X-荧光法测定铁矿石中砷量方法改进

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X射线荧光光谱法在矿石分析中的应用研究

X射线荧光光谱法在矿石分析中的应用研究摘要：本论文旨在探讨X射线荧光光谱法（XRF）在矿石分析中的广泛应用，以及其在提高分析准确性、提高生产效率和优化矿石开采过程中的作用。

通过详细描述XRF原理、样品准备、分析方法、仪器校准和案例研究，论文将阐述XRF在矿石分析领域的重要性和潜在优势。

关键词：X射线荧光光谱法；矿石分析；仪器校准；元素含量；生产效率0引言矿石分析是矿业生产过程中的关键环节，准确测定矿石中各种元素的含量对于决策制定、质量控制和生产过程的优化至关重要。

X射线荧光光谱法（XRF）是一种广泛应用于矿石分析的仪器分析方法，其高准确性、高精密度和非破坏性的特点使其在矿业领域得到了广泛的认可和应用。

本论文将深入探讨XRF在矿石分析中的应用，并通过案例研究和仪器校准方法来评估其性能和潜在优势。

1XRF原理X射线荧光光谱法（XRF）是一种分析化学方法，利用X射线与样品的原子相互作用来测定样品中不同元素的含量。

其基本原理可分为以下几个步骤：（1）X射线源：XRF仪器通常包括一个X射线源，通常是X射线管。

这个源产生高能量的X射线。

（2）X射线照射：X射线源照射在待分析的样品上。

X射线具有足够高的能量，可以穿透样品表面并进入样品内部。

（3）原子激发：当X射线与样品中的原子相互作用时，部分X射线的能量会被样品中的原子吸收。

这会导致样品中的原子中的内层电子被激发到高能级。

（4）荧光辐射：一旦内层电子被激发，它们会不稳定，并迅速返回低能级。

在这个过程中，它们会释放出额外的能量，以形成X射线荧光辐射。

这些荧光X射线的能量和强度与被激发的元素类型和数量有关。

（5）荧光信号测量：XRF仪器配备了荧光探测器，用于测量荧光辐射的能谱。

能谱记录了不同能量的荧光X射线的强度。

（6）数据分析：通过分析荧光能谱，可以确定样品中各种元素的含量。

这是通过比较样品荧光信号的强度与已知标准样品的信号强度来实现的。

总结而言，XRF原理是基于X射线与样品原子相互作用，激发内层电子并测量荧光辐射的能谱来测定样品中不同元素的含量。

X射线荧光法测定铁矿石中多种元素分析方法的研究

X射线荧光法测定铁矿石中多种元素分析方法的研究近年来，随着工业化进程的加快，对矿石资源的需求日益增长。

为了更好地利用矿石资源，研究和开发高效准确的矿石分析方法变得尤为重要。

在铁矿石中，含有多种元素，而准确测定这些元素的含量对于矿石的加工和利用有着重要的意义。

本文将介绍一种常用的分析方法，X射线荧光法，用于测定铁矿石中多种元素的含量。

X射线荧光法是一种基于物质受X射线激发后产生特定能量的荧光辐射的原理进行分析的方法。

在这个方法中，样品首先受到X射线的激发，然后发出特定能量的荧光辐射。

样品中不同的元素会发出具有特定能量的荧光辐射，通过测量这些荧光的强度和能量，就可以确定样品中各种元素的含量。

X射线荧光法具有诸多优势。

首先，这种分析方法对样品的前处理要求较低，样品的形状和状态可以是固体、液体或粉末，有机和无机物质均可分析。

同时，这种方法具有非破坏性的特点，样品在测定前后不会发生结构性的变化，可以对同一样品进行多次测定。

此外，X射线荧光法可以同时测定多个元素，分析速度快，准确度高，可以满足工业生产的需求。

然而，X射线荧光法也存在一些缺点。

首先，这种方法对样品的含量范围有一定的限制，当元素的含量过高或过低时，可能会对测定结果产生干扰。

其次，样品中含有一些元素可能会对测定其他元素的结果产生干扰。

因此，在使用X射线荧光法进行分析时，需要对样品进行前处理和稀释，以保证测定结果的准确性。

