材料现代分析与测试技术-各种原理及应用

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现代测试技术论文 -

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现代测试技术论文 -X-射线单晶衍射法的原理及在测试技术中的应用-土木工程学院材料一班 080330110袁野摘要:X-射线衍射法的原理、优点及其在现代分析测试技术中的应用和重要意义。

关键词:XRD 布拉格方程物相分析点阵常数X射线衍射分析(X-ray diffraction,简称XRD),是利用晶体形成的X射线衍射,对物质进行内部原子在空间分布状况的结构分析方法。

将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示与结晶结构相对应的特有的衍射现象。

X射线衍射方法具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点。

1912年劳埃等人根据理论预见,并用实验证实了X射线与晶体相遇时能发生衍射现象,证明了X射线具有电磁波的性质,成为X射线衍射学的第一个里程碑。

当一束单色X射线入射到晶体时,由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成,这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级,故由不同原子散射的X射线相互干涉,在某些特殊方向上产生强X射线衍射,衍射线在空间分布的方位和强度,与晶体结构密切相关。

这就是X射线衍射的基本原理。

衍射线空间方位与晶体结构的关系可用布拉格方程表示:2dsinθ=nλ式中:λ是X射线的波长;θ是衍射角;d是结晶面间隔;n是整数。

波长λ可用已知的X射线衍射角测定,进而求得面间隔,即结晶内原子或离子的规则排列状态。

将求出的衍射X射线强度和面间隔与已知的表对照,即可确定试样结晶的物质结构,此即定性分析。

从衍射X射线强度的比较,可进行定量分析。

X射线分析的新发展,X射线分析由于设备和技术的普及已逐步变成晶体研究和材料测试的常规方法。

例如在如下领域,X射线都有着及其广泛的应用。

物相分析:晶体的X射线衍射图像实质上是晶体微观结构的一种精细复杂的变换,每种晶体的结构与其X射线衍射图之间都有着一一对应的关系,其特征X射线衍射图谱不会因为它种物质混聚在一起而产生变化,这就是X射线衍射物相分析方法的依据。

现代分析测试技术-SIMS

现代分析测试技术-SIMS
二次离子质谱分 析技术
俄歇电子能谱(AES)—大本讲义
AES分析方法原理 AES谱仪基本构成 AES谱仪实验技术 AES谱图分析技术 SIMS基本结构及技术特点 XPS/AES/SIMS方法比较
离子溅射与二次 离子质谱
离子溅射过程:一定能量的离子打到固体表面→ 引起表面原子、分子或原子团的二次发射—溅射 离子;溅射的粒子一般以中性为主,有<1%的 带有正、负电荷—二次离子;
质量分析器
添加标题
检测器
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二次离子深度分析
添加标题
二次离子分布图像
添加标题
二次离子质谱系统 结构示意图
添加标题
二次离子质谱
二次离子质谱仪基本部件
• 初级离子枪:热阴极电离型离子源,双等离子体离子源,液态金属场离子源;离子束的纯度、电 流密度直接影响分析结果;
• 二次离子分析器:分析质荷比→磁偏式、四极式(静态SIMS )、飞行时间式(流通率高,测量 高质量数离子)质度剖面分析 微区分析 软电离分析
动态SIMS—深度剖面分析
分析特点:不断剥离下进行SIMS分析—获得 各种成分的深度分布信息;
深度分辨率:实测的深度剖面分布与样品中真 实浓度分布的关系—入射离子与靶的相互作用、 二次离子的平均逸出深度、入射离子的原子混 合效应、入射离子的类型,入射角,晶格效应 都对深度分辨有一定影响。
可以在超高真空条件下得到表层信息;
可检测正、负离子;
可检测化合物,并能给出原子团、分 子性离子、碎片离子等多方面信息; 对很多元素和成分具有ppm甚至ppb 量级的高灵敏度;
可检测包括H在内的全部元素; 可检测同位素; 可进行面分析和深度剖面分析;
二次离子质谱 分析技术
表面元素定性分析 表面元素定量分析

