第三章 全息干涉与散斑干涉
全息技术与光的干涉

全息技术的优势
真实性
比传统摄影技术更加真实
信息记录
可以记录物体的全息信息, 包括立体和深度信息
全息技术的应用
全息技术在医学、工 程、艺术等领域有着 广泛的应用。它可以 实现立体影像的记录 和重放,为现实世界 带来新的可能性。
● 03
第3章 全息技术与光的干涉
全息技术在医学 影像中的应用
全息技术中的相干光源
需要使用相 干光源
确保记录到 的干涉图样 清晰可见
空间滤波在全息技术中的应用
改善全息图像质量
利用空间滤波可以有效提 高全息图像的清晰度和细 节散光的影响,提高全息 图像的纯净度
提高图像清晰度
有效应用空间滤波可以使 全息图像更加清晰,轮廓 更加分明
全息成像的基本原理
全息成像是利用光的干涉原理进行图像的记录与 再现。它包括波的叠加和干涉两个基本过程,通 过这些过程可以实现对物体的全息信息记录。
全息干涉的过程
交汇
把参考光和物体 光交汇,形成干
涉图样
记录
通过干涉图样记 录物体信息
全息图像的重放
01 重放
通过将记录的全息图像重新照明,可以还原 出物体的三维影像 02
科技进步
技术不断发展 全面应用
未来展望
随着科技的不断进步, 全息技术将以更完善 的形态呈现。在各个 领域中,全息技术的 应用将更加广泛,为 人们提供更多创新和 便利。
● 06
第六章 总结与展望
总结全息技术的 特点
全息技术是一种可以 记录和再现物体真实 三维影像的技术。通 过全息技术,我们可 以观察到物体的立体 图像,并且应用在医 学、娱乐等领域,具 有广泛的应用前景。
全息技术在医学影像 学中扮演着重要角色。 通过使用全息技术, 医生可以获得更真实、 更立体的影像,这有 助于更准确地诊断和 治疗疾病。
散斑干涉以及散斑照相术

摘要
电子散斑干涉( ESPI)技术是一种非接触式全场实时测量技术 ,因其通用性 强、 测量精度高、 频率范围宽及测量简便等优点 ,近年来获得了快速发展。电 子散斑干涉无损检测技术可以完成位移、 应变、 表面缺陷和裂纹等多种测试。 本文就目前国内外散斑干涉术进行简单阐述, 总结目前国内的主要散斑干涉技术 以及应用。例如,用散斑照相术和散斑干涉术测变形、位移、倾斜、震动,以及 根据散斑位移与物体位移间的关系测量物体位移的速度, 根据散斑的对比度测量 表面的粗糙度等。
λ
散斑干涉术
散斑干涉术是激光照明时,被测试物体表面形成的散射光与参考光束(其可 以是平面波和球面波的单光束、双光束或是另一个散斑场)进行干涉而产生具有 一定对比度的散斑,是精确检测物体表面各点变形(位移或旋转)的一种光学测试 法。对于透明物体而言,其散斑干涉条纹是物体折射率变化或厚度变化的一种量 度;对于漫反射物体而言 ,其反射光波干涉形成的散斑干涉条纹是表征漫反射物 体变形、 位移或旋转的一种量度,且形成的散斑干涉条纹随物体变形(位移或旋转) 而变化。 因此,散斑干涉术虽然必须加入参考光 ,但是通过散斑干涉术获得的散斑干 涉条纹却可以直接的表征物体的变形(位移或旋转)及其他运动情况。 而且该散斑 干涉条纹的采集、记录和后期处理都是利用计算机实时完成的。
������ L
尺寸大得多。 如果在远场观察, 即在透镜的后焦平面上观察散斑图,那么平均散斑的直径 是 ∆������������ ≈ ������ = ������ ������
������ f′
式中 f ′ ----透镜的焦距; D ----透镜的口径。 当观察面不在透镜的焦面上时, 则必须考虑到透镜的放大倍率,散斑的平均直径 是 ∆������������ ≈ ������ = ������ ������
全息术解析光波干涉与衍射现象

全息术解析光波干涉与衍射现象在现代光学中,全息术是一种基于光波干涉与衍射现象的高级光学技术。
通过使用全息术,可以将光波的相位和振幅信息完整地记录下来,并在后续的观察中进行重建。
全息术被广泛应用于三维成像、图像存储和显示等领域,为我们带来了许多重要的科学和技术进展。
