第五节发射光谱法

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第五章原子发射光谱

第五章原子发射光谱

• 处于高能级的电子经过几个中间能级跃 迁回到原能级,可产生几种不同波长的 光,在光谱中形成几条谱线。一种元素 可以产生不同波长的谱线,它们组成该 元素的原子光谱。 • 不同元素的电子结构不同,其原子光谱 也不同,具有明显的特征。
原子发射光谱技术的发展历程
原子发射光谱在50年代发展缓慢; 1960年,工程热物理学家 Reed ,设计了环形放电感耦等 离子体炬,指出可用于原子发射光谱分析中的激发光源;
电极,每转动180度,对接一次, 转动频率(50转/s),接通100次/s, 保证每半周电流最大值瞬间放电 一次;
高压火花的特点:
(1)放电瞬间能量很大,产生的温度高,激发能力强, 某些难激发元素可被激发,且多为离子线; (2)放电间隔长,使得电极温度低,蒸发能力稍低,适 于低熔点金属与合金的分析; (3)稳定性好,重现性好,适用定量分析;
原子发射光谱仪通常由三部分构成: 光源、分光、检测;
原子发射光谱激发光源
• 激发光源的基本功能是提供使试样中被 测元素原子化和原子激发发光所需要的 能量。对激发光源的要求是: 灵敏度高,稳定性好,光谱背景小,结 构简单,操作安全。
常用的激发光源: • 电弧光源。(交流电弧、直流电弧) • 电火花光源。 • 电感耦合高频等离子体光源(ICP光源) 等。
检测器
ICP形成原理
ICP火焰温度分布
缺点:出射狭缝固定,各通道检测的元素谱线一定;
改进型: n+1型ICP光谱仪
在多道仪器的基础上,设置一个扫描单色器,增加一个 可变通道;
2. 全谱直读等离子体光谱仪
采用CID阵列检测器,可同时检测165 ~800nm波长范围内出现的全部谱线; 中阶梯光栅分光系统,仪器结 构紧凑,体积大大缩小; 兼具多道型和扫描型特点; CID :电荷注入式检测器 (charge injection detector,CID), 28×28mm半导体芯片上,26万个感 光点点阵( 每个相当于一个光电倍 增管);

第五章原子发射光谱法2014

第五章原子发射光谱法2014

3. 直流电弧分析性能
1) 蒸发能力强,适用于难挥发元素。 2) 弧焰温度较低,激发能力较差。 3) 弧光游移不定,分析结果的重现性差。 4) 弧层较厚,易产生自吸现象,不适合高含量
成分的定量分析。
4. 应用
定性和半定量分析:各类试样均适用。 定量分析:矿石、纯金属中的痕量组分。
(二)交流电弧
分析间隙
原子发射光谱法
Atomic Emission Spectroscopy (AES)
§1 基本原理
一、 原子发射光谱的产生 原子的外层电子由高能级向低能级跃迁,多余能
量以电磁辐射的形式发射出去,这样就得到了发射 光谱。原子发射光谱是线状光谱。谱线波长与能量 的关系:
E E2 E1 hv hc /
基态Na原子的核外电子排布: (1s)2(2s)2(2p)6(3s)1
5
单个电子运动状态的表示
核外电子运动
n
轨道运动 l
m
自旋运动 ms
与一套量子数相对应(自然也有1个能量Ei)
(二)原子能级和能级图
原子能级用光谱项来表征
由于核外电子之间存在着相互作用,包括:电子 轨道之间的相互作用,电子自旋运动之间的相互作 用以及轨道运动与自旋运动之间的相互作用等。
内焰区(测光区):温度 6000-8000 K,是分析物质原子 化、激发、电离与辐射的主要 区域,也是光谱分析区。
尾焰区:温度低于6000 K。
发射观 测区
2. ICP的物理特性
1) ICP的环状结构
交流电通过导体时,电流 密度在导体截面上的分布 是不均匀的,越接近导体 表面,电流密度越大,此 种现象称为趋肤效应。
二 原子谱线强度及其影响因素
(一)谱线强度:与激发态原子数成正比。 h u0 E Eu E0

