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材料研究方法--绪论
另有一类谱仪是基于材料受激发的发射谱，专 为研究晶体缺陷附近的原子排列状态而设计的， 如核磁共振谱仪、电子自旋共振谱仪、穆斯堡 尔谱仪、正电子湮没等等。
• C 化学组分分析
扫描探针显微镜的主要功能虽然是形貌观察， 但控制探针的隧道电流、近程力等，除与探针 跟试样之间的距离有关外，还与试样表面的化 学元素、电子态、自旋态等有关。所以这类仪 器从原理上说，也有探测表面化学状态的潜力。 有些扫描探针显微镜也已开发出这种功能。
图1-7 氧化锆-氮化硼复合粒子的电子能量损失谱 (a)电子束辐照整个复合粒子所得的电子能量损失谱；
(b)电子束只辐照表面膜的电子能量损失谱
• 1.2.4 从材料出发的综合分析
将电子束只集中 在覆盖层采集电子能 量损失谱，如图17(b)所示，可以清楚 看到BN的两个元素峰。
图1-7 氧化锆-氮化硼复合粒子的电子能量损失谱 (a)电子束辐照整个复合粒子所得的电子能量损失谱；
第一章 引言
1．2 材料科学研究方法
第一章 引言 1．2 材料科学研究方法
• 1.2.1 • 1.2.2 • 1.2.3 • 1.2.4
性能检测 显微组织分析原理 显微结构表征 从材料出发的综合分析
第一章 引言
1．2 材料科学研究方法
1.2.3 显微结构表征
• 显微结构表征包括观察组织的形貌、确定 其原子排列方式和分析化学组分。
• C 化学组分分析
材料研究方法绪论
2.剖析方法的特点 <1>.复杂的剖析对象 样品组成的复杂性：无机，有机，高分子多组份构成。 动植物体内有价值的成分。建筑材料－水泥－复合材料－ 高分子材料、中药中有效成分剖析。 样品中各成分含量悬殊：微，常，痕量共存，不同含量 方法不同。 样品发生质变：如高分子材料中有机添加剂的剖析，通 常是发生某些变化的产物。 复合材料分析：各组分所处表面和空间分布不同，采取 特殊方法。 <2>.分析方法的综合性
由于有机、无机（高分子）等多组份共存，（如高分子 材料中有高聚物，无机填料，有机添加剂，发泡剂，加工阻 剂）需将元素、官能团分析、结构分析、成分分析等方法。 或化学分析与仪器分析相结合的综合分析，才能解决一个较 复杂的分析问题。
<3>.复杂的分析过程 由于组成复杂性要求剖析 方法多样性，就决定了剖 析过程的复杂性 工验证
学科,起步晚。大多数移植了有机分析及无机分析一些 成功 应用的方法。当然结构不同需加以改进。 今后发展方向：
1.继续移植其他领域中成功应用的方法。 这是一个见效甚快的途径，常需加以改进或增添附加装 置以适应高聚物的测定，如裂解色谱就来源于气相色谱。气 相色谱是无法对高聚物固体试样进行分析的，增加裂解器装 置，首先将高聚物裂解成碎片，可获得有用的信息。 2.把现有的方法综合起来使用 集中各种方法的特点,取长补短，例色一质、红、紫、折 等多机连用，集中了色谱强的分离及定量性能（但定性差） 和波谱、折光率定性强的优点，将波、折作为色谱的一个检 测器，发挥了很大的威力。使分离、鉴定(定性，定量)合二 为一，成为一优化装置。多机连用是各门分析学科很有发展 前途的方式。（本院现有HPLC色－紫、GC色-质）
O
(CH 3 CO) 2 O
CH 3 O P CH 3 S
(完整版)材料研究方法
材料研究方法（王培铭，许乾慰）第二章光学显微分析2什么是贝克线？此移动规律如何？有什么作用？贝克线：在轮廓附近可以看到一条比较明亮的细线，当升降镜筒时，亮线发生移动，这条较亮的细线称为贝克线。
提升镜筒，贝克线向折射率大的介质移动。
