材料的电学性能测试
材料的电学性能与测试方法
材料的电学性能与测试方法引言：材料的电学性能是指材料在电场或电流作用下的响应和性质。
了解材料的电学性能对于材料的研究和应用具有重要意义。
本文将介绍几种常用的测试材料电学性能的方法。
一、电导率测试方法电导率是衡量材料导电性能的重要指标，其测试方法如下：1. 电导率测量仪器：使用四探针测试仪或电导率仪进行测量。
2. 测量步骤：将待测试材料切割成适当的样品尺寸，保持样品的几何形状和尺寸稳定。
然后将四个电极按照规定的间距连接到材料上，并确保电极与材料之间的良好接触。
最后，通过测试仪器施加电流并测量电压，根据欧姆定律计算得出材料的电导率。
二、介电常数测试方法介电常数是材料在电场中对电场强度的响应能力，测试方法如下：1. 介电常数测量仪器：使用恒流恒压法或绝缘材料测试仪进行测量。
2. 测量步骤：将待测试材料加工成平板状或柱形状样品，保证样品的几何形状和尺寸稳定。
然后将测试仪器中的电极引线与样品连接，确保电极与材料的良好接触。
接下来，在测试仪器中施加电流和电压，测量得到材料的介电常数。
三、热释电测试方法热释电是指材料在电场作用下产生的热能释放，其测试方法如下：1. 热释电测量仪器：使用热释电测试仪进行测量。
2. 测量步骤：将待测试材料切割成适当的样品尺寸，保持样品的几何形状和尺寸稳定。
然后将样品放置在测试仪器中，施加电场。
测试仪器会测量样品在电场下产生的温升，根据温升和已知的电场强度计算得出材料的热释电性能。
四、电阻温度系数测试方法电阻温度系数是指材料电阻随温度变化的程度，其测试方法如下：1. 电阻温度系数测量仪器：使用四探针测试仪或电阻测量仪进行测量。
2. 测量步骤：将待测试材料切割成细丝或片状样品，保持样品的几何形状和尺寸稳定。
然后将四个电极按照规定的间距连接到样品上，并确保电极与材料之间的良好接触。
接下来，在测试仪器中施加电流并测量电阻，随后在不同温度下重复测量电阻值。
最后，根据电阻值和温度变化计算得出材料的电阻温度系数。
材料物理性能学之材料的电性能
材料物理性能学之材料的电性能引言材料的电性能是材料物理性能学的一个重要研究分支，它研究的是材料在电场、电流和电磁波等电学环境下的行为和性能。
材料的电性能对于材料的应用具有关键影响，比方在电子学、能源转换和传感器等领域中起着重要作用。
本文将探讨材料的电性能的根本概念、测试方法和常见的应用。
1. 电导率电导率是材料的一个根本电学性能参数，表示材料导电能力的强弱。
它常用符号σ表示，单位为S/m〔西门子/米〕。
电导率的量值越大，材料越好的导电性能。
电导率可以通过测量材料的电阻率来计算。
2. 电阻率电阻率是材料对电流流动的阻碍能力的度量，常用符号ρ表示，单位为Ω·m。
电阻率和电导率是一对相互关联的物理量，它们之间的关系可以用以下公式表示：ρ = 1/σ。
电阻率可以通过测量材料的电阻来得到。
3. 介电性能除了导电性能，材料还具有介电性能。
介电性能是材料对电场的响应能力的度量。
具有良好介电性能的材料可以阻止电流的流动，并被广泛应用于电容器、绝缘材料和电子设备等领域。
介电性能可以通过测量材料的介电常数来评估。
4. 介电常数介电常数是材料在电场中响应的能力的度量，常用符号ε表示。
介电常数可分为静电介电常数和动态介电常数。
静电介电常数表示在静电场中材料的响应能力，而动态介电常数那么表示在交变电场中材料的响应能力。
介电常数越大，材料对电场的响应能力越强。
5. 半导体材料的特性半导体材料是一类介于导体和绝缘体之间的材料，它具有特殊的电性能。