5发射光谱

5发射光谱

一条谱线用两个光 谱项符号来表示
Na 588.996 nm (32S1/2- 32P3/2 ) Na 589.593nm (32S1/2- 32P1/2 )
4.跃迁的选择定则 4.跃迁的选择定则
在跃迁时,主量子数n的改变不受限制 的改变不受限制。 1. 在跃迁时,主量子数 的改变不受限制。 之间、 2. ∆ L = ±1,即跃迁只允许在 S 与P 之间、 , 之间, 或P 与S 或 D 之间,D 与P 或F 之间产生 等等。 等等。 3. ∆ S = 0。 。 4. ∆ J = 0,±1。但当 = 0时,∆ J = 0的跃迁 , 。但当J 时 的跃迁 是禁戒的。 是禁戒的。
• 光栅的分光原理
光栅的分光作用是多缝干涉和 光栅的分光作用是多缝干涉和单缝衍射 多缝干涉 的总结果。 的总结果 d:光栅常数 : α :入射角
β :衍射角
光程差: = 光程差 ∆=d(sinα ± sinβ)
光程差等于零或波长的整数倍时, 光程差等于零或波长的整数倍时,两列波相 遇时相互加强得到明亮条纹。 遇时相互加强得到明亮条纹。
研究生课程“现代物理实验方法”之 研究生课程“现代物理实验方法”
发射光谱
马艳 mayan@. mayan@ 659Байду номын сангаас4218
主要内容: 主要内容: 什么是光谱? 一、什么是光谱? 二、光谱的分类 三.分析发射光谱的特点 四、基本原理 五、 分析仪器 六. 分析方法
乳剂特性曲线
H∝E∝I
(二). 光电倍增管
多道光电直读光谱仪
光电阴极
阳极
第一倍增极 入射光
第三倍增极
主要内容: 主要内容: 什么是光谱? 一、什么是光谱? 二、光谱的分类 三.发射光谱分析的特点 四、基本原理 五、 分析仪器 六. 分析方法

发射光谱_精品文档

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发射光谱引言发射光谱是物理学和化学中一个重要的研究对象。

它通过观察物质在受到激发后发出的光的特征,可以揭示物质的性质和结构。

在本文中,我将讨论发射光谱的基本概念、测量原理以及在不同领域的应用。

发射光谱的基本概念发射光谱是指物质受到能量激发后,由激发态回到基态时发出的光的强度与波长的关系。

激发态可以是原子激发态、分子激发态或晶体激发态。

根据激发态的不同,发射光谱可分为原子发射光谱、分子发射光谱和固体发射光谱等。

发射光谱可以提供大量关于物质的信息。

例如,原子发射光谱可以用于元素分析和研究元素的能级结构;分子发射光谱可以用于分析化合物的结构和反应机理;固体发射光谱可以用于研究固体材料的电子结构和能带结构等。

发射光谱的测量原理发射光谱的测量依赖于光谱仪的使用。

常用的光谱仪有光栅光谱仪、干涉仪和分光光度计等。

光栅光谱仪是一种基于光栅衍射原理的光谱仪。

它由光源、光栅、光度计和计算机等组成。

光源发出的光经过光栅衍射后被光度计检测到,并通过计算机进行信号处理和分析。

干涉仪是一种利用光的干涉原理来测量光谱的仪器。

它由两束光经过分束器分开,然后再通过合成器合并。

干涉仪可以测量出光的相对强度和波长信息。

分光光度计是一种用于测量光的强度和波长的仪器。

它通过通过样品溶液吸收或散射光线的能力来测定样品的浓度。

发射光谱在不同领域的应用发射光谱在各个领域都有广泛的应用。

在环境监测领域,发射光谱可以被用来分析环境中的污染物。

通过分析发射光谱,可以确定环境中存在的物质种类和浓度。

这对于保护环境和人类健康非常重要。

在材料科学领域,发射光谱可以被用来研究材料的性质和结构。

例如,通过观察固体的发射光谱,可以了解材料的能带结构和电子结构,从而推断出材料的导电性和光学性质。

在医学领域,发射光谱可以被用来诊断疾病。

例如,通过测量某些蛋白质或抗体在体内的发射光谱,可以判断是否存在某种疾病或染料。

在天文学领域,发射光谱可以用来研究天体的性质和演化过程。

第五章、原子发射光谱(共24张PPT)

