N沟道和P沟道MOS管工作原理
p沟道mos管工作原理
p沟道mos管工作原理
P沟道MOS管是一种基于MOS（金属-氧化物半导体）技术
的半导体器件。
它的工作原理与N沟道MOS管类似，但是由
于材料性质的不同，它的载流子是正电荷。
当漏极得到负电压时，荷载注入到P沟道中，形成了一个正
电荷区。
当控制电压施加在栅极上时，此时栅极与沟道中的荷载形成导体-绝缘体-导体（MOS）结构，栅极与正电荷相吸引，电场形成顺着P沟道的方向弯曲。
一旦电场弯曲到一个特定
的临界值，它会形成沟道处的反向PN结，从而导致P沟道中
电子的注入。
注入电子的数目和栅极电压之间存在一个相对线性关系，这就是P沟道MOS管在其线性区域的工作原理。
P
沟道MOS管也有饱和区域，此时沟道上的电荷是饱和的。
P沟道MOS管是一种低功耗的器件，与N沟道MOS管相比，它的公用元件电容较小，这意味着它的切换速度可以更快。
与此同时，由于它使用的是正电荷载流子，因而它可以达到更高的特征电流密度。
总之，P沟道MOS管的工作原理可简要概括为：施加负漏极
电阻，形成P沟道中的负载荷，施加正栅・极电压，并控制
栅电压以形成MOS结构，从而在P沟道中形成反向PN结及
注入电子，进而控制沟道导通和截止。
p沟道mos管工作原理
p沟道mos管工作原理P沟道MOS管（P-Channel MOSFET）是一种金属氧化物半导体场效应管（MOSFET），它的工作原理与N沟道MOS管相反。
P沟道MOS管使用P型半导体作为通道，控制电流的大小来实现开关功能。
在本文中，我将详细介绍P沟道MOS管的工作原理。
P沟道MOS管由三个重要部分组成：栅极（G），源极（S）和漏极（D）。
源极和漏极之间的导电通道受栅极对极性的控制。
当栅极电压为正时，与栅极相连的P型半导体区域中的电子被排斥，形成一个正电荷区域，这个电荷区域阻止了电子流经通道，因此导电通道关闭。
当栅极电压为负时，正电荷区域被电子填充，导电通道打开。
使用P沟道MOS管时，栅极电压的高低决定了导电通道的开闭。
当栅极电压小于通道中的源极电压时，导电通道是关闭的，不会允许电流流过。
当栅极电压升高时，导电通道开始打开，允许电流从源极流向漏极。
因此，P沟道MOS管可以看作是一个控制着漏极电流的开关。
在MOSFET中，栅极电压的变化会带来漏极电流的变化。
当栅极电压较高时，导电通道打开，大量电流可以从源极流向漏极。
然而，过高的栅极电压会导致电击穿现象，可能损坏MOSFET。
因此，设计电路时必须确保栅极电压不会超过推荐的最大值。
另一个影响P沟道MOS管工作的重要参数是阈值电压（Vth）。
阈值电压是指栅极电压与源极电压之间的电压差，这个电压差将决定导电通道打开的程度。
根据P沟道MOS管的工作原理，当栅极电压低于阈值电压时，导电通道将处于关闭状态，不会有电流流经。
当栅极电压高于阈值电压时，导电通道打开，允许电流流经。
除了栅极电压和阈值电压外，漏源漏极电流（Id）也是P沟道MOS管的重要工作参数。
漏源电流是在栅极和源极之间的电流，它的大小取决于栅极电压和源极电压之间的电势差。
总而言之，P沟道MOS管使用P型半导体作为导电通道，控制栅极电压来开关导电通道。
当栅极电压为正时，导电通道关闭，不允许电流流经。
当栅极电压为负时，导电通道打开，允许电流流经。
N沟道和P沟道MOS管工作原理
N沟道和P沟道MOS管工作原理N沟道MOSFET（NMOS）的工作原理是利用负电压加在接近沟道区域的电极上，形成一个负电荷区域，使电子在沟道内移动。
当NMOS的栅极电压高于沟道电压时，电子将被吸引到NMOS的沟道区域。
这将导致沟道中的电子数量增加，形成一个导电通道。
