S3500激光粒度仪操作简介

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激光粒度仪操作步骤

激光粒度仪操作步骤一：设置测试条件，点击测量，弹出“测量设置”，输入参数。

1)标识（zhì）：输入样品名称2)颗粒类型：用于创建散射模型3)物质：根据样品材料，设置颗粒折射率，吸收率。

用于创建散射模型4)分散剂：根据分散介质，设置其折射率。

用于创建散射模型5)说明：输入备注文档，例如测试注意事项，分散条件等6)测量时间：输入背景测量时间和样品测量时间。

时间长短取决于散射光信号强度和稳定性（信噪比）7)顺序：设置重现性测试次数8)遮光度：通过设置遮光度范围，控制加样浓度，以避免因浓度过低导致信噪比差和浓度过高引起的多重光散射。

9)样品分散附件：根据样品不同，设置不同的进样器分散条件10)清洗样品池：设置样品池清洗方式11)数据处理与分析：根据分散介质，设置其折射率，根据样品特征，选择合适的分析模型。

用于创建散射模型。

12)结果：选择粒径结果显示范围和分布类型13)用户粒度分级：数据输出14)平均：由若干次重现性测试记录，创建平均结果15)打印二：测试设置后，点击“确定”键，开始测试左上角处图谱显示各检测器即时信号，横坐标为检测器编号，编号越大，散射角越大，代表小颗粒的散射光。

