方格纸上实录全部输出电流脉冲波形,标出坐标名称及单位,以及各信号极性、幅度的相对大小,并说明原因。
注意:①中的三个电压值必须在坪区范围内;为观察到形状较好的电流和电压波形,②、③及以下各步骤中的工作电压可比步骤(2)中选择的工作电压低,具体数值可以取R =1 M Ω,C =0 pF 时,示波器观察电流或电压波形不出现饱和的最大工作电压值。
核衰变的统计规律实验

核衰变的统计规律实验薛佳柳083822一、实验目的1.了解并验证原子核衰变及放射性计数的统计性。
2.了解统计误差的意义,掌握计算统计误差的方法。
3.学习检验测量数据的分布类型的方法。
二、实验原理1. 测量NaI(Tl)闪烁晶体探测器的计数率随工作变化的坪曲线,选定合适的工作电压。
2. 在相同条件下,对某放射源进行重复测量,画出放射性计数的频率直方图并与理论分布曲线作比较。
3. 在相同条件下对本底进行重复测量,画出本底计数的频率分布图,并与理论分布曲线作比较。
4. 用2检验法检验放射性计数的统计分布类型。
三、实验仪器①NaI(Tl)闪烁探测器;②γ放射源(137Cs或60Co);③高压电源、放大器和多道脉冲幅度分析器。
二、实验内容1.放射性测量的随机性和统计性在做重复的放射性测量中,即使保持完全相同的实验条件(例如放射性的半衰期足够长,因此在实验时间内可以认为其强度基本上没有变化;源与计数器的相对位置始终保持不变;每次测量时间不变;测量仪器足够精确,不会产生其它的附加误差等等),每次的测量结果并不完全相同,而是围绕其平均值上下涨落,有时甚至有很大的差别,也就是说物理实验的测量结果具有偶然性,或者说随机性。
物理测量的随机性产生原因不仅在于测量时的偶然误差,而且更是物理现象(当然包括放射性核衰变)本身的随机性质,即——物理量的实际数值时刻围绕着平均值发生微小起伏。
在微观现象领域,特别是在高能物理实验中,物理现象本身的统计性更为突出。
按照量子力学的原理,对处于同一个态的微观粒子,测量同一个可观测的物理量时,即使不存在任何测量误差,各次测量结果也会不同,除非粒子处于这个可观测量的本征态;比如同一种粒子的寿命,其实测值分布在从相当短到相当长的范围内。
另一方面,所谓偶然的东西,是一种有必然性隐藏在里面的形式;我们正是要通过研究其统计分布规律从而找出在随机数据中包含的规律性。
2.核衰变数的统计分布放射性原子核衰变数的统计分布可以根据数理统计分布的理论来推导。
实验一核衰变与放射性计数的统计规律

实验一核衰变与放射性计数的统计规律第一部分 G-M计数器一.实验目的1、了解G-M管的工作原理,掌握其基本性能及其测试方法。
2、学会正确使用G-M管计数装置的方法。
3、了解探测器输出信号与输出回路参数的关系,学会正确选择G-M管计数系统输出回路参量。
二.实验内容1、在一定的甄别阈下,测量卤素G-M管的坪曲线,确定这些坪曲线的各个参量并选择工作电压。
2、用示波器观察法和双源法测定卤素G-M管计数装置的分辨时间。
3、观察并记录G-M计数管的输出电流、电压脉冲与工作电压及输出回路参数的关系。
三.实验原理1、G-M管是一种气体探测器。
当带电粒子射入其灵敏体积时,引起气体原子电离。
电离产生的电子在阳极丝附近的强电场中又引起一系列碰撞电离,即触发“自持放电”。
这一过程产生的电子和正离子向两极漂移时,在外回路产生脉冲信号。
2、从G-M管的工作机制可以看出,入射带电粒子仅仅起一个触发放电的作用,G-M管的输出电流、电压信号的幅度与形状和入射粒子种类与能量无关,只和计数管的几何参量、工作电压以及输出回路参量有关。
在G-M管的使用中,坪特性是其最重要的性能之一。
坪特性是判断管子好坏的主要依据,也是选择管子工作电压的依据。
坪特性曲线就是在一定的实验条件下当入射粒子的注量率不变时,计数管的计数率随工作电压变化的曲线,见图1-1。
图1-1 G-M计数管的坪曲线表征坪特性的参量主要有:起始电压(Vs):即计数管开始计数时的电压。
坪长: B A =V -V 坪长(单位:百伏) (1-1) 这是管子的工作区域,工作电压一般可选在坪区的21~31的范围内。