电子通过沟道流动时，NMOS处于导电状态，可将电流从源极到漏极引导。
当栅极电压低于沟道电压时，电子无法通过沟道流动，NMOS处于截止状态。
P沟道MOSFET（PMOS）的工作原理则相反。
利用正电压加在接近沟道区域的电极上，形成一个正电荷区域，吸引电子从沟道区域离开。
当PMOS的栅极电压低于沟道电压时，电子将被吸引到PMOS的沟道区域。
这将导致沟道中的电子数量减少，形成一个导电通道。
电子通过沟道流动时，PMOS处于导电状态，可将电流从漏极到源极引导。
当栅极电压高于沟道电压时，电子无法通过沟道流动，PMOS处于截止状态。
NMOS和PMOS的主要区别在于沟道区域的掺杂类型。
NMOS的沟道区域是正掺杂的P型半导体，而PMOS的沟道区域是负掺杂的N型半导体。
这种不同的掺杂类型导致了不同的工作原理和电子流动方式。
MOSFET是现代集成电路中最常用的晶体管结构之一、它具有高度的集成度、低功耗和控制灵活性，广泛应用于数字电路和模拟电路中。
在数字电路中，NMOS和PMOS通常用于构建逻辑门电路，如与门、或门和非门。
在模拟电路中，MOSFET经常用作可变电阻、放大器和开关等各种功能的基本构建单元。
总之，N沟道和P沟道MOSFET的工作原理是通过施加电场来控制沟道区域的电子流动，从而实现电流的导通和截止。
这种电场效应的工作方式使得MOSFET能够在集成电路中发挥重要的作用。
N沟道和P沟道MOS管
MOS/CMOS集成电路简介及N沟道MOS管和P沟道MOS管在实际项目中，我们基本都用增强型mos管，分为N沟道和P沟道两种。
我们常用的是NMOS，因为其导通电阻小，且容易制造。
在MOS管原理图上可以看到，漏极和源极之间有一个寄生二极管。
这个叫体二极管，在驱动感性负载（如马达），这个二极管很重要。
顺便说一句，体二极管只在单个的MOS管中存在，在集成电路芯片内部通常是没有的。
1.导通特性NMOS的特性，Vgs大于一定的值就会导通，适合用于源极接地时的情况（低端驱动），只要栅极电压达到4V或10V就可以了。
PMOS的特性，Vgs小于一定的值就会导通，适合用于源极接VCC时的情况（高端驱动）。
但是，虽然PMOS可以很方便地用作高端驱动，但由于导通电阻大，价格贵，替换种类少等原因，在高端驱动中，通常还是使用NMOS。
2.MOS开关管损失不管是NMOS还是PMOS，导通后都有导通电阻存在，这样电流就会在这个电阻上消耗能量，这部分消耗的能量叫做导通损耗。
选择导通电阻小的MOS管会减小导通损耗。
现在的小功率MOS管导通电阻一般在几十毫欧左右，几毫欧的也有。
MOS在导通和截止的时候，一定不是在瞬间完成的。
MOS两端的电压有一个下降的过程，流过的电流有一个上升的过程，在这段时间内，MOS管的损失是电压和电流的乘积，叫做开关损失。
通常开关损失比导通损失大得多，而且开关频率越高，损失也越大。
导通瞬间电压和电流的乘积很大，造成的损失也就很大。
缩短开关时间，可以减小每次导通时的损失；降低开关频率，可以减小单位时间内的开关次数。
这两种办法都可以减小开关损失。
3.MOS管驱动跟双极性晶体管相比，一般认为使MOS管导通不需要电流，只要GS电压高于一定的值，就可以了。
这个很容易做到，但是，我们还需要速度。
在MOS管的结构中可以看到，在GS，GD之间存在寄生电容，而MOS管的驱动，实际上就是对电容的充放电。
对电容的充电需要一个电流，因为对电容充电瞬间可以把电容看成短路，所以瞬间电流会比较大。
mos管p型跟n型对管控制原理
MOS管的基本原理1. MOS管的结构MOS管是一种金属-氧化物-半导体场效应晶体管，由金属栅极、绝缘层（氧化物）和半导体基底组成。
根据基底类型的不同，MOS管可以分为p型MOS（PMOS）和n型MOS（NMOS）。