可以比较相邻两晶体折射率的相对大小3什么是晶体的糙面、突起、闪突起？决定晶体糙面和突起等级的因素是什么？在但偏光镜下观察晶体表面时，可发现某些晶体表面较为光滑，某些晶体表面显得粗糙呈麻点状，这种现象称为糙面；某些晶体显得高些某些晶体显得低平一些，这种现象称为突起；双折射率很大的晶体，在单偏光镜下，旋转物台，突起高低发生明显变化，这种现象称为闪突起因素是周围树胶折射率的不同引起的4什么叫干涉色？影响晶体干涉色的因素有那些？有七种单色光的明暗条纹相互叠加而形成的光程差相对应的特殊混合色，称为干涉色，他是有白光干涉而成。
第一是光程差第二是光片厚度第三是双折射率的大小11 如何提高光学显微镜分析的分辨能力？第一：波长更短的照明光源第二：选用折射率大的材料12 阐述光学显微分析用光片制备方法1 取样：取样应该具有代表性，不仅包括研究的对象而且包括研究的特殊条件2 镶嵌：对于一些形状特殊或尺寸细小而不宜握持的样品，需进行样品镶嵌。
3磨光：去除取样时引入的样品表层损伤，获得平整光滑的样品表面4抛光：去除细磨痕，以获得平滑无疵的镜面并去除样品表层，得以观察样品的显微组织 5浸蚀：清晰的看到样品的显微结构13分析近场光学显微分析的原理及与传统光学显微分析技术的异同原理：用纳米局域光源在纳米尺度的近场距离内照明样品，然后由光电接收器接受这些信号，再借助计算机才能把来自样品各点的局域光信号勾画出样品的图像。
异同：照明光源的尺度和照明方法：传统光学显微镜用扩展光源在远场照明样品，近场光学显微镜是用纳米局域光源在纳米尺度的近场距离内照明样品；成像方法：传统光学显微镜可以用肉眼或成像仪器直接观察或放大了的物体图像。
材料研究方法word
材料研究方法综述温乐斐10103638复材1011 研究材料的意义物质的组成和结构取决于材料的制备和使用条件。
在材料制备和使用过程中，物质经历了一系列物理、化学或物理化学变化，因此材料的制备工艺和使用过程，特别是前者直接决定了材料的组成和结构，从而决定了材料的性能和使用效能。
正是由于制备工艺和使用过程的这种重要性，材料研究应着重于探索制备过程前后和使用过程中的物质变化规律，也就是在此基础上探明材料的组成（结构）、合成（工艺流程）、性能和效能及其相互关系，或者说找出经过一定工艺流程获得的材料的组成（结构）对于材料性能与用途的影响规律，以达到对材料优化设计的目的，从而将经验性工艺逐步纳入材料科学和工程的轨道。
研究方法从广义上来讲，包括技术路线、实验技术、数据分析等。
具体来说，就是在充分了解研究对象所处的现状的基础上，根据具体目标，详细制定研究内容、工作步骤以及所采用的实验手段，并将试验获得的数据进行数学分析和处理，最后得出规律或建立数学模型。
从狭义上来讲，研究方法就是某一种测试方法，如X射线衍射分析、电子显微术、红外光谱分析等，包括实验数据（信息）获取和分析。
因为每一种实验方法均需要一定的仪器，所以说研究方法指测试材料组成和结构的仪器方法。
材料的组成和结构的测试方法有多种，应根据不同的应用场合进行合适的选择。
2 材料的结构和层次结构是指材料系统内各组成单元之间的相互联系和相互作用方式。
材料的结构从存在形式来讲，有晶体结构、非晶体结构、孔结构及它们不同形式且错综复杂的组合或复合；而从尺度上来讲，又分为微观结构、亚微观结构、显微结构和宏观结构等四个不同的层次。
每个层次上观察所用的结构组成单元均不相同。
结构层次大体上是按观察用具或设备的分辨率范围来划分的，如宏观与显微结构的划分以人眼的分辨率为界，显微结构和亚显微结构的划分以光学显微镜的分辨率为界，亚显微结构和微观显微结构的分解相当于普通扫描电子显微镜的分辨率。
材料研究方法
材料研究方法本书介绍了材料研究常用的分析测试方法，包括光学显微分析、x射线衍射分析、电子衍射分析、电子显微分析、热分析、光谱分析、核磁共振分析、色谱分析、质谱分析等分析方法以及这些方法在材料测试中的综合应用。
