LED热学参数测试研究
LED封装的热学研究

2.网格划分(Grid generation)
Once the model has been completed, the software automatically generates basic grids to each component called system grids. However, system grids might not be sufficient for a high thermal gradient surface. The choice of grids affects both the solution and the convergence speed.Therefore, grid dependency study was performed. In this study, a grid independent model was performed using structured and nonuniform grid spacing across the computational domain. Grid independent for the through hole LED was achieved at Nx= 56, Ny=53, Nz= 51, which resulted in 151,368 total grids. Figure 3 shows the graph of grid independence study for through hole LED.
六、敏感性分析(Sensitivity analyses) • 经过对LED封装模型的分析和基于对 热阻的计算可知影响LED热阻的因素 有热沉材料性能,引线框架的机构, PCB板的性能,还有影响热对流的空 气流通速度。在此只选择引线框架来 具体分析。
最新4.4 LED的热学特性

构安特性
二、热阻
仪器的工作原理
热阻是沿热流通道上的温度差与通道上耗散的 功率P之比
Rt h =( Tj-Tx)/P
(2)
式中,Tj为施加大小为P的加热功率脉冲后测 得的LED结温;Tx为热沉铝基板上的温度。
二、热阻
仪器的工作原理
Tx=To ΔVF =VTj-VTo 联立(1)(2)两式,消去=(Tj-Tx)
4.4 LED的热学特性
内容
一、引言 二、热阻及测量 三、LED的工作温度与存储温度
正向电压法二极管热阻测试
二、热阻
仪器的工作原理
半导体器件在恒定电流下LED的正向电压与温 度具有很好的线性关系
VTj=VTo +K(Tj-To)
(1)
式中,VTj、VTo分别是Tj和To时的输入电压;K 是热敏温度系数,它与芯片衬底材料、芯片结
得到热阻表达式Rt h =ΔVF/(K·P)
二、热阻
三、LED的工作温度与存储温度
工作温度:-30~80℃是指环境温度,与热阻有 关,pn结温度保持在100 ℃以下。
存储温度:-40~100℃,同时一般要求相对湿 度以不结露为准。No Condensed
LED灯具光学参数检测技术

分享:深圳洪润照明股份有限公司LED灯具光学参数检测技术LED光源与传统光源在物理尺寸及光通量、光谱、光强的空间分布等方面均存在很大差异,LED检测不能照搬传统光源的检测标准及方法。
【LED灯具光学参数的检测】1、发光强度检测光强即光的强度,是指在某一特定角度内所放射光的量。
因LED的光线较集中,在近距离情况下不适用平方反比定律,CIE127标准规定对光强的测量提出了测量条件A(远场条件)、测量条件B(近场条件)两种测量平均法向光强的条件,2种条件的探测器面积均为1cm2。
通常情况下,使用标准条件B测量发光强度。
2、光通量和光效检测光通量是光源所发出的光量之总和,即发光量。
检测方法主要包括以下2种:(1)积分法。
在积分球内依次点燃标准灯和被测灯,记录它们在光电转换器的读数分别为Es和ED。
标准灯光通量为已知Φs,则被测灯的光通量ΦD=ED×Φs/Es。
积分法利用“点光源”原理,操作简单,但受标准灯与被测灯的色温偏差影响,测量误差较大。
(2)分光法。
通过光谱能量P(λ)分布计算得出光通量。