1.1 PMOS结构PMOS的基底为p型半导体，栅极与源/漏极之间存在正向电压时，形成p-n结反向偏置。
在正向偏置下，p型基底中的空穴会被吸引到栅极附近，形成一个空穴沟道，这个沟道连接了源极和漏极。
+----------------------+| || || P || | |G |---------|-----------| DS | || N |+----------------------+1.2 NMOS结构NMOS的基底为n型半导体，栅极与源/漏极之间存在正向电压时，形成p-n结正向偏置。
在正向偏置下，n型基底中的电子会被吸引到栅极附近，形成一个电子沟道，这个沟道连接了源极和漏极。
+----------------------+| || || N || | |G |---------|-----------| DS | || P |+----------------------+2. MOS管的工作原理MOS管的工作原理基于栅极对沟道的控制。
通过调节栅极电压，可以改变沟道中的载流子浓度，从而控制电流的流动。
2.1 PMOS工作原理当栅极电压为负值时，PMOS处于截止状态。
此时，p型基底与源/漏极之间形成一个反向偏置的p-n结，使得沟道被截断，无法形成导电路径。
在负栅极电压下，PMOS中没有电流流动。
当栅极电压为正值时，PMOS处于放大状态。
正向偏置的p-n结使得沟道形成，并且允许空穴从源极流向漏极。
通过调节栅极电压的大小，可以控制沟道中空穴浓度的变化，从而改变源/漏极之间的电流。
2.2 NMOS工作原理当栅极电压为正值时，NMOS处于截止状态。
此时，n型基底与源/漏极之间形成一个正向偏置的p-n结，使得沟道被截断，无法形成导电路径。
N沟道和P沟道MOS管工作原理
N沟道和P沟道MOS管工作原理MOS管（Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor）是一种常用的半导体器件，由金属-氧化物-半导体结构组成。
其中，N沟道MOS管和P沟道MOS管是两种常用的MOS管类型。
它们的工作原理略有不同，下面将详细介绍。
一、N沟道MOS管（N-Channel MOSFET）工作原理：N沟道MOS管的基本结构由N型衬底、P型衬底上的N型沟道、P型栅极和绝缘层（通常为氧化硅SiO2）组成。
当沟道中间层没有加电压时，P型沟道区域导电能力强于N型衬底区域，因此MOS管处于截止状态。
当P型栅极施加正向电压时，沟道区域下方的内电场将使P型区域带有正电荷，形成沟道通过，MOS管进入导通状态。
这种情况下，栅极-源极之间的电压被称为V_DS，栅极-沟道之间的电压被称为V_GS。
N沟道MOS管的工作原理是基于场效应。
当栅极-沟道电压(V_GS)增大时，场效应电压将增大，导致沟道区域的电荷密度增加，电流也会随之增加。
当V_GS增大到一定值时，沟道的电阻下降到很小，电流将接近饱和状态。
因此，N沟道MOS管可以被视为可以控制电流的开关。
二、P沟道MOS管（P-Channel MOSFET）工作原理：P沟道MOS管的基本结构与N沟道MOS管类似，但其沟道区域是P型半导体，而栅极是N型半导体。
与N沟道MOS管相比，P沟道MOS管的工作原理相反。
当P沟道MOS管的栅极电压为零时，由于N型沟道和P型衬底之间的PN结的反向偏置，形成一个截止区。
当P型栅极施加负向电压时，沟道区域的电荷会被压缩，在栅极电压达到一定值时，PN结会被反向击穿，沟道将打开，P沟道MOS管进入导通状态。
与N沟道MOS管类似，P沟道MOS管也是基于场效应工作的。
当栅极-沟道电压(V_GS)减小时，沟道中的电荷密度减小，导致电流减小。