光波干涉是指两个或多个光波的相遇产生的现象。
当两个光波的相位相同或相差等于2π的整数倍时,它们会互相增强,形成亮纹。
相反,当两个光波的相位相差等于(2n+1)π时,它们会互相抵消,形成暗纹。
在全息术中,通过将这种相位差信息记录下来,我们可以在后续的观察中还原出原始光波的全息图像。
光波衍射是指光波在通过孔隙或物体边缘时出现偏折和扩散的现象。
当光波通过一个窄的缝隙或孔洞时,它会向四周扩散,形成衍射图样。
这种扩散效应使得我们能够观察到物体的微小细节。
在全息术中,通过记录光波的衍射图样,我们能够在后续的观察中还原出物体的全息图像。
全息术的基本原理是将物体的光波信息通过干涉或衍射的方式记录在一块光敏介质上。
当这块光敏介质被光照射时,光波的相位和振幅信息将被记录下来。
在全息图形成之后,我们可以使用与原始光波相同的光束照射到全息图上,通过光的干涉或衍射效应,将记录下来的光波信息重建出来。
全息术有两种主要类型,即传统全息术和数字全息术。
传统全息术使用光敏材料作为记录介质,需要使用化学处理才能在干净的环境中观察到全息图像。
而数字全息术使用数字摄像机记录光波信息,并通过计算机处理和重建图像。
数字全息术具有实时处理和方便传输的优势,逐渐成为全息术的主流技术。
除了用于成像和显示,全息术还被应用于光学存储领域。
全息光盘是一种使用全息术记录和读取数据的介质。
与传统光盘相比,全息光盘能够存储更多的数据,并且具有更快的读取速度。
这使得全息光盘在信息存储和大容量数据传输方面具有巨大的潜力。
全息术的发展不仅推动了光学技术的进步,也为科学研究和工程实践带来了许多机遇。
它在医学成像、材料研究、人工智能等方面的应用也在不断拓展。
激光全息振动测量与散斑干涉计量

四、实验内容和操作方法
全息测振的方法分两大步:即记录实时全息图和时间平均全息图。记录实时全息图 的目的是为了判断物体的振型。测量光路见图 5-3,具体测量方法如下。
图 5-3 实验光路
1、记录实时全息图并找出所要分析的振型 (1) 现按图排好光路。 同一光路中的物光和参考光应等光程。 参考光和物光的比例应在 3: 1---10:1 左右。参考光和物光的夹角要合适(约 30°) 。试件是一块金属板,表面用
三、实验装置
He-Ne 激光器,光学平台,光学组件,全息干版,冲印设备。
四、实验内容和操作方法
1、 试件毛玻璃片装在可作微转动的夹持器上,夹持器装在小虎钳上(S 处) 。在 H 处置一 毛玻璃观察屏。 2、 开启光闸,让激光照明毛玻璃 S,则可在观察屏 H 上看到透过毛玻璃 S 的出射光相干 形成的随机分布的散斑。 3、 将成像透镜 LC 对准试件 S,并使透镜主轴与被测表面垂直,调节透镜的位置, 使毛 玻璃屏 H 上获得—清晰的像,并测出物体和像的大小,算出放大倍数 M。 4、 用曝光定时器关闭光闸 K,将全息干版装在底片架(H 处)上,使药面对着物体。 5、 开启光闸 K,激光对干版进行第一次曝光,时间约半分钟。 6、 关闭曝光定时器,遮断光路,将试件转动—微小角度。 7、 再次开启光闸,对干版进行第二次曝光,曝光时间与第—次相同。 8、 取下曝光的干版,进行显影,定影,水洗和晾干。 9、 将制作好的两次曝光散斑照片装到底片夹上,置于未经扩束的细激光束中,在照片后 面约 50 厘米以上的地方放置毛玻璃观察屏,则在屏幕上可看到杨氏条纹。 10、被测物体中心为原点,分别测出 r =2,4,6,8,10 mm 等各点的位移值,并以 1/l 为横轴, r 为纵轴。作 1/l-- r 图,求出其斜率 m ,并由 m 算出物体转过的角度。 实验记录: 测物距 a 像距 a
复杂变形构件应变的散斑-全息干涉测量法

而位移分 量
的等 值条纹 图
。
由 于 球 面 实际 在整个 前桥 上 是偏于 右 衍
产
所 以条
纹并不 对称 于球面的 垂直对称抽 图的 条纹 值
:
摸 壁的荷 载形 式如图
。 单边荷载护 季 .0 朽向 条纹
一
色 7一
对 于 水 平位移分量
2 2`劝 0一
v
:
.