现代材料测试技术测试方法1精选全文

现代材料测试技术测试方法1精选全文

4.1差热分析
4.1.1差热分析的基本原理
2、差热分析的基本理论
ΔH=KS
差热曲线的峰谷面积S和 反应热效应△H成正比, 反应热效应越大,峰谷 面积越大。
具有相同热效应的反应, 传热系数K越小,峰谷面 积越大,灵敏度越高。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
1、DTA曲线的特征 DTA曲线是将试样和参比物置于
2、DTA曲线的温度测定及标定:外推法(反应起点、转变点、 终点) 外延起始温度——表示反应的起始温度
3、DTA曲线的影响因素 差热分析是一种热动态技术,在测试过程中体系的温度不断变 化,引起物质热性能变化。因此,许多因素都可影响DTA曲 线的基线、峰形和温度。归纳起来,影响DTA曲线的主要因 素有下列几方面:
用相同质量的试样和升温速度对不同粒度的胆矾进 行研究(如图)。说明颗粒大小影响反应产物的扩散 速度,过大的颗粒和过小的颗粒都可能导致反应温 度改变,相邻峰谷合并,分辨率下降。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
试样用量的多少与颗粒大 小对DTA曲线有着类似的 影响,试样用量多,放热 效应大,峰顶温度滞后, 容易掩盖邻近小峰谷,特 别是对在反应过程中有气 体放出的热分解反应。
(1)仪器方面的因素:包括加热炉的形状和尺寸,坩埚材料及大 小,热电偶的位置等。
(2)试样因素:包括试样的热容量、热导率和试样的纯度、结晶 度或离子取代以及试样的颗粒度、用量及装填密度等。
(3)实验条件:包括加热速度、气氛、压力和量程、纸速等。
4.1差热分析
4.1.2差热分析曲线
(1)热容和热导率的变化: 试样的热容和热导率的变化会引起 差热曲线的基线变化,一台性能良 好的差热仪的基线应是一条水平直 线,但试样差热曲线的基线在反应 的前后往往不会停留在同一水平上, 这是由于试样在反应前后热容或热 导率变化的缘故。

现代分析方法 纳米材料的表征与测试技术

现代分析方法 纳米材料的表征与测试技术

现代分析方法纳米材料的表征与测试技术分析科学现代方法正是人类知识宝库中最重要、最活跃的领域之一,它不仅是研究的对象,而且又是观察和探索世界,特别是微观世界的重要手段,各行各业都离不开它。

随着纳米材料科学技术的发展,要求改进和发展新分析方法、新分析技术和新概念,提高其灵敏度、准确度和可靠性,从中提取更多信息,提高测试质量、效率和经济性。

纳米科学和技术是在纳米尺度上(0.1-100nm之间)研究物质(包括原子、分子)的特性和相互作用,并且利用这些特性的多学科的高科技。

纳米科技是未来高科技的基础,而适合纳米科技研究的仪器分析方法是纳米科技中必不可少的实验手段。

因此,纳米材料的分析和表征对纳米材料和纳米科技发展具有重要的意义和作用。

纳米技术与纳米材料是一个典型的新兴高技术领域。

虽然许多研究人员已经涉足了该领域的研究,但还有很多研究人员以及相关产业的从业人员对纳米材料还不很熟悉,尤其是如何分析和表征纳米材料、如何获得纳米材料的一些特征信息。

为了满足纳米科技工作者的需要,本文对纳米材料的一些常用分析和表征技术,主要从纳米材料的成分分析、形貌分析、粒度分析、结构分析以及表面界面分析等几个方面进行简要阐述。

1. 纳米材料的粒度分析1.1粒度分析的概念大部分固体材料均是由各种形状不同的颗粒构造而成,因此,细微颗粒材料的形状和大小对材料结构和性能具有重要的影响。

尤其对纳米材料,其颗粒大小和形状对材料的性能起着决定性的作用。

因此,对纳米材料的颗粒大小、形状的表征和控制具有重要意义。

一般固体材料颗粒大小可以用颗粒粒度概念来表述。

对于不同原理的粒度分析仪器,所依据的测量原理不同,其颗粒特性也不同,只能进行有效对比,不能进行横向直接对比。

由于粉体材料颗粒形状不可能都是均匀球形的,有各种各样的结构,因此,在大多数情况下粒度分析仪所测的粒径是一种等效意义上的粒径,和实际的颗粒大小分布会有一定的差异,因此只具有相对比较的意义。