半导体材料的电导率较低，但随着温度的升高会逐渐增大。
半导体材料的导电性能可以通过添加杂质来调控，从而实现半导体器件的制造。
6. 材料的应用材料的电性能对于众多领域的应用至关重要。
在电子学领域中，导电性能好的材料可以用于制造电路和导线等电子元器件。
在能源转换领域中，材料的电性能对太阳能电池和燃料电池等能源转换器件的效率和稳定性有重要影响。
在传感器领域中，材料的电性能可以用于制造压力传感器、温度传感器和湿度传感器等。
热电材料的性能测试和优化研究
热电材料的性能测试和优化研究1.引言热电材料是一种可以将热能转化为电能或者反过来，将电能转化为热能的功能性材料。
热电材料在能源转化领域具有重要的应用价值，如热电器件、太阳能电池等。
热电材料的性能测试和优化是其应用的关键研究内容，在本篇文章中，我们将详细介绍热电材料的性能测试和优化研究。
2. 热电材料的性能测试热电材料的性能测试主要包括电学性能测试和热学性能测试两个方面。
2.1 电学性能测试电学性能测试是指对热电材料的电学特性进行测试。
电学特性主要包括电导率、霍尔系数和电阻率等。
电导率是指材料单位长度内导电的能力，通常用电导率的倒数——电阻率来表示。
电阻率的测量方法包括四探针法和两探针法。
霍尔系数是材料在磁场作用下电子输运的参量之一，可以用来计算载流子浓度和类型。
测量霍尔系数的方法有DC霍尔效应、AC霍尔效应和旋转霍尔效应等。
2.2 热学性能测试热学性能测试是指对热电材料的热学性质进行测试。
热学性质主要包括热导率、Seebeck系数和功率因子等。
热导率指热量通过单位时间内材料单位截面积的能力，通常用热阻值的倒数——热导率来表示，热导率的测量方法有热板法、热线法和热流法等。
Seebeck系数是指热电材料在温度梯度作用下产生电势差的比例系数。
测量Seebeck系数的方法有热电流法、恒温法和温差法等。
功率因子是以Seebeck系数为基础定义的综合参数，用来描述热电材料的电热转换效率，通常用来评价热电材料的性能。
3. 热电材料的性能优化在热电材料的应用过程中，热导率、Seebeck系数和功率因子是最重要的性能参数，因此，优化这些性能参数成为热电材料性能优化的重要研究方向。
3.1 热导率优化热电材料的热导率过高会导致热能的快速损失，从而降低了热电能的转化效率。
因此，热导率的降低是热电材料的性能优化的关键目标之一。
目前热导率的优化方法主要包括增加界面的散热面积、杂质散射、纳米结构优化等。
3.2 Seebeck系数优化Seebeck系数是衡量热电材料电转换效率的重要参数，其优化方法主要包括化学合成方法和调制电子结构等方法。
化学领域中的材料性能测试方法
化学领域中的材料性能测试方法材料性能测试是化学领域中至关重要的一项工作。
它对于研发和制造各种化学材料，如金属、塑料、橡胶、高分子材料等，具有重要的指导作用。
通过材料性能测试，可以评估材料的力学性能、热学性能、电学性能、光学性能等，为材料的研发和应用提供科学依据。
1. 力学性能测试方法力学性能是材料工程中最常见的性能之一，主要包括材料的强度、韧性、硬度等指标。
常用的力学性能测试方法有拉伸试验、压缩试验、弯曲试验等。
拉伸试验是一种常见的力学性能测试方法，通过对试样施加正向力来测定材料的抗拉强度、屈服强度和延伸率等。
压缩试验用于测定材料的抗压强度和变形特性，常用于金属和陶瓷材料的测试。
弯曲试验则用于测定材料的弯曲强度和弯曲模量。
2. 热学性能测试方法热学性能测试涉及材料的导热性、热膨胀性等性能指标。