为了提高X射线荧光法的分析准确性和灵敏度，可以采取一些改进措施。

首先，可以通过优化仪器的参数和选择合适的分析条件来提高分析的灵敏度。

其次，使用标准样品进行校正和校准，以减小仪器的误差和漂移，提高测定结果的准确性。

此外，还可以结合其他分析方法，如ICP-OES、ICP-MS等，进行互补分析，以获得更准确的结果。

综上所述，X射线荧光法是一种常用的测定铁矿石中多种元素含量的分析方法。

通过优化测定条件、校正校准和与其他方法联合分析，可以提高分析结果的准确性和灵敏度。

X荧光光谱法测定铁矿石中微量砷

０前言
１实验部分
砷是钢铁中的有害物质，作为钢铁中砷的主要来源之一，对铁矿石微量砷进行检测和控制成为钢铁生产的发展趋势。对于铁矿石中砷含量的检测，文献报道较多的有ＨＧ —ＡＡＳ、ＨＧ —ＡＦＳ，ＩＣＰ— ＡＥＳ，ＩＣＰ—ＭＳ等方法，这些方法具有灵敏度高、检出限可低至１．０—０．１ｕｇ·ｇ的特点，主要应用于痕量组分检测。ｘ荧光法对于铁矿石砷含量的检测，由于砷的测试范围本身处于微量痕量区域，且砷的ｘ荧光特征谱线的最灵敏线Ｋａ线存在严重叠谱干扰，几乎不能用于测试，只能采用次灵敏线Ａｓ— Ｋｂ作为测试谱线，使得砷的测试灵敏度有所下降，检测痕量范围时受到一定限制。
表２ＸＲＦ测量条件
１．４工作曲线绘制采用一系列铁矿石标准样品，按照上文样品制
备方法分别制备标准样品，并上机测量标准样品的强度，按照仪器的操作程序，绘制工作曲线。回归时，采用经典校正模型一次线模式。
将瓷坩埚中残留物定量移入铂金坩埚中，加ＩＪｉＢｒ
（２０％）４滴。将铂金坩埚中移人熔样机中进行熔
融。完成后取出，冷却至室温，检查测量面有无明显裂纹与气泡，裂纹与气泡明显时应重新称样熔融。
作者简介：王德全（１９７４一），男，１９９４年７月毕业Байду номын сангаас于青岛海洋大学生物学专业。高级工程师，主要从事理化检测工作。

X射线荧光法测定铁矿石中多种元素分析方法的研究

X射线荧光法测定铁矿石中多种元素分析方法的研究发表时间：2020-04-29T16:12:44.310Z 来源：《科学与技术》2019年第22期作者：张丽曹伟[导读] 铁矿石是钢铁行业中的重要材料，其质量和钢铁冶炼有着最直接的影响摘要：铁矿石是钢铁行业中的重要材料，其质量和钢铁冶炼有着最直接的影响，因此需要对铁矿石进行检测以充分了解各元素含量，保证铁矿石的质量。

X射线荧光法是经常使用的测定方法，但不同X射线荧光法对铁矿石元素分析也有所不同，文章主要对利用X射线荧光法分析铁矿石元素时的不同方法进行了分析，以全面、深入的了解X射线荧光法在铁矿石分析中的应用。

关键词：X射线荧光法；铁矿石；分析方法铁矿石是钢铁行业中的重要材料，其品质对钢铁行业产品的冶炼有着最直接的影响，因此钢铁行业在进行冶炼时需要对铁矿石质量进行检测以确保铁矿石的质量。

铁矿石检测时X射线荧光法是一种经常使用且测量时间相对较短、效果较好的一种方法。

本文针对X射线荧光法在测定铁矿石多种元素的分析方法进行了研究，以深入、全面的了解X射线荧光法在铁矿石检测中的应用。

如表1为X射线荧光分析铁矿石重点元素分析范围。

X射线荧光法是利用激发源对待测样品进行照射使其能够产生荧光射线，并利用X射线荧光仪对待测样品中的相关元素特征、照射量率等相关信息记录下来，通过相关记录对样品中的成分及含量进行分析和确定。

这种方法由于操作简单、用时较短等优点在多个行业和领域内如地质、生物、冶金、环保等得到了较为广泛的应用。

随着X射线荧光法应用的日益广泛，目前铁矿石各元素分析中也开始经常使用X射线荧光法这一方法。

但铁矿石元素检测时由于铁矿石对地域要求较大，不同地区的铁矿石中其质量差别很大，使得其中的矿物效应、物理效应等也有很大的不同，这些不同则影响了X射线荧光法对铁矿石的分析。