使用单色仪,在积分球内对标准灯的380nm~780nm光谱进行测量,然后在同条件下对被测灯的光谱进行测量,对比计算出被测灯的光通量。
光效为光源发出的光通量与其所消耗功率之比,通常采用恒流方式测量LED 的光效。
3、光谱特性检测LED的光谱特性检测包括光谱功率分布、色坐标、色温、显色指数等内容。
光谱功率分布表示光源的光是许多不同波长的色辐射组成的,各个波长的辐射功率大小也不同,这种不同随波长顺序排列就称为光源的光谱功率分布。
利用光谱光度计(单色仪)和标准灯对光源进行比对测量获得。
色坐标是以数字方式在坐标图上表示光源的发光颜色的量。
表示颜色的坐标图有多种坐标系,通常采用X、Y坐标系。
色温是表示人眼看到的光源色表(外观颜色表现)的量。
光源发射的光与某一温度下绝对黑体发射的光颜色相同时,该温度即为色温。
在照明领域,色温是描述光源光学特性的一个重要参数。
东南大学物理学院-LED热学特性研究实验讲义

大功率LED热学特性研究(课题实验)发光二极管(Light Emitting Diode, LED)在过去十几年里有了飞速的发展,逐渐突破了仅能作为低功率指示灯光源的限制,被广泛应用于日常照明和显示等领域[1-2]。
LED是通过外电流注入的电子和空穴在耗尽层中复合,以辐射复合产生光子而发光,同时也会有部分复合能量传递给晶格原子或离子,发生非辐射跃迁,这部分能量转换成热能损耗在PN结内。
对于小功率LED来说这部分热量很小可以不作考虑。
然而,对于大功率照明用LED而言,其发热量大幅提高,直接影响到了LED的发光效率和器件的使用寿命,以及引起波长的漂移,造成颜色不纯等一系列问题。
因此,研究功率型LED的热学与发光特性不仅涉及半导体物理的基础问题,也是目前光电工程领域的开发热点[3-4]。
一、实验原理简介1. 脉冲法测量结温准确测量LED的结温是研究LED热学特性的基础。
LED灯的基本结构如图1所示,其芯片的核心结构是一个半导体的PN结,所谓LED的结温指的就是PN结的温度。
由于PN 结的尺寸很小,又被荧光材料和树脂胶包裹,无法直接测量其温度,因此常用间接法来测量结温。
本实验仪器采用一种较为新颖的脉冲法测量结温,该方法于2008年由美国NIST实验室提出[7]。
其核心思想是通过脉冲电流来限制结温TJ的上升,使之与器件表面可测量温度TB接近一致。
当给待测LED灯通入一个幅值为额定值的脉冲电流时,芯片在脉冲内正常发光并升温,但由于电流占空比很小,芯片温度会在一个较长的电流截止状态下降低到和表面温度一致。
从整体效果来看,只要脉冲占空比足够小,LED的芯片温度能维持和表面温度一致,如图2所示。
这样,只要借助温控仪就能在脉冲电流下定标出芯片两端的电压‒温度曲线。
由于在电流一定时,特定PN结的压降仅和结温有关,所以在有了LED的电压‒温度曲线后,只需测量正常工作时LED两端的电压就可以得到其实际的结温。
图1 功率型LED 基本结构示意图图2 (a )LED 在不同占空比的脉冲电流下结温随时间的变化示意图;(b )待测LED 灯珠在脉冲电流和稳流状态下点亮时,器件表面温度随时间的变化曲线。
LED的参数及其测试技术

1、光通量
单位:流明/lm 符号: Φ 定义:发光体每秒钟所发出的光量的总和。 说明: 为表明光强和光通量的关系,发光强度 为1cd的点光源在单位立体角(1球面度) 内发出的光通量为1lm。
2、发光强度
单位: 坎德拉/cd (Candela) 符号I =Φ/Ω 定义: 光源在指定方向的单位立体角内发出的 光通量。(即:光照或照明灯具所发出的 光通量在空间选定方向上分布密度)
• •
• •
•
§. LED I-V 特性
• 表征LED芯片pn结制备性能主要参数。LED的I-V特性具有非线性、整 流性质:单向导电性,即外加正偏压表现低接触电阻,反之为高接触 电阻。如图:
LED電流與電壓關系
• 當電壓超過一定值後﹐正向電流隨電壓迅速增加 而發光,不同顏色的LED電壓電流特性不同
积分球原理
B L o .
当在球心中心点燃一光源时, 在球壁B点上的照度为:
E
2 4 r 1
由于光源是各向异性的,因此式中的第一项会因球 壁上的位置不同而相差很大,这样对测量不利。故 光度球测量时在光源与测量点之间设置一块挡屏, 以挡去直射光,这样上式就变成
•
•
光强度、光照度和光亮度的区别?