三：测试步骤：1)启动进样器，是分散介质正常流动。

2)以自动或手动方式对光，保证各个检测器位置（散射角）准确。

3)测量无激光时的背景，即电子背景，扣除检测器暗电流。

4)测量光学背景：监测并扣除非样品导致的散射光信号。

好的背景呈现递减趋势，说明分散介质中杂质、气泡含量较少，未引起过多的散射光。

背景信号属于测量的噪音信号，所以应稳定并尽量低。

5)准备加样，此事显示信号为扣除背景信号后的随机信号，需检查各个检测器信号随机变化，相互无关联。

6)加样，同时注意左侧遮光度变化，在达到设定后停止加样，并点击开始测试。

7)测试时，会显示测试结果和结果趋势图。

8)完成测试后，检测器检测到散射光数据，在扣除背景后，显示在“数据”报告中9)散射光数据代入散射模型中，进行反演运算，运算过程显示在拟合报告中。

激光粒度仪使用方法说明书

激光粒度仪使用方法说明书一、激光粒度仪简介激光粒度仪是一种广泛应用于颗粒物理学和材料科学研究的仪器设备。

它通过激光光源照射样品，利用光散射原理测量颗粒粒径大小和分布情况。

本说明书将详细介绍激光粒度仪的使用方法，帮助用户正确操作和获得准确的测试结果。

二、仪器准备1. 确保激光粒度仪连接正常，电源接通并稳定。

2. 根据被测样品的性质，选择适当的样品池，并将其安装在仪器上。

确保样品池干净，无灰尘、杂质等。

三、测试流程1. 打开仪器电源，等待仪器初始化完成。

根据仪器型号，用户可能需要设置一些参数，如测试时间、测量角度等。

请按照仪器的操作界面指引进行设置。

2. 将待测样品放置到样品池中，并确保样品的分散均匀。

在进行测试前，建议先进行样品的超声处理以避免颗粒的聚集。

3. 调整激光粒度仪的位置，使之与样品池中心对准。

可以通过仪器的激光对准功能来辅助调整位置。

4. 在仪器操作界面上选择相应的测试模式，如“全区间分析”、“自动循环测试”等。

根据样品的特性选择合适的测试模式。

5. 开始测试后，仪器会自动进行数据采集和分析。

用户可以实时观察数据曲线和结果参数的显示情况。

6. 测试完成后，将样品池清洗干净，并做好记录。

如需进行下一次测试，请重新装样进行。

四、注意事项1. 激光粒度仪属于精密仪器，请在室温、相对湿度适宜的环境下使用，并避免仪器受到过高的温度、湿度、震动等外界影响。

2. 样品的分散均匀性对测试结果影响较大，请在样品处理时充分考虑。

如样品固态，可以使用超声波处理仪进行处理；如样品液态，可以使用搅拌器进行搅拌等方式。

3. 在测试过程中，应保持样品池的干净，避免杂质进入池中影响测试结果。

4. 样品的浓度和适宜的分散剂的选择对测试结果有影响，请在测试前进行相应的调查和准备。

5. 根据仪器型号和用户需要，可能需要对测试结果进行进一步处理和分析。

请参阅仪器的操作手册或相关教程进行学习和掌握。

五、维护与保养1. 定期清洁和校准仪器。

激光粒度仪操作说明

激光粒度仪操作说明一、激光粒度仪简介激光粒度仪是一种用于测量和分析颗粒物料的粒度分布的仪器。

它通过激光散射原理，利用光学系统和散射角度检测器，对样品进行散射光信号的收集和分析，从而得到颗粒的粒径分布数据。

二、激光粒度仪操作步骤1. 准备工作(1) 确保激光粒度仪处于稳定的工作环境中，避免外界震动和干扰。

(2) 检查仪器的电源和通电状态，确保正常供电。

(3) 确保仪器的控制软件已经正确安装并启动。

2. 样品处理(1) 根据需要，将待测样品进行适当的预处理，如去除杂质、破碎或分散。

(2) 根据样品的特性，选择合适的分散介质和浓度，将样品悬浮于分散介质中。

3. 仪器校准(1) 打开控制软件，进入仪器校准界面。

(2) 按照仪器厂家提供的操作手册，进行仪器的校准操作，确保仪器的准确性和稳定性。

4. 测量操作(1) 将经过处理的样品放入样品室中，并保持样品室的密封性。

(2) 在控制软件中选择合适的测量参数和测量范围。

(3) 点击开始测量按钮，仪器开始进行自动测量。

(4) 测量完成后，将得到的粒径分布数据保存或导出。

5. 数据分析(1) 使用控制软件提供的数据分析功能，对测量得到的粒径分布数据进行分析和处理。

(2) 可以选择绘制粒径分布曲线、计算平均粒径等分析方法，得到更详细的结果。

6. 仪器维护(1) 测量结束后，及时清洁样品室和相关部件，以防止样品残留和污染。

(2) 定期检查仪器光学系统和散射角度检测器的状态，保持其清洁和正常工作。

(3) 如发现仪器故障或异常，应及时联系仪器厂家或专业维修人员进行维修和调试。

三、注意事项1. 在操作前，仔细阅读激光粒度仪的操作手册，了解仪器的使用方法和注意事项。

2. 样品处理过程中，应严格按照操作规程进行，避免对样品造成污染或损坏。

3. 在进行测量时，应选择合适的测量参数和测量范围，以确保测量结果的准确性和可靠性。

4. 在测量过程中，应保持样品室的密封性，避免外界灰尘和颗粒的干扰。

激光粒度分析仪简易操作说明

激光粒度分析仪简易操作说明
★使用仪器前最好用海绵刷清理一下水位感应器
打开软件操作界面
1、清洗：点击自动清洗按钮，清洗完毕仪器自动停止
2、消除气体：同时打开循环、超声两个按钮，根据时间提示5秒后关闭“循环”，
5秒后打开“循环”，5秒后关闭“循环”，5秒后打开循环，5秒后关闭“循环”，5秒后打开“循环”
3、点“测量”——“文档”，进行相应设置，设置完毕——“下一步”——“常
规测试”，看测试窗口界面有无问题，无问题——确认
4、加六偏磷酸钠小半勺（约 1.5G），注意看屏幕下方绿色光束是否闪烁，不闪
烁了即可放土样
5、放土样：摇匀土样，少量放土，边放土边观测屏幕上方“遮光率”数据，数
据值在10-15%之间即可
6、开始测试，点击“实时”，D10、D50、D90值稳定，关闭界面
7、点“连续”，出现数值界面，点击“平均值”，点击“保存”。

