应用于saradc中逐次逼近寄存器的设计
分段电容sar adc原理

分段电容sar adc原理
分段电容SAR(Successive Approximation Register) ADC是
一种逐次逼近寄存器ADC的结构,其中电容电荷的分离和逼
近过程通过相继将一对对电容连接到不同的电压源上来实现。
SAR ADC由一系列比特逼近单元(Bit Approximation Unit,BAU)组成,每个BAU都包含一个比较器、一个DAC(数
字模拟转换器)和一个寄存器。
它们按照权重的顺序排列,最高位的BAU具有最高的权重,最低位的BAU具有最低的权重。
SAR ADC的工作原理如下:
1. 初始化:将所有的比特逼近单元初始化为0。
2. 逐位逼近:从最高位(MSB)开始,将DAC输出与输入信
号进行比较。
比较器的输出将根据输入信号与DAC输出的大
小关系确定当前比特的值,并将其存储到寄存器中。
3. 电容分离:根据当前比特的值,将电容连接到相应的电压源上。
如果比特为1,则将电容连接到高电压源,如果比特为0,则将电容连接到低电压源上。
4. 更新DAC输出:根据寄存器中存储的比特值,将DAC的
输出进行更新,以逼近输入信号的大小。
5. 重复以上步骤:对每个比特逼近单元重复执行2-4步,直到
逼近结束。
通过不断的逼近过程,SAR ADC可以在每个时钟周期中逼近
输入信号的值,并将其转换为二进制码输出。
由于它的结构相
对简单,且具有较高的转换精度和速度,SAR ADC被广泛应用于许多领域,如通信、音频和传感器接口等。
逐次逼近型ADC

理解逐次逼近寄存器型ADC:与其它类型ADC 的架构对比Jul 02, 2009摘要:逐次逼近寄存器型(SAR)模数转换器(ADC)占据着大部分的中等至高分辨率ADC市场。
SAR ADC的采样速率最高可达5Msps,分辨率为8位至18位。
SAR架构允许高性能、低功耗ADC采用小尺寸封装,适合对尺寸要求严格的系统。
本文说明了SAR ADC的工作原理,采用二进制搜索算法,对输入信号进行转换。
本文还给出了SAR ADC的核心架构,即电容式DAC和高速比较器。
最后,对SAR架构与流水线、闪速型以及Σ-Δ ADC进行了对比。
引言SAR ADC的架构尽管实现SAR ADC的方式千差万别,但其基本结构非常简单(见图1)。
模拟输入电压(V IN)由采样/保持电路保持。
为实现二进制搜索算法,N位寄存器首先设置在中间刻度(即:100 (00)MSB设置为1)。
这样,DAC输出(V DAC)被设为V REF/2,V REF是提供给ADC的基准电压。
然后,比较判断V IN是小于还是大于V DAC。
如果V IN大于V DAC,则比较器输出逻辑高电平或1,N位寄存器的MSB保持为1。
相反,如果V IN小于V DAC,则比较器输出逻辑低电平,N位寄存器的MSB清0。
随后,SAR控制逻辑移至下一位,并将该位设置为高电平,进行下一次比较。
这个过程一直持续到LSB。
上述操作结束后,也就完成了转换,N位转换结果储存在寄存器内。
图1. 简单的N位SAR ADC架构图2给出了一个4位转换示例,y轴(和图中的粗线)表示DAC的输出电压。
本例中,第一次比较表明V IN < V DAC。
所以,位3置为0。
然后DAC被置为01002,并执行第二次比较。
由于V IN > V DAC,位2保持为1。
DAC置为01102,执行第三次比较。
根据比较结果,位1置0,DAC又设置为01012,执行最后一次比较。
最后,由于V IN > V DAC,位0确定为1。
13位低功耗SAR-SS ADC的研究与设计

13位低功耗SAR-SS ADC的研究与设计13位低功耗SAR-SS ADC的研究与设计引言:随着智能化和物联网的快速发展,对于高分辨率、低功耗的模数转换器(ADC)的需求越来越迫切。
为了满足这一需求,我们进行了13位低功耗逐次逼近寄存器-逐次逼近调整(SAR-SS)ADC的研究与设计。