,
对于 垂直位 移分 量 图7
、 。
、
与传 统 的试 验 台 试 验 和 复杂构件 的数值分 析 比 较
u
,
更加 直观
。
散 斑 干 涉 法 常 用 于 测 量构 件 平 面 的 面 内位移 场
和 高度 变化不 大的 平缓 曲 面 ( 如 扁壳
、
v
,
,
但当构件 某部 分 表 面 为 曲幸很 小
一 方 法 近 似测 量 其 切 向
小 曲率球 面 ) 时
复 杂 变 形 构 件 应 变 的 散 斑 一全 息 干 涉 测 量 法
八
一 个 台 理 的构件
,
沙 拉 巴诺 夫
应 该是 重 量 轻 且 经 久 耐用
,
一
苏
,
陆渝生
。
这 与构件的 几 何 参数 与表 面 形 状 有 关
、 ,
由
此 引起 的 一 个 重 要问题 是 一 问题 的方 法 是 多种的 照 相法
而 随着离 开 中 心
c
y 值 迅 速 降低
、
沿 x 轴 的应变
,
其最大 值位 于 球 面
。
部 分 与右侧梁 的接合处
图3
, ,
散斑 照相是纪 录 物体 表平面 或聚 焦于 物体 表 面 前某 一 距 离 上 的 平 面 内的散斑
第三章确定应力强度因子叠加法及组合法(计)-2008

第三章确定应力强度因子叠加法及组合法第1节概述1、应力强度因子求解的重要性应力强度因子是线弹性条件下计算带裂纹结构剩余强度和裂纹扩展寿命必不可少的基本控制参量。
由于应力强度因子在裂纹体分析中的中心地位,它的求解自断裂力学问世以来就受到了高度的重视,迄今为止,已经产生了众多的方法。
应力强度因子与裂纹几何和荷载形式有关,两者的组合可以派生出许多种情况,从而使应力强度因子的求解变得很复杂。
2、常用应力强度因子求解方法常用的应力强度因子计算方法有两大类:一)理论计算方法1)解析法复变函数法、保角变换法等特点:计算精确,但适用范围窄2)数值法有限元素法、边界元法、无网格法等特点:适用范围宽,但计算效率较差3)半解析—半数值方法边界配置法等特点:适用范围比解析法宽,计算效率比数值法高二) 实验方法电阻应变片法、光弹性法、全息干涉法、散斑干涉法等3、应力强度因子一般描述形式应力强度因子可以描述为:K a=βσπ3-1-1I式中, σ是远离裂纹处的名义应力, a是裂纹尺寸。
因子β是裂纹几何形状、结构几何形状载荷形式以及边界条件等的函数, β是无量纲的。
对于无限大板, 中心穿透裂纹, 远处均匀受拉(单向或双向),应力强度因子为:=σπ3-1-2K aI其中a为半裂纹长度。
即在此情况下, β=1, 从而, 可以将β看作是一修正系数, 它使实际应力强度因子与无限大板的中心裂纹有关。
第2节叠加法1、叠加原理由于线弹性断裂力学方法建立在弹性基础上, 故可用线性累加每种类型载荷所产生的应力强度因子来确定一种以上的载荷对裂纹尖端应力场的影响。
在相同几何形状的情况下, 累加应力强度因子解的过程称为叠加原理。
造成同一开裂方式的应力强度因子求和过程的唯一限制是应力强度因子必须以相同的几何形状(包括裂纹几何形状)为前提。
——如果结构在几种或者特殊荷载作用下,产生了复合裂纹,则各型应力强度因子是在将荷载分解后各型裂纹问题的应力强度因子本身的叠加。
全息干涉术的原理和应用

全息干涉术的原理和应用引言:全息干涉术是一种特殊的光学技术,借助光波的干涉原理,可以记录并再现物体的三维图像。
它具有广泛的应用领域,如娱乐、科学、医学等。
本文将介绍全息干涉术的原理和应用。
一、全息干涉术的原理全息干涉术基于光的两个主要特性:波动性和干涉性。
当一束光通过透明介质后,分为两部分:直射光和透过介质表面反射后进入物体再反射回来的光。
这两束光相互干涉形成干涉条纹,记录下来的全息图像就是干涉条纹的模样。
全息干涉术的关键在于使用一个参考光波和一个照明光波。
参考光波是一束与照明光波相干的平行光,它通过物体并和物体反射出来的光相交。
当参考光波和物体反射光波相遇时,会发生干涉现象。
通过调节参考光波的相位差,我们可以记录下完整的干涉图像。
二、全息干涉术的应用1. 三维图像展示全息干涉术可以将物体的完整三维信息记录下来,并通过光的干涉现象再现出来。
这种技术被广泛应用于三维图像展示,如全息照片、全息电影等。
观看者可以从不同角度欣赏到物体的真实外观,增强了视觉体验。
2. 医学和生物学全息干涉术在医学和生物学领域有重要应用。
它可以帮助医生和研究人员观察细胞、纤维和其他微小结构,以便更好地理解它们的形态和功能。
通过全息干涉术,可以捕捉到细胞的三维形状和细节,从而提供更准确的诊断和治疗。
3. 材料科学全息干涉术在材料科学中也有着重要的应用。
它可以帮助科学家们研究材料的内部结构和性能。
通过记录材料的干涉图像,可以获取材料的隐含信息,比如应力分布、形变等。
这对于材料设计和评估非常有价值。
4. 安全技术全息干涉术在安全技术领域也有广泛应用。
比如,全息干涉术可以用于防伪技术,将难以复制的图案和信息记录在光敏材料上,以保证产品的真实性。
此外,全息干涉术还可以用于指纹识别和虹膜识别等生物识别技术中,提高安全性和准确性。
总结:全息干涉术作为一种基于光的干涉现象的技术,具有广泛的应用领域。
它的原理是利用两束相干光的干涉现象记录物体的三维信息,并可以再现出真实的图像。
全息干涉与散斑干涉综述

全息干涉与散斑干涉技术综述报告全息干涉无损检测技术是无损检测技术中的一个新分支,它是20世纪60年代末期发展起来的,是全息干涉计量技术的重要应用。
我们知道结构在外力的作用下,将产生表面变形。
若结构存在缺陷,则对应缺陷表面部位的表面变形与结构无缺陷部位的表面变形是不同的。
这是因为缺陷的存在,使得缺陷部位的结构的刚度、强度、热传导系数等物理量均发生变化的结果。
因而缺陷部位的局部变形与结构的整体变形就不一样。
应用全息干涉计量技术就可以把这种不同表面的变形转换为光强表示的干涉条纹由感光介质记录下来。
而激光散斑技术是在激光全息实验中,我们观察被激光所照射的试件表面,就可以看到上面有无数的小斑点,因而观察不到条纹,因此在前期,散斑是被看作是噪声来对待的,直到随着人们对全息干涉技术的进一步了解,才发现虽然这些斑点的大小位置都是随机分布的,但所有的斑点综合是符合统计规律的,在同样的照射和记录条件下,一个漫反射表面对应着一个确定的散斑场,即散斑与形成散斑的物体表面是一一对应的。
在一定范围内,散斑场的运动是和物体表面上各点的运动一一对应的,这就启发人们根据散斑运动检测,来获得物体表面运动的信息,从而计算位移、应变和应力等一些力学量。
因此全息和激光散斑方法由于其固有的高灵敏度,在非破坏性测试领域发现了越来越多的应用。
可探测到表面及地下的裂缝、空洞、脱层和分层等缺陷。
由于这些方法测量了在外部加载或其他条件的影响下,在这三个维度下研究对象的变形,它们也可以用于质量控制,也可以用于设计阶段。
激光散斑的方法,还利用了电子检测和处理的发展(称为电视全息术),并可用于实时定量评价。