8、点击“清洗”
9、数据查询：清洗的同时，设置——分析参数，进行相应设置
10、样品——查询——excel。

激光粒度仪说明书

激光粒度仪说明书激光粒度仪说明书篇一：激光粒度分布仪使用说明激光粒度分布仪简单使用说明测试：1. 接通电源，开机。

开机顺序：主机→循环分散器→软件2. 打开循环分散器，清洗循环管路。

方法：开启超声，循环泵拨至“逆”10秒钟左右，再拨至“顺”，关闭超声（排水时不能使用超声，防止干烧，损坏仪器），使旋钮置于排水位置，进行排水。

如此清洗两次后，（实验过程中所用水均要求为纯水）3. 打开软件，在界面中选择“设置”→“测试参数”，在中文物质名称中选择所需测量的物质，→“确定”4. 加入适量的水或者其他分散介质。

如果需要，加入合适的分散剂。

5. 点击标题栏中“常规测试”，进入测试界面。

检查背景值是否处在1到6之间。

6. 开启超声，当右侧绿色柱形信号基本稳定时，系统显示“系统状态极佳”，在“背景”一栏下，点击“确认”，扣除背景值。

7. 此时，系统显示“遮光率过低，请加样品”字样时，加入适量的样品，使遮光率稳定在12到17之间。

8. 点击“连续”，使系统进行测试；“样品结果”出现时，点击“平均值”→“保存”，如此测试3到6次。

9. 点击“样品”→“合并”，选择测试结果，点击“增加”，选好测试结果后，“合并”在“样品合并——结果”窗口中，点“确认”，在“样品合并——保存”窗口，修改合并后样品名称，及其他实验信息，“确认”。

10. 在“样品”菜单下，点“查询”，在出现的窗口中，选择合并结果，点“重分析”，在样品“参数窗口”，检查参数信息，选择“Mie”，点“确认”。

在新窗口中，点“确定”。

11. 查看打印预览，检查测试结果是否合格。

12. 测试结束，依照2步骤，清洗干净。

注意事项：1. 需要标定的情况：（1）：第一次安装；（2）：换样品池；（3）：每半年或一年时间2. 纳米粉体易团聚，测试前需进行充分的超声分散，分散时间如下所3. 不要随便标定篇二：激光粒度分析仪操作规程LS13-320 激光粒度分析仪操作规程一、工作原理1.颗粒对光的散射理论众说周知，光是一种电池波，它在传播过程中遇到颗粒时，将与之相互作用，其中的一部分将偏离原来的行进方向，称之为散射。

激光粒度仪使用说明书

激光粒度仪使用说明书使用说明书一、产品概述激光粒度仪是一种精密的仪器设备，用于测量物料或液体悬浮液中颗粒的粒径和粒度分布。

本说明书详细介绍了激光粒度仪的组成、操作流程及注意事项，以帮助用户正确使用该产品。

二、产品组成1. 主机：激光粒度仪的核心部分，包含激光发射器、光散射探测器等关键元件，用于发射激光并检测散射光；2. 采样系统：包括进样装置和样品池，用于放置待测样品并实现样品进出；3. 分析软件：通过与主机相连，实时监测、分析和记录测量数据，提供可视化的结果展示。