如经常使用的压片法其检测结果往往不精确。

但铁矿石成分检测时如果事先对铁矿石进行熔融稀释，则其中的杂质能有效的被消除，使得采用荧光法进行成分分析时其精确度能够有效提高。

熔融制样-X 射线荧光光谱法测定铁矿石中钾、铅、锌和砷

熔融制样-X 射线荧光光谱法测定铁矿石中钾、铅、锌和砷于青;王德全【摘要】采用熔融制样-X 射线荧光光谱法测定铁矿石中钾、铅、锌和砷的含量。

样品以四硼酸锂和碳酸锂为熔剂，在1050℃下熔融20 min，冷却后制成玻璃融片，用于 X 射线荧光光谱分析，以标准物质制作校准曲线。

方法应用于铁矿石标准样品（GSB 1805-2005）的测定，测定值与认定值相符，测定值的相对标准偏差（n＝10）在2．0％～4．5％之间。

%XRFS was applied to the determination of K,Pb,Zn and As in iron ore with sample preparation by fusion.The sample was fused at 1 050 ℃ for 20 min using Li2 BO4 and Li2 CO3 as flux.The glass discs prepared after cooling of the iron ore sample was used for XRFS analysis.Calibration curve was prepared with CRM.The proposed method was applied to the analysis of iron ore standard sample (GSB 1805 -2005),giving results in consistency with the certified value with RSD′s (n=10)in the range of 2.0%-4.5%.【期刊名称】《理化检验-化学分册》【年(卷),期】2014(000)011【总页数】3页(P1412-1414)【关键词】X 射线荧光光谱法;熔融制样;铁矿石;钾;铅;锌;砷【作者】于青;王德全【作者单位】山钢集团莱芜分公司炼铁厂，莱芜 271104;山钢集团莱芜银山型钢公司炼铁厂，莱芜 271104【正文语种】中文【中图分类】O657.34钾、铅、锌和砷是高炉炼铁的有害元素，对炼铁生产及环境保护危害较大，随高炉炼铁生产的科技进步和精益控制，检测和控制炼铁原料中的有害元素已经成为发展趋势。

铁矿石中铅、砷的X射线荧光光谱定性定量分析方法研究

ＩｓｅｔｎａｄＱｕｒｎｉｅＢｒａｎｐｃｉｎａａｔｕｅｕ，Ｔａｇｈｎ０３０ｏｎｎｓａ６００，Ｃｈｎ）ｉａ

Ａｂｔａｔｓｒｃ：Ｔｈｅｑａｉａｉｅｍｅｈｏｆｐｌｍｂｍｎｒｅｉｎｉｏｅｓｅｔｂｌｈｄｗｉｈｎ — ｕｌｔｔｖｔｄｏｕｕａｄａｓｎｃｉｒｎｏｒｓｗａｓａｉｅｔｏｎｓｓａａｄｓｍｐｅａａｙｉｅｈｌｇｙｏｒｙｆｕｏｅｃｎｃｐｅｔｏｍｅｒ．ＴｈｒｎｏｒｓｃｔｉｎｔｎｄｒａｌｎｌｓｓｔｃｎｏｏｆＸ— ａｌｒｓｅｅｓｃｒｔｙｅｉｏｅｏｎａｎｉｇｐｌｍｂｕｕｍｎｄａｓｎｉｌｍｅｓｃｎｂｃｕｒｔｌｉｅｅｔｈｅｍｅｈｏａｒｅｃｅｅｎｔａｅａｃａｅｙｆｌｒｄｗｉｈｔｔｄ．Ｔｈｅｉｓｏｆｓａａｄｔｅｓｒｅｔｎｄｒｉｏｅｓｍｐｌｓｃｎａｎｎｇｐｌｍｂｒｎｏｒａｅｏｔｉｉｕｕｍｎｄａｓｎｉｒｒｐａｅａａｒｅｃｗｅｅｐｅｒｄｂｙｓｍｐｌｄｔｏｎｍｅｈｄ．Ｘ— ｅａｄｉｉｔｏｒｙｆｕｒｓｅｅｓｅｔｏｅｒｔｏｄｗａｓｄｔｔｃｈｅｐｕｍｂｕａｄａｓｎｃｃｎｔｎｔｉｈｅａｌｏｅｃｎｃｐｃｒｍｔｙｍｅｈｓｕｅｏｄｅｅｔｔｌｍｎｒｅｉｏｅｎｔｉｏｒｓｗｈｉｈｗｅｅｆｌｅｅｙｔｏｎｓａｄｒａｐｅｎｙｓｓｍｅｈｏｒｎｏｅｃｒｉｔｒｄｂｈｅｎ — ｔｎａｄｓｍｌｓａａｌｉｔｄ，ａｄｔｅｍａｒｘｅｆｃｎｈｔｉｆｅｔｗａｏｒｃｅｙｕｉｇｔｅｖｒａｅｔｏｒｔｃｌａｃｅｆｃｅｔｍｅｈ．Ａｎｈｈｅｓｏｐｆａｐｌ — ｓｃｒｅｔｄｂｓｎｈａｉｂｌｈｅｅｉａｏｆｉｉｎｔｏｄｄｔｕｓｔｃｅｏｐｙｉｇＸ— ａｌｏｒｓｅｅｓｅｔｏｔｙｔｔｒｎｅｔｅｅｅｎｓｃｎｔｎｔｗａｘｅｄｄ，ｗｈｉｈｃｎｎｒｙｆｕｅｃｎｃｐｃｒｍｅｒｏｄｅｅｍｉｈｌｍｅｔｏｅｓｅｔｎｅｃａ