本综述报告主要介绍利用光纤光刻技术,对全息和激光散斑测量方法进行了全面的研究,这两种方法都适用于焊接、复合材料的检验。
IntroductionHolography is a two step process of recording a wavefrontand then reconstructing the wave. While Holography is oftenused to obtain the recreations of beautiful 3-dimensional scenes,there are several engineering applications, the most common andimportant one being Holographic Non-Destructive Testing . Thisis accomplished with holographic interferometry, whereininterferometry is carried out with holographically generatedwavefronts .A speckle pattern is generated when an object with a roughsurface is illuminated with a highly coherent source of lightsuch as laser. Initially this speckle noise was considered asthe bane of holographers, until it was realized that these specklescarry information about the surface that produce them. Again,as in the case of holography, the combination of interferometric concepts with speckle pattern correlation gave rise to speckle interferometry . The developments in electronic detection and processing further added wings to laser speckle methods giving rise to Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI), or “TV Holography”. This paper describes a brief outline of holographic and speckle methods for Non-Destructive Testing applications, wherein the deformations of an object under load are measured in a non-contact way. Measurement of surface shapes using contouring and derivatives of displacement using Shearography are also presented.1.HolographyThe schematic for recording a hologram is shown in Fig.1. The light from a laser is split into two beams. One beam illuminates the object and the other beam is used as a reference. At the recording plane, an interference of theFig. 1 : Experimental arrangement for recording a hologram. wavefront scattered by the object with the reference wavefront takes place. A recording is made on a high resolution photographic plate. The developed plate, now called a “Hologram”, when illuminated by the reference wave, reconstructs the object wave. There are several recording geometries such as in-line, off-axis, image plane, Fourier Transform, reflection and rainbow holograms. The theory behind the recording and reconstruction of object wavefront is well documented .1.1Holographic Interferometry (HI)While holography is used to obtain recreations of beautiful 3-D scenes, most engineering applications of holography make use of its ability to record slightly different scenes and display the minute differences between them. This technique is called Holographic Interferometry (HI). Herewe deal with Interference of two waves of which atleast one of the waves is generated holographically.Methods of Holography Interferometry are classified as (i) Real-time HI, (ii) Double-Exposure HI, and (iii) Time average HI. In holographic interferometry, we record the holograms of the two states of an object under test, one without loading and one with loading. When such a doubly exposed hologram