导热性测试是一种常用的热学性能测试方法，主要用于测定材料的导热系数。
常见的导热性测试方法有热传导仪法和热释电法等。
热膨胀性测试用于测定材料的线膨胀系数和体膨胀系数，常见的测试方法有膨胀仪法和激光干涉法等。
3. 电学性能测试方法电学性能测试是研究材料的电导率、介电常数等电学性质的方法。
电导率测试是电学性能测试中的重要方法之一，用于测定材料的电导率和电阻率。
常用的电导率测试方法有四探针法、电导率仪器法等。
介电常数测试用于测定材料在电场作用下的电导率和介电耗散因子，常见的测试方法有介电分析法和介电谐振法等。
4. 光学性能测试方法光学性能测试主要用于研究材料的光学特性，如折射率、透射率、反射率等。
透射率测试是光学性能测试中的一种常用方法，用于测定材料对光的透明程度。
反射率测试用于测定材料对光的反射能力，常见的测试方法有透射—反射法和半球积分法等。
折射率测试用于测定材料在光场中的折射性能，常用的测试方法有折射光栅法和竖直玻璃分杯法等。
总结而言，化学领域中的材料性能测试方法涵盖了力学性能、热学性能、电学性能和光学性能等多个方面。
纳米材料的电化学性能测试方法
纳米材料的电化学性能测试方法引言：随着纳米科技的不断发展与应用，纳米材料在各个领域展现出了广泛的应用前景。
电化学性能测试是评估纳米材料在电化学设备中的表现的重要方法之一。
本文将介绍纳米材料的电化学性能测试方法，以及相关技术和仪器的应用。
1. 纳米材料的电化学性能测试方法的分类电化学性能测试方法可以分为静态和动态两种。
静态测试方法主要用于测量材料的电化学特性，例如电容、电导率和电阻等参数。
动态测试方法主要用于测量材料在电化学循环中的性能，例如电化学稳定性、电化学容量和充放电效率等参数。
2. 静态测试方法2.1 电容与电导率测试电容与电导率是评估纳米材料导电性能的重要参数。
常用的测试方法有四探针法和电化学阻抗谱法。
四探针法通过测量纳米材料的电阻和几何尺寸来计算电导率。
电化学阻抗谱法则是通过测量纳米材料在交流信号下的阻抗来计算电导率和电容。
这两种方法可以有效评估纳米材料的导电性能，提供详细的电化学特性。
2.2 电阻测试电阻测试是评估纳米材料导电性能的常用方法之一。
通常使用四探针法和Kelvin探针法对纳米材料的电阻进行测量。
四探针法是通过在纳米材料上施加电压，再根据测得的电流和电压计算电阻值。
Kelvin探针法则是通过使用一个独立的探针，将电流与电压测量引线分开，避免了测量误差。
这些方法都能够准确地测量纳米材料的电阻，并为纳米材料的性能评估提供参考。
3. 动态测试方法3.1 电化学稳定性测试电化学稳定性测试是用于评估纳米材料在电化学循环中的耐久性和稳定性的重要方法。
常用的测试方法包括循环伏安法和恒流充放电法。
循环伏安法通过在纳米材料上施加变化的电压信号，测量纳米材料的电流响应，进而评估纳米材料的电化学稳定性。
恒流充放电法则是通过在纳米材料上施加恒定电流，测量充电和放电过程中的电压变化，以评估纳米材料的电化学稳定性。
这些方法可以帮助研究人员确定纳米材料的电化学性能在不同循环次数下的变化情况。
3.2 电化学容量测试电化学容量测试是评估纳米材料在充放电过程中的电容性能的重要方法。
材料的电学性能测试实验报告
材料的电学性能测试,实验报告实验报告：材料的电学性能测试一、引言材料的电学性能是决定其在不同应用中的关键因素。
本实验报告主要介绍几种基本的电学性能测试方法，包括电阻率测试、绝缘电阻测试和介电常数测试，并通过具体实验示例对这些方法进行详细阐述。
