纳米测量技术.

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纳米材料的检测分析技术

纳米材料的检测分析技术
可以观察纳米材料表面的形貌、颗粒大小和分布等,对于研究纳米材料的表面性质 具有重要意义。
分辨率较高,操作简单,但需要将样品进行镀金处理,且对生物样品有一定的损伤。
原子力显微镜技术
1
利用微悬臂上的一端针尖接触样品表面,通过检 测针尖与样品表面原子之间的相互作用力来获得 样品的形貌和成分信息。
2
可以观察纳米材料表面的原子级细节,对于研究 纳米材料的表面性质和界面行为具有重要意义。
02
可以检测纳米材料中的化学键振动和转动,从而推断出材料的
分子结构和化学组成。
可以用于表面增强拉曼散射(SERS)技术,提高检测灵敏度和分
03
辨率。
核磁共振技术
01
利用核自旋磁矩进行研究物质结构和化学键的检测技术。
02
可以提供分子内部结构和化学环境的信息,有助于了解纳米 材料的分子结构和化学组成。
通过对纳米材料的结构和 性能进行深入了解,为新 材料的研发提供指导和依 据。
评估环境影响
检测分析纳米材料在环境 中的分布、迁移和降解情 况,评估其对环境和生态 的影响。
检测分析技术的发展历程
起步阶段
成熟阶段
20世纪80年代初,随着纳米科技的兴 起,人们开始关注纳米材料的检测分 析技术。
21世纪初至今,检测分析技术不断优 化和完善,成为纳米科技领域的重要 支撑。
环境领域
用于水处理、空气净化和土壤 修复等。
医疗领域
用于药物输送、生物成像和癌 症治疗等。
电子信息领域
用于制造高性能计算机、电子 器件和光电器件等。
02
纳米材料检测分析技术概述
检测分析的目的和意义
确保产品质量
通过检测分析,确保纳米 材料的质量和性能符合预 期要求,保证产品的可靠 性和安全性。

精密测量中的纳米计量技术

精密测量中的纳米计量技术
第3 3卷 第 5期
21 ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ 2年 9月




V o133 No. . 5
Se .2 2 p 01
J u n l fAp l d Op is o r a pi t o e c
文 章 编 号 :0 22 8 (0 2 0 —8 60 10 —0 2 2 1 ) 50 4—9
De at n fPrcso n tu n s p rme to e iinI sr me t,Tsn h aUnv riy ig u ie st ,Be ig 1 0 8 in 0 0 4,Chn ) j ia
Ab t a t W i h a i e eo me t f a o t rs in e h r l b c i h rs a d r sr c : t t e r p d d v l p n n me e ce c ,t e ewi e mu h h g e t n a d h o n l
引 言
近年 来 , 米 科 学 与 纳 米 技 术 发 展 迅 速 , 纳 已
计 量 技术 按 照 量程 、 辨 率 和 测 量 不 确 定 度 的特 分 点 , 以 分 为 两 大 类 : 类 是 激 光 干 涉 仪 技 可 一 术 , 特 点 是 量 程 大 , 达 几 十 米 , 对 小 于 其 可 但
o a me r l y t c n n no t o og e hno o .So f r he u e t i y o a u e ntc n be r aie ub n n- l gy a ,t nc r ant fme s r me a e lz d s - a o e e nd e e c me e n t e r n fd e fmi r me e s The c r e i e h l m t ra v n pio t r i h a ge o oz ns o c o t r . u r ntma n t c no o— gis us d i no e r l y ha e b e e i we e e n na m t o og v e n r v e d,whih i c u he l s r i e f r me e ,be t c n l de t a e nt r e o t r a f e u nc P i t r e o e e ,X— a nt r e ome e ,o ia nd X— a n e f r m e e ,f e u n— r q e y F- n e f r m t r r yi e fr t r ptc la r y i t r e o tr r q e c e s rng s t m nd op ia r q nc omb t c ol g y m a u i ys e a tc lfe ue y c e hn o y. Ke r :n n y wo ds a ome r l gy;i t r e o t r too n e f r me e ;op ia r q nc omb tc lf e ue y c