三、操作流程1. 准备工作在使用激光粒度仪之前，确保工作环境干净整洁，以免影响仪器的测量效果。

同时，放置样品池时需保持平稳，避免产生振动。

2. 连接主机将激光粒度仪的电源线插入电源插座，并将主机与电源线连接。

确保电源稳定，避免因电压波动而影响测量结果。

3. 样品准备选择适当的样品进行测量前，首先需要清洗样品池，以确保样品不受外部污染的影响。

然后，按照样品要求，将合适的样品加入到样品池中。

4. 测量操作a. 打开激光粒度仪的分析软件，并确保与主机的连接稳定。

b. 选择测量模式，根据需要选择适当的粒径范围和测量时间。

c. 将样品池放置在激光粒度仪的适当位置，并确保样品池与激光光束垂直。

d. 点击软件上的“开始测量”按钮，激光粒度仪将开始进行测量，并实时显示测量结果。

e. 等待测量完成后，保存结果并进行数据分析。

四、注意事项1. 安全操作：使用激光粒度仪时，应保证自身安全，避免直接观察激光束，以防眼部受伤。

2. 清洁与保养：定期清洁激光粒度仪的各个部件，尤其是样品池，避免残留物的积累。

3. 校准与验证：定期进行激光粒度仪的校准和验证，确保仪器的测量准确性和稳定性。

4. 数据处理与分析：在进行数据处理和分析时，应注意避免误差的引入，选取合适的算法和统计方法。

五、故障排除1. 不能启动：检查电源连接是否松动或电源是否正常供电。

2. 测量结果异常：可能是样品准备不当或仪器存在故障，需进行相应的处理和检修。

Microtrac S3500 激光粒度仪使用说明

Microtrac S3500 SILaser Diffraction Particle Size and Image Analyzer SL-PS-21 Rev. B Two technologies - One instrumentThe Microtrac S3500 SI incorporates image analysis capability with the long established Microtrac laser dif-fraction technology. Users of the Microtrac S3500 tri-laser particle size analyzer now have the added advantage of being able to view the sample using state-of-the-art camera technology and imaging soft-ware. The sample is dispersed in the Microtrac Sample Delivery Controller (SDC) and circulated through both the image analyzer and the laser diffraction particle size analyzer. The measuring cells for both tech-niques are separate to ensure the user benefits from world class laser diffraction and image analysis technol-ogyThe main features of the Microtrac S3500 SI are• Resolution - The patented Tri–laser, multi detector optical system for Laser Diffraction delivers unsurpassed resolution over the entire measuring range of the instrument. The Image Analyzer usesa 2456 x 2058 5M pixel full frame camera to ensure clear images at both high and low concentrations.• Range - The Microtrac SI measures particles in the range of 0.02 to 2800 microns with Laser Diffraction and 0.75 to 2000 microns with Image Analysis.• Accuracy - Microtrac S3500 SI utilizes full Mie compensation for spherical particles. It also applies proprietary Modified Mie calculations for non-spherical materials – the majority of real life materials.• Stability - Optical bench design incorporating fixed detectors and lasers provides a rugged platform for consistently repeatable measurements. The enclosed optical path ensures protection of the optical components leading to little or no operator maintenance.• Flexibility - The modular design permits selectable configurations based on application requirements.The S3500 SI system is easily up-graded to meet future requirements.• Automation - Microtrac S3500 SI software allows programming, saving and recalling of Standard Operating Procedures (SOPs). This facilitates increased precision in sample preparation and op-eration through automated, multi sample accessories.• Microtrac TriLaser Diffraction PSA• Microtrac High Resolution ImageAnalyzer• Particle Size Distribution• Shape AnalysisTotal Solutions in Particle CharacterizationThe TRI-LASER System developed by MICROTRAC allows light scattering measurements from the forward low angle region to al-most the entire angular spectrum (approximately zero to 160 degrees). It does so by a combination of three lasers and two detec-tor arrays, all in fixed positions. The primary laser (on-axis) produces scatter from nearly on-axis to about 60 degrees, detected by a forward array and a high-angle array, both of which have logarithmic spacing of the detector segments. The second laser (off-axis) is positioned to produce scatter beyond 60 degrees which is detected using the same detector arrays. The third laser (off-axis) is positioned to produce backscatter, again using the same detector arrays. This technique effectively multiplies the number of sensors that are available for detection of scattered light.0n-axis arrayLaser 1The main features of Microtrac S3500 SI software are:Measurement Criteria : Particle and carrier optical properties such as refractive index and shape are easily programmed for different materials. Sample analysis time, sample ID and data presentation options are easily accessed through the SETUP/SOP icon.Automatic Measurements : Automated measurement sequences can be programmed in combination with a selection of sample delivery systems. Levels of automation can be selected by the user.Standard Operating Procedures (SOPs): The software