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ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍
ATE自动化测试系统是什么_ATE自动化测试系统介绍ATE自动化测试系统是一种用于进行自动化测试的软件工具。
它能够模拟人工操作，实现对软件系统、硬件设备或网络服务等的自动化测试。
它主要通过自动化脚本或测试用例来执行一系列的测试步骤，以验证被测试系统的正确性、可靠性和稳定性。
1.可重复性：ATE自动化测试系统能够准确地执行相同的测试步骤，确保测试结果的一致性。
它可以在不同的环境中重复运行，检测软件或硬件的稳定性。
2.高效性：ATE自动化测试系统能够在短时间内完成大量的测试任务，提高测试效率。
它可以同时执行多个测试用例，减少了人工测试的工作量，节省了时间和成本。
3.精确性：ATE自动化测试系统能够准确地模拟人工操作，执行测试步骤。
它能够判断测试结果是否符合预期，并生成详细的测试报告。
它可以捕获并记录系统中的错误，帮助开发人员进行问题定位和修复。
4.可扩展性：ATE自动化测试系统具有良好的可扩展性，可以根据需要添加新的测试用例或测试脚本。
它支持多种编程语言和测试框架，可以与其他测试工具或软件集成，提供更全面的测试功能。
1.提高测试效率：ATE自动化测试系统能够快速执行大量的测试用例，减少了人工测试的工作量，提高了测试效率。
2.提高测试覆盖率：ATE自动化测试系统能够覆盖更多的测试场景，执行更多的测试用例，提高了测试覆盖率。
3.提高测试准确性：ATE自动化测试系统能够准确地模拟人工操作，执行测试步骤。
它能够判断测试结果是否符合预期，并生成详细的测试报告，提高了测试准确性。
4.减少测试成本：ATE自动化测试系统减少了人工测试的工作量，节省了时间和成本。
它可以在非工作时间进行测试，提高了资源利用率。
以上是ATE自动化测试系统的介绍，它是一种用于进行自动化测试的软件工具，能够提高测试效率、测试覆盖率和测试准确性，降低测试成本。
ate测试相关术语
ate测试相关术语
ATE测试相关的术语有：
1、ATE：全称是Automatic Test Equipment，是自动化测试设备的意思。
在半导体产业中，它指的是用于检测集成电路功能完整性的自动测试设备。
2、DUT：全称是Device Under Test，指的是待测设备，通常在半导体行业中指的是电子元器件或芯片。
3、PIB：全称是Prober Interface Board，指的是介于测试机探针台和半导体晶圆或芯片之间的接口板。
4、DIB：全称是Device Interface Board，指的是设备接口板，介于测试机和设备之间。
5、PDP：全称是Prober docking plate，指的是探针台对接板。
6、Handler：这是一个系统或设备，可编程逻辑控制器（PLC）或电脑通过Handler发送指令，然后Handler执行这些指令并将结果返回给使用者。
ATE测试原理
ATE测试原理ATE测试原理⼀简介:在线测试机(IN CIRCUIT TESTER)是经由量测电路板上所有零件,包括电阻、电容、电感、⼆极管、晶体管、FET、SCR、LED 和IC等, 检测出电路板产品的各种缺点诸如: 线路短路、断路、缺件、错件、零件不良或装配不良等, 并明确地指出缺点的所在位置, 帮助使⽤者确保产品的质量, 并提⾼不良品检修效率. 它还率先使⽤可⽤数亿次开关的磁簧式继电器(REED RELAY),是当今测试涵盖率最⾼, 测试最稳定, 使⽤最⽅便, 提供数据最齐全的在线测试机.⼆.隔离(GUARDING)测试原理:在测试ACT测试最⼤的特点就是使⽤GUARDING的技巧,它把待测组件隔离起来,⽽不受它线路的影响.(如下列图⽰).计算机程序⾃动选择恰当的隔离点可选择多个.VADC三.电阻的量测⽅法:(1)定电流测量法:使⽤定电流测量法,计算机程序会根据待测电阻的阻值⾃动设定电流源的⼤⼩.VADCBR=V/I(2)定电压测量法:当待测电阻并联⼤电容时,若⽤定电流测量法,⼤电容的充电时间过长,然⽽使⽤定电压测量法可以缩短测试时间.R(3)相位测量法:当电阻与电容并联时,如果⽤电流量测法⽆法正确量测时,就需要⽤相位量测法来量测来做测试.此法利⽤交流电压为信号源,量测零件两端的电压与电流的相位差,藉以计算出各别的电阻抗,电容抗或感抗.R(4)⼩电阻的量测:⼀般⼩电阻量测(0.1Ω~2Ω)，可以把它当成JUMPER的⽅式测量但只可量测有⽆缺件. 若需较精确的量测，就须⽤四端量测. 原理如下：信号源和量测各有⾃⼰的回路，因此可准确量测RX上的压降。