is reconstructed, we see the object superposed with a fringe pattern which depicts the deformation undergone by the object due to loading. The theory behind the fringe formation in HI is as follows [3]:Let the O1 and O2 represent the undeformed and deformed object waves, which are written asO1(x,y) = |O(x,y)| exp[-i Φ(x,y)] (1)O2(x,y) = |O(x,y)| exp[-i Φ(x,y) + δ] (2) where δis the phase change due to displacement or deformation of the object. The intensity due to superposition of these two waves isI(x,y) = |O1(x,y) + O(x,y)|2= O1O1* + O2O2* + O1O2* + O1* O2= I1 + I2+ 2I1I2Cos δ(3)where I1 and I2 are the intensities of O1 & O2. The Phase Difference δ is given byδ = (K2-K1).L (4)where K2 is the observation vector, K1 is the illumination vector and L is the displacement vector. Thus the evaluationof the phase δis gives the displacement. The fringes formed represent contours of constant displacement.1.2Holographic Non-Destructive Testing (HNDT)This powerful technique of Holographic interferometry, is an invaluable aid in Engineering design, Quality Control and Non-Destructive testing and Inspection. In HNDT, the object under study is subjected a very small stress or excitation and its behavior is studied using HI.The defects in the object can be spotted as an anomaly in the otherwise regular fringe pattern. HNDT is a highly sensitive, whole-field, non-contact technique and is applicable to objects of any shape and size. The types of excitation used for HNDT are mechanical, thermal, pneumatic or vibrational. Defects such as cracks, voids, debonds, delaminations, residual stress, imperfect fits, interior irregularities, inclusions could be seen. HNDT is applied to inspect the disbonds between the plies of an aircraft tyre, delamination of the composite material of a helicopter rotor blade, PCB inspection, rocket castings, pressure vessels, andso on.Use of double-pulsed laser makes HI more attractive for study of transients and impact loads. Fig.2 shows the double exposure hologram of a turbine blade subjected to an impact loading (recorded using a double-pulsed Ruby laser).Fig. 2 : Double-pulse hologram of a turbine blade impact loaded with a small metallic ball.Time average HI, wherein a hologram of a vibratingobject is recorded, provides information about the modes and the vibration amplitudes at various points on the object. Figs.3(a) and (b) show the time average holograms of a rectangular plate vibrating at 1826 Hz and 5478 Hz, from which the resonant mode patterns could be easily studied . In HNDT, this technique is used for study of vibrations of machinery, car doors, engines and gear boxes and to identify the points where they should be bolted to arrest the vibration and noise.Fig. 3 : (a) and (b) Time averaged hologram of a centrally clamped plate at (0,0) and (1,0) mode when vibrated at 1826 Hzand5478Hz respectively2 22 22. Electronic Speckle Pattern Interferometry(ESPI)Recent