本文将介绍该ADC的原理、设计方法和性能评估。
一、SAR-SS ADC的原理SAR-SS ADC是一种常见的ADC结构,由逐次逼近寄存器(SAR)和逐次逼近调整(SS)两部分组成。
SAR负责比较电压信号,并通过二分搜索法来得到数字比特。
SS是一种在线的增益校准技术,旨在通过抵消模拟和数字电压的误差来提高ADC的精度。
二、ADC的设计方法1. 比特决策时间的优化为了提高ADC的速度,我们采用了并行比特决策的方法。
通过在每个比特之间引入校准间隙,并行比特决策可以减少比特间的决策时间,从而提高转换速度。
2. 低功耗设计技术为了降低功耗,我们采用了以下设计技术:a) 功耗管理技术:通过有效的电源管理策略,包括引入低功耗模式和限制功耗消耗,实现最低功耗设计。
b) 压缩编码技术:利用压缩编码技术对数据进行编码,从而减少功率消耗。
c) 快速启动技术:通过设计快速启动电路,减少ADC启动时间,从而降低功耗。
三、ADC的性能评估为了评估所设计的ADC的性能,我们进行了以下实验:1. 分辨率测试:通过输入不同幅度的信号,我们测试了ADC 的分辨率,并得到了13位的分辨率。
2. 功耗测试:我们测量了ADC在不同采样频率下的功耗,并且通过对比其他ADC的实验结果,证明了所设计的ADC具有较低的功耗。
3. 精度测试:通过与参考ADC进行比较,我们测试了所设计的ADC的精度。
结果表明,所设计的ADC具有较高的精度。
结论:本文研究了13位低功耗SAR-SS ADC的原理、设计方法和性能评估。
通过优化比特决策时间和采用低功耗设计技术,我们成功地设计了一款功耗低、分辨率高、精度优异的ADC。
简述SAR ADC 的基本操作

简述SAR ADC 的基本操作在要求采样率低于10 MSPS 的应用中,最常见的(模数转换器)之一是SAR (ADC)。
该(AD)C 非常适合需要8-16 位分辨率的应用。
SAR ADC 是最容易理解的模数转换器之一,一旦我们知道这种类型的ADC 的(工作原理),它的优缺点就很明显了。
SAR ADC 的基本操作基本逐次逼近(寄存器)模数转换器如下图所示:SAR ADC 为每个样本执行以下操作:(模拟)(信号)被采样并保持。
对于每一位,SAR 逻辑向(DAC)输出一个二进制代码,该代码取决于正在审查的当前位和已经近似的先前位。
(比较器)用于确定当前位的状态。
逼近所有位后,将在转换结束(EOC) 时输出数字逼近。
SAR 操作最好解释为二分搜索(算法)。
考虑下面显示的代码。
在此代码中,正在审查的当前位设置为1。
由此产生的二进制代码输出到DAC。
这与模拟输入进行比较。
如果从模拟输入中减去DAC 输出的结果小于0,则审查位设置为0。
%8−bit digital output is all ze(ros)digital output = zeros(1,8);%Normalised to one for examplereference voltage = 1;for i=1:8 %current output bit set to 1: digital output(i)=1; compare threshold= 0; %Output digital output in current form to DAC: for j=1:i compare threshold = compare threshold+digital output(j)*reference voltage/(2ˆj); end %Comparator compares (analog)input to DAC output: if (input voltage−compare threshold 如果我们考虑0.425 V 的模拟输入值和1 V 的参考电压的示例,我们可以将8 位ADC 的输出近似如下:将8 位输出的第一位设置为1,因此输出到DAC 为0.50.425 减去0.5 小于0,所以将输出的第一位设置为0将8 位输出的第二位设置为1,因此输出到DAC 为0.250.425 减去0.25 大于0,所以输出的第二位是1将8 位输出的第三位设置为1,因此输出到DAC 为0.3750.425 减去0.375 大于0,所以输出的第三位是 1 对所有8 位重复此过程,直到确定输出为:01101100从这个过程中可以明显看出,N 位SAR ADC 必须需要N 个(时钟)周期才能成功逼近输出。