本书着重论述分析测试方法的基本原理、样品制备及应用，内容力求简明实用，具有适应学科范围广的教学特点，并尽可能展现最先进的分析测试方法，如环境扫描电镜和原子力显微镜等。
一、控制变量法控制变量法是运用一定手段(实验仪器、设备等)主动干预或控制自然事物、自然现象发展的过程,在特定的观察条件下探索客观规律的一种研究方法。
即把多因素的问题变成多个单因素的问题,分别加以研究,然后综合解决的一种常用的研究方法。
控制变量法常用于探究物理规律的实验教学,我在“研究导体的电阻与哪些因素有关”的实验教学中采用这种方法,首先确定研究对象是电阻,之后选取长短粗细相同但材料不同的金属丝,比较它们电阻的大小,然后确定材料和横截面积相同,改变导体的长度,研究电阻与导体长度的关系,接着保持材料和长度相同,改变导体的横截面积的大小,探究电阻与导体的横截面积的关系,最后将这些单一关系综合、归纳,找出它们之间的规律,得出决定电阻大小的因素是导体的材料、长度和横截面积。
经过认真的分析,学生掌握了这一探究方法的精髓。
在欧姆定律的实验教学中,我用这一方法组织学生讨论了怎样研究I、U、R之间的关系。
二、对比法(比较法)“比较”即找出事物之间相似的地方,通过事物间相同特征或相异特征的比较可以很快认识新事物的研究方法,是比较常用的研究方法。
在比热容的教学中,我引导学生通过比较实验装置,来判断哪些相同、哪些不同:在两个烧杯中分别倒入质量相等的水和煤油,用同样的电热器加热,测出它们的温度升高相同值时所需通电时间不同,也就是吸收热量不同;同样的加热时间,它们升高的温度不同,这反映了不同物质吸收相同的热量但温度变化不同的物质的特性――比热容,使非常抽象的概念具体化,学生顺利理解了比热容的物理意义。
材料研究方法
1.材料的结构层次有哪些？采用何种研究方法来表征？宏观结构，显微结构，亚显微结构，微观结构。
用显微术来表征。
2.材料的研究方法如何分类？图像分析法：以显微术为主体非图像分析法：包括成分谱分析和衍射法两种1.电子与固体物质相互作用可以产生哪些物理信号，各有什么特点？背散射电子：能量较高，但背散射像的分辨率较低。
二次电子：能量较低吸收电子：入射电子进入样品后，经过多次非弹性散射能量耗光，最后被样品吸收。
透射电子：含有能量与入射电子相当的弹性散射电子，还有各种不同能量损失的非弹性散射电子。
特征X射线：用X射线探测器测到样品微区中存在一种特征波长，就可以判断这个微区存在相应的元素。
俄歇电子：俄歇电子能量各有特征值，能量较低。
2.如何提高显微镜的分辨本领？电磁透镜的分辨本领受哪些条件限制？比可见光波长更短的照明源、增大加速电压、电子透镜。
球差、像散、色差3.透射电子显微镜的成像原理是什么？电子作为照明束，电磁透镜聚焦成像。
一束电子束受到薄膜样品的散射作用，将形成各级衍射谱，样品的信息通过衍射谱呈现出来。
各级衍射波通过干涉作用重新在像平面上形成反应样品特征的像。
4.透射电镜样品的制样方法有哪些？直接样品：超细粉末颗粒：支持膜法材料薄膜：晶体薄膜法、超薄切片法间接样品：复型膜：将材料表面或断口形貌复制下来。
5.透射图像衬度的概念？TEM主要图像衬度？指试样不同部位由于对入射电子作用不同，经成像放大系统后，在显示装置上显示的强度差异，即图像上的明暗差异。
质厚衬度、衍射衬度、相位差衬度6.透射电镜的结构？电子光学系统（镜筒）、电源系统、真空系统、操作系统1.扫描电镜的基本原理由三级电子枪发射出来的电子束，在加速电压的作用下，经过2~3个电子透镜聚焦后，在样品表面按顺序逐行进行扫描，激发样品表面产生各种物理信号，如二次电子、背散射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子等。