holographic applications in engineering use a video camera for image acquisition, which is coupled to a computer image processing system. This is termed as TV Holography, though technically called Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI). The technique makes use of the speckle pattern produced when an object with a rough surface is illuminated with a laser [4-6]. The correlation between the speckle patterns, before and after an object is deformed, are carried out using image processing techniques. Figure 4 shows the schematic of an ESPI system. The object is illuminated by the light from a laser and is imaged by a CCD camera. An in-line reference beam, derived from the same laser, is added at the image plane. The specklecorrelation is carried out by storing an image while the object is in its initial state, and subtracting the subsequent frame fromthis stored frame, displaying the difference on the monitor. When the object is subjected to some loading or excitation, the correlated areas appear black while the uncorrelated areas would be bright, resulting in a fringe pattern. As in HI,the fringes represent contours of constantdisplacement of the object points.The fringe formation in ESPI is well documented . The intensity distributions I 1(x,y) and 12(x,y) recorded before and after the object displacement respectively can be written asFig. 5 : Measurement of Poisson’s ratioI I (x,y) = a 1 +a 2 + 2a 1a 2 cos(ϕ) (5) I 2(x,y) = a 1 +a 2 + 2a 1a 2cos(ϕ+δ) (6)Fig. 4 : Experimental arrangement for ESPIFig. 6 : (a) Delamination in a plate (b) Longitudinal crack in asteel weldmentwhere a 1 and a 2 are the amplitudes of the object and reference waves, δ is the phase difference between them and ϕ is the additional phase change introduced due to the objectmovement. The subtracted signal as displayed on the monitor is given by,I 1 - I 2 = 4 |a 1a 2 Sin[ϕ + (δ/2)] Sin (d/2)|(7)Thus we find the brightness is modulated by a sine factor of the phase. The brightness on the monitor is maximumFig. 7 : Fiber Optic Shearography systemwhen δ = (2m +1)π and zero when δ = 2m π, which producesa fringe pattern on the monitor. The phase change δ is given by equation [4], the same as in holography. Figure 5 shows such an interferogram obtained by ESPI with a plate subjected to four-point bending, from which the Poisson’s ratio of the material of the plate could be calculated directlyfrom the smaller angle between the asymptotes of the hyperbolic fringes [8]. Figure 6(a) shows the delamination between two plates bonded together, while Fig. 6(b) shows a longitudinal crack in a weldments [9].4. Shearography In Shearography, we generate correlation fringes which are contours of constant slope of the out-of-plane displacement of an object under study . In this technique, one speckle field is made to interfere with the same speckle field, but sheared with respect to it. The subtractive correlation of the speckle