原位纳米力学测量技术的研究及应用

原位纳米力学测量技术的研究及应用

原位纳米力学测量技术的研究及应用随着纳米技术的迅速发展,对薄膜、纳米材料的力学性质的测量成为了一个重要的课题,然而由于尺寸的限制,传统的拉伸试验等力学测试方法很难在纳米尺度下得到准确的结果。

而原位纳米力学测量技术的出现,为解决纳米尺度下材料力学性质的测试问题提供了新的思路和手段。

一、原位纳米压痕技术原位纳米压痕技术是一种应用比较广泛的力学测试方法,其基本原理是用尖头压在待测材料表面,通过测量压头的形变等参数来推算出待测材料的力学性质。

由于其具有样品尺寸、压头设计等方面的优点,原位纳米压痕技术已经被广泛应用于纳米材料力学测试领域。

二、原位纳米片取样和力学测试技术原位纳米片取样和力学测试技术是一种新兴的纳米尺度力学测试方法,其基本原理是利用优化的离子束打造方法,在含有待测塑料表面的纳米区域内制备出超薄的平面固体材料,再对其进行拉伸、扭曲等力学测试。

相比于传统的拉伸试验等方法,原位纳米片取样技术具有更优的尺寸控制和纳米量级精度,可以为纳米尺度力学测试提供更加准确的数据。

三、原位纳米机械性能试验技术原位纳米机械性能试验技术是一种应用超分辨显微学、纳米压痕技术等手段,通过独特的力学测试方法对纳米尺度下的材料机械性质进行测试的方法。

相比于传统的拉伸、压缩等方法,原位纳米机械性能试验技术具有更高的精度和更丰富的信息,可以为纳米材料的研究提供更加详细的数据支持。

四、应用前景随着纳米尺度下功能性材料的不断涌现,纳米力学测试将成为实现其合理设计的重要手段之一。

原位纳米力学测量技术在纳米材料力学测试领域具有广阔的应用前景,它不仅可以为纳米尺度下材料力学行为的实验研究提供详细的数据支撑,而且还可以为新材料的设计和开发提供指导。

总之,原位纳米力学测量技术的研究及应用是未来纳米材料科学发展的重要方向之一,将为纳米材料的设计、开发以及工业应用等领域的发展做出积极贡献。

混合式相位调制差分激光干涉纳米位移测量技术及应用

混合式相位调制差分激光干涉纳米位移测量技术及应用

混合式相位调制差分激光干涉纳米位移测量技术及应用一、引言话说这天,小明正在实验室里研究一种神奇的技术——混合式相位调制差分激光干涉纳米位移测量技术。

这种技术可是大有来头,可以让我们在不损伤被测物体的情况下,精确地测量出它的位移。

小明激动地拍着自己的大腿,心想:“这可是个了不起的发明啊!”二、混合式相位调制差分激光干涉纳米位移测量技术的原理其实,这个技术的原理很简单。

就是通过激光和纳米粒子之间的相互作用,实现对纳米粒子位移的测量。

具体来说,就是让激光分成两束,一束是参考光,另一束是待测光。

这两束光通过一个光学元件(如透镜)相交,然后再经过一个纳米粒子散射。

由于纳米粒子的存在,这两束光会发生相位差,从而形成干涉条纹。

通过测量干涉条纹的形态和位置,就可以得到纳米粒子的位移信息。

三、混合式相位调制差分激光干涉纳米位移测量技术的应用小明兴奋地告诉大家,这个技术有很多应用场景。

比如说,我们可以用它来检测微小的机械故障;还可以用来研究材料的形貌和结构变化;甚至还可以用来制作高精度的微型机器人。

听完小明的介绍,大家都被他的热情所感染,纷纷表示要尝试将这个技术应用到实际工作中去。

四、混合式相位调制差分激光干涉纳米位移测量技术的优势小明接着说:“这个技术的优势可多了!它的测量精度非常高,可以达到亚纳米级别;它对被测物体的损伤非常小,不会影响其性能和寿命;它的操作简单方便,不需要复杂的设备和专业的技能;它的成本相对较低,有很大的市场潜力。