这些物理信号随样品表面特征而改变，它们分别被相应的收集器接受，经放大器按顺序、成比例地放大后，送到显像管的栅极上，用来同步地调制显像管的电子束强度，即显像管荧光屏上的亮度。
材料研究方法
本书介绍了材料研究常用的分析测试方法，包括X射线衍射分析、电子衍射分析、电子显微分析、热分析、光谱分析、核磁共振分析、色谱分析、质谱分析、穆尔斯堡谱仪分析以及这些方法在材料测试中的综合应用。
本书着重论述分析测试方法的基本原理、样品制备及应用，内容力求简明实用，具有适应口径宽的教学特点，并尽可能展现*的分析测试方法，如环境扫描电镜何原子力显微镜等。
[1-2]目录前言第1章绪论1．1材料研究的意义和内容1．2材料结构和研究方法的分类第2章光学显微分析2．1概述2．2晶体光学基础2．3光学显微分析方法2．4特殊光学显微分析法2．5光学显微分析样品的制备2．6光学显微分析技术的突破——近场光学显微镜2．7光学显微分析在材料科学中的应用第3章x射线衍射分析3．1x射线的物理基础3．2x射线衍射原理3．3x射线衍射束的强度3．4实验方法及样品制备3．5x射线粉末衍射物相定性分析3．6x射线物相定量分析3．7晶体结构分析3．8x射线衍射技术在其他方面的应用第4章电子显微分析4．1概述4．2透射电镜4．3扫描电镜4．4电子探针仪4．5电镜的近期发展4．6电子光学表面分析仪第5章热分析5．1概述5．2热分析技术的分类5．3差热分析5．4差示扫描量热分析法5．5热重分析5．6热膨胀和热机械分析5．7热分析技术的应用5．8热分析技术的发展趋势第6章光谱分析6．1吸收光谱分类及基本原理6．2紫外光谱6．3红外吸收光谱分析6．4激光拉曼散射光谱法第7章核磁共振分析7．1概述7．2核磁共振的基本原理7．3质子的化学位移7．4自旋偶合7．5核磁共振的信号强度7．6图谱解释7．7构造和样品制备7．8nmr技术的进展7．9核磁共振谱在材料分析研究中的应用第8章质谱分析8．1概述8．2质谱技术基本原理-8．3离子的类型8．4质谱定性分析及图谱解析8．5质谱定量分析8．6气相色谱一质谱联用技术8．7质谱分析在材料研究中的应用第9章材料测试方法的综合应用9．1材料结构的测试9．2材料显微术及其样品制备方法的选择9．3材料形成过程研究9．4材料剖析主要参考文献。
材料研究方法
材料研究方法材料研究方法是指在材料科学领域中，用来研究材料性能、结构和特性的一系列科学方法和技术手段。
材料研究方法的选择对于材料科学研究和工程应用具有重要意义，它直接影响着研究结果的准确性和可靠性。
在材料研究领域，常用的研究方法包括实验研究、理论计算、表征分析等多种手段。
本文将重点介绍几种常用的材料研究方法，以及它们的特点和应用范围。
一、实验研究方法。
实验研究是材料科学研究中最常用的方法之一，它通过设计和进行实验，获取材料的性能、结构和特性等相关信息。
实验研究方法包括材料制备、性能测试、结构表征等内容。
在材料制备方面，可以采用物理方法、化学方法、机械方法等手段来合成和制备所需材料。
在性能测试方面，可以通过拉伸试验、硬度测试、热分析等实验手段来获取材料的力学性能、物理性能和热性能等数据。
在结构表征方面，可以利用显微镜、X射线衍射、电子显微镜等仪器对材料的微观结构进行观察和分析。
实验研究方法的优点是能够直接获取材料的实际数据，但也存在实验周期长、成本高、操作复杂等缺点。
二、理论计算方法。
理论计算是指利用数学模型和计算机仿真技术，对材料的结构和性能进行预测和分析的方法。
理论计算方法包括分子动力学模拟、密度泛函理论计算、有限元分析等内容。
在分子动力学模拟中，可以通过构建原子模型和分子模型，模拟材料的微观结构和动态行为，从而预测材料的力学性能和热学性能。