应⽤：⼩电阻如 0.1Ω~10Ω，⼩电感，⼩电容量测时会受到 cable 和探针接触不良的影响，⽽造成测试不稳，⽽四线量测就可以解决这些问题。
由⼆线式改为四线式量测法的修改说明如下：a. relay board需做以下修改，JA， JB， JC 跳线拿掉，使之开路OPEN。
内存ATE测试介绍
3
ATE测试
ATE 的工作原理：
被测器件 （DUT）
Input Output
测试系统 （ATE）
Test Program
Results
4
ATE测试设备
高档的ATE测试设备有： ▪ Verigy公司的93K系统 ▪ Advantest公司的T5581/T5585/T5592系统 ▪ KINGTIGER公司的KT－2A PRO系统
DC参数测试
DC 参数 测试
电压参数测试 电流参数测试
测试方法：
1。加电压测电流、 加电流测电压
2。改变DC参数，进行 功能测试，找到P/F 转变点
3。运行pattern程序， 直接对参数测量
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ATE测试简介
DC测试
VSIM
ISV
DC test unit
M
目的：检测芯片的各项电气性能
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DC参数测试
测试目的： ▪评估DUT的漏电流大小 ▪评估供给DUT工作时所需的电源电流大小
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工程测试
AC参数测试
AC参数测试基本原理： 改变需要测试的参数，重复执行功能 测试，直到测试结果由PASS转为FAIL 为止。记录PASS/FAIL转换点，进行必 要的数学运算，得出需要测试的参数实 际数值。实质是以时间条件为基础来执 行功能测试。
高精度的定时性能 大向量内存 可编程的电流负载 Per Pin的时序与电平/电压 高价格
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T5592简介 T5592测试系统简介
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T5592简介
T5592参数简介
能够测试各种存储器（专用）
最高测试频率可以达到1.066GHz 定时精度达到150ps(OTA) 最大可测试芯片64颗，DDR内存条16条（2Station) Driver与双向口分开，节约成本（存储器特点专门设计）
ATE测试系统
軟體設置注意事項 (OVER POWER PROTECTION TEST)
本項測試不得做為第一個測試程序。 在UUT OFF TIME之後，要再加載“I/R
測試中朮語簡介6/6
21. Cycle Dropout :
用以量測在中斷待測物輸入電源㆒段時間對輸出電壓的影響
22. Voltage Ramp Up/Down :
用以量測在待測物輸入電源電壓逐步增加或減少時對其輸出電壓的影響
23. Frequency Ramp Up/Down :
用以量測在待測物輸入電源頻率逐步增加或減少時對輸出電壓的影響
待測物關機時間須大於100ms，以利輸 入電壓由正半週到負半週零電位之偵測 及關機延遲時間之準確性。
開機時間(Ton)係自起始觸發點起至終了 觸發點止，最長等待觸發時間為16秒， 若超過此值，會顯示“No Start Trigger” 或“No End Trigger”的訊息。
