第五章过渡金属氧化物催化剂(一)-半导体理论

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第五章_金属氧化物和金属硫化物催化剂及其催化作用2

第五章_金属氧化物和金属硫化物催化剂及其催化作用2
III. 其中金属氧化物中的金属离子内层轨道保 留原子轨道特性,与外来轨道相遇时,可重新 组合成新轨道,利于化学吸附
IV. 与过渡金属催化剂相比,金属氧化物催化剂 耐热、抗毒、光敏。热敏、杂质敏感,适于调变。
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B. 过渡金属氧(硫)化物催化物的结构类型
a. M2O型和MO型氧化物
金属配位数为 直线型2配位 (sp杂化), O是配位数为 四面体的4配 位(sp3杂化)
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I. 金属氧化物催化剂主要是VB-VIII族和IB,IIB族元素氧化物
II. 催化剂多由两种或多种氧化物组成 III. 氧化物具有半导体特性故为半导体催化剂
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IV. 这些氧化物应用与氧化还原反应与过渡金属电子特性有关。
b. 过渡金属氧(硫)化物催化物的电子特性
I. 过渡金属氧化物中金属阳离子的d电子层容 易得到或失去,具有较强氧化还原性 II. 过渡金属氧化物具有半导体特性。
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b. M2O3型:
刚玉型:氧原子为六方密堆积, 2/3八面体间隙被金属原子填充。
M3+配位数是6,O2-配位数是4。
M
典型例子:Fe2O3、V2O3、Cr2O3、 Rh2O3、Ti2O3
C-M2O3型: 与萤石结构(CaF2)类似,取走 其中1/4的O2-。
M3+配位数是6。
典型例子:Mn2O3、Sc2O3、
1 用及类型
金属氧(硫)化物中的缺陷及半导
2 体性质
半导体催化的化学吸附与电子催
3 化理论
过渡金属氧化物催化剂的氧化—
4 —还原机理
5 过渡金属氧化物中晶体场的影响
过渡金属氧化物催化剂典型案例
6 剖析 10
5.1.1金属氧化物和硫化物概述

过渡金属氧化物催化剂及其催化作用

过渡金属氧化物催化剂及其催化作用
超声合成法
利用超声波的空化作用产生的局部高温高压 环境,促进反应物之间的化学反应,从而合 成催化剂。这种方法可以得到粒径小、分布 均匀的催化剂,且反应条件温和。
制备条件对性能影响
温度
制备过程中的温度会影响催化剂的晶型、粒径和比表面积等性质。一般来说,较高的温度 有利于形成结晶度好、粒径较大的催化剂,而较低的温度则有利于形成无定形或微晶结构 、粒径较小的催化剂。
化性能。
多功能复合型催化剂开发前景
光催化与电催化结合
开发具有光催化和电催化双重功能的复合型催化剂,提高能源转 化效率。
催化剂载体优化
研究高效、稳定的催化剂载体,提高催化剂的分散度和活性组分利 用率。
多相催化与均相催化融合
探索多相催化和均相催化的融合策略,实现高效、高选择性的催化 反应。
环境友好型催化剂需求及挑战
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催化剂分类
根据催化剂与反应物的相互作用方式,可分为均相催化剂和多相催化剂。均相 催化剂与反应物处于同一物相中,而多相催化剂则与反应物处于不同物相。
催化剂在化学反应中作用
降低活化能
01
催化剂通过提供新的反应路径,使反应物分子更容易达到活化
状态,从而降低反应的活化能。
加速反应速率
02
由于活化能的降低,反应物分子更容易发生有效碰撞,从而加
粒径和形貌
催化剂的粒径和形貌影响其比表面积、孔结构和 活性位点分布,进而对催化性能产生重要影响。
表面性质和电子性质分析
表面吸附性能
过渡金属氧化物催化剂表面具有丰富的吸附位点,可吸附反应物分 子并活化,从而促进催化反应的进行。
氧化还原性能
过渡金属元素具有多变的价态,使得催化剂具有良好的氧化还原性 能。这种性能在催化氧化还原反应中起到关键作用。