在密度泛函理论计算中，可以通过求解薛定谔方程，计算材料的电子结构和能带结构，从而预测材料的光学性能和电学性能。
在有限元分析中，可以通过建立有限元模型，对材料的应力分布和变形情况进行仿真和分析。
理论计算方法的优点是能够快速获取材料的理论数据，但也存在模型建立复杂、计算精度依赖于模型参数等缺点。
三、表征分析方法。
表征分析是指利用各种仪器和技术手段，对材料的结构和性能进行表征和分析的方法。
表征分析方法包括电子显微镜、X射线衍射、质谱分析、核磁共振等内容。
在电子显微镜中，可以通过透射电子显微镜和扫描电子显微镜，观察材料的晶体结构、晶粒形貌和界面特征。
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材料研究方法（王培铭，许乾慰）第二章光学显微分析2什么是贝克线？此移动规律如何？有什么作用？贝克线：在轮廓附近可以看到一条比较明亮的细线，当升降镜筒时，亮线发生移动，这条较亮的细线称为贝克线。
提升镜筒，贝克线向折射率大的介质移动。
可以比较相邻两晶体折射率的相对大小3什么是晶体的糙面、突起、闪突起？决定晶体糙面和突起等级的因素是什么？在但偏光镜下观察晶体表面时，可发现某些晶体表面较为光滑，某些晶体表面显得粗糙呈麻点状，这种现象称为糙面；某些晶体显得高些某些晶体显得低平一些，这种现象称为突起；双折射率很大的晶体，在单偏光镜下，旋转物台，突起高低发生明显变化，这种现象称为闪突起因素是周围树胶折射率的不同引起的4什么叫干涉色？影响晶体干涉色的因素有那些？有七种单色光的明暗条纹相互叠加而形成的光程差相对应的特殊混合色，称为干涉色，他是有白光干涉而成。
第一是光程差第二是光片厚度第三是双折射率的大小11 如何提高光学显微镜分析的分辨能力？第一：波长更短的照明光源第二：选用折射率大的材料12 阐述光学显微分析用光片制备方法1 取样：取样应该具有代表性，不仅包括研究的对象而且包括研究的特殊条件2 镶嵌：对于一些形状特殊或尺寸细小而不宜握持的样品，需进行样品镶嵌。
3磨光：去除取样时引入的样品表层损伤，获得平整光滑的样品表面4抛光：去除细磨痕，以获得平滑无疵的镜面并去除样品表层，得以观察样品的显微组织 5浸蚀：清晰的看到样品的显微结构13分析近场光学显微分析的原理及与传统光学显微分析技术的异同原理：用纳米局域光源在纳米尺度的近场距离内照明样品，然后由光电接收器接受这些信号，再借助计算机才能把来自样品各点的局域光信号勾画出样品的图像。
异同：照明光源的尺度和照明方法：传统光学显微镜用扩展光源在远场照明样品，近场光学显微镜是用纳米局域光源在纳米尺度的近场距离内照明样品；成像方法：传统光学显微镜可以用肉眼或成像仪器直接观察或放大了的物体图像。
近场光学显微镜则用扫描技术使局域光源逐点网络状照明样品然后由光电接收器接受这些信号，再借助计算机才能把来自样品各点的局域光信号勾画出样品的图像。
第三章X射线衍射分析1试述X射线的定义，性质，连续X射线和特征X射线的产生，特点。
答：X射线是一种波长介于紫外线和γ射线之间的电磁波。
首先，X射线具有很强的传透能力，可以穿透黑纸及许多对于可见光不透明的物质。
其次，X射线沿直线传播，几时存在电场和磁场，也不能使其传播方向发生偏转。
再次，X射线肉眼观察不到，但可以是照相底片感光。
最后，X射线能够杀死生物组织和细胞。
在X射线管中，由于阴极产生的电子数量巨大，这些能量巨大的店子撞上阳极靶上的条件和碰撞时间不可能一致，一次产生的电磁辐射也各不相同从而形成了各种波长的连续X射线。
特点强度大。
特征X射线为一线性光谱，由若干互相分离且具有特定波长的谱线组成，其强度大大超过连续谱线的强度并可叠加于连续谱线上。