軟體設置注意事項
以外加信號控制待測物的輸出Enable/Disable ，並量測待測 物各組輸出電壓的時序關係，過衝電壓值(Overshoot),及穩定時間 等特性
16. Set Up Function :
用以設定自動測試系統各模組的硬體初始狀態或測試條件
測試中朮語簡介5/6
17. Extended Measurement Test :
軟體設置注意事項(EXTRA TIMING TEST)
在測試流程中“REAPPLY LOADING WITH Von CONTROL”的意義,係指若輸出電壓低於Von時 Switcher Analyzer會停止拉載，當輸出電壓回升到 Von時Switcher Analyzer會自動依測試檔案設定的 “RISE”值拉載。
2024年ATE测试机市场发展现状
ATE测试机市场发展现状引言ATE（Automatic Test Equipment）测试机是一种自动化测试设备，广泛应用于电子制造业中的产品测试和质量控制过程中。
本文将探讨ATE测试机市场的发展现状。
ATE测试机市场的规模和增长趋势ATE测试机市场在过去几年中呈现出稳健增长的趋势。
据市场研究机构的数据显示，ATE测试机市场规模从2015年的 XX 亿美元增长到了2019年的 XX 亿美元，年均复合增长率达到 X%。
这一增长主要受到电子制造业的发展以及全球经济的增长等因素的驱动。
关键驱动因素ATE测试机市场的发展受到多个关键因素的推动。
1. 电子制造业的发展电子制造业在过去几年中持续快速发展，特别是在消费电子、汽车电子和通信设备等领域。
随着电子产品的不断创新和更新换代，对质量和可靠性的要求也越来越高，这促使电子制造商在产品生产中广泛采用ATE测试机来进行自动化测试，以确保产品的性能和质量。
2. 技术进步和创新ATE测试机的技术不断进步和创新也推动了市场的发展。
新型的ATE测试机具有更高的测试速度、更高的测试精度和更广泛的测试范围，能够满足客户不断增长的测试需求。
例如，新一代ATE测试机采用了更先进的数字信号处理技术和嵌入式系统，提供更准确和稳定的测试结果。
3. 自动化需求的增加随着生产线的自动化程度的提高，对ATE测试机的需求也在增加。
自动化测试可以降低测试成本、提高测试效率，并减少人为误差的可能性。
因此，许多电子制造商正在使用ATE测试机来替代繁琐的手工测试，从而提高产品生产的效率和质量。
ATE测试机市场的挑战和机遇虽然ATE测试机市场规模正在不断扩大，但仍面临一些挑战和机遇。
1. 市场竞争激烈ATE测试机市场的竞争非常激烈，主要来自于国内外的一些知名厂商。
这些厂商拥有丰富的技术经验和创新能力，并且能够提供全面的解决方案。
要在竞争激烈的市场中取得突破，需要不断提高产品质量、降低成本，并提供差异化的产品和服务。
ATE测试原理与维护
ATE测试原理与维护ATE（Automatic Test Equipment）是自动测试设备的缩写，是一种自动化测试设备，用于对电子器件、PCB电路板、集成电路芯片等进行功能、性能及可靠性测试。
下面将详细介绍ATE测试原理与维护。
一、ATE测试原理：1. 信号发生器（Signal Generator）：用于产生各种不同频率、振幅和波形的电信号，用于测试被测器件的频率响应。
2. 信号采集器（Signal Analyzer）：用于对被测器件的输出信号进行采样和分析，可以测量信号的频率、振幅、相位等参数。
3. 数据采集及控制器（Data Acquisition and Controller）：用于采集、处理和分析被测器件的数据，同时可以控制其他测试设备的运行。
4. 电源供应器（Power Supply）：提供各种电压和电流以供被测器件正常工作。
5. 环境控制器（Environment Controller）：用于对被测器件环境进行控制，例如温度和湿度。
整个ATE测试过程包括以下几个步骤：1.设置测试条件：根据被测器件的规格和要求，设置测试参数，如输入电压和电流范围、工作频率等。
2.连接被测器件：使用适当的连接线将被测器件与ATE设备连接。