坪斜:()100% ()2B A B A B A n n n n V V -=⨯+-坪斜(单位:%/百伏) (1-2) 坪斜主要是由假计数引起的,当然它的值越小越好。
当工作电压高于B V 时,曲线急剧上升,表明管子内发生了持续放电,这会大大缩短管子的寿命,因此在使用中必须注意避免这种情况。
盖革—弥勒计数器和核衰变的统计规律

分辨时间的测量
假设测得计数率m,分辨时间为τ,则单位时间内有mτ 时间要产生漏记。若实际的计数率为n,则单位时间内的 漏记数为nmτ
n-m=nmτ
修正后的计数率公式 :n=m/(1-mτ)
双源法测量分辨时间
• nA=mA/(1-ma τ) • nB=mB/(1-mB τ) • Nab=nA+nB=mAB/(1-mAB τ) • τ =(mA+mB-mAB)/2mAmB
fj :每个分组区间中实际观测到的次数 fj’:每个分组区间中按理论分布应有的出现次数
• 算出随机变数x2所取的值大于某个预定值x21- α的概率P(x2>x21- α), 令此概率为α
• 在检验时,先设定一个小概率α,称为显著性水平,一般设为0.10,可 从表中找到对应的x21- α
• 自由度v=r-s-1 • 若x2<x21- α,则小概率事件未发生,认为此组数据服从泊松分布
核衰变的统计规律
在t时间内平均衰变的原子核的数目:m=N(1-e-λt)
每个核在t时间内发生衰变的几率为1-e-λt,不发生衰变 的几率为e-λt
在t时间内,在N个原子核中有n个核发生衰变的几率为
p(n)=CNn(1-e-λt)n(e-λt)N-n
当N很大且λt<<1时,二项式分布简化为泊松分布
射粒子的数目
所产生的负离子在电场 加速下向阳极运动
负离子与气体分子发生 碰撞打出更多的次级电
子,引起了“雪崩放 电”,在阳极上便得到
一个负的电压脉冲
为了使一个辐射粒子 引起放电后只计一次 数,在计数管内加入 少量猝灭的气体,用 来猝灭正离子鞘和电 离产生的离子增殖。
电流I与计数率的关系
图(1)
原子核结构和放射性衰变的实验验证

实验验证的最新成果和发现
实验方法:使用高能 粒子加速器进行实验
最新成果:发现了新 的放射性衰变模式
发现意义:为理解原 子核结构和放射性衰 变提供了新的视角
未来展望:预计未来会 有更多新的实验方法和 发现,进一步推动原子 核结构和放射性衰变研 究的发展。
实验验证的未来展望和发展方向
实验技术的进 步:如加速器、 探测器等技术 的改进,提高 实验精度和效 率
实验方法:使用电子散射 实验和质子散射实验
实验目的:研究原子核的 结构和性质
实验结果:证实了原子核 的存在和性质
实验意义:为原子核物理 的发展奠定了基础
放射性衰变的实验观测
放射性衰变实验:通过测量放射性元素的衰变率来验证放射性衰变理论
实验方法:使用放射性元素探测器,如盖革计数器,测量放射性元素的衰变率
放射性衰变的实验验证
放射性衰变的类型和特点
α衰变:释放氦 核,能量高,穿
透力强
β衰变:释放电 子或正电子,能 量较低,穿透力
较弱
γ衰变:释放高 能光子,能量最 高,穿透力最强
特点:放射性衰 变是原子核自发 的过程,遵循能 量守恒和动量守 恒定律,释放的 能量和粒子的种 类与原子核的组 成和结构有关。
提高实验技术:实验验证可以提高实验技术,为未来的实验研究奠定基础。
促进国际合作:实验验证可以促进国际合作,共同解决全球性问题。
03
原子核结构的实验验证
原子核的组成和结构
质子和中子通过强相互作 用力结合在一起
原子核由质子和中子组成
原子核的形状和结构可以 通过散射实验来研究
原子核的稳定性可以通过 核裂变和核聚变来验证
观测仪器:使用辐射探测器、闪烁探测器等仪器进行测量 数据分析:通过数据分析,验证放射性衰变的规律和理论模型
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核衰变统计规律的验证
0830******* 崔璨 复旦大学材料科学系
【摘要】本实验利用G-M 计数管研究放射性测量数据分布规律, 用χ2检验法初步检验了核衰变的统计规律——泊松分布和高斯分布。