半导体催化-简解析

半导体催化-简解析

(2) 低价正离子同晶取代
若以Li+取代NiO中的Ni2+,相当于少了一 个正电荷,为保持电荷平衡,Li+附近相 应要有一个Ni2+成为Ni3+。同样可以造成 受主能级而引起P型导电。
(3) 掺杂
在NiO晶格中掺人电负性较大的原子时,例如 F,它可以从Ni2+夺走一个电子成为F-,同时产 生一个Ni3+,也造成了受主能级。
(3)高价离子同晶取代
(4) 掺杂
P型半导体能带结构示意图
容易接受电子的物质, 禁带中产生受主能级 (Electron acceptor level); 受主能级能从价带接受电子, 使价带中产生正空穴; 导电性靠受主能级接受电子 产生的正空穴。
(1) 正离子缺位
在NiO中Ni2+缺位,相当于减少了两个正电 荷。为保持电中性,在缺位附近,必定有 2-Ni2+个变成Ni3+,这种离子可看作为Ni2+ 束缚住一个空穴,即Ni3+=Ni2+·,这空穴 具有接受满带跃迁电子的能力,当温度升 高,满带有电子跃迁时,就使满带造成空 穴。从而进行空穴导电。
电子逸出功
电子逸出功:将一个具有平均位能的电子从固 体内部拉到固体外部所需的最低能量。
掺入施主杂质使费米能级提高,从而导带电子
增多并减少满带的空穴,逸出功都降低了。
对于N型半导体来说,电导率就增加了; 掺入受主杂质其作用正好相反。 对P型半导体而言,电导率降低;
费米能级EF和电子逸出功由
反应物与催化剂间的化学吸附可以看作为 在共同组成的新势场下双方电子云的重新 分配,分配的结果有下列几种情况 :
双方共享电子,组成共价键; 双方电负性相差甚远,组成离子型吸附; 双方电负性略有差别,形成极性键吸附。

催化作用导论 第五章 氧化还原型催化剂及其催化作用

催化作用导论 第五章 氧化还原型催化剂及其催化作用

在八面体场中


这些轨道以不同的角度与表面相交,这种差 别会影响到轨道健合的有效性。 用这种模型,原则上可以解释金属表面的化 学吸附。不仅如此,它还能解释不同晶面之间化 学活性的差别;不同金属间的模式差别和合金效 应。如吸附热随覆盖度增加而下降,最满意的解 释是吸附位的非均一性,这与定域键合模型的观 点一致。Fe催化剂的不同晶面对NH3合成的活性不 同,如以[110]晶面的活性为1,则[100]晶面的活性 为它的21倍;而[111]晶面的活性更高,为它的440 倍。这已为实验所证实。 上述金属键合的三种模型,都可用特定的参 量与金属的化学吸附和催化性能相关联,它们是 相辅相成的。
2、金属能带的特征
(1)d能带的能级密度大
能级密度( N ( E )):单位能量间隔中拥有的精 细能级的数目。 由量子力学计算知: 能级的宽度:s带 > p带 > d带;
能带拥有能级数:s带 < p带 < d带;
所以,d能带的能级密度大。
( 2)金属的满带与空带之间是连续的,没有能量间隙。 价带和导带间能量也是连续的。
所谓d空穴就是d能带上有能级而无电子,它具有获 得电子的能力。 d带空穴愈多,则说明末配对的 d电子 愈多(磁化率愈大),对反应分子的化学吸附也愈强。 “ d 带空穴”概念对于理解过渡金属的化学吸附 和催化作用是非常重要的。如果金属能带的电子全充 满时,它就难于成键了。
对于Pd和IB族(Cu、Ag、Au)元素d轨道是填满的, 但相邻的S轨道上没有填满电子。在外界条件影响下, 如升高温度时d电子仍可跃辽到S轨道上,从而形成d空 穴,产生化学吸附。
二、化学吸附与催化性能
1、气体在金属上的吸附能力
常见气体在各种金属(Au例外)上化学吸附的 强弱与其化学活泼顺序相一致,即: O2>C2H2>C2H4>CO>CH4>H2>CO2>N2 根据不同金属对气体的化学吸附能力的不同, 可将它们分成几组:

过渡金属催化理论知识

过渡金属催化理论知识

过渡金属催化剂有二大特点:Ⅰ、在反应气氛如H2、O2气下,过渡金属是以金属晶体存在。

Ⅱ、最适合用于金属催化剂的活性组份是那些最外层有1~2个S电子,次外层为d电子,d电子为大部分充满状态的元素。

金属催化作用与d电子性质、金属晶体、表面结构有关。

3d带电子填充量为94%,若平均到每个Ni原子上时,d轨道的电子填充量为9.4个电子。

即Ni金属晶体中的Ni 原子d轨道中还差0.6个电子就可被完全充满,使d轨道能量或d带能量处于最低,因而有很强的能力去获得电子,我们把这个电子差额称之为d孔穴。

20、25、36、38、40、42、46、59、61、93-102、104-106、110、144、148、149(很重要)、153、159、172(不错)、173(非常好)、177、180(以及后面连续的几页都比较重要)页有重要信息几何论和能量匹配论包括两个方面:Ⅰ、吸附物分子与活性位空间结构的几何对应关系。

Ⅱ、吸附物分子与活性位之间的能量对应关系。

EFGH晶面的Miller指数:(100)ABC晶面的Miller指数:(222)金属结构的应用在于:形成合金:当原子半径相近,而晶胞结构又相同的一些金属可以相互取代,形成结构不被破坏的合金,如,Pd—Au,Pt—Re,Cu—Ni 等合金催化剂。

低Miller指数晶面上晶格原子排布整齐,高能量的边、角原子少,原子密度高,故其表面剩余能低,稳定性高。

高Miller指数晶面则晶格排布有不规整的地方,处于高能态的边、角原子多,原子密度低,表面剩余能高,稳定性差。

表面以下面几种方式来降低晶体的总表面能:1.尽量减少向外暴露的表面积。

2.暴露表面以低表面能的晶面为主。

3.改变金属晶体外露的表面几何结构。

4.增强金属与载体间的相互作用。

改变外露的表面几何结构以减少表面能表面松弛与重构(Relaxation & Reconstruction ofSurfaces )I.表面松弛表面松弛(Relaxation):是一种对体系能量没有任何影响的微小的表面层重排(rearrangement );它仅在垂直于表面的方向上表面层间距的变化,对表面的周期性、平行性和对称性没有影响。

半导体物理课件1-7章(第五章)

半导体物理课件1-7章(第五章)

n0
exp
EFn EF k0T
ni
exp
EFn Ei k0T
p
Nv
exp
EFp Ev k0T
p0
exp
EF EFp k0T
ni
exp
Ei EFp k0T
np
n
2 i
exp
E Fn E Fp k 0T
有非平衡载流子存在时,由于n>n0和p>p0,所 以无论是EFn还是EFp都偏离EF, EFn偏向导带 底Ec,而EFp则偏向价带顶Ev。但是,EFn和EFp 偏离EF的程度是不同的。
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4、非平衡载流子的注入和检验:
•注入的非平衡载流子可以引起电导调制效应,
使半导体的电导率由平衡值σ0增加为σ0+Δσ,
附加电导率Δσ可表示为
nqn pq p
(n0 n)qn ( p0 p)q p
(n0qn p0q p ) (nqn pq p )
0
光注入Δp=Δn
nqn pq p pq(n p )
复合过程的性质
• 由于半导体内部的相互作用,使得任何半导体在 平衡态总有一定数目的电子和空穴。 •从微观角度讲: •平衡态指的是由系统内部一定的相互作用所引起的 微观过程之间的平衡;这些微观过程促使系统由非 平衡态向平衡态过渡,引起非平 衡载流子的复合; •因此,复合过程是属于统计性的过程。
复合理论
通过附加电导率的测量可以直接检验非平 衡载流子的存在。
小注入时 0 0
电阻率变化:
0
1/
1 / 0
/
2 0
电阻变化:
R
l
/
S
[l
/
(
S