facilitates the programming, saving and recall of measurement setups in accordance with standard operating procedures. Database Management: Measurements are saved in Microsoft Access Encrypted Database Format. Analyses are easily recalled through a comprehensive search function for either review or comparison.Export functions: Data can be automatically or manually exported in either ASCII, excel or HTML formats. The user decides the export destination.Data Tolerance: Pass/Fail function is available for quality control applications, providing process managers with the capability to set upper and lower size limitations for material specifications.Statistical Analysis Package: Live display of analyses as they are performed providing statistical analysis on an ongoing basis. Trending : Ability to trend individual size parameters over a specific time period or material type.Report Generation: Microtrac software provides the user with the ability to design custom reports.High Resolution Image AnalysisSample is dispersed in the either a Sample Delivery Controller (SDC) or Ultra Small Volume Recirculator (USVR) for dispersion and flows through the Microtrac S3500 SI system. The recirculaor fluid dynamics deliver a homogeneous sample to the Microtrac S3500 SI Image Analysis sample cell. The sample cell is illuminated by a stroboscopic light and a 5-million pixel full-frame camera that records and stores the images. The images are processed by the Microtrac S3500 SI imaging software to provide the user withcomprehensive information on particle shape and size.The Microtrac S3500 SI software provides results on particle size by length, width, area, circumference and particle shape. The software also provides for the presentation of data on a wide range of shape properties like aspect ratio, ellipse ratio, compactness, roundness, circularity, concavity and con-vexity. The data can be exported in either ASCII, Excel or HTMLformats. Users can select different report formats.Microtrac S3500 SI Image Analysis SoftwareOn passing from the Image Analysis sample cell, the sample moves to the Laser Diffraction sample cell. The flow path of the sam-ple and the architecture of the sample cell ensures that both the Laser Diffraction and Image Analysis measurements use exactly the same sample concentrations and dispersions. There are no compromises on either measurement -Two Technologies - One InstrumentSpecificationsMeauring Range Laser Diffraction 0.02 to 2816 MicronsBasic Range: 0.688 to 995 umHigh Range: 2.75 to 2816 umStandard Range: 0.24 to 1408 umSpecial Range: 0.086 to 1408 umExtended Range: 0.021 to 2000 umEnhanced Range: 0.021 to 2816 umMeasuring Range Image Analysis 0.75 to 2000 MicronsDetection SystemsLaser Diffraction: Two fixed photo-electric detectors with logarithmically spaced segmentsplaced at correct angles for optimal scattered light detection. 0.02 to 163 degrees using 151detector segments.Image Analysis: 5M pixel camera, 2456 x 2058, 15 images per second.Light SourcesLaser Diffraction: Up to three Laser Photodiodes, 780nm wavelengthImage Analysis: Stroboscopic LEDTypical Analysis Time10 to 30 seconds. Laser Diffraction, 1 minute Image Analysis Electrical AC input: 90 – 132 VAC, 47 - 63 Hz, single phase200 to 265 VAC, 47 – 63 Hz, single phasePower Consumption25 VA maximumEnvironmental Temperature: 10 to 350 C (50 to 950 F)Humidity: 90% RH, non-condensing maximumPollution Degree 2Physical Specications Case Material Steel and impact resistant plasticExterior Surfaces finished with corrosion resistant paintor platingDimensions14H x 22W x 18D in (360H x 560W x 460D mm)Weight 70 lbs (32 kg)Your local Microtrac Representative isTotal Solutions in Particle Characterization。

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S3500激光粒度仪操作简介
1. 先打开激光粒度仪的进样器，再打开检测器
2. 打开电脑，启动激光粒度仪软件，从菜单中Measure 下的Select Instrument 条的子菜
单下选择使用S3500o 将会打开S3500/S3000测量窗口。

3. 点击巳I 键,打开Measurement Setup 测量设定窗口，点击Options 选择键，打开
Measurement Setup Options 测量设定选择页。

设定适当的测量设定参数，然后点击0K 关闭。

关闭 Measurement Setup 窗口。

4. 第一次使用机器应当点击右侧图标RINSE 进行清洗。

使用
6.数据测定完毕，会给出测定结果。

数据可以直接导入EXEL 表格，用于分析。

如果在
Measure Menu 测量菜单中，选择了 “With Save ”测量结果会在测量结束自动保存在数据文件中。

选择u Without Save 放弃数据。

FILL
键用于加入液体，使用键用于开始流动，流速可用 5.从主菜单点击込，进行背景水平测量。

然后单击
键调节（典型流速设定是50%）。

加载适量的待测样品，点击 ,开始样品测量。

Data Display Showing Measurement Data for S3000/S3500。