USB2.0成品线材高频性能测试报告(TDR)
SPEC-USB2.0规范及测试标准
PRODUCT SPECIFICATION SPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCT SPECIFICATION Amended Date 05-29-2003TYPEPLUG&RECEPTACLE Page 1 Sum To 8 PagesA&BTitle USB2.0１．SCOPEThis specification covers performance, methods and quality requirements forUniversal Serial Bus (USB) plug and receptacle connectors. These connectorsare cable mounted plug and printed circuit board mounted receptacle connectors.2. REQUIREMENTS2.1 Design and ConstructionProduct shall be of the design , construction and physical dimensions specifiedThe in applicable product drawing.2.2 Materials and PlatingThey are specified on applicable product drawing.2.3 RatingsA.Voltage: 30 VAC (rms)B.Current: 1.5A per contact, not to exceed 30℃ temperature riseC.Operating temperature: -20℃ to +85℃D.Storage temperature: -25℃ to +85℃E.Nominal Temperature Rating: +20℃2.4 Test Requirements and Procedures SummaryD Amended 05-29-2003Check Director Tab C Amended 10-17-2001A Approved 02-26-2001陈永飞Description DateItem ChangePRODUCT SPECIFICATIONSPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 NamePRODUCT SPECIFICATIONAmended Date05-29-2003Title USB2.0 A&B TYPE PLUG&RECEPTACLE Page 2 Sum To 8 PagesNote:Shall meet visual requirements ,show no physical damage ,and shall meet requiremFigure 1 (conn.)Test DescriptionRequirement ProcedureLow level contact resistance for Lower and Middle stack 30mΩ maximum initial EIA 364-23 Subject mated contacts assembled in housing to 20 mV maximum open circuit at 100 mA maximum. See figure ALow level contact resistance for Upper stack 50mΩ maximum initial EIA 364-23 Subject mated contacts assembled in housing to 20 mV maximum open circuit at 100 mA maximum. See figure AInsulation resistance 1000 MΩ minimum EIA 364 – 21 Test voltage 500±50V/DC between adjacent contacts of mated and unmated connector assemblies.Dielectric withstanding Voltage No flashover&sparkover&excess leakage&breakdownEIA 364 – 20 Test voltage 500V/AC between adjacent contacts of mated and unmated connector assemblies.Vibration , random No discontinuities of 1u s orLonger duration.See Note.EIA 364 – 28A-83 Condition V Test Letter A. Subject mated connectors to 5.35 G's rms. 15 minutes in each of three mutually perpendicular planes ,See Figure B.Physical shock No discontinuities of 1u s or Longer duration.See Note. EIA 364 – 27 Condition H. Subject mated connectors to 30 Gs half-sine shock' pulses of 11 ms duration. three shocks in each direction applied along three mutually perpendicular planes ,18 total shocks ,See Figure C first test setup.Durability Contact Resistance:10 mΩ maximum change from initial value. EIA 364 – 09. 