当V_GS减小到一定值时，沟道关闭，电流为零。
因此，P沟道MOS管可以被视为可以控制电流的开关。
N沟道、P沟道MOS管基本原理与应用案例
N沟道、P沟道MOS管基本原理与应用案例一、N-MOS管和P-MOS管的对比二、N-MOS的开关条件N-MOS管的导通调节是G极与S极中间的电压差超过阈值时，D极和S极导通。
在实际的使用中，将控制（信号）接到G极，S极接在GND，从而达到控制N-MOS管的开和关的效果，在D极和S极导通后，导通电阻Rds(on)极小，一般是几十毫欧级，（电流）流通后，形成的压降很小。
三、N-MOS的应用3.1防止（电源）接反的（保护电路）下面就是一个应用这个特性做的一个防止电源接反的保护电路，这样应用要比使用（二极管）好很多，如果直接使用二极管，会有约0.7V的压降。
（仿真）电路如下：N-MOS管作为防止电路反接方案中，VCC=5V的电源加在10K 阻性负载上，电压表、电流表分别测量，记录值是5V、500uA；切换Key开关，（模拟）电源反接时，测得记录值是-49.554mV、-4.955uA。
3.2电平转换电路Sig1，Sig2为两个信号端，VDD和VCC分别是3.3V和5.0V电平信号的高电压。
另外限制条件为:1，VDD以下截图是在（Multisim）中仿真效果，利用开关提供信号。
四、P-MOS开关条件P-MOS管的导通调节是G极与S极中间的电压差低于阈值时，S 极和D极导通。
在实际的使用中，将控制信号接到G极，S极接在VCC，从而达到控制P-MOS管的开和关的效果，在S极和D极导通后，导通电阻Rds(on)极小，一般是几十毫欧级，电流流通后，形成的压降很小。
五、P-MOS的应用5.1电源通断控制P-MOS管的通断控制，其实就是控制其Vgs的电压，从而达到控制电源的目的。
Key开关闭合前，P-MOS管输出电压0.0164V，闭合后，P-MOS 管输出电压5V。
但在实际电路中，一般都用（MCU）的GPIO代替Key开关来控制，同时MCU高电平时3.3V，因此GPIO输出控制信号时需要使用三极管，在这里三极管的选择也有区别。
N沟道和P沟道MOS管工作原理
N沟道和P沟道MOS管工作原理首先，我们来看N沟道MOS管的工作原理。
N沟道MOS管的基本结构包括p型基底、n+型源和漏，以及上面覆盖的一层厚氧化硅（SiO2）绝缘层。
当没有电压施加在栅极上时，N沟道MOS管是关闭状态。
在这种情况下，沟道区域中没有电子流动，因为沟道处于p型基底的截断状态。
接下来，当一个正电压施加在栅极上时，栅极和沟道之间的氧化硅绝缘层将形成一个电场。
这个电场将吸引p型基底下面的正电荷，使其靠近氧化硅绝缘层。
在较高的电场强度下，p型基底中的正电荷会被吸引到足够接近氧化硅绝缘层的位置。
这样，p型基底下方的N沟道就会形成并连接源和漏。
N沟道中的电子可以随后通过N沟道从源到漏流动。
因此，当电压施加在栅极上时，N沟道MOS管处于导通状态。
然而，当电压施加在栅极上并且达到一定上限后，N沟道MOS管会进入饱和区。
在这种情况下，N沟道中的电流将达到最大值，即漏极电流。
继续增加栅极电压将不会增加电流。
在饱和区，N沟道MOS管可以被看作是一个电流控制器件，其输出电流与栅极电压和沟道长度/宽度比例相关。
接下来我们来看P沟道MOS管的工作原理。
P沟道MOS管和N沟道MOS管的结构相似，差异在于p型基底和n+型源和漏。
在没有电压施加在栅极上时，P沟道MOS管也是关闭状态。
沟道处于n型基底的截断状态，没有电流流动。
当一个负电压施加在栅极上时，栅极和p型基底之间的氧化硅绝缘层形成一个电场。
这个电场将吸引n型基底下面的负电荷，使其靠近氧化硅绝缘层。