”五、混合式相位调制差分激光干涉纳米位移测量技术的挑战与前景这个技术也面临着一些挑战。

比如说,如何提高测量精度;如何降低设备的成本;如何扩大应用范围等。

但是,相信在不久的将来,这些问题都会得到解决。

而且随着科技的发展和人们对高精度测量的需求增加,这个技术的前景一定会非常广阔。

六、结语混合式相位调制差分激光干涉纳米位移测量技术是一种非常有前途的技术。

它不仅可以帮助我们解决很多实际问题,还可以推动相关领域的发展。

纳米测量技术现在与未来

纳米测量技术现在与未来
2013年 第8期
ห้องสมุดไป่ตู้
一、纳米测量产生的时代背景
测量技术与工业生产技术相互促进、相互提 高。可以说纳米测量正是顺应微电子工业集成电路 制作、机械工业和国防工业超精密加工的需要而发 展起来的。以微电子工业为例,美国Inter公司已经 在实验室内采用超短紫外线激光光刻技术成功地实 现了分辨率为130nm线路的制造工艺。美国不久前 提出的超电子学研发计划,要求未来的电子器件要 比现有的电子器件的存储密度高( 5~100 )倍,速 度快( 10~100 )倍,功耗则要小于现在器件功耗 的 2% 。要实现这一目标,电子器件的尺寸必将进 入纳米技术的尺度范围,即要小于100nm。为此, 微电子器件过渡到纳米电子器件是21世纪的必然。 2003年Serbin等采用飞秒激光诱导无机/有机混合材 料的双光子聚合,获得了结构尺寸小于200nm,周 期为450nm的三维结构和光子晶体。同时,机械工 业的超精密加工能力也已达到纳米量级。为由美
三、可实现纳米测量的技术和仪器
纳米级测量技术在本文专指:纳米级精度的尺 寸及位移的测量,纳米级表面形貌的测量。 近十几年来,随着测量技术的飞速发展,至今 已经出现了多种可以实现纳米测量的技术和仪器。 现在纳米级测量技术主要有两个发展方向:光干涉 测量技术和扫描显微测量技术。
1. 光干涉测量技术
这种方法是利用光的干涉条纹的提高其测量 分辨率。由于纳米级测量彩波长很短的激光或 X 射 线,故可以有很高的测量分辨率。光干涉测量技术 既可用于长度和位移的精确测量,也可用于表面显 微形貌的测量。下面介绍利用此原理的测量方法。 (1)双频激光干涉测量仪:图1是双频激光干 涉测量系统的原理图。双频激光干涉测量系统受环 境干扰的影响比单频激光测量系统要小很多,使测 量精度大大提高,因而这种测量系统得以广泛的生 产应用。常用的双频激光干涉测量系统测长度时分 辨率达到 0.01 μ m ,采用空气参数补偿后测量精度 达0.1μm以上。

纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则

纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则

纳米技术,作为当代科技领域的热门话题,其应用领域日益扩大,其中纳米材料的研究和应用备受关注。

而纳米材料的电阻率测量方法,是纳米技术领域中的一个重要的研究内容。

本文将就纳米材料电阻率的接触式测量方法进行介绍和探讨。

一、纳米材料的特点纳米材料是指至少在一个空间维度上具有尺寸小于100纳米的物质。

纳米材料由于其尺寸小、界面效应大、量子尺寸效应显著等特点,使得其具有许多传统材料所不具备的特殊性能,如磁、电、光、力学等性质。

目前,纳米材料已经被广泛应用于电子器件、传感器、生物医药、能源储存等领域。

二、纳米材料电阻率的测量意义纳米材料的电阻率是其重要的物理性质之一,它直接影响着纳米材料在电子器件、电阻传感器等领域的应用。

准确、可靠地测量纳米材料的电阻率是纳米技术研究领域中的一个关键问题。

三、传统电阻率测量方法的局限性以往常用的测量纳米材料电阻率的方法,如四探针法、焦耳热法等存在一些局限性。

四探针法需要制备特殊的探针样品,且对样品的尺寸和形状要求严格;焦耳热法对测量温度和样品形状等要求严格,且具有一定的危险性。

寻求一种准确、简便、可靠的纳米材料电阻率的测量方法显得尤为重要。

四、接触式测量方法的原理接触式测量方法是一种通过将待测材料与标准电极或探针接触,利用电流-电压关系来测定电阻率的方法。

对于纳米材料的接触式测量方法,可选用纳米尺度的电子束或原子力显微镜探针等。

五、接触式测量方法的优势相对于传统的电阻率测量方法,接触式测量方法具有以下优势:接触式测量方法无需特殊的样品制备,减小了实验的难度;接触式测量方法不需要高温或高压环境,能够在常温下进行测量,极大地减小了实验的危险性;第三,接触式测量方法可以快速、准确地获得纳米材料的电阻率。