X射线荧光光谱法在矿石分析中的应用

X射线荧光光谱法在矿石分析中的应用摘要：矿物资源在人们生活和社会经济发展中发挥着重要作用，故我国一直在持续性的进行矿物资源开发与利用，但是矿物资源开发，需要以科学高效的矿石分析技术作为关键性的指导依据，由于传统的重量法等矿石分析检测方法存在操作繁琐、影响因素多等弊端，不仅难以实现理想的矿石分析检测工作效率，也无法有效保障分析结果的可靠性，因此本文重点探讨X射线荧光光谱法在矿石分析中的具体应用和实际应用过程中的注意事项，促进矿石分析技术的发展。

关键词：X射线荧光光谱法；矿石分析；技术应用引言在矿产行业现代化发展过程中，矿石分析检测方法也得到不断改进与创新，从而实现了矿石分析效率与精准度的显著提高，与传统的化学分析方法相比，X射线荧光光谱法的应用优势更为明显，该种分析方法属于非破坏性分析手段，具有便于操作、分析快速等特点，但是实际应用X射线荧光光谱法进行矿石分析作业时，一旦出现制样操作失误或是方法建立不当等情况，同样会导致矿石分析误差问题的出现，因此矿石分析检测工作人员应有效掌握X射线荧光光谱法操作流程与操作要点。

1X射线荧光光谱法基本原理X射线荧光光谱法原理是基态原子在吸收了特定频率辐射之后能够被激发达到了高能态，在激发的过程中会有特定波长的荧光被以光辐射形态发射出来，待测元素原子蒸汽被一定波长辐射能辐射，对该种状态下发射荧光强度进行测量，这是一种定量分析法。

在可见光区、紫外原子荧光波长气态自由原子通过对特征波长辐射的吸收之后，原子外层电子就可以自低能态或者是基态跃升到高能态，这个过程大约在8-10秒，之后会再恢复到低能态或者是基态，同时会发射荧光。

若原子荧光波长和吸收线波长是相同的这就被叫做共振荧光，若是不相同的话则叫做非共振荧光。

因为共振荧光强度比较大，我国矿石分析中应用的比较广泛，并且共振荧光技术具有灵敏度高的优点，另外其同时具有比较简单的谱线，低浓度条件下校准曲线线性范围宽能够到3-5个数量级，特别是激发光源选择激光的时候具备最好的效果。

X-荧光法测定铁矿石中砷量方法改进

仪器间比对结果也吻合，说明现有分析系统未出现异常。但是用其他方法进行比对分析，发
现原方法（ｘ一荧光法）析部分样品所坝结分０
果存在明显偏高现象，大部分样品比对结果则
吻合较好。经查，荧光法分析值偏高的样ｘ一
品铅砷含量比例较大，的批次高达３有８倍，
０５０，．０％质量百分数为０１５．０％时ＲＤ为１９％（Ｓ．９ｎ＝１）０。
自从２１０２年１月份起，厂铁矿石中砷、进
ＲＬ一２பைடு நூலகம் 自动熔样机。Ｙ０
１２仪器分析条件．
铅等有害元素含量较高，出现频次较大，我们
碘化锂。
用。通过改进现有分析条件，样以试６Ｌ：７３ＬＢ为熔剂，为内标元素，７ｉＯ：３ｉＯＢ钴
ＨＯ作氧化剂，化锂为脱模剂，ＡＫ３Ｎ碘用Ｓ［作
为分析线，用铜滤光片去除背景干扰，加选增
ａ称取６Ｌ２４７３ＬＢ２混合熔剂．７ｉＯ：３ｉＯＢ７００于Ｐ９％一Ａ５坩埚中，确至．００克ｔ５ｕ％精０００ｇ加人Ｃ２３基准物质０１０克．０２；ＯＯ．００（精确至０００ｇ。．０１）ｂ准确称取试样０５０．．００克于坩埚中，精确至０００ｇ混匀。．０１，ｃ加入２毫升ＨＯ（１４ｍ１，．Ｎ３ｐ．２）２滴