3.发送信号：通过信号发生器产生测试信号，送入被测器件。
4.采集数据：信号采集器对被测器件的输出信号进行采样，并将数据传送到数据采集及控制器进行处理和分析。
5.分析数据：数据采集及控制器对采集到的数据进行分析，通过算法和预设的规则判断被测器件的性能和可靠性是否符合要求。
6.生成报告：根据测试结果生成测试报告，包括被测器件的各项测试数据和结果。
二、ATE测试维护：ATE设备的维护对于测试结果的准确性和工作效率的提高至关重要，主要包括以下几个方面：1.定期校准：ATE设备需要定期进行校准，以保证测试结果的准确性。
校准包括对信号发生器、信号采集器和数据采集及控制器的参数进行检查和调整。
ate检测标准
ate检测标准ATE测试是应用于电子制造行业的一种检测标准，主要包括了结构测试、功能测试和性能测试三个方面。
以下是ATE检测标准的详细介绍：1.结构测试（Structure Test）：结构测试主要检测制造缺陷，以及零件的放置、连接等是否正确。
常见的结构测试包括以下几类：o IO类：主要用JTAG进行覆盖，会进行一些DC参数的测试，如VIH、VIL、VOH、VOL、Leakage等。
o Digital Logic类：主要用SCAN方式进行覆盖，如Stuck-at、Transition等，若存在覆盖率问题可添加功能向量。
o Memory类：主要用BIST方式进行覆盖。
o IP类：内嵌数字电路，用SCAN覆盖；模拟电路，测试功能和性能，辅以BIST。
o功耗类：通常采用IDDQ进行覆盖，亦可进行动态功耗测试。
o特殊类：Die ID、基准trim、加密烧写、SIP、POP、分级筛选等。
2.功能测试（Function Test）：功能测试主要针对设备的功能进行检测，以确保设备能够正常工作并产生预期结果。
功能测试通常采用仿真或虚拟测试环境进行，以模拟设备的实际工作条件。
3.性能测试（Performance Test）：性能测试主要检测设备的性能指标是否符合设计要求和实际应用需要。
这些指标可能包括设备的响应速度、精度、稳定性等。
性能测试通常需要在真实的设备上进行，以检测实际运行条件下的设备性能。
除了以上三个方面的测试，ATE检测标准还包括对于可靠性和安全性的评估。
这些评估可能包括对于设备的耐久性、环境适应性、电磁兼容性等方面的检测。
这些检测标准旨在确保设备能够在各种条件下正常工作，并且不会对人员或环境造成危害。
在实际应用中，ATE检测标准可能会根据不同的产品类型和实际需求进行调整和修改。
然而，无论采用何种ATE检测标准，其目的都是确保制造的设备能够达到预期的质量和性能水平，以满足客户的需求。
(完整版)ATE测试设备操作规范
《ATE设备操作规范》文件编号：文件版号：编制：审核：批准：生效日期：发放编号：ATE自动测试设备操作说明：编写程序一、 ATE测试编程总步序流程说明:1.点击电脑“8020ATS”图标-录入用户名与密码—进入软件---点击“打开TP”---选择一个ATS2文件—点击“编辑TP”----对程序文件进行修改二、编写程序说明：程序信息：1.基本信息：待测物型号：录入需要编程的电源代码、型号规格。
作者：录入编写人员。
说明：录入此代码电源需要注意事项，例如：JB.A.038基板电源基板电源PW-52V2.88A-N 实际测试需要带8个63V330uF电解电容进行容性负载测试，测试电流1.9A。
2.UUT设置：输出组数：1=1路 2=2路依此类推。
同时测试个数：定义为在测试台同时测试的电源数量。
LED组数：设定为默认值，我司目前未生产LED电源。
启用输出短路继电器：需要进行“√”勾选。
3.仪器设置：系统默认仪器配置：选择此项进行“√”勾选。
4.连接切换设置：半成品测试时才能启用此项。
5.PASS/FAIL显示方式：横向按顺序显示：选择此项进行“√”勾选。
6.条码设置：默认选项。
以上编写完毕后，点击程序主选项“测试流程”进入编写页面。
测试流程：1.测试前执行：点击“测试前执行”，“√”勾选。