六、接触式测量方法的应用接触式测量方法已经被广泛应用于纳米材料电阻率的研究中。

包括利用扫描隧道显微镜、原子力显微镜等探针进行接触式测量,通过测得的电流-电压关系来计算纳米材料的电阻率。

纳米材料的表征与测试技术

纳米材料的表征与测试技术

纳米材料的表征与测试技术纳米科技是21世纪最具发展前景的领域之一,而纳米材料作为纳米科技的重要组成部分,其性质和性能的表征与测试显得尤为重要。

本文将介绍纳米材料的表征方法和测试技术,以期为相关领域的研究提供有益的参考。

原子力显微镜是一种用于研究纳米材料表面形貌和微观结构的强大工具。

它利用微悬臂感受样品原子间的相互作用力,从而获得样品的表面形貌和粗糙度等信息。

AFM不仅可以观察纳米粒子的形貌,还可以用于研究表面修饰和吸附等现象。

透射电子显微镜是通过电子束穿过样品获取信息的一种仪器。

在纳米材料的表征中,TEM可以用来观察纳米粒子的形貌、尺寸和分布等信息。

TEM还可以用于研究纳米材料的内部结构、界面等现象。

X射线衍射是一种用于研究材料晶体结构和相变的重要手段。

通过测量X射线的衍射角度,可以获得样品的晶体结构、晶格常数和相组成等信息。

在纳米材料的表征中,XRD可以用于研究纳米粒子的物相、结晶度以及分子结构等信息。

扫描隧道显微镜主要用于测量样品的表面形貌和电子云分布。

在纳米材料的测试中,STM可以用于研究纳米结构的电子性质、表面修饰和分子吸附等现象。

STM还可以用于测量纳米材料的隧道电流和电阻等电学性质。

紫外-可见光谱是一种用于研究材料光学性质的重要手段。

在纳米材料的测试中,UV-Vis可以用于测量纳米材料的光学性质,如吸收光谱、反射光谱和透射光谱等。

通过分析这些光谱数据,可以获得纳米材料的光学带隙、粒径分布和成分等信息。

热重分析是一种用于研究材料热稳定性和质量变化的重要技术。

在纳米材料的测试中,TGA可以用于研究纳米材料在不同温度下的热稳定性、分解行为和热反应动力学等。

TGA还可以用于测量纳米材料的比表面积和孔径分布等物理性质。

本文介绍了纳米材料的表征方法和测试技术。

这些技术和方法在纳米材料的研究和开发中发挥着重要的作用,帮助科学家们深入了解纳米材料的性质和性能。

随着纳米科技的不断发展,相信未来会有更多更先进的表征和测试技术涌现,为纳米材料的研究和应用提供更全面的信息。

纳米颗粒的尺寸分布测量

纳米颗粒的尺寸分布测量

纳米颗粒的尺寸分布测量纳米颗粒作为一种特殊的材料,具有许多独特的性质和应用。

然而,纳米颗粒的尺寸分布对于其性能和应用至关重要。

因此,准确测量纳米颗粒的尺寸分布成为了研究和应用中的重要问题。

纳米颗粒的尺寸通常用直径来描述,而纳米颗粒的尺寸分布则是指颗粒直径在一定范围内的分布情况。

测量纳米颗粒的尺寸分布可以通过多种方法来实现。

其中,常用的方法包括电子显微镜观察、动态光散射技术、激光粒度仪等。

电子显微镜是一种常用的观察纳米颗粒的工具,其通过高分辨率的图像可以直接观察到纳米颗粒的形貌和尺寸。

通过对大量颗粒的观察和测量,可以得到纳米颗粒的尺寸分布。

然而,电子显微镜观察需要样品制备和显微镜操作的专业知识,操作复杂且耗时,同时也有可能对样品造成损伤。

动态光散射技术是一种常用的测量纳米颗粒尺寸分布的方法。

该技术通过测量纳米颗粒在溶液中的散射光强度来推断颗粒的尺寸分布。

通过光散射的原理,可以得到颗粒的尺寸信息。

这种方法操作简单,快速高效,适用于大批量样品的测量。

然而,动态光散射技术在测量过程中需要考虑到颗粒的形状和折射率等因素的影响,同时对于非球形颗粒的测量精度较低。

激光粒度仪是一种常用的测量纳米颗粒尺寸分布的工具。