在较高的电场强度下，n型基底中的负电荷会被吸引到足够接近氧化硅绝缘层的位置。
这样，n型基底下方的P沟道就会形成并连接源和漏。
P沟道中的空穴可以通过P沟道从源到漏流动。
因此，当电压施加在栅极上时，P沟道MOS管处于导通状态。
同样地，当电压施加在栅极上并且达到一定上限后，P沟道MOS管会进入饱和区。
在这种情况下，P沟道中的电流将达到最大值，并且进一步增加栅极电压将不会增加电流。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
MOS/CMOS集成电路简介及N沟道MOS管和P沟道MOS管在实际项目中，我们基本都用增强型mos管，分为N沟道和P沟道两种。
我们常用的是NMOS，因为其导通电阻小，且容易制造。
在MOS管原理图上可以看到，漏极和源极之间有一个寄生二极管。
这个叫体二极管，在驱动感性负载（如马达），这个二极管很重要。
顺便说一句，体二极管只在单个的MOS管中存在，在集成电路芯片内部通常是没有的。
1.导通特性NMOS的特性，Vgs大于一定的值就会导通，适合用于源极接地时的情况（低端驱动），只要栅极电压达到4V或10V就可以了。
PMOS的特性，Vgs小于一定的值就会导通，适合用于源极接VCC时的情况（高端驱动）。
但是，虽然PMOS可以很方便地用作高端驱动，但由于导通电阻大，价格贵，替换种类少等原因，在高端驱动中，通常还是使用NMOS。
2.MOS开关管损失不管是NMOS还是PMOS，导通后都有导通电阻存在，这样电流就会在这个电阻上消耗能量，这部分消耗的能量叫做导通损耗。
选择导通电阻小的MOS管会减小导通损耗。
现在的小功率MOS管导通电阻一般在几十毫欧左右，几毫欧的也有。
MOS在导通和截止的时候，一定不是在瞬间完成的。
MOS两端的电压有一个下降的过程，流过的电流有一个上升的过程，在这段时间内，MOS管的损失是电压和电流的乘积，叫做开关损失。
通常开关损失比导通损失大得多，而且开关频率越高，损失也越大。
导通瞬间电压和电流的乘积很大，造成的损失也就很大。
缩短开关时间，可以减小每次导通时的损失；降低开关频率，可以减小单位时间内的开关次数。
这两种办法都可以减小开关损失。
3.MOS管驱动跟双极性晶体管相比，一般认为使MOS管导通不需要电流，只要GS电压高于一定的值，就可以了。
这个很容易做到，但是，我们还需要速度。
在MOS管的结构中可以看到，在GS，GD之间存在寄生电容，而MOS管的驱动，实际上就是对电容的充放电。
对电容的充电需要一个电流，因为对电容充电瞬间可以把电容看成短路，所以瞬间电流会比较大。
选择/设计MOS管驱动时第一要注意的是可提供瞬间短路电流的大小。
第二注意的是，普遍用于高端驱动的NMOS，导通时需要是栅极电压大于源极电压。
而高端驱动的MOS管导通时源极电压与漏极电压（VCC）相同，所以这时栅极电压要比VCC大4V或10V。
如果在同一个系统里，要得到比VCC大的电压，就要专门的升压电路了。
很多马达驱动器都集成了电荷泵，要注意的是应该选择合适的外接电容，以得到足够的短路电流去驱动MOS管。
2009-03-20 11:18MOS/CMOS集成电路MOS集成电路特点：制造工艺比较简单、成品率较高、功耗低、组成的逻辑电路比较简单，集成度高、抗干扰能力强，特别适合于大规模集成电路。
MOS集成电路包括:NMOS管组成的NMOS电路、PMOS管组成的PMOS电路及由NMOS和PMOS两种管子组成的互补MOS电路，即CMOS电路。
PMOS门电路与NMOS电路的原理完全相同，只是电源极性相反而已。
数字电路中MOS集成电路所使用的MOS管均为增强型管子，负载常用MOS管作为有源负载，这样不仅节省了硅片面积，而且简化了工艺利于大规模集成。