二、实验材料与方法1.电阻率测试电阻率是衡量材料导电性能的参数，可通过四探针法进行测量。
四探针法的基本原理是：当四个探针在材料上施加一定的电流时，通过测量两对探针之间的电压降，可以计算出材料的电阻率。
2.绝缘电阻测试绝缘电阻是衡量材料绝缘性能的重要参数，可采用直流电压源和电流表进行测量。
基本原理是：在材料两端施加一定的直流电压，然后测量流过材料的电流大小，通过计算可得材料的绝缘电阻值。
3.介电常数测试介电常数是衡量材料介电性能的参数，可采用LCR数字电桥进行测量。
LCR数字电桥具有测量精度高、读数稳定等优点。
基本原理是：在材料上施加一定频率的交流电压，测量通过材料的电流及相位差，通过计算可得材料的介电常数值。
三、实验结果与分析1.电阻率测试结果与分析在本次实验中，我们选取了铜、镍和铝三种材料进行电阻率测试。
实验结果表明，铜的电阻率最低，具有良好的导电性能；而铝和镍的电阻率较高，相对而言导电性能较弱。
2.绝缘电阻测试结果与分析在本次实验中，我们选取了聚乙烯、聚氯乙烯和橡胶三种材料进行绝缘电阻测试。
实验结果表明，橡胶的绝缘电阻最高，具有最好的绝缘性能；而聚乙烯和聚氯乙烯的绝缘电阻相对较低，相对而言绝缘性能较弱。
3.介电常数测试结果与分析在本次实验中，我们选取了聚酰亚胺、聚碳酸酯和聚酯三种材料进行介电常数测试。
实验结果表明，聚酰亚胺的介电常数最高，具有较好的介电性能；而聚酯的介电常数相对较低，相对而言介电性能较弱。
四、结论本次实验通过电阻率测试、绝缘电阻测试和介电常数测试三种方法对不同材料的电学性能进行了评估。
实验结果表明：在导电性能方面，铜具有最好的导电性能，而铝和镍相对较弱；在绝缘性能方面，橡胶具有最好的绝缘性能，而聚乙烯和聚氯乙烯相对较弱；在介电性能方面，聚酰亚胺具有较好的介电性能，而聚酯相对较弱。
纳米科技材料的性能测试方法与技巧
纳米科技材料的性能测试方法与技巧纳米科技材料是具有纳米尺度的特殊材料，其性能的测试对于研究和应用具有重要意义。
本文将介绍一些常用的纳米科技材料性能测试方法与技巧，帮助读者更好地了解和掌握这些测试方法。
一、力学性能测试力学性能测试是评估纳米科技材料力学特性的重要方法。
常用的力学性能测试方法包括拉伸、压缩、弯曲、硬度等测试。
1. 拉伸测试拉伸测试用于确定材料的强度、延展性和刚性等。
该测试方法通过施加外力，引起材料的断裂，测量材料在断裂之前的最大应力和应变。
常用的设备有万能试验机，测试时应注意选取适当的试样尺寸和测试速度，以确保测试结果的准确性。
2. 压缩测试压缩测试用于评估材料的抗压强度和压缩变形性能。
该测试方法通过施加外部压力，使材料发生压缩变形，测量应力和应变。
常用的设备有压缩试验机，测试时应注意控制加载速度和选择合适的加载方式，避免试样产生脱离和侧向变形。
3. 弯曲测试弯曲测试用于评估材料的弯曲强度和柔韧性。
该测试方法通过在材料上施加弯曲力，测量应力和应变。
常用的设备有弯曲试验机，测试时应注意选择适当的试样尺寸和加载方式，以确保测试结果的准确性。
4. 硬度测试硬度测试用于评估材料的硬度和耐磨性能。
常用的硬度测试方法有布氏硬度、洛氏硬度、维氏硬度等。
测试时应注意选择合适的压头和测试条件，以确保测试结果的准确性。
二、热学性能测试热学性能测试是评估纳米科技材料导热性能的重要方法。
常用的热学性能测试方法包括热导率测试、热膨胀测试等。
1. 热导率测试热导率测试用于评估材料的导热性能。
常用的测试方法有热盘法、热线法、激光闪热法等。
测试时应注意控制样品的尺寸和温度梯度，以确保测试结果的准确性。