1500cycles insertion/extraction at a maximum rate of 200cycles per hour, then see note. Solderability USB contact solder tails shall pass95% coverage after one hour steam aging as specified in category 2.EIA364--52Cable pull-out Applied a load of 40 Newtons for one minute.EIA364-38 Test condition APRODUCT SPECIFICATION SPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCT SPECIFICATION Amended Date 05-29-2003 Title USB2.0A&BTYPEPLUG&RECEPTACLE Page 3 Sum To 8 Pages Test Description Requirement ProcedureMating force 35 Newtons maximumEIA 364 – 13 Measure forcenecessary to mate connector Assembliesat maximum rate of 12.5 mm/min.Unmating force 10 Newtons minimumEIA 364 – 13 Measure forcenecessary to unmate connectorassemblies at maximum rate of 12.5mm/min.Thermal shock Contact Resistance:10 mΩ maximumchange from initial value.EIA 364 –32 Test Condition I.10Cycles –55℃ and +85℃,The USBconnectors under test must be mated.Critical Dimension 8 total measurement within tolerance.EIA 364-18Humidity Life Contact Resistance:10 mΩ maximumchange from initial value. The USB connectors under test must betested in accordance with EIA 364 – 31Condition A. method Ш. 168 Hours minimum (seven complete cycles).Temperature life Contact Resistance:10 mΩ maximumchange from initial value. See NoteEIA 364 – 17A-87 Condition 2 MethodA. Subject mated connectors totemperature Life at 85℃ for 250 hoursMixed Flowing Gas See NoteEIA 364-65-92 Class II, Exposures(1)U nmated for 1 day(2)M ated for 10 dayFlammability Require its thermoplastic resin vendorto supply a detailed C of C with eachresin shipment. The C of C shallclearly show the resin’s UL listingnumber, lot number, date code, etc.UL 94 v-0Note:Shall meet visual requirements ,show no physical damage ,and shall meet requirement.Figure 1 (conn.)PRODUCT SPECIFICATION SPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCT SPECIFICATION Amended Date 05-29-2003 Title USB2.0A&BTYPEPLUG&RECEPTACLE Page 4 Sum To 8 Pages Test Description Requirement ProcedureContact capacitance 2 pF maximum unmated percontact.EIA 364 –30The object of this test is to detail a standardmethod to determine the capacitance betweenconductive elements of a USB connector.Contact current rating 1.5A at 250vAC minimumwhen measured at an ambienttemperature of 25℃, withpower applied to the contacts,the temperature change shallnot exceed +30 at any point inthe USB connector under test.EIA 364 – 70—method BThe object of this test procedure is to detail astandard method to assess the currentcarrying capacity of mated USB connectorcontacts.Differential impedance 90±15%Ω(76.5~~103.5Ω)Connect the Time Domain Reflectometer(TDR). TDR is setup the differential mode.Common mode impedance 30±30%Ω(21~~39Ω)Connect the Time Domain Reflectometer(TDR). TDR is setup the differential mode.Propagation Delay 26ns(maximum for full speed cable)Connect the Time Domain Reflectometer(TDR). TDR is setup the differential mode.Propagation delay skew 100ps/cable(maximum for full speed cable)Connect the Time Domain Reflectometer (TDR). TDR is setup the differential mode.Signal pair attenuation (Maximum) 0.064 MHz 0.08 dB/Cable1. Connect the Network Analyzer output port(port1) to the input connector on theattenuation test fixture(note).2. Connect the series “A” plug of the cable obe tested to the test fixture, leaving theother end open-circuited.3.Calibrate the network analyzer andfixture using the appropriate calibrationstandards over the desired frequencyrange.0.256 MHz 0.11 dB/Cable0.512 MHz 