单晶材料的制备

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单晶材料的制备及其应用

单晶材料的制备及其应用

单晶材料的制备及其应用单晶材料是指由一个完整的晶格构成,无晶界和杂质的材料。

由于其在热处理、力学性能、光学和电学性能等方面与多晶材料不同,因此在现代材料科学和工程学中应用广泛。

一、单晶材料的制备1. 垂直凝固法这种方法是通过在平稳表面的液态金属或合金中拉出一个细长的晶芯,使晶体在顶部生长。

由于重力的作用,晶胞沿垂直方向排列成单晶。

2. 溶液法在溶液中加入溶解度高的化合物,缓慢地降低温度,使晶体在液体中生长,这种方法又称为溶液生长法。

目前最常用的是氧化铝晶体的制备方法。

3. 熔融法将材料融化后在晶体生长室中生长晶体。

例如,在加热到真空中的含有铜元素的陶瓷中放置La2CuO4粉末,待孔隙中的La2CuO4基质被熔化后,再慢慢冷却,就可以获得单晶La2CuO4。

4. 拉伸法这种方法是通过将晶体置于机械控制的拉伸装置中,在高温或室温下拉伸。

这种方法可以用于生长非常大的单晶。

5. 分离法这种方法实际上是从多晶条带中得到单晶。

通过拉伸或有机膜转移等方法把单晶从多晶中分离出来。

二、单晶材料的应用1. 光电领域在光电领域,单晶材料的应用非常广泛。

例如,单晶硅是光电子学器件的核心材料,具有优异的光电特性。

2. 半导体器件单晶材料在半导体器件制造中也非常重要。

例如,锗晶片是电子元件中的核心材料,可用于生产晶体管和光电二极管等。

3. 材料科学单晶材料还可以用于材料科学研究,如研究材料的结构和结构性质等。

4. 超导研究单晶铜氧化物是超导体研究中的重要材料。

单晶铜氧化物具有非常高的超导性能和晶格结构。

5. 生物医学领域单晶材料在生物医学领域中也有广泛的应用。

例如,用单晶硅制作出的基于光学测量和控制的生物芯片,可以应用于生物分析、药物筛选等方面。

总之,单晶材料的制备和应用是材料科学领域中的重要方向。

通过研究单晶材料的制备方法和应用,可以为现代工业和科技进步做出更大的贡献。

单晶制备方法范文

单晶制备方法范文

单晶制备方法范文单晶制备是一种重要的晶体制备方法,用于制备高纯度、大尺寸和高质量的单晶材料。

本文将介绍几种常见的单晶制备方法。

1.熔融法熔融法是制备单晶材料最常用的方法之一、该方法首先将原料粉末加入坩埚中,通过加热坩埚使其熔化。

然后,将熔融体缓慢冷却,使其中的原子或分子有足够的时间重新排列成为有序的晶体结构。

最后,通过剖析、切割或溶解等方法得到单晶。

2.水热法水热法是通过在高温高压的水环境中进行晶体生长的方法。

该方法通常使用混合溶液,将试样和溶剂一起装入高压釜中。

随着温度升高和压力增加,试样溶解,晶体逐渐从溶液中生长。

通过控制温度、压力和溶液成分,可以实现单晶的生长。

3.气相输运法气相输运法是通过在高温气氛中使试样在晶界和界面扩散的方法。

首先,将原料制成粉末,然后将粉末放入烧结体中,在高温下加热。

粉末在高温气氛中扩散,形成晶体生长的条件。

最终得到单晶。

4.化学气相沉积法化学气相沉积法是通过在合适的气氛中,使气态反应物沉积到衬底表面上形成单晶的方法。

该方法通常使用低温和大气压或低气压条件下进行。

通常先将衬底加热到合适的温度,然后通过输送反应气体,使气体中的原子或分子在衬底表面沉积,并逐渐形成单晶。

5.溶液法溶液法是通过在适当的溶剂中将试样溶解并逐渐冷却结晶得到单晶的方法。

溶解试样后,通过逐渐控制溶液的温度和溶剂挥发的速度,使溶液中的试样逐渐结晶为单晶。

溶液法适用于生长一些不易用其他方法制备的化合物单晶。

总结单晶制备方法相对复杂,需要仔细选择适合的方法和条件。

除了以上几种常见的方法外,还有其他一些专用的单晶制备方法,例如激光熔融法、分子束外延法等。

单晶制备方法的选择要考虑材料的物化性质、成本和实际需求等因素。

单晶的制备对于材料科学研究和器件制造都具有重要的意义。

单晶制备方法综述

单晶制备方法综述

单晶制备方法综述单晶制备是一种制备高质量单晶材料的方法,其单晶结构具有高度的有序性和完整度,具有优异的光学、电学和磁学性能,被广泛应用于光电子、半导体器件、光学器件等领域。