此外,各种不同粒度分析方法获得的粒径大小和分布数据也可能不能相互印证,不能进行绝对的横向比较。

现代材料分析方法——四大分析方法的应用论文

现代材料分析方法——四大分析方法的应用论文

四大分析方法及应用摘要:本文论述材料的X射线粉末衍射分析(XRD)、电子显微分析、能谱分析(XPS,UPS,AES)和热分析(TG,DTA, DSC)等测试原理、制样技术、影响因素、图谱解析以及它们在材料研究中的具体应用。

以一些常见的化合物为基质的各类复合或是掺杂的材料为例,来重点介绍XRD、电镜、热分析等在研究材料物相组成、结构特征、形貌等方面的应用。

关键词:TiO2,XRD,SEM,XPS,TG,DTA前言由于铝等一些金属和无机物的优良的性质,如铝的密度很小,仅为2.7 g/cm3,虽然它比较软,但可制成各种铝合金,如硬铝、超硬铝、防锈铝、铸铝等。

.铝的导电性仅次于银、铜,虽然它的导电率只有铜的2/3,但密度只有铜的1/3,所以输送同量的电,铝线的质量只有铜线的一半铝是热的良导体,它的导热能力比铁大3倍,工业上可用铝制造各种热交换器、散热材料和炊具等。

铝有较好的延展性(它的延展性仅次于金和银),在100 ℃~150 ℃时可制成薄于0.01 mm 的铝箔。

铝的表面因有致密的氧化物保护膜,不易受到腐蚀,常被用来制造化学反应器、医疗器械、冷冻装置、石油精炼装置、石油和天然气管道等。

铝热剂常用来熔炼难熔金属和焊接钢轨等。

铝还用做炼钢过程中的脱氧剂。

铝粉和石墨、二氧化钛(或其他高熔点金属的氧化物)按一定比率均匀混合后,涂在金属上,经高温煅烧而制成耐高温的金属陶瓷,它在火箭及导弹技术上有重要应用。

所以工业上应用非常广泛。

1 X射线衍射分析(XRD)1.1 X射线衍射仪仪器核心部件:光源---高压发生器与X 光管、精度测角仪、光学系统、探测器、控测,数据采集与数据处理软件、X射线衍射应用软件。

定性相分析(物相鉴定):目的:分析试样属何物质,那种晶体结构,并确定其化学式。

原理:任何结晶物质均具有特定结晶结构(结晶类型,晶胞大小及质点种类,数目分布)和组成元素。

一种物质有自已独特衍射谱与之对应,多相物质的衍射谱为各个物相行对谱的叠加。

材料现代测试方法-XRD

材料现代测试方法-XRD
You should know something misunderstood by many students: 布拉格公式用反射的模型解 释了衍射的方向性问题,晶 面并不反射X射线。
布拉格定律
hkl
h1 k1 l1
h2 k2 l2
h3 k3 l3
h4 k4 l4
h5 k5 l5
.
.
.
dhkl dh1k1l1 dh2k2l2 dh3k3l3 dh4k4l4 dh5k5l5 .
X射线的产生
• 封闭式X射线管
X射线的产生
• 旋转阳极靶X射线管
其他X射线源
• 放射源 • 同步辐射
X射线与物质的相互作用
• X射线与物质相互作用时,就其能量转换而 言,可分为三部分:1)一部分被散射;2) 一部分被吸收;3)一部分透过物质继续沿 原来的方向传播。
散射
相干散射(瑞利散射) 非相干散射 (康普顿散射)
1913年,英国Bragg(布喇格父子)导出X射线 晶体结构分析的基本公式,即著名的布拉格公式。 并测定了NaCl的晶体结构。(1915年获得诺贝尔 奖)
1
X射线的本质
X射线和可见光 一样属于电磁 辐射,但其波 长比可见光短 得多,介于紫 外线与γ射线之 间,约为10-2 到102埃的范围。 与晶体中的键 长相当。
c
d 21 3
b
o
a
晶面(213)及d213
c
d300
b
o
a
晶面(300)及d300
晶面指标hkl及晶面间距dhkl
思考1:对于给定的晶胞,对于任意三个整数hkl(000除外), 我们可以画出这个(hkl)晶面吗?相邻晶面的距离可知吗?