2. 热膨胀测试热膨胀测试用于评估材料在温度变化下的线性膨胀系数。
常用的测试方法有热机械分析法、激光干涉法等。
测试时应注意控制温度梯度和样品尺寸，以确保测试结果的准确性。
三、电学性能测试电学性能测试是评估纳米科技材料导电性能的重要方法。
超导材料的电学性能测试方法
超导材料的电学性能测试方法超导材料是一类具有非常低电阻的材料，能够在低温下实现电流的无阻碍传输。
这种特殊的电学性能使得超导材料在能源传输、磁场应用和量子计算等领域具有巨大的潜力。
然而，为了实现超导材料的应用，我们首先需要准确地测试和评估其电学性能。
本文将介绍几种常见的超导材料电学性能测试方法，并探讨它们的原理和应用。
一、电阻率测量电阻率是评估超导材料电学性能的重要指标之一。
电阻率测量方法可以通过四探针法、交流电桥法和霍尔效应等多种方式进行。
四探针法是一种常用的电阻率测量方法。
它利用四个电极分别施加电压和测量电流，通过测量电流和电压之间的关系来计算电阻率。
这种方法可以排除电极接触电阻对测量结果的影响，提高测试的准确性。
交流电桥法是另一种常见的电阻率测量方法。
它利用交流电桥的平衡条件来测量电阻率。
通过调节电桥上的电阻和电容，使得电桥平衡，即电桥两侧电压相等。
通过测量电桥平衡时的电容和电阻值，可以计算出样品的电阻率。
霍尔效应测量方法则主要用于测量材料的电导率和载流子浓度。
霍尔效应是指当一个电流通过垂直于磁场的材料时，会在材料中产生横向的电场。
通过测量这个横向电场和施加的电流，可以计算出材料的电导率和载流子浓度。
二、临界温度测量超导材料的临界温度是指材料从超导态转变为正常导体态的温度。
临界温度是评估超导材料性能的重要指标之一。
目前常用的临界温度测量方法主要包括电阻率测量法和磁化率测量法。
电阻率测量法通过测量超导材料的电阻率随温度变化的情况来确定临界温度。
在超导态下，材料的电阻率非常低，而在临界温度以上，电阻率会迅速增加。
通过测量电阻率-温度曲线的变化，可以准确地确定临界温度。
磁化率测量法则是通过测量超导材料在外加磁场下的磁化率来确定临界温度。
在超导态下，材料对外加磁场的磁化率为零，而在临界温度以上，磁化率会突然增加。
通过测量磁化率-温度曲线的变化，可以确定临界温度。
三、超导电流测量超导材料的超导电流是指在超导态下能够通过材料的最大电流。
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材料科学实验讲义(一级实验指导书)东华大学材料科学与工程中心实验室汇编2009年7月一、实验目的按照导电性能区分，不同种类的材料都可以分为导体、半导体和绝缘体三大类。
区分标准一般以106Ω⋅cm和1012Ω⋅cm为基准，电阻率低于106Ω⋅cm称为导体，高于1012Ω⋅cm称为绝缘体，介于两者之间的称为半导体。
然而，在实际中材料导电性的区分又往往随应用领域的不同而不同，材料导电性能的界定是十分模糊的。
就高分子材料而言，通常是以电阻率1012Ω⋅cm为界限，在此界限以上的通常称为绝缘体的高分子材料，电阻率小于106Ω⋅cm称为导电高分子材料，电阻率为106 ～1012Ω⋅cm常称为抗静电高分子。
通常高分子材料都是优良的绝缘材料。
通过本实验应达到以下目的：1、了解高分子材料的导电原理，掌握实验操作技能。
2、测定高分子材料的电阻并计算电阻率。
3、分析工艺条件与测试条件对电阻的影响。
二、实验原理1、电阻与电阻率材料的电阻可分为体积电阻(R v)与表面电阻(R s)，相应的存在体积电阻率与表面电阻率。