X—射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分测定

相对标准偏差 RSD
0.735 1.74 0.562 0.250 1.56 0.181 0.021 6.12
由表3得出各成分的精密l较好。
• 2.6 准确度 • 用本法分析标样及控样,各成分测定值与标准值（化学法）进行对照,结果见表4： • 表4得出：本法测定值与标准值一致，能满足分析允许差要求。
钒钛精矿GBW07226a 铁矿W－92302 褐铁矿11-295
52.66 43.86 47.12
从上表可看出，两种校正方法测得TFe值符合较好，在实际生产中，考虑快速、简便的原则，一般选用方法2校正，但对含渣铁的样品则用方法1校正。
• 2.5 精密度 • 采用本实验方法选取一个生产样熔融制备成10个样片，在X射线荧光光谱仪上测定各成分含量，通过数据统计处理计算出各成分含量的平均值、标准偏差、相对标准偏差。见表3
• 表3 各分析成分的精密度
分析成分 Component
SiO2 Al2O3 CaO TFe MgO V2O5 TiO2 P
平均值 Average
3.10 1.219 0.641 63.13 2.73 0.386 7.56 0.0147
标准偏差 S
0.0228 0.0212 0.0036 0.1579 0.0427 0.0007 0.0016 0.0009
表2 全铁校正结果
样品 Sample 灼烧减(增)量% loss(increment) on ignition 1.50(（增量） 0.81（减量） 8.17（减量）测定值 Found % 方法1 Method 1 52.56 43.96 47.20 方法2 Method 2 52.59 43.98 47.24 标准值 Certified％

对原子荧光测砷的方法的改进

对原子荧光测砷的方法的改进原子荧光分析是一种广泛应用于环境监测、食品安全和医学领域的化学分析方法。

这种方法可以快速、准确地测量样品中特定元素（如砷）的含量。

然而，对原子荧光测砷的方法仍然存在一些限制和缺点。

为了改进这些方法，可以采取以下措施：1.优化样品前处理方法：样品前处理是原子荧光分析的一个关键步骤。

目前常用的样品前处理方法包括溶解、提取、富集等。

改进的方法应该尽可能地减少样品前处理过程中的损失和干扰，并提高其灵敏度和选择性。

2.提高测量仪器的灵敏度和准确性：现代原子荧光仪器通常具有较高的灵敏度和准确性，但仍然可以通过改进仪器的光学和电子元件来进一步提高其性能。

例如，可以使用更高功率的激发源，使用更灵敏的探测器，并调整光学路径以提高仪器的灵敏度和检测限。

3.开发新的荧光探针：荧光探针是原子荧光分析的核心部分，它直接影响测量的灵敏度和选择性。

目前存在的探针对砷元素的选择性不够高，容易受到干扰物质的影响。

因此，研发新的荧光探针可以改善测砷方法的选择性和灵敏度。

4.降低分析过程中的干扰：在原子荧光分析中，往往存在样品基质的干扰。

这些干扰物质可能来自于样品本身或者分析过程中产生的干扰。

为了降低这些干扰，可以采取一些措施，如选择合适的干扰校正方法、加入掩蔽剂或选择更适合的测量条件等。

5.探索新的仪器和技术：随着科技的发展，新的仪器和技术不断涌现，为原子荧光分析提供了更多可行的选择。

例如，可以考虑采用激光诱导击穿光谱（LIBS）、电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）等方法来替代传统的原子荧光分析方法，以提高测量的灵敏度和准确性。