现代分析测试技术(XRF在地学中的应用)

现代分析测试技术(XRF在地学中的应用)

X射线衍射技术在地学中的应用长安大学摘要:X射线衍射技术是现代分析测试物质组成和结构的基础手段之一,多种学科中都广泛应用,在地质学领域中的应用同样占重要地位。

本文综述了X射线衍射技术在岩石学、矿物学、矿床学、煤田、石油天然气、构造地质、地质灾害、宝石学以及与地质学相关的学科研究中的应用。

作为一种高效、准确、无损样品的测试分析手段X射线衍射技术在地质学中的应用领域将会不断扩展,发挥越来越重要的作用。

关键词:X射线衍射地质学应用引言1895年,德国维尔茨堡大学校长兼物理研究所所长伦琴教授在研究阴极射线时意外发现X射线[1];1912年德国物理学家劳厄(von Laue M)发现了X射线通过晶体时产生衍射现象[2],证明了X射线的波动性和晶体内部结构的周期性,并获得了劳厄晶体衍射公式;随后,小布拉格(Bragg WL)推导出著名的布拉格方程。

此后100余年间,作为19世纪末20世纪初物理学的三大发现之一,X射线的新理论和新应用不断产生,飞速发展。

劳厄的衍射理论与实验证明了X射线具有波动特性,是波长为几十到几百皮米的电磁波,并具有衍射的能力[3,4]。

在基础理论和科学技术的支持下,X射线衍射技术在物质定性和物相组成等方面的探测已经成为现代分析测试技术的基础组成部分,在材料、药物、金属、生物等领域的科学研究中均占有重要地位。

同样,X射线衍射在地质学领域中的应用也十分普遍。

1.基本原理和分析方法简介X射线是一种电磁辐射,波长(0.01—100埃,常用的为0.5—2.5埃)与物质晶体的原子间距(1埃)数量级相同。

利用晶体作为X射线的天然衍射光栅,当X射线入射时晶体原子的核外电子产生相干波彼此发生干涉,当发生波的加强就称之为衍射[5]。

晶体结构决定了X射线的衍射方向,通过测定衍射方向可以得到晶体的点阵结构、晶胞大小和形状等信息。

地质学中的X射线衍射分析就是通过这个原理确定样品物质的组成和结构等(图1)。

图1 X射线衍射分析工作原理图一般的X射线衍射分析方法有:a.劳厄法:连续X射线照射固定的单晶体,用照相底片记录衍射斑点;b.转晶法:单色X射线照射转动的单晶体,用照相底片记录平行分布的衍射斑点;c.粉末法:准直的单色X射线照射多晶粉末样品,圆筒状底片记录衍射斑点;d.衍射仪法:用各种辐射探测器和辐射测量控制电路记录衍射信号。

现代分析测试技术PPT课件

现代分析测试技术PPT课件

气相色谱分析法 高效液相色谱分析
分子质谱分析 原子质谱分析
现代分析测试技术
热分析法 放射化学分析法
14


按仪器的用途可分为:
1.成分分析类(原子、离子、分子、基团) 如:原子吸收光谱、
红外光谱、X射线衍射等。
2.结构分析类(原子结构、分子结构、晶体结构、微观结构)如:
红外光谱、X射线衍射、透射电镜等。
现代分析测试技术
19
概述部分的要求
1. 了解现代物质分析、仪器分析的概念 2. 掌握现代物质分析有哪几大类分析方法 3. 掌握物相、元素、微观分析的区别 4. 了解现代物质分析的特点、应用范围
现代分析测试技术
20
课堂复习
1. 现代物质分析常用方法(按照原理)有_________、 __________、
• 《仪器分析原理》何金兰等,21教材,科学出版社(2002)
现代分析测试技术
3
其它参考书
物相、元素分析与微观分析的区别
重要
劣质食盐
NaCl KCl Na2SO4 K2SO4
物相
NaCl、KCl、Na2SO4、K2SO4
元素
Na、K、 Cl、 S、O
微观
现代分析测试技术
4
元素分析结果的表征形式:
10