3试述X射线衍射原理，布拉格方程和劳厄方程的物理意义。
答：X射线作为一电磁波投射到晶体中时，会受到晶体中原子的散射，而散射波就好像是从原子中心发出，每一个原子发出的散射波有好比一个源球面波。
由于原子在晶体中是周期排列，这些散射球面波之间存在着固定的位相关系，他们之间会在空间产生干涉，结果导致在某些散射方向的球面波互相加强，而在某些方向上互相抵消，从而也就出现在偏离入射线方向上，只有在特定方向上出现散射射线加强而存在衍射斑点，其余方向则无衍射斑点。
布拉格方程2dSinθ=λ式中n为整数，θ角称为布拉格角，又称半衍射角。
X射线在晶体中产生衍射，其入射角θ,晶面间距d及入射线波长λ必须满足布拉格方程。
b(cosβ`-cosβ)=Kλc(cosγ`-cosγ)=Lλ式中：H,K,L均为整数，a,b,c分别为三个晶轴方向的晶体点阵常数。
5、试叙述X射线粉末衍射法物相定性分析原理，过程及注意的问题。
答：原理：所谓的X射线粉末衍射法物相定性分析就是根据X射线对不同种晶体衍射而获得的衍射角、衍射强度数据，对晶体物相进行鉴定的方法。
过程：1）首先用粉末照相法或粉末衍射仪法获取被测试样物相的衍射图样。
2）通过对衍射图样饿的分析和计算，获得各衍射线条的2日，d及相对强度大小I/I13）使用检索手册，查寻物相PDF卡片号。
4）若是多物相分析，则在第3步完成后，对剩余的衍射线重新根据相对强度排序，重复第3步骤，直至全部衍射线能基本得到解释注意的问题1.一般在对试样分析前，尽可能详细了解样品的来源、化学成分、工艺状况，仔细观察其外形颜色等性质，为其物相分析的检索工作提供线索2.尽可根据试样各种性能，在允许条件下将其分离成单一物相后进行衍射分析3.试样为多相化合物，尽可能避免衍射线重叠，应提高粉末照相或衍射仪的分辨率4.对于数据d值，由于检索主要利用该数据，因此处理时要求精度高，且在检索时，只允许在小数点第二位才能出现偏差5.特别要重视低角度区的衍射实验数据6.在进行多物相混合试样检验时，应耐心细致的进行检索，力求全部数据多能合理物相定性分析过程中，尽可能地与其他相分析实验手段结合起来，互相配合，互相印证6.试述X射线粉末衍射仪法物相定量分析原理方法适用范围及过程。
答：11试述X射线粉末衍射仪样品制备应注意的问题，并说明原因答 1.对粉末样品要求其颗粒平均粒径控制在5Um左右2.防止由于外加物理或化学因素而影响试样原有的性质3.试样板在压制试样时，注意不能造成样哦表面区域产生择优取向，以防止衍射线相对强度的变化而造成误差特征X射线：连续X射线：试述布拉格方程的含义及应用：如何利用德拜照相法对立方晶系物相经行分析：第四章电子显微分析1、如何提高显微镜分辨本领，电子透镜的分辨本领受哪些条件的限制？答：分辨本领：指显微镜能分辨的样品上两点间的最小距离；以物镜的分辨本领来定义显微镜的分辨本领。
光学透镜：d0 =0.061λ/n·sinα= 0.061λ/N·A，式中：λ是照明束波长；α是透镜孔径半角； n是物方介质折射率；n·sinα或N·A称为数值孔径。
在物方介质为空气的情况下，N·A值小于1。
即使采用油浸透镜(n=1.5；α一般为70°～75°)， N·A值也不会超过1.35。
所以 d0≈1/2λ。
因此，要显著地提高显微镜的分辨本领，必须使用波长比可见光短得多的照明源。
实际上，透镜的分辨本领除了与衍射效应有关以外，还与透镜的像差有关（球差）。
2、透射电子显微镜的成像原理是什么，为什么必须小孔径成像？答：成像原理：质厚和衍射衬度。
为了确保透射电镜的分辨本领，物镜的孔径半角必须很小，即采用小孔径角成像。
一般是在物镜的背焦平面上放一称为物镜光阑的小孔径的光阑来达到这个目的。
透镜的分辨本领除了与衍射效应有关以外，还与透镜的像差有关（球差）。