并用频率直方图检验法定性说明核衰变时间间隔分布也符合正态分布。
【关键词】核衰变 统计规律 χ2检验法 频率直方图检验法 泊松分布 高斯分布
1. 引言
由于放射性衰变存在统计涨落,当我们作重复的放射性测量时,即使保持相同的实验条件,每次测量的结果也并不相同,而是围绕某一平均值上下涨落,有时甚至有很大的差别。
因此就需要对于测量所得的数据进行某种检验,以确定测量数据的可靠性。
用G-M 计数器来探测γ射线,运用放射性测量结果的统计误差的表示方法,通过χ2检验法和频率直方图检验法检验测量数据的分布类型,可以帮助检查测量仪器的工作是否正常和测量条件是否稳定,从而帮助分析和判断在测量中除放射性测量的统计误差外,是否还有其他的系统误差和偶然误差因素。
2. 实验原理
2.1 G-M 计数器
G-M 计数器由G-M 计数管、高压电源和定标器构成。
G-M 计数器工作时,高压由高压电源经过电阻R 加到计数管的阳极上,于是在G-M 计数管内产生一柱状对称的电场。
辐射粒子使电极间气体电离,生成的电子和正离子在电场作用下漂移,最后收集到电极上。
G-M 计数管在射线作用下可以产生电脉冲,高压电源提供计数管的工作电压,而定标器则用来记录计数管输出的脉冲数。
2.2 放射性测量的统计误差
对大量的原子核而言,其衰变遵从统计规律,有衰变定律:
-t 0N(t)=N e λ
其中,t 表示时间,N 0为t=0时刻的放射性核数,N(t)为t 时刻的放射性核数,λ称为衰变常数。
设N 为尚未衰变的放射性核数,n 为某时间t 内衰变的核数。
假设该种放射性核的半衰期很长,则在测量过程中可以认为N 不变,可以推出t 时间内有n 个核衰变而其余的核不衰变的几率为:
()!
n m
m P n e n -=
其中,m 为衰变的平均值,n=1,2,3,…称它为泊松分布。
当平均值比较大时,泊松分布公式化为高斯分布公式:
22
()2()x P x μσ--
=
其中,σ为方差,μ为平均值。
其特点是以平均值为最大点,左右对称分布,远离平均值,几率减小。
2.3 放射性测量中数据分布规律的检验
2.3.1 χ2检验法
设有统计量:
2
2
1
()r
j j j j
f kp kp χ=-=∑
其中,j 为分组数,f j 为各组实际频数,p j 为各组理论概率,k 为总频数。
可以证明其近似地服从χ2分布,其自由度为(r-s-1),这里s 是在计算理论分布次数时所用的理论分布曲线所包含的参量数目。
对于正态分布s=2,对于泊松分布s=1。
我们可以算出随机变数χ2所取的值大于某个预定值χ1-α2的概率P(χ2>χ1-α2),令此概率为α,则:
()()212
2221P P d α
α
χχχ
χχα-∞
->==⎰
对于不同的自由度已经按照上式计算了α和χ1-α2对应的数据表。
比较方法是先取一个任意给定的小概率α,称为显著性水平,根据自由度v 的大小,查出对应的χ1-α2值,比较χ2和χ1-α2的大小来判断拒绝或接受理论分布。
2.3.2 频率直方图检验法
对一组数据可以把它们直接和一个理论分布比较,从而检验这组数据是否符合该理论分布。
对于实验上测得的一组数据n i (i=1,2,…,k),首先求出其平均值:
1
1k
i i n n k ==∑
根据式:
i σ=计算标准误差σi ,然后对于上述的测量数据n i 来分组,作频率直方图。
将所得到的频率直方
图与理论分布曲线相比较,来定性判断测量数据分布是否合理,以及是否存在其他不可忽略的偶然误差因素。
2.3.3 实验装置
如图,G-M 计数管放在铅室中,后接前置放大器,用于将计数管产生的脉冲进行放大。
定标器和高压电源装在一起,并提供前置放大器所需的低压电源。
3. 实验结果与讨论
3.1 测量时间和重复测量次数对测量误差的影响
➢ 测量本底计数300秒,计数值显示为77 ➢ 将放射源(β源)放入铅室
100s 的时间计数值显示为39,过弱,故更换为2个Cs 源重新测量,结果如下:
其中,净计数率i i m t i i i n n N t -=