第五章、原子发射光谱(共24张PPT)
交变感应磁场; 2)火花 氩气 气体电离 少量电荷 相互碰
撞 “雪崩”现象 大量载流子;
3)数百安极高感应电流(涡电流,Eddy current) 瞬
间加热 到10000K 等离子体 趋肤效应 内管通入Ar 形成环状结构样品通道 样品蒸发、原 子化、激发。
ICP光源特点
1)低检测限:蒸发和激发温度高;
测量电压(电容电压)为
3)基体效应小(matrix effect): 样品处于化学隋性环境(Ar)的高温分析区
已知光信号产生的电流 i 与谱线强度I成正比,即
内管—载气,样品引入(使用
待测物发出的光谱经分光得一系列谱线,这些不同波长的光在感光板上曝光,经显影、定影后于相板上得到平行排列的谱线(黑线),这些谱线“变
火花特点: 1)放电稳定,分析重现性好; 2)放电间隙长,电极温度(蒸发温度)低,检出现低,多适于分析易熔金
属、合金样品及高含量元素分析;
3)激发温度高(瞬间可达10000K)适于难激发元素分析。
电感耦合等离子体
组成:ICP 高频发生器+ 炬管
+ 样品引入系统
炬管包括:
外管—冷却气,沿切线引入
中管—辅助气,点燃 ICP (点燃
LTE 定性、难熔样品及元素定量、 导体、矿物纯物质
LTE 矿物、低含量金属定量分析
~10000
好 LTE 难激发元素、高含量金属定量
分析
ICP ~10000
6000~8000 很好 非LTE 溶液、难激发元素、大多数元

火焰 2000~3000 激光 ~10000
2000~3000 很好 LTE 溶液、碱金属、碱土金属 ~10000 很好 LTE 固体、液体
E0tIijdtK 1 0ti

发射光谱法

发射光谱法
当原子的外层为一个电子时,其能级可 通过四个量子数来描述。主量子数n,角量
子数,磁量子数m,自旋量子数s。
原子的能级
主量子数 n, 即核外的电子壳层,第一层最
多2个电子,第二层最多8个电子…;
角量子数 ,电子亚层,即 s , p , d , f 等
电子轨道。
磁量子数m,电子云在空间伸展的方向, s
第五章 发射光谱法
第一节 第二节 第三节 第四节 第五节 原子发射光谱法 电感耦合等离子体发射光谱 荧光光谱法 原子荧光分析法 X-射线分析法
第一节 原子发射光谱法
原子发射光谱法利用了原子光谱的全部信 息特点,其信息品质好、信息量多、适合定性 分析,可同时分析几种甚至几十种元素。
原子发射光谱利用的信息是由激发态的粒子 产生,其发射强度受很多因素影响,因而在定 量分析中的应用效果略差。
共振线:由激发态直接跃迁到基态所发射的谱线。
第一共振线:由最低激发态跃迁到基态发射的谱线。
通常是最强的谱线。
原子光谱
电子从高能量激发态也可以回到为光谱定 则所允许的各个较低的激发状态,从而发射出 各种波长的谱线。 每种元素都有许多条发射谱线。 例如:结构最简单的氢原子,在紫外可见区 现在已经发现的谱线有 54 条。对于结构比较复 杂的原子,如Fe,W等元素,已知它们的谱线有 5000多条。
52G9/2.7/2 … n2G9/2.7/2
原子的能级
②、能级图
能级图:把原子中各种可能的光谱项和能 级间的跃迁,用图解的形式表现出来就是原子 的能级图。
原子能级跃迁选择定则:据量子力学原理,电子在两 个能级间的跃迁必须遵循一定的选择定则: (1) 主量子数的变化,Δn为整数,包括0。 (2) 总角量子数的变化,ΔL=±1。 (3) 内量子数的变化,ΔJ=0 ,±1,但当J=0 时,ΔJ=0的 跃迁时不允许的。 (4) 总子旋量子数的变化, ΔS= 0 ,就是不同多重性状 态之间的跃迁是禁戒的。