专题七 LED的参数及其测试技术
刘康
信息科学与工程学院2008届毕业设计论文
课程内容
第一部分 第二部分 第三部分 第四部分 电学参数 光色学参数 光强与发光角度 热学参数
第一部分 电学参数的测量
对于LED器件,一般常用的电学参数主要有:正向直流 电流、正向直流电压、反向漏电流和反向电压等。 (1)正向工作电流 由于正向的电压变化不大,所以正向 电流变化时,一方面耗散功率的变化,另一方面会引起我 们最关心的发光强度的变化。因此,可以通过正向工作电 流说明器件的发光强度,或者就把它作为发光强度的一种 间接表示。 (2)正向工作电压 一般指在一定的正向工作电流条件下的 正向压降。随的变化而稍有变化,其值也与温度有关,随 着温度的上升有所下降。其值视LED器件所用的半导体材 料的不同而不同,一般在1.4V至4V之间。 (3)反向漏电流 反向漏电流是LED器件处于反偏置时的 漏电流。按LED的常规规定,习惯指反向电压在5V是的反 向漏电流。 (4)反向电压 当反向偏压一直增加使V大于时,则出现突 然增加而出现击穿现象。由于所用半导体化合物材料种类 不同,各种LED的反向电压也不同。
LED热特性和寿命的检测技术

LED热特性和寿命的检测技术摘要:热学特性和寿命是LED的两大重要性能,受到人们的高度重视,且二者之间存在关联。
然而,对这两大性能参数的检测却具有挑战性。
本文根据国内外相关标准的要求和最新研究,综合分析了LED热特性参数和寿命指标的检测要求和方法,同时介绍了国内外的先进检测设备及特点。
1 概述近年来,LED照明技术快速发展,在LED的光效、色温、显色性等光色指标备受关注的同时,LED的热学特性和寿命也越来越受到人们的重视,特别是热学特性,对LED光色电的性能和寿命有着显著的影响。
然而,对热学特性和寿命的检测具有挑战性。
LED的热学特性主要包括LED结温、热阻、瞬态变化曲线(加热曲线、冷却曲线)等。
结温是指LED的PN结温度,热阻是指LED散热通道上的温度差与该通道上的耗散功率之比,用于表征LED的散热能力,研究表明,LED的热阻越低其散热性能越好,相应的LED光效一般也越高,寿命越长。
检测热学特性的关键在于对LED结温的准确测量,现有的对LED结温的测试一般有两种方法:一种是采用红外测温法测得LED芯片表面的温度并视其为LED的结温,但是准确度不够;另一种是通过温度敏感参数(temperature-sensitive parameter,简写为TSP)获取PN结温,这是目前较普遍的LED结温测试方法,其技术难点在于对测试设备要求较高。
LED的寿命主要表现为它的光衰,通常把LED光输出衰减到初始光输出的70%或50%作为判断寿命失效的指标,即光通量维持寿命。
但由于LED是高可靠性器件,寿命一般都会超过几千小时甚至是一万多小时,直接测量等待光衰到指定值的做法在工业上的应用十分困难。
2 LED热学特性测试2.1 LED结温和热阻的测量美国EIA/JESD51 《Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages 》系列标准和国家标准SJ20788-2000 《半导体二极管热阻抗测试方法》、GB/T4023-1997《半导体器件分立器件和集成电流第2部分:整流二极管》、QB/T 4057-2010《普通照明用发光二极管性能要求》等国际国内标准都较为详细地介绍了通过温度敏感参数TSP测量结温和热阻的方法。
LED电学光学热学特性参数

LED主要参数及电学、光学、热学特性LED电子显示屏是利用化合物材料制成pn结的光电器件。
它具备pn结结型器件的电学特性:I-V特性、C-V特性和光学特性:光谱响应特性、发光光强指向特性、时间特性以及热学特性。
1、LED电学特性1.1 I-V特性表征LED芯片pn结制备性能主要参数。
LED的I-V特性具有非线性、整流性质:单向导电性,即外加正偏压表现低接触电阻,反之为高接触电阻。
如左图:(1) 正向死区:(图oa或oa′段)a点对于V0 为开启电压,当V<Va,外加电场尚克服不少因载流子扩散而形成势垒电场,此时R很大;开启电压对于不同LED其值不同,GaAs为1V,红色GaAsP为1.2V,GaP为1.8V,GaN为2.5V。
(2)正向工作区:电流IF与外加电压呈指数关系IF = IS (e qVF/KT –1) -------------------------IS 为反向饱和电流。