重要
2. 现代分析测试技术的分析方法
按仪器的工作 原理可分为:
分析方法 (工作原理)
光学分析法 电化学分析法 色谱分析法 质谱分析法 其现代它分分析测析试技方术法 (如:热分析法) 11
光学分析法----按原理分类
重要
光谱法:测量的信号是物质内部能级跃迁所产生的发射、吸收、散
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XRD :
射线产生机理:
(1)连续X 射线的产生:任何高速运动的带电粒子突然减速时,都会产生电磁辐射。

①在X 射线管中,从阴极发出的带负电荷的电子在高电压的作用下以极大的速度向阳极运动,当撞到阳极突然减速,其大部分动能变为热能都损耗掉了,而一部分动能以电磁辐射—X 射线的形式放射出来。

②由于撞到阳极上的电子极多,碰撞的时间、次数及其他条件各不相同,导致产生的X 射线具有不同波长,即构成连续X 射线谱。

(2)特征X 射线:根本原因是原子内层电子的跃迁。

①阴极发出的热电子在高电压作用下高速撞击阳极;
②若管电压超过某一临界值V k ,电子的动能(eV k )就大到足以将阳极物质原子中的K 层电子撞击出来,于是在K 层形成一个空位,这一过程称为激发。

V k 称为K 系激发电压。

③按照能量最低原理,电子具有尽量往低能级跑的趋势。

当K 层出现空位后,L 、M 、N……外层电子就会跃入此空位,同时将它们多余的能量以X 射线光子的形式释放出来。

④K 系:L, M, N, ...─→K ,产生K α、K β、 K r ... 标识X 射线
L 系:M, N, O,...─→L ,产生L α、L β... 标识X 射线 特征X 射线谱
M 系: N, O, ....─→M ,产生M α... 标识X 射线 特征谱Moseley 定律 2)(1
αλ-•=Z a Z:原子序数,a 、α:常数 射线与物质相互作用的三个效应
(1)光电效应
•当 X 射线的波长足够短时,X 射线光子的能量就足够大,以至能把原子中处于某一能级上的电子打出来,
•X 射线光子本身被吸收,它的能量传给该电子,使之成为具有一定能量的光电子,并使原子处于高能的激发态。

(2)荧光效应
①外层电子填补空位将多余能量ΔE 辐射次级特征X 射线,由X 射线激发出的X 射线称为荧光X 射线。

②衍射工作中,荧光X 射线增加衍射花样背影,是有害因素
③荧光X 射线的波长只取决于物质中原子的种类(由Moseley 定律决定),利用荧光X 射线的波长和强度,可确定物质元素的组分及含量,这是X 射线荧光分析的基本原理。

(3)俄歇效应
俄歇效应是外层电子跃迁到空位时将多余能量ΔE 激发另一个核外电子,使之脱离原子。

这样脱离的电子称为俄歇电子。

3.衍射理论
(1)衍射几何条件:
Bragg 公式 + 光学反射定律 = Bragg 定律
Bragg 公式:2 d Sin θ = n λ n ——整数,称为衍射级数
d ——晶面间距,与晶体结构有关
θ ——Bragg 角 或 半衍射角
2θ衍射角(入射线与衍射线夹角)
光学反射定律:当一束X 射线照射到晶体上时, 发生镜面反射散射线、入射线与晶面法线共面,且在法线两侧散射线与晶面的交角等于入射线与晶面的交角。

(2)衍射强度:I 相对 = F 、P 、θ分别为结构因数、重复因数、布拉格角
4.应用
在无机非金属材料研究中的一些常规分析测试中的主要应用方面: (1)物相分析 (2)晶胞参数测定 (3)晶体试样中晶粒大小、应力和应变测定 (4)相图或固溶度测定 (5)单晶材料:判断晶体对称性和晶体取向方位、观察晶体缺陷、研究晶体完整性 TEM
1.工作原理:
(1)聚焦电子束作照明光源:电子枪产生的电子束,经1-2级聚光镜会聚后,均匀地照射试样上的某一待观察的微小区域上。