体积电阻：在试样的相对两表面上放置的两电极间所加直流电压与流过两个电极之间的稳态电流之商；该电流不包括沿材料表面的电流。
在两电极间可能形成的极化忽略不计。
体积电阻率：在绝缘材料里面的直流电场强度与稳态电流密度之商，即单位体积的体积电阻。
表面电阻：在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商；该电流主要为流过试样表层的电流，也包括一部分流过试样体积的电流成分。
在两电极间可能形成的极化忽略不计。
表面电阻率：在绝缘材料的表面层的直流电场强度与线电流密度之商，即单位面积的表面电阻。
体积电阻和表面电阻的试验都受下列因素影响：施加电压的大小和时间；电极的性质和尺寸；在试样处理和测试过程中周围大气条件和试样的温度、湿度。
高阻测量一般可以利用欧姆定律来实现，即R=V/I。
如果一直稳定通过电阻的电流，那么测出电阻两端的电压，就可以算出R的值。
同样，给被测电阻施加一个已知电压，测出流过电阻的电流，也可以算出R的值。
问题是R值很大时，用恒流测压法，被测电压V=RI将很大。
若I=1μA，R=1012Ω，要测的电压V=106V。
用加压测流法，V是已知的，要测的电流I=V/R将很小。
因为处理弱电流难度相对小些，我们采用加压测流法，主要误差来源是微弱电流的测量。
2、导电高分子材料的分类根据导电机理的不同，导电聚合物可分为结构型和复合型两类。
结构型导电聚合物(又称本征型导电聚合物)自身具有导电性，其大分子链中的共轭键可提供导电载流子，如聚乙炔、聚吡咯、聚苯胺等。
结构型导电聚合物由于刚性大而难于溶解和熔融、成型较困难、成本高昂，而且掺杂剂多属剧毒、强腐蚀物质，导电的稳定性、重复性以及导电率的变化围比较窄等等诸多因素限制了本征型高分子导电材料的发展。
复合型导电聚合物(又称填充型导电聚合物)，其聚合物本身无导电性，主要依靠渗入聚合物基体中的导电微粒(抗静电剂或导电填料)提供自由电子载流子以实现导电过程。
添加抗静电剂的高分子材料的电阻率一般只能达到1×108～1×1010Ω·cm，电阻降低有限且耐久性差，受外在因素(如空气湿度等)影响较大，通常只在短期要求抗静电的条件下使用。
因此，目前电高分子材料以添加导电填料为主。
常用的导电填料有：①碳炭系列，如石墨、碳黑和碳纤维等；②金属系列，如金属粉末、碎片和纤维，镀金属的粉末和纤维等；③其它系列，如无机盐和金属氧化物粉末等。
其中，由于碳黑原料易得，品种齐全，价格低廉，质轻，还兼有增强、吸收紫外线等功能，是目前广泛采用的导电填料。
3、渗滤(percolation)现象和渗滤阈值图1所示的是典型的高分子导电复合材料的体积电阻率与导电填料含量的关系。
可以看出复合材料的导电性不是随着炭黑含量的增加而成比例地增大的，随着炭黑含量的增加，复合材料的体积电阻率起初略微下降，当炭黑含量增大到某一临界值时复合材料的电阻率突然急剧减小，在一个很窄的区域，炭黑含量的略微增加会导致复合材料电阻率大幅度下降，这种现象通常称为“渗滤”效应(Percolation Effect)，炭黑含量的临界值称为“渗滤阈值”(Percolati on threshold)。
在突变之后，复合材料的体积电阻率随着炭黑含量的增加而下降的幅度又恢复平缓。
体积电阻率急剧下降的区域(B区)称为渗滤区，A区、C区分别为绝缘区和导电区。
图1 复合材料的体积电阻率与炭黑的关系4、聚合物基导电复合材料的导电机理聚合物基导电复合材料的导电机理有如下几种理论：(1) 导电通道学说，此学说认为导电填料加到聚合物后不可能达到真正的多相均匀分布，总有部分带电粒子相互接触而形成链状导电通道，使复合材料得以导电。