第五章 发射光谱

第五章 发射光谱

, 统计物理学称上式的分
gu a Za
=
g
u
e
m

m
g
e
nau = n
e
u − kT E
不同元素的配分函数是不同的, 不同元素的配分函数是不同的,配分函数与元素的能级多少有 能级多的元素则分配到每个能级上的布居数就小。 关,能级多的元素则分配到每个能级上的布居数就小。配分函 数还与温度有关,特别是电子能级结构复杂的Co Co、 Ni、 数还与温度有关,特别是电子能级结构复杂的Co、V、Ni、Zr 等元素配分函数随温度上升而明显增大。 等元素配分函数随温度上升而明显增大。依据玻尔兹曼分布定 常用的激发光源和原子化器中, 律,常用的激发光源和原子化器中,除易电离的碱金属和碱土 金属之外,大多数激发态原子密度很小, 金属之外,大多数激发态原子密度很小,原子密度差不多等于 基态原子密度。原子发射光谱法关心的是激发态原子的布居, 基态原子密度。原子发射光谱法关心的是激发态原子的布居, 而原子吸收和原子荧光光谱则是关心基态原子的布居。 而原子吸收和原子荧光光谱则是关心基态原子的布居。由于激 发态原子布居随着温度以指数形式变化, 发态原子布居随着温度以指数形式变化,而基态原子布居随温 度变化甚小,在保证分析物有效原子化的一定温度范围内, 度变化甚小,在保证分析物有效原子化的一定温度范围内,原 子吸收和原子荧光信号不象发射光谱信号那样显著地受光源温 度的影响。 度的影响。
na0 = g0
na1 = g1e ,
1 −kT
E
,……
naj = g j e
− kT
Ej
原子总密度为各能级原子密度之和
na =
∑a
m
0m
n au na
=

原子发射光谱分析法最新课件

原子发射光谱分析法最新课件

共振线、灵敏线、最后线及分析线:
• 由激发态直接跃迁至基态所辐射的谱线 称为共振线。由较低级的激发态(第一 激发态)直接跃迁至基态的谱线称为第 一共振线,一般也是元素的最灵敏线。 当该元素在被测物质里降低到一定含量 时,出现的最后一条谱线,这是最后线, 也是最灵敏线。用来测量该元素的谱线 称分析线。