采用SAR结构的8通道12位ADC设计

和复合 型 DA C,实现 了数字位 的 串行输 出。整体 电路采用 H PC S I E进行仿真 .转换速率 为 13 S S 3K P ,
转换 时 间为 7 1 。通 过 低 功 耗 设 计 , 作 电流 降 低 为 28 A。芯 片 基 于 06t BC .. 5t s 工 . m .. i MO 1 n i S工 艺 完成 版 图
D C、 次 逼 近 寄 存器 和 逻 辑 控 制 A 逐
一
基 金 项 目 : 国 家 自 然 科 学 基 金 ( 60476046), 教 育 部 博 士 学 科 点 基 金 ( 01 和 部 委 基 金 2005070 1 5)
( 1 0 0 0 0 DZ 1 0 5 4 8 1 2 5 0 6 ) 5 4 8 1 3 4 0 4 , 1 0 0 0 0 DZ 1 4
本 文基 于 上华 06. CMOS .1 Bi t n i
2 猛发展 , ADC在 便 携 式 设 备 上 的 应 体 系 结 构都 是 为 了满 足某 种 特 定 需 工艺 设 计 了一 个 8通道 l 位 串行 输 S ADC 出 ADC,转 换 核 心 电路 采 用 逐 次 逼 用 发 展 迅 速 ,正 逐 步 向高 速 、高精 求 的 纵 向市 场 而设 计 的 。 AR 度 和 低 功 耗 的方 向 发展 。 是采样 速率低于 5 P MS S的 中高 分 近 型 结 构 ,并 在 总 结 改 进 传 统 结 构
维普资讯
● 西 安 电 子科 技 大 学 微 电 子研 究 所 彭 新芒 杨银 堂 朱 樟 明
采用 S AR 结 构 的 8通 道 1 2位 ADC 设 计
摘 要 :本 文设 计 实现 了一 个 8 道 l 位 逐 次 逼 近 型 A C。转 换 器 内部 集 成 了 多 路复 用 器 、并 / 通 2 D 串转换 寄存 器
应用于逐次逼近型ADC的数字校准技术研究与实现

摘要模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)是实现连续模拟信号转换为离散数字信号必不可少的接口模块。
ADC种类较多,然而逐次逼近型模数转换器(Successive Approximation Rigister,SAR) ADC,因其结构简单、面积小、功耗低以及更适用于先进工艺的不断演进等独特优点,在便携式消费类电子产品、医疗器械设备、工业控制以及数字采集等领域得到广泛关注和应用。
在上述应用领域中,对SAR ADC的性能提出了更高的要求。
同时,随着纳米级CMOS工艺技术的不断发展,高性能模拟电路的设计愈加困难,因此,采用数字校准技术协助实现高性能的ADC,已经成为较为普遍的做法。
本文在现有研究的基础上,首先分析了SAR ADC的非理想因素,如寄生电容、电容失配等影响。
然后总结了目前常用的不同实现方式的SAR ADC数字校准技术,并分析了各自的优缺点。
通过分析,本文研究了两种数字校准方案协助实现高性能的SAR ADC,具体研究内容包括:第一,研究了一种12位1MS/s的前台数字自校准SAR ADC。
针对校准DAC以及回补校准码的算法做了改进。
为了降低面积和扩大校准范围,采用三段式结构的校准DAC校准主DAC中高6位的误差电压。
同时,将中间状态作为校准DAC的初始状态,简化误差测量逻辑控制过程。
另外,采用“双寄存器”预判断的方法,提高校准码的回补效率。