这种理论已被大多数学者所接受。
(2) 隧道效应学说，尽管导电粒子直接接触是导电的主要方式，但Polley和Boonstra 利用电子显微镜观察后，发现碳黑填充橡胶的复合体系，存在碳黑尚未成链且在橡胶延伸状态下亦有导电现象。
通过对电阻率与导电粒子间隙的关系研究，发现粒子间隙很大时也有导电现象，这被认为是分子热运动和电子迁移的综合结果。
(3) 电场发射学说，Beek等人研究了界面电压-电流非欧姆特性问题。
他们认为由于界面效应的存在，当电压增加到一定值后，导电粒子间产生的强电场引起了发射电场，促使电子越过能垒而产生电流，导致电流增加而偏离线性关系。
聚合物基导电复合物材料的实际导电机理是相当复杂的，但现阶段主要认为是导电填料的直接接触和间隙之间的隧道效应的综合作用。
5、聚合物基导电复合材料的PTC 效应PTC(Positive Temperature Coefficient)效应是指材料的电阻值随温度的升高而上升的一种热敏材料，即材料的电阻或者电阻率在某一定的温度围时基本保持不变或仅有微小量的变化，而当温度达到材料的某个特定的转变点温度附近时，材料的电阻率会在几度或十几度狭窄的温度围发生(半)导体到绝缘体的相互转变，电阻率迅速增大103～109数量级。
一般目前使用的PTC 材料主要分为陶瓷基PTC 材料和高分子基PTC 材料两种类型。
后者是以聚合物材料为基体，加入碳黑、金属粉、金属氧化物为导电填料，所形成的多相复合体系。
其典型的阻温特征曲线，如图2所示。
T 0T bT pT maxr 0r b r pr maxm⋅Ω/l g r T/ºC图2 典型的阻温特征曲线复合型导电高分子材料的PTC 效应的导电机理较为复杂，目前对PTC 现象的解释大部分体现在体积膨胀和晶相转变两大观点。
目前比较有代表性的理论有下面几种：Kohler 认为，PTC 现象的产生取决于聚合物基体的热膨胀系数。
由于高分子材料的热膨胀系数大于导电粉体材料的热膨胀系数，因此在复合材料的升温过程中，聚合物基体的膨胀使CB 颗粒间的距离变大，电阻率增加。
当温度接近聚合物晶体融点时，体积的突然膨胀致使导电网络破坏，材料呈现高的电阻。
但这一理论不能解释当复合物发生应变时，PTC 强度减少的现象，也不能解释为何许多导电粒子填充的非晶高聚物无PTC 效应。
Ohe 提出PTC 现象主要取决于导电颗粒间的隧道效应。
在低温时，CB 粒子间距小且分布均匀，可以产生显著的隧道效应。
高温时，基体的热膨胀使粒子分散得不均匀，有相当一部分粒子间的距离增大到无法产生隧道效应，大量的导电网络消失，材料的电阻率增大。
Meyer 实验结果则说明，膨胀系数与PTC 强度之间并无固定的关系，热膨胀系数较小的高聚物也可能有较强的PTC 效应。
他认为结晶高分子膜(30nm)的导电性比非晶高分子膜高得多。
温度较低时，晶体的晶区尚未熔化，碳黑粒子之间可以通过晶区而产生隧道效应，电阻较小，晶区熔化时，由于晶区到非晶区的转变，材料的导电能力减弱，电阻增加，高温后电阻降低是由于原来处于受压态的碳黑粒子开始附聚成导电网络。
6、高阻聚合物电阻的测量原理 (1) 四探针法测电阻率当1、2、3、4四根金属探针排成一直线时，并以一定压力压在半导体材料上，在1、4两处探针间通过稳定电流I ，则2、3探针间产生电位差V 。
中：S 1、S 2、S 3分别为探针1与2，2与3，3与4之间距，用cm 为单位。
每个探头都有自己的系数。
C ≈6.28±0.05，单位cm 。