5895.93 Å
32S1/2----32P1/2
2024/7/28
• 2.能级图 •把原子中所可能存在的光谱项---能 级及能级跃迁用平面图解的形式表 示出来, 称为能级图。见钠能级图。
2024/7/28
2024/7/28
四.谱线的自吸与自蚀
1.自吸
I = I0e-ad
I0为弧焰中心发射的谱线强度,a为吸 收系数,d为弧层厚度。
S)。L≥S,J共有(2S+1)个。若L<S,J共有 (2L+1)。
2024/7/28
当四个量子数确定之后,原子的运动状态就确定
• 1S0 •
• 1P1 •
• 3D3
L=0, S=0, M=1, J=0 L=1, S=0, M=1, J=1 L=2, S=0, M=3, J=3
2024/7/28
跃迁遵循选择定则:
λ= h c/E2-E1 υ= c /λ σ= 1/λ
• h 为普朗克常数(6.626×10-34 J.s) • c 为光速(2.997925×1010cm/s)
2024/7/28
原子发射光谱分析的优点
(a)多元素同时检测能力 (b)分析速度快. (c)选择性好 (d)检出限低 (e)准确度较高 (f)试样消耗少。 (g)ICP光源校准曲线线性范围 宽
电火花
ICP(Inductively coupled plasma)
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温度开始升高时,气体中的各种粒子、电子 等运动速度加快,增强了非弹性碰撞,原子被 激发的程度增加,谱线强度增强。超过某一温 度之后,电离度增加,原子谱线强度渐渐降低, 离子谱线强度逐渐增强。
(3)基态原子数N0
谱线强度影响因素
谱线强度和基态原子数N0成正比,N0由元素的 浓度决定,是光谱定量分析的依据。
在测定过程中,将内标元素定量加入到试样中, 与被测元素同时激发,蒸发与激发条件的不稳定及 其它干扰引起分析线与内标线强度的变化,但两者 的强度比没有改变。以谱线强度比为纵坐标、内标 元素浓度为横坐标,绘作工作曲线。只要测出谱线 强度比,即可求出试样中待测元素的含量。
②、能级图
原子的能级
能级图:把原子中各种可能的光谱项和能
级间的跃迁,用图解的形式表现出来就是原子 的能级图。
原子能级跃迁选择定则:据量子力学原理,电子在两 个能级间的跃迁必须遵循一定的选择定则:
(1) 主量子数的变化,Δn为整数,包括0。 (2) 总角量子数的变化,ΔL=±1。 (3) 内量子数的变化,ΔJ=0 ,±1,但当J=0 时,ΔJ=0的 跃迁时不允许的。 (4) 总子旋量子数的变化,ΔS=0,就是不同多重性状 态之间的跃迁是禁戒的。
利用火焰作为激发光源的光谱分析称为火焰 光度法。用火焰作激发光源,是将试液雾化并与 燃气混合后燃烧。
谱线强度同试验的雾化程度、燃料种类、喷雾 速度、燃烧方式等因素有关,在实际操作中必须 严格控制这些条件。
(2)直流电弧
发射光谱仪
工作原理:直流电弧工作时,阴极释 放出来的电子不断轰击阳极,使其表面上 出现一个炽热的斑点,称为阳极斑,阳极 斑的温度较高,用于试样的蒸发和激发。 一般均将试样置于阳极碳棒上的阳极斑位 置的空穴中。
(3)交流电弧
发射光谱仪
交流电弧是介于直流电弧和电火花之 间的一种光源,与直流电弧相比,交流电 弧的电极头温度稍低。
有控制放电装置,电弧较为稳定,常 用于金属、合金中低含量元素的定量分析。
(4)高压电火花
发射光谱仪
通常使用1*104V以上的高压交流电,通过 间隙放电,产生电火花。高压火花放电时间极 短,在一瞬间内通过分析间隙的电流密度很大, 弧焰瞬间温度很高,达10000K以上,激发能量 大,可激发电离电位高的元素。
J为内量子数,指电子在外磁场作用下,每一能级可能 被分裂成的子能级数目,它决定多重线中各谱线的强度比。
原子的能级
例:钠原子,其外层为一个电子,基态为3S, 它可能的能级项见下表。
钠原子光谱中可能的能级项(n(2S+1)LJ):
nL S
P
D
F
G…
3
32S1/2 32P3/2.1/2 32D5/2.3/2
谱线相对强度I与该元素在样品中的浓度c的关 系可用沙义伯-罗马金经验公式表示:I=acb,a为 与样品的蒸发、激发、组成等有关的参数,b与谱线 自吸收有关的参数,取值范围0~1;
高浓度时,b→0,谱线强度与浓度无关; 低浓度时,无自吸收,b=1,光强与浓度成正比。 一般浓度时,情况较为复杂。
二、原子发射光谱仪
由于电火花是以间隙方式进行工作的,平 均电流并不高,电极头温度较低,弧焰半径也 较小,主要用于易熔金属合金试样的分析和高 含量元素的定量分析。
发射光谱仪
2、色散系统,有棱镜式和光栅式。
3.检测器 检测方法:摄谱法、光电法。
(1)摄谱法 用感光板来记录光谱,将光谱 感光板置于摄谱仪焦面上,接受被分析试样光谱 的作用而感光,再经过显影、定影等过程后,制 得光谱底片。其上有许许多多黑度不同的光谱线, 然后用映谱仪观察谱线的位置和强度,进行光谱 定性分析和半定量分析;也可采用测微光度计测 量谱线的黑度,进行光谱定量分析。
Nj/N0
2000K
3000K
4.31×10-4
7.19×10-3
1.68×10-4
3.84×10-3
0.99×10-5
5.83×10-4
6.83×10-4
5.19×10-4
1.22×10-7
3.55×10-5
2.29×10-9
1.31×10-6
6.03×10-10
8.99×10-7