本文将综述几种常用的单晶制备方法。

一、卤素热解法卤素热解法是一种基于卤化物的单晶制备方法。

通常采用溶液法得到溶液,再通过卤素热解使其结晶得到单晶。

这种方法制备单晶材料成本低、效率高,被广泛应用。

例如,用氯化钙和硫酸钾溶液制备氯化钡单晶。

二、溶液法溶液法是一种常见的单晶制备方法,通过溶解物质使其达到过饱和状态,再缓慢降温结晶得到单晶。

这种方法适用于许多无机和有机物质的制备。

例如,用硫酸铈和硝酸铈溶液制备铈酸铈单晶。

三、气相输运法气相输运法是利用气相中的化合物在特定的温度和压力下进行热分解、制备单晶材料。

该方法适用于高熔点、低挥发度的物质。

例如,用二氧化钛和氧气气氛在高温下热分解制备二氧化钛单晶。

四、激光熔融法激光熔融法是利用激光束对材料进行局部加热,使其熔化并在快速冷却过程中形成单晶结构。

这种方法可以制备多组分复合材料和高温高压条件下的单晶材料。

例如,用激光束对熔融硅进行快速凝固制备硅单晶。

五、浸渍法浸渍法是将待制备的单晶物质放入溶液中,通过化学反应或溶液中的成分沉积形成单晶。

该方法可以制备各种复杂结构和复合材料的单晶。

例如,用溶液浸渍法制备钛氧化物纳米线单晶。

六、气相沉积法气相沉积法是通过在基底上以气相形式沉积制备单晶薄膜。

该方法具有高纯度、均匀性好和控制性较高等优点,广泛应用于薄膜材料的制备。

例如,用有机金属气相沉积法制备锗硅单晶薄膜。

七、Zone Melting法Zone Melting法是一种通过电熔和定向凝固制备单晶材料的方法。

在电熔过程中,选定的样品会被部分熔化,然后通过固体-液体界面的移动形成单晶结构。

该方法可以制备大面积的单晶材料。

例如,用Zone Melting法制备硅单晶。

综上所述,单晶制备方法种类繁多,每种方法适用于不同类型的材料和特定的应用领域。

单晶材料及其制备

单晶材料及其制备

单晶材料及其制备单晶材料是一种具有一致原子晶格排列形式的材料,即从任何一个角度观察,其内部原子排列方式都是一致。

由于其内部没有显著的晶格突变和晶界,使得单晶材料展现出许多优越的性能。

如单晶硅在微电子行业中的应用,单晶超导体在高温超导领域的应用,以及单晶铜和单晶金在纳米科学技术中的利用等制备单晶材料的方法有很多种,包括Bridgmann法,Czochralski法,气相沉积,液相外延,分子束外延等。

Bridgmann法是一种常用的单晶生长方法,适用于制备高熔点的材料。

其工艺流程通常为先将预制的多晶物料装入石英管中,并将其密封,然后将石英管放入高温炉中,并控制炉的加热,当材料达到其熔点时,再通过调整炉的冷却来使材料逐渐凝固形成单晶。