工业催化剂作用原理—金属氧化物催化剂

工业催化剂作用原理—金属氧化物催化剂
导带 施主能级 0.01eV 满带 电子空穴能级
《工业催化》—工业催化剂作用原理
P型半导体 • 如果在禁带中存在这样一个能级,它很容易接受 满带中跃迁上来的电子,那么就会使满带中出现 空穴而导电,这种导电方式就是P型导电。这种 能级称为受主能级,有受主能级的半导体称为P 型半导体。 • P型半导体也是一些非计量的化合物,这些非计 量关系造成半导体中出现受主能级。
• 本征半导体:不含杂质,具有理想的完整的晶体结构具有 电子和空穴,例如Si、Ge、PbS、Fe3O4等。 在本征半导体中掺入五价杂质元素,例如磷,可形成N型 半导体 ,因五价杂质原子中只有四个价电子能与周围四 个半导体原子中的价电子形成共价键,而多余的一个价电 子因无共价键束缚而很容易形成自由电子 。 在本征半导体中掺入三价杂质元素,如硼、镓、铟等形成 了p型半导体 ,比如在硅中加入三价杂质元素,因三价杂 质原子在与硅原子形成共价键时,缺少一个价电子而在共 价键中留下一空穴。
《工业催化》—工业催化剂作用原理
• N个原子的固体,3s形成N个3s共有化电子能级, 这一组级的整体叫3s能带。每个3s共有化电子能 级有对应1个共有化轨道, s能带可以容纳2N个电 子。 • N个原子的固体,3p形成N个3p共有化电子能级, 每个3p共有化电子能级有对应3个共有化轨道,N 能带可以容纳6N个电子。
《工业催化》—工业催化剂作用原理
• 一个原于核周围的电子是按能级排列的。例如1S, 2S,2P,3S,3P……内层电子处于较低能级,外 层电子处于较高能级。 • 固体中许许多多原子的电子轨道发生重叠,其中 外层电子轨道重叠最多。由于这种重叠作用,电 子不再局限于在一个原子内运动,而是在整个固 体中运动,这种特性称为电子的共有化。然而重 叠的外层电子也只能在相应的轨道间转移运动。 例如3S引起3S共有化,2P轨道引起2P共有化。

过渡金属氧(硫 )化物催化剂及其催化作用

过渡金属氧(硫 )化物催化剂及其催化作用

5.4 过渡金属氧化物催化剂的氧化-还原机理
金属氧化物催化剂氧化还原机理 (选择性氧化(部分氧化))
晶体配位场理论
八面体场
△为分离能
对于不同的配位体场下d能级分裂
成对能与分离能关系
晶体场稳定化能(CFSE)
吸附NiO表面配位数发生变化
A)正方锥→正八面体,B)正四面体→ 正方锥→ 正八 面体,C)平面三角→正方锥→正八面体
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第5章 过渡金属氧(硫 ) 化物催化剂及其催化作用
过渡金属氧化物、硫化物(半导体)催化剂
过渡金属氧化物、硫化物多属半导体类型, 本章用半导体能带理论来说明这类催化剂 的催化特性。将半导体的导电率、电子逸 出功与催化活性相关联,解释这类催化剂 的催化作用。
5.1 过渡金属氧化物催化剂的应用及其特点
本征半导体中,EF在满带 和导带之间;
N型半导体中,EF在施主能 级和导带之间;
P型半导体中,EF在受主能 级和满带之间。
电子逸出功由
电子逸出功:将一个具有平均位能的电子从固体 内部拉到固体外部所需的最低能量。
1、半导体费米能级与逸出功的关系
φ
φ
EF
φ
EF
施主
受主
EF
本征
n
p
2、杂质对半导体催化剂的影响
由于过渡金属氧化物催化剂具有半导体性质,因 此又称为半导体催化剂。
1、半导体催化剂类型:
过渡金属氧化物:ZnO,NiO,WO3,Cr2O3, MnO2,MoO3.V2O5,Fe3O4,CuO等;
过渡金属复合氧化物:V2O5—MoO3,MoO3- Bi2O3等;
某些硫化物 如MoS2,CoS2等
(2) 低价正离子同晶取代
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吸附气 体
半导体类 型
吸附物种
吸附剂
吸附位
EF
φ
导 电 率
受电子 气 体 (O2)
N 型 V2O5)
O2→O2O-,O22-,O2-
V4+ 5+ →V
负离子吸附 在高价金属 上 负离子吸附 在高价金属 上 正离子气体 吸附在低价 金属离子上 正离子气体 吸附在低价 金属离子上
↘ ↘
↗ ↘ ↗ ↗ ↘ ↗ ↘ ↘