patterns of the deformed and undeformed yields the derivatives of the displacement profile. Figure 7 shows the schematic of a fiber optic Shearography system. A double image of the laser illuminated object is made on the CCD camera. A small shear is introduced between the two images by tilting one of the mirrors. Incorporation of fiber optics makes the system very compactand the technique applicable to objects at inaccessible locations. Shearography is a very useful tool in experimental stress analysis and NDT as well. With the use of phase shifting techniques, the fringe patterns can also be automatically processed by the computer to obtainquantitative 3-dimensional plots . Figure 8 shows the results of an NDT application of Shearography to detect delamination in glass fiber reinforcedplastic (GFRP). The GFRP specimens were prepared withunidirectional glass fiber mat and epoxy resin with and without programmed defects. The defects were introduced by placing a thin Teflon film of 10 mm diameter and thickness 0.23mm between the layers of glass fiber mat during the lamination. Four layers of Glass fiber mat were used to make the laminate. The specimens were made in the form of circular diaphragm. The diaphragm was clamped along the edgesanFig. 8 : Slope fringes obtained on a circular GFRP specimen which was (a) Defect free (b) Having a programmed delaminationloaded mechanically at the center. The optical configuration of Fig. 8 was used, which is sensitive to the slope of the out- of-plane displacement. Figure 8(a) shows the fringes obtained with a defect-free specimen, while Fig. 8(b) shows the fringeswhen a delamination was introduced between the third and fourth layers. The defect site could be easily seen as a localized fringe. 全息无损检测主要还是采用全息干涉计量技术的三种方法进行,即实时全息干涉法,两次曝光全息法和时间平均全息干涉法。
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R ar exp(ir )
照射经显影和定影后的全息底片, 则透射全息图的光波复振幅表示 2 3 为: A Rt (a0 ar ar )(T1 T2 ) exp(i r )
a0 ar 2 exp(i0 )[T1 T2 exp(i )] a0 ar exp[i(0 2 r )][T1 T2 exp(i )]
( SP PO) ( SP PO) 2 [(e0 r0 e r ) (e0 r0 e r )]
对于小变形,有
e0 , e0 e e
作业:试推导全息干涉法 中相位变化与位移的关系。
( SP PO) ( SP PO) 2 [(e 0 r0 e r ) (e0 r0 e r )] 2 [e 0 (r0 r0) e (r r )]
3.1.1 全息照相原理
全息照相是一种波前记录和再现技术,它通过引入参考光 波与物体光波发生干涉,将物体光波的振幅和相位信息以干涉 条纹的形式保存于记录介质。然后将处理的记录介质用参考光 波再现,提取保存在记录介质上的物体光波信息,记录介质经 衍射后可再现原理的物体光波,该再现光波将包含物体振幅和 相位等全部信息的立体像。
2
第一项:零级衍射光波; 第二项:正一级衍射光波,构成物体的虚像; 第三项:负一级衍射光波,构成物体的实像,但与原来物体 相位相反。
上述三个衍射光波沿不同的方向传播,彼此互相分离,由此当 用原来参考光波照射全息图时,透过全息图将有三束光波沿不 同方向射出,这就是有Leith和Upatnieks提出的离轴全息照相。 3.1.2 全息图的类型
通过计算机模拟和经过光学缩放而得到的全息图,称为 (Computer Production Hologram)。计算全息的特点是先用 计算机制作全息图,然后用光学衍射方法进行再现。由于计 算机技术的发展,目前可对复杂物体通过计算机模拟制作全 息图。计算全息利用计算机制作全息图,由此并不需要物体 一定存在,由此计算全息具有很大的灵活性。
仅考虑含有exp(i0 )的第二项,则透过全息 图的复振幅为:
2 A a0 ar exp(i0 )[T1 T2 exp(i )]
ห้องสมุดไป่ตู้2 2
a0 ar exp[i ( 0 r )][T1 T2 exp(i )]
全息底片经显影和定影后,设振幅透射率与曝光量成线性关 系,取比例常数为β,则双曝光全息图的振幅透射率为:
t E (a0 ar )(T1 T2 )
2 2
a0 ar exp[i ( 0 r )][T1 T2 exp(i )] a0 ar exp[i ( 0 r )][T1 T2 exp(i )]