Czochralski法是制备单晶硅最常用的方法。

首先,将多晶硅放入高频感应炉中熔化,然后将一根种晶(已知晶向的单晶体)浸入熔融的硅中,接着慢慢提出并同时旋转,通过控制提拉速度和转速,可以在种晶上生长出单晶硅。

气相沉积法是通过将原料气体引入反应室,并在适当的条件下,使其在基底表面产生化学反应,从而生成薄膜的方法。

其优点是可以控制膜的成分,厚度和制备薄膜的区域。

液相外延法是一种在溶液中生长单晶的方法,其原理是通过将溶质溶解到溶剂中,然后通过降低温度或增加插入的材料,使溶质在基底表面从溶液中析出,从而形成单晶的过程。

分子束外延法是一种在超高真空条件下,通过将单元元素或化合物材料的原子或分子束射向基底表面,使其在基底上生长出单晶薄膜的方法。

该方法的优点是可以在低温度下生长出高质量的薄膜,且可以控制薄膜的厚度和乃至单层原子的厚度。

随着科学技术的发展,对单晶材料的要求和利用也在不断提高和深化,因此,对单晶材料的制备方法不断进行改进和创新,以适应不断变化和提高的需求。

如现在已经出现的脉冲激光沉积法,超临界流体沉积法等新的单晶制备方法。

不仅提高了单晶材料的制备效率,而且提高了单晶材料的质量和性能。

单晶材料的制备

单晶材料的制备
2.初始退火后,在较低温度下回复退火,以 减少晶粒数目,并帮助晶粒在后期退火时更
3.在液氮温度附近冷辊轧,然后在640℃退火10s, 并在水中淬火,得到用于再结晶的铝,此时样品 还有2mm大小晶粒和强烈的织构,再通过一温度梯 度退火,然后加热至640℃,可得到约1m长的晶体。
4.采用交替施加应变和退火的方法,可得到宽 2.5cm的高能单晶铝带,使用的应变缺乏以使新晶 粒成核,退火温度为650℃。
晶体生长的目的之一是制备成分准确,尽可能无杂质、无缺陷(包括 晶体缺陷)的单晶体。
晶体生长是一种技艺,也是一门正在迅速开展的科学。
国际上——结晶学 萌芽于17世纪 丹麦学者 晶面角守恒定律
晶体生长大局部工作是从20世纪初期才开始的 1902年 焰熔法 1905年 水热法 1917年 提拉法 1952年 Pfann 开展了区熔技术
四、烧结生长
烧结这个词通常仅用于非金属中晶粒的长大。 烧结就是加热压实的多晶体。
烧结时晶粒长大的推动力主要是由以下因素引 起的:
(1)剩余应变。 (2)取向效应。 (3)晶粒维度效应。〔即利用晶粒大小的差作为
实例:应变退火法制备铝单晶
背景
用应变退火法仔细制备的单晶缺陷较少。由于 铝的堆垛层错能和孪晶晶界能都高,应变退火 法有助于制备无孪生的晶体。取向差小的铝晶 体一般是用应变退火法制备的。
应变退火法制备铝单晶的工艺
1.先在550℃使纯度为99.6%的铝退火,以消 除应变的影响并提供大小符合要求的晶粒, 再使无应变的晶粒较细的铝变形以产生 1%~2%d 的应变,然后将温度从450℃升至 550 ℃ ,按25/d的速度退火。最后在600℃ 退火1h。〔假设初始的晶粒尺寸在0.1mm时, 效果特别好。〕
1、固—固生长方法