常用的符号如图1所示。
N沟MOS晶体管金属-氧化物-半导体(Metal-Oxide-SemIConductor)结构的晶体管简称MOS晶体管，有P型MOS管和N型MOS管之分。
MOS管构成的集成电路称为MOS集成电路，而PMOS管和NMOS管共同构成的互补型MOS集成电路即为CMOS集成电路。
由p型衬底和两个高浓度n扩散区构成的MOS管叫作n沟道MOS管，该管导通时在两个高浓度n扩散区间形成n型导电沟道。
n沟道增强型MOS管必须在栅极上施加正向偏压，且只有栅源电压大于阈值电压时才有导电沟道产生的n沟道MOS 管。
n沟道耗尽型MOS管是指在不加栅压（栅源电压为零）时，就有导电沟道产生的n沟道MOS管。
NMOS集成电路是N沟道MOS电路，NMOS集成电路的输入阻抗很高，基本上不需要吸收电流，因此，CMOS与NMOS集成电路连接时不必考虑电流的负载问题。
NMOS 集成电路大多采用单组正电源供电，并且以5V为多。
CMOS集成电路只要选用与NMOS集成电路相同的电源，就可与NMOS集成电路直接连接。
不过，从NMOS到CMOS直接连接时，由于NMOS输出的高电平低于CMOS集成电路的输入高电平，因而需要使用一个（电位）上拉电阻R，R的取值一般选用2～100KΩ。
N沟道增强型MOS管的结构在一块掺杂浓度较低的P型硅衬底上，制作两个高掺杂浓度的N+区，并用金属铝引出两个电极，分别作漏极d和源极s。
然后在半导体表面覆盖一层很薄的二氧化硅(SiO2)绝缘层，在漏——源极间的绝缘层上再装上一个铝电极,作为栅极g。
在衬底上也引出一个电极B，这就构成了一个N沟道增强型MOS管。
MOS管的源极和衬底通常是接在一起的(大多数管子在出厂前已连接好)。
它的栅极与其它电极间是绝缘的。
图(a)、(b)分别是它的结构示意图和代表符号。
代表符号中的箭头方向表示由P(衬底)指向N(沟道)。
P沟道增强型MOS管的箭头方向与上述相反，如图(c)所示。
N沟道增强型MOS管的工作原理（1）vGS对iD及沟道的控制作用① vGS=0 的情况从图1(a)可以看出，增强型MOS管的漏极d和源极s之间有两个背靠背的PN结。
当栅——源电压vGS=0时，即使加上漏——源电压vDS，而且不论vDS的极性如何，总有一个PN结处于反偏状态，漏——源极间没有导电沟道，所以这时漏极电流iD≈0。
② vGS>0 的情况若vGS＞0，则栅极和衬底之间的SiO2绝缘层中便产生一个电场。
电场方向垂直于半导体表面的由栅极指向衬底的电场。
这个电场能排斥空穴而吸引电子。
排斥空穴：使栅极附近的P型衬底中的空穴被排斥，剩下不能移动的受主离子(负离子)，形成耗尽层。
吸引电子：将 P型衬底中的电子（少子）被吸引到衬底表面。
（2）导电沟道的形成：当vGS数值较小，吸引电子的能力不强时，漏——源极之间仍无导电沟道出现，如图1(b)所示。
vGS增加时，吸引到P衬底表面层的电子就增多，当vGS达到某一数值时，这些电子在栅极附近的P衬底表面便形成一个N型薄层，且与两个N+区相连通，在漏——源极间形成N型导电沟道，其导电类型与P衬底相反，故又称为反型层，如图1(c)所示。
vGS越大，作用于半导体表面的电场就越强，吸引到P衬底表面的电子就越多，导电沟道越厚，沟道电阻越小。
开始形成沟道时的栅——源极电压称为开启电压，用VT表示。
上面讨论的N沟道MOS管在vGS＜VT时，不能形成导电沟道，管子处于截止状态。
只有当vGS≥VT时，才有沟道形成。
这种必须在vGS≥VT时才能形成导电沟道的MOS管称为增强型MOS管。
沟道形成以后，在漏——源极间加上正向电压vDS，就有漏极电流产生。