设计和实现的前台数字自校准SAR ADC在110nm CMOS工艺下,通过校准前后仿真对比验证,结果表明,该SAR ADC校准后,SNDR从校准前的49 dB提升到71.1dB,DNL/INL分别从校准前的-1/+21.250 LSB、-17.398/+10.152 LSB减小到-0.25/+0.5 LSB、-1.048/+0.792 LSB。
第二,研究了一种基于扰动信号注入的14位30MS/s后台数字校准SAR ADC。
16位sar adc数字校准算法及数字电路设计

16位sar adc数字校准算法及数字电路设计16位SAR ADC数字校准算法及数字电路设计1. 前言16位SAR ADC(Successive Approximation Register Analog-to-Digital Converter)是一种高精度、高速度的模数转换器,广泛应用于工业控制、医疗仪器、通信设备等领域。
数字校准算法和数字电路设计对于提高16位SAR ADC的性能至关重要。
2. SAR ADC工作原理SAR ADC是一种逐次逼近寄存器型模数转换器,其工作原理是通过逐步逼近对模拟输入信号进行量化。
SAR ADC将输入信号与一个DAC (数模转换器)的输出进行比较,得到一个比较结果,然后将这个比较结果送入一个寄存器中进行逐位逼近。
每次比较完成后,SAR ADC 会得到一个近似的数字输出,经过多次迭代后,得到最终的数字输出结果。
3. SAR ADC数字校准算法为了提高16位SAR ADC的精度和稳定性,数字校准算法至关重要。
数字校准算法主要包括零点和增益校准两个方面。
在零点校准中,通过降低输入失调和增益误差,减小偏差并消除误差。
在增益校准中,通过修正不稳定的增益和零点漂移,提高转换器的稳定性。
4. 数字电路设计16位SAR ADC的数字电路设计需要考虑多个方面,包括输入电路设计、时序分析、功耗优化等。
在输入电路设计中,需要考虑输入阻抗匹配、信号放大和滤波等问题。
时序分析则需要确保各个模块之间的数据传输和控制信号的正确性和稳定性。
另外,功耗优化也是数字电路设计的重要任务,需要合理布局电路结构、选择合适的工艺参数和优化布线等。
5. 个人观点和理解对于16位SAR ADC数字校准算法及数字电路设计,我认为数字校准算法是关键的技术之一,能有效提高16位SAR ADC的性能。
而在数字电路设计中,要考虑的因素很多,需要全面考虑各个方面的需求,并在设计中做出合理的权衡。
只有在数字校准算法和数字电路设计两个方面都做到精益求精,才能生产出高性能的16位SAR ADC。
8位 SAR ADC设计说明书

1 关键名词解释 (1)2 功能概述 (1)3 工作原理及电路性能分析 (3)3.1 数字部分 (3)3.2 模拟部分 (3)3.2.1 关于采样精度和采样时间 (3)3.2.2 比较器 (4)3.2.3 可变增益结构 (6)3.2.3 模拟部分仿真结果 (9)4 验证结果分析 (11)4.1 TT 25℃的仿真结果 (11)4.2 SS 85℃的仿真结果 (13)4.3 SS 125℃的仿真结果 (14)4.4 FF -55℃的仿真结果 (16)4.5 FF -40℃的仿真结果 (18)4.6 总体电气特性表 (21)4.7 仿真环境说明 (22)图目录图2. 1 系统结构 (1)图3. 1 采样期间的第一级比较器的结构图 (4)图3. 2 8位ADC的比较器的结构图 (4)图3. 3 ss情况下比较器的仿真结果分析 (5)图3. 4 ss情况下比较器的仿真结果分析 (6)图3. 5 待采样保持电路的第一级 (7)图3. 6 (a)Mn和Mp未开;(b)Mn和Mp导通,DAC电压接入时的情况 (7)图3. 7 (1)比较器Vp端的输入 (2) 比较器Vn端的输入 (7)图3. 8 电荷转移图 (8)图4. 1 TT 25℃,差分输入负电压情况下 (11)图4. 2 TT 25℃,差分输入正电压情况下 (12)图4. 