单晶制备方法综述

单晶制备方法综述

单晶制备方法综述单晶是指物质中具有高度有序排列的晶体,具有优异的物理、化学和电学性能。

单晶制备是实现高性能材料研制和工业应用的重要一环。

本文将综述几种常见的单晶制备方法。

1.液相生长法:液相生长法是最常见的单晶制备方法之一、它基于溶剂中溶解度随温度变化的规律,利用溶剂中存在过饱和度来实现晶体生长。

在溶液中加入适量的晶种或原料,通过恒温、搅拌等条件控制溶液中的过饱和度,使得晶体在液相中逐渐生长。

液相生长法具有适用范围广、成本低廉、晶体尺寸可控等优点,被广泛应用于多种单晶材料的制备。

2.熔体法:熔体法是通过将材料加热至高温使其熔化,然后再进行快速冷却来制备单晶。

熔体法适用于熔点较高的材料,如金属和铁电材料等。

具体实施时,将原料加热至熔点以上,然后迅速冷却至晶体生长温度,通过控制冷却速率和成核条件等参数,使得材料在熔体状态下形成单晶。

熔体法制备的单晶具有高纯度、低缺陷密度等特点。

3.化学气相沉积法(CVD):化学气相沉积法是将气体、液体或固体混合物送入反应器中,通过化学反应生成气体中的原子或离子,然后在合适的衬底上生长晶体。

CVD法的主要控制参数包括反应原料、反应条件和衬底选择等,通过优化这些参数可以得到高质量的晶体。

CVD法适用于制备半导体晶体、薄膜和光纤等材料。

4.硅热法:硅热法是指通过将石英管内的硅砂与待制备材料在高温下反应,生成有机金属气体,通过扩散至冷却区域后与基片上的晶种接触形成晶体。

硅热法制备的单晶一般适用于高温超导材料、稀土金属等。

5.水热法:水热法是指在高温高压的水热条件下,利用溶液中溶质的溶解度、晶种和反应物之间的反应动力学及溶质活度等热力学因素来实现晶体生长。

水热法适用于很多无机非金属单晶材料的制备,如氧化物、硅酸盐等。

水热法可以自主调控晶体形貌和尺寸等物理性能。

综上所述,单晶制备方法涵盖了液相生长法、熔体法、化学气相沉积法、硅热法和水热法等多种方法。

不同的方法适用于不同的材料,通过合理选择和控制制备条件,可以得到高质量、尺寸可控的单晶材料,应用于各个领域的研究和应用。

单晶材料及其制备

单晶材料及其制备单晶材料是指具有完整晶体结构的材料,其晶体结构沿特定方向没有任何界面或晶界。

单晶材料的结晶性能和物理性能优于多晶材料,因此在许多领域中有广泛应用,如电子器件、光学器件、航空航天等。

本文将介绍单晶材料的制备方法、一些常见的单晶材料及其应用。

制备单晶材料的最常用方法是晶体生长方法,主要有凝固法、浮区法、溶液法和气相法等。

凝固法是指通过控制材料的冷却速度使其从熔融态逐渐冷却成为固态。

这种方法适用于高熔点的材料,一般利用高温熔融状况下的材料来制备单晶材料。

其中,常用的方法有慢冷法、拉布拉多法、修正巨晶法等。

浮区法是通过在两个石英管之间形成液体浮区,将镁铝尖晶石单晶材料逐渐生长出来。

过程中,石英管内加入反应物,通过加热使其熔化,并在石英管之间产生上下移动的浮区,由于石英管之间温度梯度的存在,浮区中的反应物在降温的过程中逐渐结晶并生长成单晶材料。

溶液法是将所需物质溶解在溶剂中,通过控制温度和溶剂挥发速度,使溶液逐渐达到饱和状态并结晶成单晶材料。

其中,常见的溶液法包括溶液蒸发法、有机金属溶胶-凝胶法和溶剂热法等。

气相法是通过控制气体混合物在合适的条件下在衬底上生长单晶材料。

常见的气相法有气体输运法、金属有机化合物气相沉积法和气相石墨化等。

常见的单晶材料包括硅、镁铝尖晶石、硫化镉、硼化镍、石墨等。

其中,硅是最常见的单晶材料之一,广泛应用于半导体制造、光学器件等领域。

硅具有优异的光电性能和机械性能,具备较高的载流子迁移率和导热性能,被广泛应用于电子器件制造中。

此外,硫化镉是一种重要的半导体材料,具有宽的能带间隙和高的光电转换效率,被广泛应用于太阳能电池和激光器等光电器件。

在航空航天领域,单晶材料也有广泛应用。

例如,单晶高温合金被用于制造航空发动机中的叶片和涡轮叶片,因其具有高强度、耐热性和抗腐蚀性能,能够承受高温和高压工况环境。

此外,单晶超合金也被广泛应用于航空发动机的燃烧室和喷嘴等部件。

总之,单晶材料具有独特的结晶结构和优异的物理性能,在电子器件、光学器件、航空航天等领域有广泛应用。

单晶材料的制备方法介绍

单晶材料的制备方法介绍单晶材料,指的是具有完全单一晶体结构的材料,其晶粒呈现为整体性完整的晶体。

这种材料的制备方法包括单晶增长法、气相转化法和物理气相沉积法等。

下面将对这些方法进行详细的介绍。

(一)单晶增长法单晶增长法是目前制备单晶材料最常用的方法之一、其主要原理是通过液相或气相中的原料溶液或气体在晶体表面上沉积,并利用材料的热和质量迁移,使晶体逐渐增长,最终形成单晶。