=底,相对误差m i i i m
∆===对比后容易得出:测量时间越长,测量误差越小。
可得平均计数率6
1
/6i i m m ==
∑=201.1/6=33.5/s ,相对误差
m m m ∆===0.705% 故无论从公式还是运算结果来看,多次测量(6次100s)与总时间相同的单次测量(单次600s)
的误差在结果上是一样的。
3.2 低计数统计规律的验证
实验条件:
采用Cs 源,设置测量时间间隔为0.1s ,使计数平均值在3-5之间。
测量300个样本点。
统计规律的验证: ➢ χ2检验法:
可知r =11,s =1,故自由度v =r-s-1=9。
取显著性水平α=0.1,查表得相应的χ1-α2=14.684。
关系式χ2<χ1-α2成立,可认为此组数据服从泊松分布。
➢频率直方图检验法:
相应的频率直方图如下:
从图像上比较,实验值与理论值很接近,趋势也基本相同,没有出现大的偏差,故也可认为该组数据服从泊松分布。
3.3 高计数统计规律的验证
实验条件:
增加源的强度并调整源的位置,设置测量时间间隔为5.5s,使计数平均值在500左右。
测量300个样本点。
实验结果:
计算机数据处理的结果为:计数平均值=512.967,方差=508.11,标准偏差σi=22.54。
取置信度(1-α)为0.9,则平均值区间为(510.82,515.11)。
因为σi/2=11.27,为使分组更有规律性,取平均值所在区间的中心值为515,分组间隔为10。
再根据数据的分布范围选取合适的上下限,得到分组数据处理表格如下:
组号下限观测值期望值
14501 2.035467
24604 5.677209
34701613.045693
44803024.699081
54904038.524471
65003649.524471
75104852.452175
85205145.774871
95303732.915996
105402119.502672
11550139.52084
125603 3.829385
对于该组数据有χ2=9.625452。
统计规律的验证:
➢χ2检验法:
可知r=12,s=2,故自由度v=r-s-1=9。
取显著性水平α=0.1,查表得相应的χ1-α2=14.684。
关系式χ2<χ1-α2成立,可认为此组数据服从高斯分布。
➢频率直方图检验法:
相应的频率直方图如下:
c 从图像上比较,实验值与理论值比较接近,虽然在某些地方趋势出现了异常,与理论差距较大,但总体上还是基本相同的,故也可近似认为该组数据服从高斯分布。
4.实验小结
在这次实验中利用G-M计数器来探测γ射线,根据衰变定律,探究了测量时间和重复测量次数对计数率测量误差的影响,另外还分别用χ2检验法和频率直方图检验法验证了低计数和高计数情况下核衰变符合理论分布。
核衰变的计数值围绕某个平均值上下涨落,这是一种规律性现象,也是放射性原子核衰变的随机性引起的。
实验中影响结果偏离理论分布的主要是偶然误差因素,这也是在样本容量有限的情况下必然存在的。
在高计数时如果所需时间间隔较长,可以通过增加源的强度与改变源的位置来降低时间间隔,从而缩短等待时间。
必须注意的是如果出现χ2>χ1-α2的情况,也不可断然认定核衰变不符合理论分布,而要进一步详细分析原因。
一般来说可以多测几组数据,如果没有异常出现,则说明在第一次测量中发生了小概率事件,这也是完全有可能的。
如果依旧出现这种异常情况,则要引起足够的重视。
这时可以根据频率直方图对实验值和理论值进行比较,找出错误出现的地方,然后一步步找出原因。
χ2检验法和频率直方图检验法在许多地方都有应用,核衰变则是一个很简单方便的统计对象,通过该实验可以使实验者对其有一个初步的理解和掌握。
一般来说,频率直方图检验法多用于定性分析,而χ2检验法多用于定量分析,二者相辅相成。
致谢
感谢姚红英老师的悉心指导与张龙同学的愉快合作
参考书目
1.《近代物理实验补充讲义》复旦大学物理教学实验中心
2.《近代物理实验》第二版戴道宣、戴乐山主编高等教育出版社
3.《热力学·统计物理》第三版汪志成高等教育出版社。