4.82×10-10
6.65×10-7
3.35×10-11
1.50×10-7
7.45×10-15
5.50×10-10
从上表可知,在火焰原子化过程 中,产生激发态原子的数目,决定于 火焰的温度和原子的激发能。温度越 高,NJ/N0越大;同一温度,激发能越 低,共振波长越长,激发态的原子数 也就越大。
(三)、原子光谱
原子光谱
激发能级越高,能量越大,谱线强度越小。
原因:随着激发态能级的增高,处于该激发 态的原子数迅速减少,释放谱线的强度降低。
激发能量最低的谱线往往是最强线(第一共振线)。
(2)激发温度T
谱线强度影响因素
谱线强度与温度之间的关系比较复杂。温度 既影响激发过程、又影响电离过程。
原子谱线强度随温度的升高,先是增强,到 达极大值后又逐渐降低。
每种元素都有许多条发射谱线。 例如:结构最简单的氢原子,在紫外可见区 现在已经发现的谱线有54条。对于结构比较复 杂的原子,如Fe,W等元素,已知它们的谱线有 5000多条。
2、谱线强度
谱线强度影响因素
谱线强度与激发态的能级、激发时的温度、 基态原子数等因素有关。
(1)激发态能级 谱线强度与激发态能级的能量是负指数关系,
当原子的外层为一个电子时,其能级可
通过四个量子数来描述。主量子数n,角量 子数 ,磁量子数m,自旋量子数s。
原子的能级
主量子数n,即核外的电子壳层,第一层最
多2个电子,第二层最多8个电子…;
角量子数 ,电子亚层,即s,p,d,f等
电子轨道。
磁量子数m,电子云在空间伸展的方向, s
电子云为球形对称;p电子云在三个空间方向上伸 展,为哑铃形对称…;
1.原子发射光谱的产生 处于激发态的电子跃迁回到基态时,辐射一定
能量,得到一条波长与辐射能量相对应的发射谱线。 共振线:由激发态直接跃迁到基态所发射的谱线。 第一共振线:由最低激发态跃迁到基态发射的谱线。 通常是最强的谱线。
原子光谱
电子从高能量激发态也可以回到为光谱定 则所允许的各个较低的激发状态,从而发射出 各种波长的谱线。
(2)光电检测法
发射光谱仪
用光电倍增管作为光电转换元件,通过检测 电信号确定谱线强度。
由于样品的蒸发、激发、谱线的反射、自吸 收等过程,瞬间起伏很大;谱线强度随时间起伏 波动。测量得到的瞬时谱线强度不能准确的表示 元素的含量,需要一个积分装置,用积分电容来 求一段时间内的光电流平均值,以此表示浓度的 变化。
(2)直流电弧
工作温度:弧焰温度约为4000~7000K,这 个温度尚难以激发电离电位高的元素;电极头 的温度较弧焰温度低,且与电流大小有关,一 般阳极可达4000K,阴极则在3000K以下。
优点:电极头温度高,蒸发能力强; 缺点:放电不稳定,且弧层较厚,自吸现 象严重,不适于高含量的定量分析。
应用于矿石等的定性、半定量和痕量元素 的定量分析效果较好。
标元素。分析线和内标线的自吸收现象要小, 分析线和内标线附近的背景应尽量小。
②内标元素和分析元素应具有相近的沸点和 化学性质,以减少试样蒸发条件变化的影响。
③分析线对,应具有十分相近的激发电位和 电离电位,以减小激发条件变化的影响。
④分析线对的波长、强度和宽度应尽量接近。
内标法:
元素内标法
选用一条其它元素的谱线为比较线,一条被测 元素的谱线作为分析线,用分析线与比较线的强度 比,进行光谱定量分析。使用的比较线称内标线, 提供比较线的元素称为内标元素。
自旋量子数s,电子的自旋方向;
2、原子能级的表示方法
原子的能级
① 能级项: 原子的能级通常用符号n(2S+1)LJ来表 示,称为能级项。每组不同的n(2S+1)LJ值代表一个不 同的能级。
n是指外层电子的主量子数, L是外层电子的总轨道角量子数, S是外层电子的总自旋量子数,(2S+1)是表示谱线多重性的 符号。由于角量子数L与自旋量子数S之间的电磁相互作用, 可产生(2S+1)个能量稍微有所不同的能级分裂,是产生光谱多 重线谱仪
光谱定性分析常用标准光谱图比较法。
标准光谱图是在一张放大20倍的铁光谱 图的不同波段上准确标出68种元素主要光谱 线的图片。
将试样与纯铁并列摄谱,摄得的光谱板 置于映谱仪上放大20倍,再与标准光谱图进 行比较,比较时,将两套铁光谱的谱线对准 后,就可由标准光谱图上找出试样中的一些 谱线是由哪些元素产生的。
k 是 波 茨 曼 常 数 (1.38*10-16erg·K-1) ; T
为绝对温度。
几种元素在不同温度下激发态与基态的 原子数比值
元素
Cs K Na Ba Ca Fe Ag Cu Mg Zn
共振线 nm
852.11 766.49 589.00 553.56 422.67 371.99 328.07 324.75 285.21 213.86
目前常用的激发光源有直流电弧、交流电弧、 电火花和电感耦合离子体等四种。
其它尚有火焰、低气压放电管、空心阴极灯、 直流等离子体喷焰等激发光源。
用低气压放电管、空心阴极灯等为激发光源的 分析法称为原子荧光分析法。
(1) 火焰光源
发射光谱仪
火焰光源是最早被采用的光源,至今仍被用 于碱金属、碱土金属等激发电位较低的元素分析 中。火焰类型:乙炔~空气,丙烷~空气,乙 炔~氧气、乙炔~氧化亚氮等。
原子的能级
能级图
(二)、基态和激发态原子的分配关系
在一定的温度下,物质激发态的原子数与基态
的原子数有一定的比值,并且服从波茨曼分布定律:
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