V>0时,V>VF的正向工作区IF 随VF指数上升IF = IS e qVF/KT(3)反向死区:V<0时pn结加反偏压V= - VR 时,反向漏电流IR(V= -5V)时,GaP为0V,GaN为10uA。
(4)反向击穿区V<- VR ,VR 称为反向击穿电压;VR 电压对应IR为反向漏电流。
当反向偏压一直增加使V<- VR时,则出现IR突然增加而出现击穿现象。
由于所用化合物材料种类不同,各种LED的反向击穿电压VR也不同。
1.2 C-V特性鉴于LED的芯片有9×9mil (250×250um),10×10mil,11×11mil (280×280um),12×12mil (300×300um),故pn结面积大小不一,使其结电容(零偏压)C≈n+pf左右。
C-V特性呈二次函数关系(如图2)。
由1MHZ交流信号用C-V特性测试仪测得。
1.3 最大允许功耗PF m当流过LED的电流为IF、管压降为UF则功率消耗为P=UF×IFLED工作时,外加偏压、偏流一定促使载流子复合发出光,还有一部分变为热,使结温升高。
LED热特性和寿命的检测技术

LED 热特性和寿命的检测技术
摘要:热学特性和寿命是LED 的两大重要性能,受到人们的高度重视,
且二者之间存在关联。
然而,对这两大性能参数的检测却具有挑战性。
本文
根据国内外相关标准的要求和最新研究,综合分析了LED 热特性参数和寿命
指标的检测要求和方法,同时介绍了国内外的先进检测设备及特点。
关键词:LED、热阻、结温、加速老炼、寿命
1 概述
近年来,LED 照明技术快速发展,在LED 的光效、色温、显色性等光色
指标备受关注的同时,LED 的热学特性和寿命也越来越受到人们的重视,特
别是热学特性,对LED 光色电的性能和寿命有着显着的影响。
然而,对热学
特性和寿命的检测具有挑战性。
LED 的热学特性主要包括LED 结温、热阻、瞬态变化曲线(加热曲线、
冷却曲线)等。
结温是指LED 的PN 结温度,热阻是指LED 散热通道上的
温度差与该通道上的耗散功率之比,用于表征LED 的散热能力,研究表明,LED 的热阻越低其散热性能越好,相应的LED 光效一般也越高,寿命越
长。
检测热学特性的关键在于对LED 结温的准确测量,现有的对LED 结温
的测试一般有两种方法:一种是采用红外测温法测得LED 芯片表面的温度并
视其为LED 的结温,但是准确度不够;另一种是通过温度敏感参数(temperature-sensitive parameter,简写为TSP)获取PN 结温,这是目前较普遍的LED 结温测试方法,其技术难点在于对测试设备要求较高。
LED 的寿命主要表现为它的光衰,通常把LED 光输出衰减到初始光输出。
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热阻基本概念
LED热学设计的目的在于预 言LED芯片的结温,所谓结 温是指LED芯片PN结的温 度。
热阻定义为热流通道上的温度差与通道上耗散功率 之比
LED热学参数测试研究
Thermal Resisitance & Thermal Impedance
LED热学参数测试研究
瞬态和稳态热阻
LED结温测量的电试验法
在和相系低 正 关 数正向系,单向电数位电压K: 即流增C温时量/度m,成v-线P-电N性结压相温敏关升感。♣♣♣开开开正关关关向置置置电121压,,,加快快VH电速速流加加I上电M,加流测热I得M,电正测流向量I电正H,测压向量VFi。
电压VFf。 ♣ ΔVF=│ VFi-- VFf│
♣ 腔内尺寸为1 ft3,它与外部环境热隔离。通过前 面门可进入腔内部,提起插销后可打开门,插销放 置在腔外面。当完全闩栓住的时候,装在门上密 封材料被些微地压紧确保外部气流不进入腔内。 为测定腔内环境温度,把一个热电偶安装在后腔壁 上的塑料管内。它通常装备一个T型热电偶和超小 型联接器。
LED热学参数测试研究
path)中各个单个热阻之和。
JA
JS
SB
BA
JS
为芯片和芯片粘结剂到反射腔之间形成的热阻。
SB
为反射腔,环氧树脂到印刷板间的热阻。
BA
为印刷板和接触环境空气的热沉之间组合的热阻 JS
结温计算:
TJ TAP dJA
LED热学参数测试研究
多元LED热阻
多元LED产品的热阻可
以采用并联热阻的模型
➢半导体结与壳体或环境温度之间的 稳态条件需数秒或数分钟才能达到。 为提高效率,可以采用测量瞬态热阻 抗的方法。