球差范围内距高斯像平面3/4ΔZ s 处的散射圆斑的半径最小，只有R s/4。
习惯上称它为最小截面圆。
在试样上相应的两个物点间距为：Δr s=R s/M=C sα3 （高斯平面），Δr’s=1/4 C sα3 （最小截面圆所在平面）式中，C s为电磁透镜的球差系数，α为电磁透镜的孔径半角。
Δr’s或Δr s与球差系数C s 成正比，与孔径半角的立方成正比，随着α的增大，分辨本领也急剧地下降。
所以选择小孔径成像3相对光学显微镜和投射电子显微镜，扫描电镜各有哪些特点？答：相对光学显微镜：景深较小，可直接用肉眼通过目镜观察，样品制备较简单。
透射电镜特点：分辨本领高。
扫描电镜：放大倍数连续调节范围大，分辨本领比较高，景深大，样品的制备非常方便，可直接观察大块试样。
4为什么透射电镜的样品要求非常薄，而扫描电镜无此要求？答：透射电镜中，电子束穿透样品成像，而电子束的透射本领不大，这就要求将试样制成很薄的薄膜样品。
扫描电镜是通过电子束轰击样品表面激发产生的物理信号成像的，电子束不用穿过样品。
5电子探针X射线显微分析仪有哪些工作模式，能谱仪和谱仪的特点是什么？答：电子探针X射线显微分析仪的工作模式有：点线面三种能谱仪的特点：1)所用的Si(Li)探测器尺寸小，可装在靠近样品的区域：接收X射线的立体角大，X射线利用率高，可达10000脉冲/s·10-9A;而波谱仪仅几十到几百脉冲/s·10-9A。
能谱仪在低束流下(10-10～10-12A)工作，仍能达到适当的计数率，束斑尺寸小，最少可达0.1μm3，而波谱仪大于1μm3。
2)分析速度快，可在2～3分钟内完成元素定性全分析。
3)能谱仪不受聚焦圆的限制，样品的位置可起伏2～3mm。
4)工作束流小，对样品的污染作用小。
5)能进行低倍X射线扫描成象，得到大视域的元素分布图。
6)分辨本领比较低，只有150eV(波谱仪可达10eV)。
7)峰背比小，一般为100，而波谱仪为1000。
8)Si(Li)探测器必须在液氮温度(77K)下使用，维护费用高。
10、电子探针仪与X射线谱仪从工作原理和应用上有哪些区别？答：电子探针仪的工作原理：莫塞莱(Moseley)定律λ=K/(Z-σ)2K 为常数σ为屏蔽系数Z 为原子序数X射线特征谱线的波长和产生此射线的样品材料的原子序数有一确定的关系。
只要测出特征X射线的波长，就可确定相应元素的原子序数。
又因为某种元素的特征X射线强度与该元素在样品中的浓度成比例，所以只要测出这种特征X射线的强度，就可计算出该元素的相对含量。
X射线衍射仪的工作原理：布拉格方程：2dSinθ=λ11、与X射线衍射相比，（尤其透射电镜中的）电子衍射的特点是什么？答：（1）.透射电镜常用双聚光镜照明系统，束斑直径为1~2μm，经过双聚光镜的照明束相干性较好。
（2）.透射电镜有三级以上透镜组成的成像系统，借助它可以提高电子衍射相机长度。
普通电子衍射装置相机长度一般为500mm左右，而透射电镜长度可达1000~5000mm。
（3）.可以通过物镜和中间镜的密切配合，进行选区电子衍射，使成像区域和电子衍射区域统一起来，达到样品微区形貌分析和原位晶体学性质测定的目的。
1、投射电镜主要由几大系统构成？各系统之间关系如何？答：四大系统:电子光学系统,真空系统,供电控制系统,附加仪器系统。
其中电子光学系统是其核心。
其他系统为辅助系统2.透射电镜中有哪些主要光阑? 分别安装在什么位置? 其作用如何?答：主要有三种光阑：①聚光镜光阑。
在双聚光镜系统中, 该光阑装在第二聚光镜下方。
作用:限制照明孔径角。
②物镜光阑。
安装在物镜后焦面。
作用: 提高像衬度；减小孔径角，从而减小像差；进行暗场成像。
③选区光阑:放在物镜的像平面位置。
作用: 对样品进行微区衍射分析。