(2)透射电子作为成像信号:电子束与试样作用,试样很薄——透射电子——其强度分布
与试样的形貌、组成、结构对应。

(3)透射出的电子经一系列透镜放大投射到荧光屏上。

(4)荧光屏把电子强度分布转变为可见光强度分布———图像 (阴极射线发光过程) 工作过程概括: ①电子枪发出电子束→②经会聚透镜会聚 → ③照射并穿透试样 →④经物镜成像 → ⑤中间镜投影镜放大→ ⑥电子显微像 (屏或底片)
2.应用
在无机材料中的应用:
(1)纳米材料:确定粉末颗粒的外形轮廓、轮廓清晰度、颗粒尺寸大小和厚薄、粒度分布和聚焦或准叠状态
(2)薄膜形貌:表面形貌及结构
(3)陶瓷材料:研究陶瓷材料晶粒、晶界及断口形貌
(4)晶体缺陷观察:晶界位错及其他界面,表面结构的TEM 观察,在高压电镜中晶体缺陷的动态观察和晶体缺陷的精细结构研究
(5)静态及晶格结构的确定
3.影响因素
(1)试样 SEM
1.工作原理:
(1)电子枪→电子束(交叉斑为电子源)→ 聚焦 →微细电子束(一定能量、束流强度、束斑直径) ;
(2)在试样表面扫描(时间、空间顺序栅网式扫描)
(3)产生二次电子、背散射电子、吸收电子、特征X 射线及其它物理信号;
2
3
220220001()()32()2:
::M e I I A e V mc R V S A V I V λθπθμλθ-=⋅⋅⋅⋅=式中符号意义: 入射X 光束强度,为非偏振光 入射X 的波长;
R:观察点与试样之间的距离(衍射仪半径); 晶胞体积; e,m,c 分别为电子的电荷、质量;光速; ,F,P 分别为布拉格角、结构因数、重复因数;
S 、V:受X 光照射θ-2M 的试样面积和体积; A(),e 分别为吸收因数、温度因数;
(3)探测器收集背散射电子、二次电子等信号→电讯号→视频放大→显像管成像。

2.应用
(1)粉末颗粒观察:确定粉末颗粒的外形轮廓、轮廓清晰度、颗粒尺寸大小和厚薄、粒度分布和聚焦或准叠状态
(2)薄膜形貌观察
(3)陶瓷断口形貌观察
(4)缺陷观察
DSC
1.工作原理
功率补偿型DSC :在试样和参比物容器下各装有一组补偿。

当出现温差(ΔT)时:
试样吸热,补偿放大器使试样热丝电流增大;至ΔT=0
试样放热,则使参比物热丝电流增大,至ΔT=0 。

DSC常与 DTA组装在一起,用更换样品杆和增加功率补偿单元达到既可作DSC,又可作 DTA 。

2.应用
(1)玻璃化转变温度的测定
(2)熔融和结晶温度的测定
(3)确定水在化合物中的存在状态
(4)转变点的测定
(5)洁净度的测定
(6)二元相图的测绘
3.影响因素
(1)试样特性:样品用量、粒度、试样几何形状
(2)实验条件:升温速率、气体性质
IR
1.工作原理
物质因受光的作用,引起分子或原子基团的共振,从而产生对光的吸收。

如果将透过物质的光辐射用单色器加以色散,使波长按长短依次排列,同时测量在不同波长处的辐射强度,得到的是振动光谱,又叫吸收光谱。

(1)如果用的光源是红外光波,即~1000μm,就是红外吸收光谱。

(2)如果用的是强单色光,例如激光,产生的是激光拉曼光谱。

2.应用
无机:(1)物质化学组成的分析:
①定性分析:根据谱的吸收频率的位置和形状来判断定未知物;
②定量分析:按其吸收的强度来测定它们的含量。

(2)作分子结构的基础研究:测定分子的键长、键角大小,并推断分子的立体构型;或根据所得的力常数,间接得知化学键的强弱;也可以从正则振动频率来计算热力学函数等。

3.影响因素
(1)试样制备:纯度、稳定性、含水量
(2)测试条件对红外光谱的影响:
1)物理状态:对基团的吸收频率影响较小,但对峰的形状有很大的影响。

气态——峰宽且矮,小分子物质有可能具有精细结构;
液态——吸收带变窄,峰位稍有移动;
固态——吸收带更复杂,峰形更尖锐。

2)溶剂的影响(极性和氢键的形成)
3)溶液的浓度与温度
4)样品的浓度和厚度
5)仪器的性能
6)样品表面反射的影响。

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