N型半导体和p型半导体的形成 当金属氧化物是非化学计量,或引入杂质离子 或原子可产生n型、p型半导体。 杂质是以原子、离子或集团分布在金属氧化物 晶体中,存在于晶格表面或晶格交界处。这些 杂质可引起半导体禁带中出现杂质能级。 如果能级出现在靠近半导体导带下部称为施主 能级。施主能的电子容易激发到导带中产生自 由电子导电。这种半导体称为n型半导体。 如果出现的杂质能级靠近满带上部称为受主能 级。在受主能级上有空穴存在。很容易接受满 带中的跃迁的电子使满带产生正电空穴关进行 空穴导电,这种半导体称为p型半导体。

半导体催化剂化学吸附与催化作用
1、化学吸附 A)受电子气体吸附(以O2为例) (1)在n型半导体上吸附 O2电负性大,容易夺导带电子,随氧压 增大而使导带中自由电子减少,导电率 下降。另一方面在表面形成的负电层不 利于电子进一步转移,结果是氧在表面 吸附是有限的。
(2)p型半导体上吸附
O2相当于受主杂质,可接受满带的电子 增加满带空穴量,随氧压的增加导电率 增大,由于满带中有大量电子,因此吸 附可一直进行,表面吸附氧浓度较高。 B)对于施电子气体吸附(以H2为例) 对于H2来说,不论在n型还是p型氧化物 上以正离子(H+)吸附于表面,在表面形 成正电荷,起施主作用。

CO在NiO上催化氧化反应机理
(1)Ni 2+ +1/2O2→+Ni 3+ O -吸
(2)O
吸+Ni 3++CO(g)→CO 2(吸)+Ni 2+
(3)CO2(吸) →CO2(g)
总式:CO+1/2O2 →CO2
R CH2 CH3 H
R CH2
R CH2=CHR CH H H H2
CH2-Biblioteka CH2过渡金属半导体氧化物催化剂


金属氧化物中缺陷和半导体性质 满带:凡是能被子电子完全充满的能带 叫满带。 导带:凡是能带没有完全被电子充满的。 空带:根本没有填充电子的能带。 禁带:在导带(空带)和满带之间没有 能级不能填充电子这个区间叫禁带。半 导体的禁带宽度一般在0.2-3eV。
本征半导体、n型半导体、P型半导体
P型 Cu2O
O2→O2O-,O22-,O2-
Cu+→ Cu2+
施电子 气 体 (H2)
N型 ZnO
1/2H2→H+
Zn2+ →Zn+
↗ ↗
P型 NiO
1/2H2→H+
Ni3+→ Ni2+
半导体氧化物催化机理
A+B A 施主键 e e
-
C B
-
受主键
举例:CO在NiO上氧化反应
CO+1/2O2=CO2 △H=272KJ/mol (1)O2在NiO上发生吸附时,电导率由10-11欧姆 -1厘米-1上升为10-7欧姆-1厘米-1 。 (2)测得O2转为O-吸时量热法测得微分吸附热为 41.8kJ/mol, (3)测得CO在NiO上微分吸附热是33.5KJ/mol, 而在已经吸附了O2的催化剂表面微分吸附热是 293KJ/mol。 这表明CO与NiO吸附不是一般的化学吸附而是 化学反应。
半导体导电性影响因素



温度升高,提高施主能级位置,增加施 主杂质浓度可提高n型半导体的导电性。 温度升高,降低受主能级位置或增加受 主杂质浓度都可以提高p型半导体的导电 能力。 催化剂制备上措施:晶体缺陷,掺杂, 通过杂质能级来改善催化性能。
杂质对半导体催化剂的影响
1、对n型半导体 A)加入施主型杂质,EF↗Φ↘导电率↗ B)加入受主杂质, EF ↘ Φ ↗导电率↘ 2、对p型半导体 A)加入施主型杂质EF↗Φ↘导电率↘ B)加入受主型杂质EF ↘ Φ ↗导电率↗
φ
EF 施主
φ
EF
φ
受主 EF
本征
n
p
n型半导体与p型半导体的生成
n型半导体生成条件 A)非化学计量比化合物中含有过量的金属原 子或低价离子可生成n型半导体。 B)氧缺位 C)高价离子取代晶格中的正离子 D)引入电负性小的原子。 P型半导体生成条件 A)非化学计量比氧化物中出现正离子缺位。 B)用低价正电离子取代晶格中正离子。 C)向晶格掺入电负性在的间隙原子。
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