3 TT 25℃,单端输入情况下 (12)图4. 4 SS 2.7v 85℃,双端输入负电压 (13)图4. 5 SS 2.7v 85℃,双端输入正电压 (13)图4. 6 SS 2.7v 85℃,单端输入正电压 (14)图4. 7 SS 2.7v 125℃,双端输入负电压 (15)图4. 8 SS 2.7v 125℃,双端输入正电压 (15)图4. 9 SS 2.7v 125℃,单端输入 (16)图4. 10 FF 3.6v -55℃,双端输入负电压 (17)图4. 11 FF 3.6v -55℃,双端输入正电压 (17)图4. 12 FF 3.6v -55℃,单端输入正电压 (18)图4. 13 FF 3.6v -40℃,双端输入负电压 (19)图4. 14 FF 3.6v -40℃,双端输入正电压 (19)图4. 15 FF 3.6v -40℃,单端输入正电压 (20)表目录表3. 1 Gain=1时的仿真结果 (9)表3. 2 Gain=0.5时的仿真结果 (9)表3. 3 Gain=2时的仿真结果 (9)表3. 4 Gain=4时的仿真结果 (10)表4. 1 TT 25仿真结果参数 (12)表4. 2 SS 85℃仿真结果参数 (14)表4. 3 SS 125℃仿真结果参数 (16)表4. 4 FF -55℃仿真结果参数 (18)表4. 5 FF -40℃仿真结果参数 (20)表4. 6 原手册结果 (21)表4. 7 仿真结果汇总 (21)8位SAR ADC1 关键名词解释12位ADC的文档中已述2 功能概述图2.1 系统结构ADC2子系统包括一个8通道的可配置模拟多路开关(AMUX2),一个可编程增益放大器(PGA2)和一个500ksps、8 位分辨率的逐次逼近寄存器型ADC,该ADC 中集成了跟踪保持电路。
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0 引言
SAR ADC 是采样 速 率 低 于 5Msps 的 中 等 至 高 分辨率应用的常见结构,实质上是实现一种 二 进 制 搜索算 法[1-3]。 SAR ADC 的 逐 次 逼 近 寄 存 器 主 要 是依赖于移位寄存器的工作原理,如何优化 设 计 成 为低 功 耗 设 计 的 一 个 重 要 因 素[4]。 基 于 标 准 CMOS 工艺,通 过 结 构 研 究 来 提 高 速 度 和 分 辨 率、 优化 功 耗 面 积 等 指 标,是 ADC 的 重 要 研 究 方 向 之 一[5]。
图 3 带复位置位 D 触发器
图 3 中 的 D 触 发 器 是 由 4 个 传 输 门、2 个 或 门、2 个与非门 和 6 个 非 门 来 实 现 的,这 个 D 触 发 器中的传输门由两个反相时钟来控制,实现 下 降 沿 触发;其中 的 或 门 及 与 非 门 实 现 了 复 位 及 置 位 功 能,并且置位的优先级高 于 复 位 的 优 先 级。 D 触 发 器真值表如表 1 所示。
而控制电路部分要完成 Dp 和 Dn 差分信号及 AN20 等控制信号的 产 生,因 此 需 要 对 D 触 发 器 结 构进 行 些 许 改 动,即 需 要 两 种 D 触 发 器,如 图 4 所示。
数量。使用较少的数字逻辑单元,意味 着 开 关 功 耗 可以达到很小。虽然数字控制部分的动态功耗在 ADC 的功耗中不是主要部分,但使用较少的控制逻 辑可以把数字电路开关噪声降到很低,减 少 对 模 拟 部分的影响,对模拟部分的设计要求就可 以 更 低 一 些,对 降 低 模 拟 部 分 的 功 耗 起 到 一 定 的 辅 助 作 用[6] 。
若采用全定制的设计方法,对于一个 12 bits 的 逐次逼近寄存 器,约 需 要 24 个 D 触 发 器。 数 字 控 制电 路 部 分,AN20、AN30、Eoc _ en 等 6 个 控 制 信 号,大概 需 要 6 个 D 触 发 器 和 12 个 逻 辑 门 电 路。 也就是说,采 用 全 定 制 方 法 来 实 现 逐 次 逼 近 寄 存 器,总共约需要 30 个 D 触 发 器 和 12 个 逻 辑 门,相 比逻辑综合的实现方法,大大地减少了逻辑 单 元 的