2 2
I 2 (O2 R) (O2 R) (a0 ar ) a0 ar exp[i(0 r )] a0 ar exp[i(0 r )]
2 2
设物体变形前后全息底片的曝光时间分别为T1和T2,则全息 底片记录到的曝光量可表示为:
E I1T1 I 2T2 (a0 ar )(T1 T2 ) a0 ar exp[i ( 0 r )][T1 T2 exp(i )]
3.2 全息干涉法
全息干涉法(Holographic Inteferometry)是基于全息照相的 干涉计量技术。它是一种高精度非接触全场干涉测试方法,其 测量灵敏度可以达到可见光的波长量级。全息干涉法可用于物 体的变形测量和振动分析。 3.2.1 全息干涉原理 1.相位-位移关系 物点P移到P’后物体光波的相位 变化可表示为:
E IT T (a0 ar ) Ta0 ar exp[i(0 r )]
2 2
Ta0 ar exp[i(0 r )]
在一定曝光量范围内,全息图的振幅透射率与曝光量成线性关 系,若取比例常数为β,那么全息图的振幅透射率可表示为:
t E T (a0 ar ) Ta0 ar exp[i(0 r )]
平面全息图和立体全息图的主要区别就是平面全息图的干涉 条纹是记录在乳胶的表面上,全息图的衍射主要是介质的面 效应,其作用类似于平面光栅;而体积全息图的干涉条纹是 记录在乳胶的内部,全息图的衍射主要是介质的体效应。
3.光学全息图,数字全息图和计算全息 采用光学方法通过全息记录材料(如全息底片)记录而得到 的全息图称为光学全息图(Optical Hologram)。光学全息图 需要经过显影和定影等冲洗处理,并采用光学系统完成物体 光波的再现。 采用光学方法但通过光敏电子器件(如CCD)记录而得到的 全息图称为数字全息图(Digital Hologram)。数字全息图不需 要经过显影和定影等冲洗处理,通过计算机模拟光学衍射过 程来实现光波的数字再现,因而可以实现全息记录、存储和 再现等过程的数字化。
根据全息记录和再现的方式不同,全息图有多种分类方法,主 要分类方法概括如下。 1.振幅全息和相位全息 按照全息图透射率,分为振幅全息图(Amplitude Hologram) 和相位全息图(Phase Hologram)。 一般来说,再现光波通过全息图时,光波的相位和振幅都会 发生变化。如果衍射后光波的相位不变,全息图仅仅改变再 现光波的振幅,该全息图称为振幅全息图。或者吸收全息图。
作业: P13 P30
P36
P41
P51
第三章 激光全息测量与散斑测量技术
全息照相术(Holography)由Gabor于1948年首先提出来的, 由此获得了1971年诺贝尔物理学奖。Gabor提出的是同轴全息 照相,由于当时没有高度相干光源,且无法分离同轴全息照相 所产生的孪生像,由此全息技术在那以后的十多年间并未得到 广泛关注。直到1960年激光器问世以及1962年Leith和Upatnieks 提出离轴全息照相后,全息技术才进入迅速发展的年代,各种 不同的全息方法相继提出,开辟了全息应用的新领域。
3.1.全息照相术
普通照相(Photography)是通过透镜把物体成像在感光底 片上,感光底片所记录的光强分布只与物体光波的振幅有关, 而与物体光波的相位无关。由此普通照相反映的是物体的平面 像,因为普通照相只能记录物体光波的振幅信息,而不能记录 物体光波的相位信息。
全息照相利用物体光波和参考光波之间的干涉效应将物体 光波的振幅和相位信息全部记录在全息底片上,全息 底片经过 显影和定影后变成全息图(Hologram),然后用再现光波(一般 采用记录全息图时的参考光波)照射全息图,通过全息图的衍 射效应使物体光波得到再现,进而得到物体的立体图。因此全 息照相与普通照相的不同之处在于全息照相不但能记录物体光 波的振幅信息,而且能同时记录物体光波的相位信息。这种能 同时记录物体光波振幅和相位信息的技术称为全息照相术。
A Rt (a0 ar ar )(T1 T2 ) exp(i r )
2 3
a0 ar 2 exp(i0 )[T1 T2 exp(i )] a0 ar exp[i(0 2 r )][T1 T2 exp(i )]
第一项是透过全息图后沿参考光波方向的0级衍射光波; 第二项是透过全息图后沿物体光波方向的1级衍射光波; 第三项是物体共轭光波。
再利用:
r 0 r0 d , r r d
2
(e e 0 ) d
2.双曝光全息干涉法
双曝光全息干涉法(Double-Exposure Holographic Interferometry) 通过两次系列曝光把对应与物体变形前后的两个不同状态记录于 同一张全息底片上。全息底片经过显影和定影处理后,再放回原 记录系统进行再现,则对应于物体变形前后的两个物体光波,因 相位不同而发生干涉并形成干涉条纹,通过对干涉条纹进行分析, 即可实现物体的位移和变形测量。 设物体变形前后的物体光波 复振幅分别为:
2 2
作业:试解释为什么A实验室制作 的一全息片可以在B实验室再现。
WR Tac (a0 ar ) exp(ic ) Tac a0 ar exp[i(0 r c )] Tac a0 ar exp[i(0 r c )]
WR Tac (a0 ar ) exp(i c ) Tac a0 ar exp[i ( 0 r c )]
全息底片既可记录为平面全息图(Plane Hologram),也可以记 录为体积全息图(Volume Hologram)。 平面全息图(也称为薄全息图)的记录介质的厚度小于所记录的 干涉条纹的间隔;体积全息图(也称为厚全息图)的记录介质的 厚度等于或大于干涉条纹的间隔。应当注意,干涉条纹的间隔不 仅与波长有关,还与物体光波和参考光波之间的夹角有关。
2 2
Tac a0 ar exp[i ( 0 r c )] WR 0 WR 1 WR 1
如果用的原来的参考光波,则:
A Rt T (a0 ar ar ) exp(i r ) Ta0 ar exp(i 0 )
2 3 2
Ta0 ar exp[i ( 0 2 r )]
如果衍射后光波的振幅透射率与位置无关,全息图仅仅改 变再现改变的相位,该全息图称为相位全息图。相位全息图分 为两类:一类是浮雕相位全息图,该类全息图的记录介质的厚 度在变化,但介质的折射率保持不变;另一类是变折射率相位 全息图,该类相位全息图的记录介质的折射率发生变化,而厚 度保持不变。 2.平面全息图和立体全息图
O1 a0 exp(i0 ) O2 a0 exp[i(0 )] 其中,i0和(0 )分别别为变形前后物体 波相位;
为物体变形而引起的 物体光波的相位 变化
设参考光波复振幅为:
R ar exp(ir )
那么物体变形前后全息底片记录光强分别为:
I1 (O1 R) (O1 R) (a0 ar ) a0 ar exp[i(0 r )] a0 ar exp[i(0 r )]