该仪器通过激光束穿过样品,测量散射光的角度和强度来推断颗粒的尺寸分布。

激光粒度仪操作简单,测量速度快,适用于大批量样品的测量。

与动态光散射技术相比,激光粒度仪对于形状和折射率的影响较小,测量精度较高。

然而,激光粒度仪的测量范围有限,对于较小尺寸的纳米颗粒可能无法准确测量。

除了以上常用的方法外,还有一些其他的方法可以用于纳米颗粒尺寸分布的测量,如离心法、X射线衍射法等。

这些方法各有优缺点,可以根据实际需求选择合适的方法进行测量。

总结起来,纳米颗粒的尺寸分布测量是纳米材料研究和应用中的重要问题。

不同的测量方法有各自的优势和适用范围,可以根据实际需求选择合适的方法进行测量。

随着纳米技术的不断发展,尺寸分布测量技术也在不断进步,相信未来会有更加准确和高效的测量方法出现,为纳米颗粒的研究和应用提供更好的支持。

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光子扫描隧道显微镜
工作原理:光学中的受抑全反射理论
光子在疏密介质组成的界面上发生全反射时,其 波动将会渗透到光疏介质中并沿界面传播。其强度沿 界面法线方向指数衰减。
若用一只极细的光导纤维与该表面贴近到小于光 波波长的距离,光子会通过隧道效应而被耦合到光 纤中而被检测到。由于被检测表面所产生的衰减磁 场与该表面相似,如果使光纤上下移动而获得相同 强度的信号,则光纤的高度位置就反映了表面形态。

纳米测量技术的时代背景

典型的例子有1982年发明的扫描隧道显微镜;美 国加利福尼亚大学利用光杠杆实现的原子力显微 镜首次获得了原子级分辨率的表面图。日本研制 的具有亚纳米级测量分辨率的激光外差干涉仪。 英国国家物理实验室(NPL)研制的微形貌纳米测量 仪器的测量范围是0.01-3nm。
我国对纳米测量技术的研究也相当重视,并取 得了一些显著成绩。清华大学研制成功亚纳米级分 辨率的激光双波长干涉仪;中国科学院北京电子显 微镜实验室成功研制了原子级分辨率的原子力显微 镜;中国计量科学研究院研制了用于微位移测量标 准的法-珀干涉仪;天津大学研制了双法-珀干涉型 光纤微位移传感器;中国科学院化学所对扫描探针 显微术进行了一系列的科学研究。
扫描隧道显微镜(STM)-结构
计算机控制 压电陶瓷
PI反馈
针尖
样品
STM结构示意图
监视器
扫描隧道显微镜(STM)
纳米测量技术-光学测量方法 由于扫描探针显微技术最终还要由一些光学的 方法来进行标定和校准,所以光学的纳米测量尤其 倍受国内外关注。 在光学纳米测量方法中,主要为激光干涉的方 法,它采用光程倍频和锁相放大等技术,在很大程 度上提高了干涉仪的分辨力和准确度。理论上,各 种激光干涉仪都能达到纳米尺度的测量,但实际上 均受一些条件所限。因此,研究各种干涉仪及其相 关的测量原理就先得很有必要。
双频激光干涉仪-原理 主要利用塞曼效应效应和声光调制方法实现双 频激光。采用外差干涉的原理,克服了普通单频激 光器直流信号漂移的缺点,具有噪声小,抗干扰能 力强等优点。但光学结构比较复杂,成本比较高。
双频激光干涉仪结构示意图
双频激光在双频激光干涉仪的测量光路中存在模式间 耦合现象,为了克服这种现象又发展了超外差干涉仪方案, 抑制了模式耦合误差;另外,这种干涉仪在工业中进行纳 米测量的主要问题是如何解决抗干扰、消除空气流动、温 度漂移等一些环境问题。良好控制环境下能够达到很高准 确度。因此,发展趋势就是超外差、共光路、用光纤简化 光路等。
总括国内外的纳米测量方法, 可以分为两大类: 一类是非光学方法: 扫描探针显微术、电子显微术、 电容电感测微法, 另一类是光学方法: 激光干涉仪、 X 光干涉仪、光学光栅和光频率跟踪等。