若电流取I = C 时，则ρ＝V ，可由数字电压表直接读出。
材料电阻率C IV =r 探针系数322121111120S S S S S S C +-+-+⨯=π(2) 二探针法测电阻电导率σ是电阻率ρ的倒数：σ=1/ρ，反映了物体导电能力的大小。
电导率越大表明物体的导电性能越好，常用单位为S/cm 。
由电阻公式：SL R r= 可以推出电导率公式：SR L ⋅=σ 本实验是对长方体聚合物试样进行测试，所以wd R l⋅⋅=σ式中d －试样厚度(cm)，w －试样宽度(cm)，l －试样长度(cm)，R －试样电阻(Ω)。
如图4，将试样夹持在导电性能良好的夹头间，接上电阻率仪测其电压、电流，测出电阻率并计算出电导率。
每个样品测试5次，取其平均值。
图4 电阻测试示意图三、实验仪器简介本实验采用美国Keithley(吉时利)公司研发的C236源测量仪(SMU)与6517A 静电图3四探针法测量原理图1234S 1S 2S 3计/高阻表。
1、工作原理如图5，A图为一定电压测量电流，B图为施加一定电流测量电压，通过欧姆定律R=U/I便可算出电阻。
A. Source V Measure IB. Source I Measure V图5 工作原理电路图2、Model 236的测量围图6 Source-Measure Capabilities3、Model 236的测量精度A. 源电压的精度B. 测量电压的精度C．源电流的精度D．测量电流的精度四、实验操作1、C236前面板重要按键简介1. POWER 电源2. LOCAL 程控切换3. OPERA TE 操作4. WARNING 安全警报5. SOURCE MEASURE 测量源V/I切换6. FUNTION7. COMPLIANCE 设置本仪器(SMU)的最大测量值，对电路起保护作用8. TIME9. SUPPRESS10. FILTER 11. AUTORANGE 自动调节量程12. CREA T 13. MODIFY14. APPEND 15. RECALL16. SETUP 参数设置17. TRIGGER 触发测量18. Rotary Knob 19. SELECT20. Keypad 21. MENU2、电阻的简单测量(1) 开机预热20分钟(2) 将两红色电极连接待测电阻两端(3) 设置输入电压(4) 设定COMPLIANCE参数或选择AUTORANGE(5) OPERATE (安全提示：此时已接通电源，谨防触电)(6) TRIGGER(7) 读出电流值，仪器显示Stand By后，方可读数、分解电路(8) 计算电阻值3、C236的高阶应用(1) 开机预热20分钟(2) 启动电脑TESTPOINT程序(3) 调用TEST.TST文件(4) 进入RUN模式(5) 设置START VOLTAGE(初始电压)，STOP VOLTAGE(终止电压)，STEPVOLTAGE(步进电压)，COMPLIANCE(量程)，DELAY(延时)(6) 设置输出文件路径(7) RUN4、使用6517a测试电阻(1) 调零：ME NU→SA VESETUP→RESET→ENTER→BENCH→ENTER→ENTER(2) 按R键，选择测试电阻(3) 选择自动设定电压CONFIG→R→VSOURCE→ENTER→AUTO→ENTER→EXIT(4) 按AUTO键，设定自动设定电压(5) 以如下方式之一连接试样(6) 按Z-CHK键，调零(7) 按OPER键，开始测试(8) 读取电阻值(9) 按OPER，结束测试。