1.液相法液相法是一种常见的制备单晶材料的方法。

其主要过程包括晶种的培养、溶液配制、溶解和淬火等步骤。

首先,选择一个适合的晶种,在高温下使晶种与溶液接触,晶种逐渐增大。

然后,配制溶液,将材料溶解于溶剂中,形成适合生长晶体的溶液。

接下来,将晶种放入溶液中,通过控制温度和溶液浓度等参数,晶体逐渐从溶液中生长出来。

最后,取出晶体并进行淬火处理,使其冷却到室温。

2.气相法气相法是一种通过蒸发气体使晶体逐渐生长的方法。

其主要过程包括晶种选择、反应气体制备、晶种遗忘和生长阶段等步骤。

首先,选择一个合适的晶种,将其放入反应器中。

然后,制备反应气体,根据晶体材料的要求选择适当的气体进行气相反应。

接下来,将反应气体通过外部加热的方式在晶体表面进行蒸发,晶体逐渐生长。

最后,取出晶体并进行后续处理。

(二)气相转化法气相转化法是一种通过气体中的化学反应在晶体表面上形成单晶的方法。

其主要过程包括原料选择、反应条件控制、晶体生长和后续处理等步骤。

首先,选择适合的原料,在高温高压下使其在气氛中发生化学反应。

然后,通过控制反应条件,使得反应物在晶体表面发生转化反应,逐渐形成单晶。

接下来,将晶体取出并进行后续处理,例如清洗和退火等。

(三)物理气相沉积法物理气相沉积法是一种利用物理沉积技术制备单晶材料的方法。

其主要过程包括蒸发源制备、蒸发和沉积等步骤。

首先,制备一个蒸发源,将所需材料放入蒸发源中。

然后,通过加热蒸发源,使其产生气态物质。

接下来,将气态物质从蒸发源中输送到晶体表面,通过沉积在晶体表面上,逐渐形成单晶。

单晶材料制备方法介绍

单晶材料制备方法介绍单晶材料是指具有完全一致的晶体结构的材料,即在整个样品中只存在单一的晶体方向。

单晶材料具有优异的物理、化学、电子、光学等性能,被广泛应用于多个领域,如电子器件、光学元件、能源材料等。

单晶材料的制备方法主要包括凝固法、气相法以及液相法。

1.凝固法凝固法是制备大尺寸、高质量单晶材料的主要方法之一、常用的凝固法有慢凝固法、快凝固法、定向凝固法和浮区法等。

其中,慢凝固法通过缓慢控制合金温度降低,使晶体在凝固过程中缓慢生长,从而获得质量较高的单晶材料。

而快凝固法则是通过快速降温,迫使晶体在短时间内形成,适用于那些高温下易于分解的材料。

定向凝固法则通过控制凝固过程中的温度梯度和晶体生长方向,使晶体逐渐生长并满足特定的晶体取向要求。

浮区法是在材料晶体表面加热、熔化的同时,通过拉伸和旋转晶体生长方向,从而制备出单晶材料。

2.气相法气相法是单晶材料制备中的重要方法之一,包括气相转化法、化学气相沉积法和物理气相沉积法。

气相转化法是指将气体中的单质或化合物通过化学反应转化为单晶材料。

化学气相沉积法则通过在气体流中加入各种反应物,通过化学反应沉积形成单晶材料。

物理气相沉积法是在真空或惰性气氛中通过热蒸发或溅射的方式沉积单晶材料,该方法制备的单晶材料通常具有高纯度和良好的微观结构。

3.液相法液相法是指通过溶液中的各种物质反应生成单晶材料。

常用的液相法有溶胶凝胶法、溶液扩散法和气体溶剂法。

溶胶凝胶法是将适当物质溶液加热、干燥,使溶液中的物质逐渐沉淀,并形成固体凝胶。

再通过热处理,使凝胶转变为单晶材料。

溶液扩散法是将适当物质溶解在溶剂中,通过扩散使得溶液中的物质结晶生长成单晶材料。

气体溶剂法则是将气体作为溶剂,通过高温高压的条件,使溶液中的物质转变为单晶材料。

除了以上几种常见的单晶材料制备方法,近年来还出现了一些新的制备技术,如熔融法、生长法等。

这些方法利用高温高压或者特殊气氛下,通过熔融或生长的方式制备单晶材料。

单晶材料的制备