综上所述，对原子荧光测砷的方法的改进可以通过优化样品前处理方法、提高测量仪器的性能、开发新的荧光探针、降低分析过程中的干扰以及探索新的仪器和技术等途径来实现。

这些改进将提高原子荧光分析方法对砷元素的测量能力，为环境监测、食品安全和医学领域等提供更加可靠和准确的数据支持。

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个，按步骤“ ａ．ｂ．Ｃ．ｄ ” 熔片，绘制工作曲线。２．３．３样品分析
ａ．漂移校正：选用与试样含量和组分接近的样品进行仪器漂移校正。漂移校正结果的检查：
碘化锂，５００ｇ／Ｌ；硝酸，２００ｍｌ／Ｌ；扫描型ｘ一荧光仪，型号：ＺＳＸｐｉｆｍｕｓ Ⅱ，日本理学；ＲＹＬ一０２型自动熔样机。
锂。
ｄ．置人熔样机，１０５０￣Ｃ预热氧化３— ５分钟，
光片去除背景干扰，增加ｘ一光管功率，实现强干扰情况下ｘ一荧光法与其他元素同时测定铁矿石
中砷量。
边加热边摇动ｌ２分钟，铸模，冷却，目测检查样片是否有未熔解物、裂缝、气泡或结晶等缺陷，贴标签，装袋，置于干燥器存放；使用完的坩埚用热硝酸（２００ｍｌ／Ｌ）浸煮，清洗干净后烘干待用。
２．２仪器分析条件：
做完漂移校正后，检查系数是否接近于ｌ，如果没有，查明原因后重新做漂移校正。
ｂ．检查样品：选样品，每次需随同试样熔片，测定。
做完检查样品后，检查分析结果与标准值是否在控制范围内，如果没有，查明原因后重新分析。Ｃ．试样分析：按步骤 “ ２．３．１中 ” 熔片，经
２．３．２工作曲线绘制
２实验部分
２．１仪器与试剂
选用能覆盖样品含量范围的标准样品５～６
６７Ｌｉ２Ｂ４０７：３３ＬｉＢＯ２混合熔剂；
Ｃｏ２Ｏ３，基准试剂；
ＨＮＯ３，ｐ１．４２ｇ／ｍｌ；
２．３分析步骤
２．３．１玻璃熔片
素较高，出现频次较大，对该类型样品复查，发现试样重测结果与原结果无明显差异，标准样品分
析符合要求，不同仪器问比对结果也吻合，说明现有分析系统未出现异常。但是用其他方法进行比对分析，发现原方法（ｘ一荧光法）分析部分样品
ＰＨＤ．２０：仪器自动扫描测试。
ａ．称取６７Ｌｉ２Ｂ４０７：３３ＬｉＢＯ２混合熔剂７．００００克于Ｐｔ９５％一Ａｕ５％坩埚中，精确至０．０００２ｇ；加入ＣＯＯ，基准物质０．１０００克（精确
ＰＨＡ调节和检查样品分析结果合格后开始试样
管电流：５０ｍＡ；管电压：７０ｋＶ；
．
２６・
至０．０００１ｇ）。
所测结果存在明显偏高现象，大部分样品比对结果则吻合较好。经查，ｘ一荧光法分析值偏高的样品铅砷含量比例较大，有的批次高达３８倍，Ｐｂ线明显干扰ＡｓＫａ，砷的测定值高于实际值，说明当前分析条件对该类样品检测已不适用。通过改进现有分析条件，试样以６７ＬｉＢ４０：
２０１４年第３期
涟钢科技与管理
Ｘ一荧光法测定铁矿石中砷量方法改进
原材料检验中心赵小元苏红梅
摘要
龙
芬肖星
谭
卉
通过改进现有分析条件，实现强干扰情况下用ｘ一荧光法与其他元素同时测定铁矿石中砷量。本法
适用于铁矿石、铁精矿、烧结矿、球团矿等含铁物料中砷的测定。含量范围０．０１０％一０．５００％，质量百分数
为０．１０５％时ＲＳＤ为１．９９％（ｎ＝１０）。
ｌ前言
今年一月份起，进厂铁矿石中砷、铅等有害元
分析线：ＡｓＫＢ；滤光片：Ｃｕ滤光片；视野光栏：３０ａｒｍ；分光晶体：ＬｉＦ；狭缝：标准型；探测器：闪烁计数器；准直器：ｓ２；
３３ＬｉＢＯ：为熔剂，钴为内标元素，ＨＮＯ３作氧化剂，碘化锂为脱模剂，用ＡｓＫＢ作为分析线，选用铜滤
ｂ．准确称取试样０．５０００克于坩埚中，精确
至０．０００１ｇ，混匀。
Ｃ．加入２毫升ＨＮＯ３（ｐ１．４２ｇ／ｍ１），２滴碘化