它们的单项参数( 分辨率、精度、测量范围) 可达到的指标分别如下表所示。

纳米测量技术-非光学测量方法
任何一套纳米测量系统一般都由纳米传感系统、 三维(或二维)扫描工作台及其测量控制系统(即 扫描测试系统)和信息处理及图像分析技术等三部 分组成。 非光学测量方法代表有扫描隧道显微镜 (STM),原子力显微镜(AFM),电子显微镜(TEM 和SEM),俄歇电子能谱等。
光子扫描隧道显微镜
脂质子光子扫描显微镜下的图像
扫描近场光学显微镜(SNOM)
SNOM的显著特点是突破光学衍射极限的限 制,可以得到高分辨率的光学图像。
近场光学显微镜(SNOM)是建立在对隐失波的探 测的基础上,利用光学隧道效应,完成对样品纳米 级精细结构的探测。
扫描隧道显微镜(STM)-工作原理 在经典力学中,当势垒的高度比粒子的能量 大时,粒子是无法越过势垒的,而根据量子力学 原理,粒子可能会穿过势垒而出现在另一侧,这 种现象称之为隧道效应。STM就是基于量子隧道效 应制成的。以金属针尖为一电极,被测固体样品 为另一电极,当它们之间的距离小到1nm左右时, 会出现隧道效应,电子从一个电极穿过空间势垒 到达另一电极形成电流。隧道电流对于间距的变 化非常敏感,可以通过测量电流的变化来反映表 面上原子尺度的起伏,这就是STM的基本工作原理。

纳米测量技术的任务
纳米测量技术的研究大致分为两个方面: 1.应用与研制先进的测试仪器,解决物理和微 细加工中的纳米测量问题,分析各种测试技术, 提出改进的措施或新的方法;

2.从计量学的角度出发分析各种测试方法的特 点,如:使用范围、精度等级、频率响应等。

纳米测量技术的时代背景

随着科技不断进步,测量技术与工业生产技术相 互促进、相互提高。可以说纳米测量正是顺应微 电子工业集成电路制作、机械工业和国防工业超 精密加工的需要而发展起来的。 鉴于纳米测量技术的重要地位, 国外, 特别是美、 日、欧等国家均投入了相当大的人力和物力予以 重点支持。1999年12月,美国国家科学技术委员 会指出:“微纳米科学和工程将在未来的10~20 年内成为一种战略性、占主导地位的技术,德国 将微纳米技术和微系统技术列入国家高科技重点 发展领域
纳米测量技术
纳米技术
纳米技术是21世纪最重要的科学技术之一; 它将引起一场新的工业革命。 纳米技术是包括纳米电子、纳米材料、纳米 生物、纳米机械、纳米ห้องสมุดไป่ตู้造、纳米测量、纳米物理、 纳米化学等诸多科学技术在内的一组技术的集合, 其目的是研究、发展和加工结构尺寸小于100nm 的 材料、装置和系统, 以获得具有所需功能和性能的 产品。科技发达国家为抢占这一高新技术生长点、 制高点, 竞相将纳米技术列为21世纪战略性基础研 究的优先项目。

纳米测量技术
纳米测量技术是纳米技术的重要组成部分, 它对于纳米材料的发展,纳米器件和系统的研究与 开发具有十分重要的意义。 纳米测量技术的内涵涉及纳米尺度的评价、 成份、微细结构和物性的纳米尺度的测量,它是在 纳米尺度上研究材料和器件的结构与性能、发现新 现象、发展新方法、创造新技术的基础。 纳米技术主要研究微观尺度的物体和现象, 同时微纳米检测技术也主要指微米和纳米尺度和精 度的检测技术。与广义的测量技术相比,纳米测量 技术具有被测量的尺度小以及以非接触测量手段为 主等主要特点。
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