控制提拉速率
V越大,直径越小; V越小,直径越大; 但是由于难于控制,一般不调节提拉速率
5)晶体的极限生长速率
生长速度:
说明
V ( K S GS K LGL ) / L
GS :晶体内的温度梯度 GL:熔体内的温度梯度
A:Gs恒定,GL越小,V越大; B:GL=0,Vmax=KSGS/ρL; C:如果GL<0,熔体过冷,生长速率更大,担难于控制; D:提高GS,提高生长速率,但是温度提高,导致位错和热 应力提高;
3)晶体生长过程能量平衡 A. 能量守恒
Q1+Q2=Q3 Q1:产生的焦耳热和释放的相变热; Q2:输入的热量; Q3:温度升高所需要的热量; 稳定态温度场,温度不随时间变化,则Q3=0, Q1=-Q2
Q1=Lm L:凝固潜热; M:单位时间生长的晶体质量
-Q2=QS-QL=AKSGS-AKLGL Lm=QS-QL=AKSGS-AKLGL
g KT0 ln(c / c0 )
令 c / c0; 1; g KT0 ln(c / c0 ) KT0 f g / s KT0 / s
σ越大,推动 力越大
熔体生长系统中相变驱动力
h TS
h(T ) TS(T )
F:指向晶体,熔化、溶解、升华 指向溶液。结晶
气相生长系统中相变驱动力
( p0 ,T0 ) 0 (T0 ) RT ln p0 ( p ,T0 ) 0 (T0 ) RT ln p0
RT ln p / p0 N0g, R N0K
g KT0 ln( p / p0 )
增加,自由能减小,晶粒自发长大;
C.半径越小,胚团越稳定
3.衬底上凹角形核:
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2.发展历史: 1925年, Bridgman首先提出, 1949年, Stockbarger发展了这种方法; 因此也称B-S法 3.基本原理:
待结晶材料置于圆形坩埚中,自上而下通过一个具有一定温度 梯度的炉子;或者加热器沿垂直方向上升。 4.缺点:沿坩埚方向温度梯度小,熔体成核必需明显过冷,容易形 成多晶
σ越大,推动 力越大
熔体生长系统中相变驱动力
h TS
h(T ) TS(T )
T Tm T很小,
h(T ) h(Tm );S (T ) S(Tm )
T
Tm
T T
g
l
N0 Tm
Tm
L和ΔT越大,推 动力越大
f lT sTm
亚稳态
均匀成核成核动力学
过冷条件下,晶核形成时,自由能变化:
1)由原点出发法线长度与界面能成正比; 2)过任一点作垂直于矢径的平面,这些平面包围的最小
体积就相似于晶体的平衡形状; 3)平衡形状几何上相当于极图中体积最小的内接多面体;
4.直拉法生长晶体的温度场和热量传输
1)温度场:某一时间内,空间各点的温度分布。是时间和空间的函数。 稳定温度场:各点温度分布不随时间变化,仅是空间坐标的单值函数; 非稳定温度场:各点温度不仅随着空间位置的变化而变化,而且随着时间
收尾阶段,提高加热功率。 等径生长,不断调整加热功率,弥补热损耗
调节热损耗QS
对于钛酸钡单晶,氧气流过晶体, A. 降低环境温度,提高热交换; B. 富氧环境,减少氧空位;
增加气流原因
A.在单晶生长过程中,硅熔液和石英坩埚等炉内物件会由于高温产生大量 硅物氧以化及物挥(发主性要气成体分。是这些Si气O,尘也粒有子少飘量浮S在iO单2,晶呈生黄长色界烟面尘周状围)。、当杂减质小挥氩发 气流量时,能明显看到硅熔液上方有烟尘翻腾,俗称“冒烟”。氩气由 上至下穿过单晶生长区域,带走气尘杂质。有时,SiO粒子可能会被吸 附到单晶生长界面上,造成正在生长的单晶的原子晶向发生位错,使单 晶生长失败,俗称“断苞”,降低了成晶率。