➢定义在某一给定时刻的热阻为瞬态 热阻抗,瞬态热阻抗反映了传热体 的热惯性在热量传递的瞬变过程中 对热阻的改变。
LED热学参数测试研究
结-管壳热阻
PT T P T JC
J H
PfiJnCaPlTHJ
LED热学参数测试研究
LED热学参数测试研究
引言
LED器件的热学性能会直接影响到器件发 光效率、强度、光谱特性、工作稳定性和 使用寿命。因此对LED器件的热学参数进行 分析研究,采用标准化的方法进行测量, 满足检测中心和企业需要;同时为满足仲裁 测试、数据报告等组建公共测试平台, 开发 商业化的测量设备,这些都是半导体照明 工程中的一项关制环境的初始温 度稳定在接近室温的低温 (Tlow)状态,测量正向电压 Vlow。
JX
KVF IH VH
K a K b
LED热学参数测试研究
被测器件撤除加热电流的 瞬间,结温立即下降,但 是电压测K量 a和K读数需要一 定时间,因此 b 所获得的测 量数据有误差。通常要作 出被测器件的冷却曲线从 而对测量数据进行修正。
JX
KVF IH VH
K a K b
♣测速仪数字显示0.5m/s—
5m/s空气速度。 ♣试验区截面:20.3x20.3cm2 。
♣ T型热电偶固定在试验区中心
边墙上。
LED热学参数测试研究
LED热学模型
LED PN结内产生的LE热D热量学参从数测芯试研究片开始沿着下述热学通道传输:
LED热学模型
➢ 总热阻可以表示为从结-环境这一热路(thermal
流动空气环境热阻
JMA
♣固定在标准的热试验板上的芯片/管 壳组合在流动空气环境形成的热阻。
♣管壳顶上加热沉。 ♣可应用于测量计算在空气速度已知
的强迫对流环境的结温。
LED热学参数测试研究
WT-100 Wind Tunnel
♣测量流动空气(强迫对流)环境
芯片/管壳组合( JMA)和管
壳/热沉组合的热阻。 ♣空气从底部抽进从顶部排出。
来确定. 1
1 1
T_ o A t_ r a R r J l B a L y ( 1 E ) _ R J D B L( N E ) _ R D J B
R R R
J B
J S
S B
T_ o A 1 t_ r a R r J l B a L y ( 1 E ) 1 _ R J D B L( N E ) 1 _ R D J T B o _A tar_ lR r a J B yLE _E D N m _R i tJ B t
ΔTi =K·ΔVF TJ=TJi+ ΔTi
这里TJi是测量开始前LED结温 的初始温度。
LED热学参数测试研究
LED结温测量的电流电压波形
IM
选择至关重要。除取典 型值0.1,1.0,5.0,10.0毫
安外,可取伏安特性的
击穿点。
LED热学参数测试研究
热阻测试波形
LED热学参数测试研究
校准测量数据的冷却曲线
JA
H
T Ainitial
T Afinal
分别表示容器内一个限定 位T置Ainit的ial 热平衡初始和最终 温度。
LED热学参数测试研究
NC-100 Natural Convection Chamber
自然对流(静止空气) 热参数测量腔
LED热学参数测试研究
自然对流(静止空气)热测量腔
♣ 在标准化静止空气(对流)环境测量芯片/管壳( JA) 组合和管壳/热沉( JHS)组合的热阻օ
PTPifinnailTtPiianitlial
PH
H
PH
芯片耗散功率
♣ LED结到管壳之间形成的
热阻。
PH
♣要求一个无穷大热沉和管壳
顶面相接触。
TPinitial
T Pfin a l
热平衡初始管壳温度
热平衡最终管壳温度 JCPTHJ
TPfinalTPinitial PH
♣ 可以用内部嵌有热电偶的
大 块无氧铜替代。
1
1
1
T_ o A t_ r a R r J l B LE Da 热学L 参数测T y 试( 研o 1 究_ E ) A t_ a R r_ l R r a J J D BB yL E _ E D N m L _R i tJ B t( e N E r ) _ R D J B
C/mv
♣ 记录热沉的温度变化,达
到 稳态时测试。 LED热学参数测试研究
结-环境热阻
JA
♣ LED结到周围环 境形成的热阻。
♣测试时,器件放入 1立方英尺容器。
♣仅对自然对流冷却 环境估算结温有用。
T T T JA
JAPJTHJ
TAfAinfailTnAainlitiaAl initial PH
P P H