表 1 D 触发器真值表
D
SN
RN
Q
QN
×
0
×
1
0
×
1
0
0
1
0
1
1
0
1
1
1
1
1
0
D 触发器真 值 表 表 明,只 要 置 位 SN 低 电 平 有 效,Q 端强制置位为 1;在置位 SN 无效,复位 RN 低 电平有效时,Q 端 清 零 复 位; 只 有 在 置 位 和 复 位 都 无效时,Q 端的输出等于 D 端输入,实现移位。
图 2 表 明 逐 次 逼 近 寄 存 器 的 主 要 信 号,分 别 如下:
Clk:SAR ADC 的工作时钟信号; Clear:清零信 号,转 换 开 始 前 将 所 有 寄 存 器 清 零 ,低 电 平 有 效 ; Vcomp :比 较 器 的 输 出 结 果 ,也 就 是 寄 存 器 要 保 存的数据; AN20、AN30:SAR ADC 中 DAC 的 模 拟 开 关 控 制信号; Dn0 ~ Dn12、Dp0 ~ Dp12:两 组 差 分 信 号,用 于 控制 DAC 中的电容极板; Eoc_en:一 次 转 换 完 成 时 的 指 示 信 号,低 电 平 有效; PD_lock:比较器中的锁存放大器的 工 作 信 号, 高电平有效; PD_pre:比较 器 中 前 置 放 大 器 的 工 作 信 号,高 电平有效; clear_iner:比 较 器 输 出 端 的 强 制 清 零 信 号 ; 最终的转换数据通过并串转换模块后以串行 方 式 输 出 ,并 且 要 保 证 输 出 数 据 与 时 钟 同 步 。
张少真1 ,李哲英2
(1. 北京交通大学 电子信息工程学院,北京 100044; 2. 北京联合大学 信息学院,北京 100101)
[摘 要] 逐次逼近寄存器( SAR registers) 协调 DAC( Digital-to-Analog Converter,数模转换器) 和 比较器共 同 工 作,完 成 逐 次 逼 近 逻 辑,在 SAR ADC ( Successive approximation A / D Converter,逐 次 逼近型模数转换器) 的 设 计 中 非 常 重 要。 设 计 了 一 个 应 用 于 5V 单 电 源 电 压、采 样 率 为 1MSPs、 12bits、低功耗 SAR ADC 中的逐次逼近寄存器。通过比较分 析 逻 辑 综 合 和 全 定 制 两 种 方 法,选 择 了 全 定 制 方 法 来 实 现 逐 次 逼 近 寄 存 器 ,实 现 功 耗 、面 积 的 最 佳 优 化 。 [关键词] 逐次逼近寄存器;逻辑综合;全定制;控制信号 [中图分类号] TP 332. 1 [文献标志码] A [文章编号] 1005-0310(2011)02-0015-05
2011 年 6 月 第 25 卷第 2 期总 84 期
北京联合大学学报(自然科学版) Journal of Beijing Union University( Natural Sciences)
Jun. 2011 Vol. 25 No次逼近寄存器的设计
SAR ADC 变 换 前,逐 次 逼 近 寄 存 器 要 全 部 清 零;变 换 开 始,要 将 逐 次 逼 近 寄 存 器 的 最 高 位 寄 存 器设置为 1,之后逐 次 逼 近 逻 辑 依 次 将 下 一 位 寄 存 器置为 1,直至 12 位数据完成转换。从转换的过程 来看,需要带复位置位的 D 触发器。如图 3 所示。
The Design of SAR Registers in SAR ADC
ZHANG Shao-zhen1 ,LI Zhe-ying2