1)Walff定理:在恒温恒压下,一定体积的晶体,处于 平衡态时,其总界面能为最小,也就是说,趋于平衡 态时,晶体将调整自己的形状使本身总界面能最小。
2)晶体的界面自由能是结晶学取向n的函数,即反映对 称性;
3)液体是各相同性,故,界面自由能是常数,液体的平 衡形状是球形。
晶体表面自由能的几何图像
G *
16 3Tm2
3(LmT )2
实际成核受2个因素控制:
1.成核;
2.扩散
I I1I 2 k e(G* / RT ) • e(Q / RT ) I:总成核几率;
I1:与成核功有 关与成核几率;
I
:与
2
扩与扩散有关的成率;
ΔG*:成核功;
Q: 扩扩散激活
R:气体常数
非均匀成核
1.平衬底:
G(r)
3)晶体生长过程能量平衡 A. 能量守恒
Q1+Q2=Q3 Q1:产生的焦耳热和释放的相变热; Q2:输入的热量; Q3:温度升高所需要的热量; 稳定态温度场,温度不随时间变化,则Q3=0, Q1=-Q2
Q1=Lm L:凝固潜热; M:单位时间生长的晶体质量
-Q2=QS-QL=AKSGS-AKLGL Lm=QS-QL=AKSGS-AKLGL
σ越大,推动 力越大
溶液生长系统中相变驱动力
g( p,T ) RT ln c0 ' g( p,T ) RT ln c
RT ln C / C0 N0g, R N0K
g KT0 ln(c / c0 )
令 c / c0; 1; g KT0 ln(c / c0 ) KT0 f g / s KT0 / s
增加,自由能减小,晶粒自发长大;
C.半径越小,胚团越稳定
3.衬底上凹角形核:
G*
162S
3g 2
3 sf
f2 (m)
r* 2S sf
g
f2 (m)
4.悬浮粒子成核
5.成核率的控制
.A.晶体-液体截界面存在成核驱动力,其 它区域为反向;
B.熔体自由表面中心处存在成核驱动力, 其它区域为反向;
晶体的平衡形状
定向凝固法(DSS)
与提拉法相反,这种生长方法中 坩埚上部温度高,下部温度低。 将一管子处在坩埚底部,通入水 或液氮使下面冷却,晶体围绕着 籽晶从坩埚底部生长。
底部籽晶水冷实验装置示意图
定向凝固法(DSS)
赛维LDK多晶硅生产车间
放大的照片
类单晶
Mono Like (类单晶)是一种新技术,即是 在长晶时即透过多晶制程的改造,在原 材料质量不变下,将多晶做出类似单晶 的硅晶圆质量,主要即是为了提高它的 转换效率..
(PV-Tech讯)近日,在2011PV Taiwan光伏展上,保利协鑫能源控 股有限公司(HKG:3800)正式推出由类单晶硅锭制成的“鑫单晶” 新型硅片,并与其战略合作伙伴阿特斯阳光电力在该新型硅片基 础上联合推出“GCL-CSI”双品牌高功率(265W)太阳能组件。 保利协鑫“鑫单晶”类单晶硅片的转换效率最高可达18.5%,接 近传统的直拉单晶硅片,但是却拥有更多优点。如同其他企业已 经推出的类单晶产品,“鑫单晶”的成本要低于直拉单晶硅片, 与定向凝固多晶铸锭成本相近;并且其光衰减要优于直拉单晶硅 片,平均低一个百分点以上。目前保利协鑫的“鑫单晶”硅片产 能已经达到2000万片/月,并获得了阿特斯等下游企业总计超过 3000万片/月的订单。保利协鑫预计在2011年底可以达到1亿片/月 的“鑫单晶”硅片产能。 采用“鑫单晶”硅片制造的高功率电池和组件可以降低每瓦10% 以上的发电成本,将拥有更强的竞争力。在此次2011 PV Taiwan 展上,保利协鑫至少与3家台湾企业签署了5—7年的合作备忘录。
AgGaSe2生长装置示意图
定向凝固法(DSS) 2)非金属:金属氟化物
氟化钙单晶
定向凝固法(DSS)
3)单晶高温合金 A.选晶法(自生籽晶法):具有狭窄截面的选晶器只允许一个晶粒