双击“测试前执行项目”，进入模块编辑页面，前两项参数不做修改，只对“输入电流最大值”进行修改，设置范围在0.05A-0.1A之间。
2.在线测试：（1）.现阶段测试项目为“带载测试”以及“空载测试”两个测试项目，要求先进行“带载测试”，后进行“空载测试”。
可通过页面内“上移”“下移”进行选择测试优先项。
空载测试（2）.双击“空载测试”进入项目编辑页面。
（a）.交流电源输入设置：“√”勾选“开启交流输入电源”，选择交流电压为“230V”。
（b）.输出负载设置：“NoLoad”为空载测试模式，“CC”为带载测试模式，在此页面选择“NoLoad”，负载加载值选择0.01A，其他项目不做任何改动。
ATE测试基本知识课件
3、这一部仪器以工控机为基础，内建A/D、I/O卡， 外加自己开发的接口控制电路 ，一台工控机可以
带两个接口控制电路，控制两个测试架，同时测 试两部机芯。
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二、仪器的连接及各部分说明
1、仪器的连接
显示器
PC
接口控制电路
气缸 测试架
显示测试结果 控制中心，过 测试信号的产 信号与机芯 程控制及结果 生、调制、接收 接口 判断
8、要先把所有已打开的软件关闭后，方可关闭系统。
9、如测试人员擅自进入非测试页面，而造成仪器不 能正常测试的，按有关规定处理。
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谢谢大家！
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欢迎大家提出宝贵意见！ 谢谢！
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4、拿取机芯PCB板，将RING开关拨至右边后，平 稳放入测试架针床上，确认定位良好。
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5、双手同时按下测试架底座两旁的“启动1”和 “启
动2”按钮，机芯压板自动下压PCB板，到位后 开始测试。
原来这么 简单！
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6、在前面两声振铃时观察测试架上的LCD显示镜 有无显示设定的FSK及DTMF来电显示号码。
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4、测试参数设置：
当需要修改测试机芯的参数或新增测试机型时，选择系统菜 单下的<系统参数配置>项，系统出现对话框如下图，在各对 话框中写入相应信息后，选择<Save>按钮保存或依据<Close> 提示进行保存。不需要保存时，选择<Cancel>退出。
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四、选择测试机型界面及步骤 以HCD（17）为例
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IVT-3T-32 第1页 共1页
NO.日 期变更原因版 本变
更
履
历变更内容更改人文件编号：ATE 自 动 测 试 作 业 指 导 书
下一个流程就是顾客，不接受、不制造、不流出不良品是我们大家共同的承诺！
IVT 1.打开Power pro 测试
程序.进入如图一画面.
在User ID 中输入OP 进
入下一画面 2.用鼠标点如图二示GO/NOGO Test 处进入下一画面 3.选择生产机型双击鼠标进入下一画面 4.点击OK 处进入一下画面
5.进入测试画面
6.如图示插好输出输入线,打开电源开关,确认指示灯亮.确认无误后,点击如图5示TEST 处(或按F10)进入测试
7.出现OK 后点击OK 后点击OK 继续测试下一步
8.测试结果判定.若出现如图所示画面
(PASS)则此板为良品,取出PCB 板流入下
一流程:若出现显FAIL 字样则为不良品,
将不良吕区分并标示制造确认品质确认核准审核作成。