vDS对iD的影响如图(a)所示，当vGS>VT且为一确定值时，漏——源电压vDS对导电沟道及电流iD的影响与结型场效应管相似。
漏极电流iD沿沟道产生的电压降使沟道内各点与栅极间的电压不再相等，靠近源极一端的电压最大，这里沟道最厚，而漏极一端电压最小，其值为VGD=vGS－vDS，因而这里沟道最薄。
但当vDS较小（vDS<vGS–VT）时，它对沟道的影响不大，这时只要vGS一定，沟道电阻几乎也是一定的，所以iD随vDS近似呈线性变化。
随着vDS的增大，靠近漏极的沟道越来越薄，当vDS增加到使VGD=vGS－vDS=VT(或vDS=vGS－VT)时，沟道在漏极一端出现预夹断，如图2(b)所示。
再继续增大vDS，夹断点将向源极方向移动，如图2(c)所示。
由于vDS的增加部分几乎全部降落在夹断区，故iD几乎不随vDS增大而增加，管子进入饱和区，iD几乎仅由vGS决定。
N沟道增强型MOS管的特性曲线、电流方程及参数（1）特性曲线和电流方程1）输出特性曲线N沟道增强型MOS管的输出特性曲线如图1(a)所示。
与结型场效应管一样,其输出特性曲线也可分为可变电阻区、饱和区、截止区和击穿区几部分。
2）转移特性曲线转移特性曲线如图1(b)所示,由于场效应管作放大器件使用时是工作在饱和区(恒流区),此时iD几乎不随vDS而变化,即不同的vDS所对应的转移特性曲线几乎是重合的,所以可用vDS大于某一数值(vDS＞vGS-VT)后的一条转移特性曲线代替饱和区的所有转移特性曲线.3）iD与vGS的近似关系与结型场效应管相类似。
在饱和区内,iD与vGS的近似关系式为式中IDO是vGS=2VT时的漏极电流iD。
（2）参数MOS管的主要参数与结型场效应管基本相同，只是增强型MOS管中不用夹断电压VP ，而用开启电压VT表征管子的特性。
N沟道耗尽型MOS管的基本结构（1）结构：N沟道耗尽型MOS管与N沟道增强型MOS管基本相似。
（2）区别：耗尽型MOS管在vGS=0时，漏——源极间已有导电沟道产生，而增强型MOS管要在vGS≥VT时才出现导电沟道。
（3）原因：制造N沟道耗尽型MOS管时，在SiO2绝缘层中掺入了大量的碱金属正离子Na+或K+(制造P沟道耗尽型MOS管时掺入负离子)，如图1(a)所示，因此即使vGS=0时，在这些正离子产生的电场作用下，漏——源极间的P型衬底表面也能感应生成N沟道(称为初始沟道)，只要加上正向电压vDS，就有电流iD。
如果加上正的vGS，栅极与N沟道间的电场将在沟道中吸引来更多的电子，沟道加宽，沟道电阻变小，iD增大。
反之vGS为负时，沟道中感应的电子减少，沟道变窄，沟道电阻变大，iD减小。
当vGS负向增加到某一数值时，导电沟道消失，iD趋于零，管子截止，故称为耗尽型。
沟道消失时的栅－源电压称为夹断电压，仍用VP表示。
与N沟道结型场效应管相同，N沟道耗尽型MOS管的夹断电压VP也为负值，但是，前者只能在vGS<0的情况下工作。
而后者在vGS=0，vGS>0，VP<vGS<0的情况下均能实现对iD的控制，而且仍能保持栅——源极间有很大的绝缘电阻,使栅极电流为零。
这是耗尽型MOS管的一个重要特点。
图(b)、(c)分别是N沟道和P沟道耗尽型MOS管的代表符号。
（4）电流方程：在饱和区内，耗尽型MOS管的电流方程与结型场效应管的电流方程相同，即：各种场效应管特性比较P沟MOS晶体管金属氧化物半导体场效应(MOS)晶体管可分为N沟道与P沟道两大类， P沟道硅MOS场效应晶体管在N型硅衬底上有两个P+区，分别叫做源极和漏极，两极之间不通导，柵极上加有足够的正电压(源极接地)时，柵极下的N型硅表面呈现P型反型层，成为连接源极和漏极的沟道。
改变栅压可以改变沟道中的电子密度，从而改变沟道的电阻。