长出它的顶部,然后这个晶粒长满整个铸模腔,从而得到整体只 有一个晶粒的单晶部件。 缺点:只能控制纵向取向,不能控制横向取向; B.籽晶法:籽晶位于模腔最低端,具有一定过热的熔融金属液体在 籽晶上部流过,使籽晶部分熔化,避免由于籽晶不连续或加工后 的残余应力,同时,过热熔融金属液体使模壳温度升高到合金熔 点以上,防止模壳上形成新的晶粒。然后在具有一定温度梯度的 炉子中抽拉模壳,金属溶液就在剩余的籽晶上部外延生长,凝固 称三维取向和籽晶相同的单晶体。
变化而变化,是空间坐标和时间的函数。 等温面:温度相同的各点连接而成的面。 温度梯度:单位长度上温度变化;是矢量。
等温面越密,温度梯度越大,越稀疏,温度梯度越小;
2)炉膛内的温度场 A.晶体生长过程是在稳定温度场条件下进行; B.直拉法炉膛内最重要的等温面为温度为凝固点的等温面。即固-
液界面;
C.固液界面的形状影响晶体的质量;微观结构影响生长机制; D. 温度测量,采用埋入热电偶办法;
B. 由于单晶的大直径化,需要更大的硅多晶投料量,使用更大直径的石英 坩埚。自然而然,大直径单晶生长时,产生的气尘杂质会更多,增加了 位错发生的机率。所以,大直径单晶需要更迅速地排除气尘杂质。
珀耳帖效应
1)珀耳帖效应:由于半导体功函数不同,如果电子高费米 能级流向低费米能级,放热,反之,吸热。
2)电流由熔体-晶体,放热; 反之,吸热。 Q1=Lm±Aq
W:产生应变时做的功; q:释放的能量; Gs:晶粒的自由表面能; G0:不同晶粒之间的取向的自由能差
晶粒长大
1)晶粒长大通过:晶粒迁移 2)推动力:晶粒间过剩自由能的减少; 3)晶界迁移速度
V ( / R)M
4)如果一个区域包含不同取向的晶体。则发生 二次结晶;
5)实际的推动力:应变消除、晶体取向的差异 6)位错和维度的差别作为推动力
定向凝固法(DSS)
5.所需设备: 1)特定结构坩埚:Pyrex玻璃、Vycor玻璃、适应玻璃、氧化铝、贵
金属、石墨; 坩埚与熔体不能发生化学反应和耐热性; 石墨使用温度2500度 2)热梯度炉体; 3)程序控温设备; 4)坩埚传动设备;
定向凝固法(DSS)
6.定向凝固法生长晶体实例 1)金属和半导体: Bi、Cu、PbS、PbSe、PbTe、GaAs、AgGaSe2
应变退火及工艺设备
1.应变退火: 1)铸造件 2)锻造件 3)滚压件 4)挤压件 5)拉拔丝
2. 应变退火生长晶体 1)生长铝单晶 2)制备铜单晶 3)铁单晶
3. 利用烧结生长晶体
1)烧结过程推动力: 残余应变、反向应变、维度效应 2)烧结仅适用于无机非金属材料 YIG(钇铁石榴石) 3)陶瓷材料气孔脱除
E:KS越大,生长速率越大
6)放肩阶段
A.放肩阶段:直径非均匀增加,提拉速度不变。
B.能量平衡
QS B1 B2r 2 QL AKLGL (GL Const) B3r 2 dm (r 2dz 2rdr • z)
m dm (r 2 dz 2r dr • z
dt
dt
dt
Lm QS QLf1(m) (2 m)(1 m2 / 42.平衬底凹陷:
G
r 2h
s
g
2r
2
sf
[r
(1
1 m2 ) / m2 m(h r )] 2
令 dG(r) 0 dh
r 2h
s
g
2rm
sf
0
r 2 sf sm
g
A. H足够大,表面能项可能为负; B.若为过饱和或者过冷流体, ΔG<0,随着h
控制提拉速率
V越大,直径越小; V越小,直径越大; 但是由于难于控制,一般不调节提拉速率
5)晶体的极限生长速率
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