(1. School of Electronic and Information Engineering,Beijing Jiaotong University,Beijing 100044,China; 2. College of Information,Beijing Union University,Beijing 100101,China)
2 逐次逼近寄存器的设计
逐次逼近寄存器及控制电路部分的输入输出 信号如图 2 所示。
图 2 逐次逼近寄存器信号图
图 1 逐次逼近寄存器的逻辑结构
根据 DC 综合报告 得 知,逐 次 逼 近 寄 存 器 调 用 了 39 个 D 触发 器 单 元 和 135 个 门 级 电 路 单 元,总 共 174 个数字 逻辑单元。根据 综 合 的 功 耗 报 告 得 知,电路功耗约为 3. 3 mW,泄漏功耗约为 0. 5 mW, 即逐 次 逼 近 寄 存 器 的 总 功 耗 为 3. 8 mW。 在 Encounter 工具中进行自动布局布线,版图面积设置为 280 μm × 580 μm 时,版图中单元密度为 52% 左右, 对于 CSMC 1P3M 0. 5 μm 工艺来说,只有 3 层金属 布线,当密度偏高时,容易出现走线冗长、散 热 不 均 等问题。显然,用逻辑综合的方法来实现 逐 次 逼 近 寄 存 器 ,功 耗 和 面 积 都 不 太 符 合 设 计 指 标 。
1 逐次逼近寄存器的实现
随着集成电路的发展,对于某些 设 计 可 以 采 用 EDA 技术,以硬件描述语言为逻辑描述的主要表达 方式,整个设 计 过 程 中 可 用 软 件 进 行 仿 真 与 验 证, 故 逻 辑 综 合 的 实 现 方 法 变 得 更 加 方 便[4]。 SAR
[收稿日期] 2011 - 04 - 19 [基金项目] 北京市教委项目( PHR〈IHLB〉20090513) ;国家自然基金项目( NSFC609976024) 。 [作者简介] 张 少 真 ( 1986—) ,女,河 北 衡 水 人,北 京 交 通 大 学 电 子 信 息 工 程 学 院 ,硕 士,主 要 研 究 方 向 为 混 合 信 号 集 成电路的设计。
parameter idle = 5'b00001; / / 上电复位 parameter setup = 5'b00010; / / 初始化状态 parameter sample = 5'b00100; / / 采样状态 parameter convert = 5'b01000; / / 转换状态 parameter adout = 5'b10000; / / 输出状态 通过 Modelsim 编 译、仿 真 及 DC 综 合,得 到 逐 次逼近寄存器的逻辑结构如图 1 所示。
16
北京联合大学学报(自然科学版)
2011 年 6 月
ADC 中的逐次逼近寄存器逻辑通过逻辑综合的方 法来 实 现,这 样 大 大 减 少 了 仿 真 及 版 图 设 计 的 时间。
SAR ADC 完成一次转换需要 18 个时钟周期, 分为初始化 ( 2 个 周 期 ) 、采 样 与 保 持 ( 3 个 周 期 ) 、 转换(12 个周期) 和输出 (1 个周期) 4 个状态。因 此,可以编 写 Verilog 代 码 通 过 有 限 状 态 机 来 实 现 逐 次 逼 近 逻 辑 ,设 置 的 状 态 代 码 如 下 :
第 25 卷第 2 期
张少真等:应用于 SAR ADC 中逐次逼近寄存器的设计
17
SAR ADC 中的逐次逼近寄存器是基于移位寄 存器和计数器来设计的,而移位寄存器和计 数 器 都 是基于 D 触 发 器 来 设 计 的[7],所 以 首 先 设 计 D 触 发器。 2. 1 D 触发器的设计
SAR ADC 中,比 较 器 在 时 钟 上 升 沿 将 比 较 结 果输 出,为 了 保 证 数 据 的 稳 定 性,所 以 逐 次 逼 近 寄 存器最好在时钟下降沿读取数据,因此需要 下 降 沿 触发的 D 触发器。