0.13 dB/Cable0.772 MHz 0.15 dB/Cable1.000 MHz 0.20 dB/Cable4.000 MHz 0.39 dB/Cable8.000 MHz 0.57 dB/Cable12.00 MHz 0.67 dB/Cable24.00 MHz 0.95 dB/Cable48.00 MHz 1.35 dB/Cable96.00 MHz 1.90 dB/Cable200.00 MHz 3.2 dB/Cable400.00 MHz 5.8 dB/CableNote: Shall meet visual requirements ,show no physical damage ,and shall meet requirementFigure 1 (conn.)PRODUCT SPECIFICATION SPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCT SPECIFICATION Amended Date 05-29-2003 Title USB2.0A&BTYPEPLUG&RECEPTACLE Page 5 Sum To 8 Pages 2.5 Product qualification test sequence:Test ExaminationTest Group (a)1 2 3 4 5 6 8Test Sequence (b)Examination 1,10 1,6 1,6 1,9 1,3 1,6 1,3 Low level contactresistance3,7 2,5 2,5Capacitance 2Critical Dimension 2 Insulation resistance 3,7DWV 4,8Vibration 5Physical shock 6Durabillity 4 3 3Mating and unmatingforce2,8Thermal shock 5Humidity 6Temperature life 4Cable pull-out 9Mixed Flowing Gas 4Solderability 2Impedance 2Attenuation 3 Propagation delay 4Skew 5Number of samplesPlug 8pcs 8pcs 8pcs 8pcs 5pcs 5pcs 8pcs socket 8pcs 8pcs 8pcs 8pcs 5pcs 5pcs8pcs3. Sample Selection:Samples shall be prepared in accordance with applicable manufacturers instructions and shall be selected at random form current productions.PRODUCT SPECIFICATIONSPEC.NO. SPEC-USB 2.0Approved Date 02-26-2001 Name PRODUCTSPECIFICATION Amended Date05-29-2003TitleUSB2.0 A&B TYPE PLUG&RECEPTACLEPage 8 Sum To 8 Pages1.0 USB connector termination data:provide the standardized contact terminating assignments by number and electricalvalue for series “A” and series “B” connectors.1.1 USB connector termination assignment:Contact numberSignal nameTypical wiring Assignment1 Vbus Red2 D- White3 D+ Green4 GND Black shell Shield Drain Wire。
USB 2.0测试规范
Apple数据线， MFI测试此项
90欧+/-15%(76.5-103.5 欧）
Apple数据线， MFI测试此项
30欧+/-30%(39-21欧）
5.2ns/m
1. 信号对绞线绞距； TDR（时域反 2.信号对绞线绝缘材质（介质常 射仪） 数) 1. 信号对绞线对称性和一致性; TDR（时域反 2. 成品长度； 射仪） 3. 信号对绞线裁剥及焊接尺寸 眼图测试是判定 信号质量好坏相 当理想的工具， PG 综以上测试项目有直接或间接影 但对于线材高频 信号发生器 响 特性改善分析无 法提供有效的改 善方向。 1. 线材本身的屏蔽效果（铝 箔，编织，缠绕，外被防电磁材 料）； 2. 线材与连接器加工连接处屏 蔽处理工艺(比如铝箔及编织的 破坏程度；连接器铁壳有没有接 地或与马口铁焊接等 3. 是否有磁环 测试Cable连接 终端设备产品一 般测试EMI（电 磁干扰），测试 频率范围： 30MHZ到1GHZ,一 般采用室内测试 （3M或10M暗 室）
100ps
6
眼睛张开程度大小（以波罩 眼图 Eye Mask模块为中心），眼 Eye 图接触到Eye Mask则表示信 Diagram 号质量不好，离Eye Mask越 远，则信号质量越好。
1、电波暗室 2、接收机 3、接收天线 电磁兼容 依客户标准（如0dB,-2dB,- 4、频谱仪 7 3dB,-4dB,-6dB等） EMC 6、转台、升 降台 7、转台、升 降台控制器
USB 2.0 测试规范及影响因素一栏表
No. 测试项目 测试标准 Frequency(MH dB/Cable(Max Z) imum) 0.512 0.13 衰减 Signal 1 Pair attenuat ion 0.772 1 4 8 12 24 48 96 200 400 差模阻抗 Differen 2 tial Impedanc e 同模阻抗 Common 3 Impedanc e 延迟 Propagat 4 ion Delay 延迟差 ew 0.15 0.2 0.39 0.57 0.76 0.95 1.35 1.9 3.2 5.8 测试仪器 影响因素 1. 信号线导体截面积与长度不 匹配 2. 加工信号芯线时伤到芯线导 NA（网络分 体 析仪）或依 EIA364-101 3.信号芯线导体材质 以 Open/Short 4.信号线导体的光泽度及纯度 量测 5. 信号线导体的绝缘材质（介 质常数) 6. 信号线的对绞绞距及包带异 常 1. 信号芯线ID； 2. 信号线的同心度及真圆度； 3. 信号线绝缘材质（介质常 TDR（时域反 数）； 射仪） 4. 焊接时锡点饱和度，有无锡 尖，芯线绝缘皮是否后缩 5. 线材与连接器阻抗匹配 备注
USB2.0成品线材高频性能测试报告(TDR)
(15:26: 01)
Tester: Bruce
Sign above
Sign above
P.N.:S001
.Test Equipments Information
ID Product and Serial Number
1 E5071C(MY46525218)
2
E5071C()
3
ENA-
Description with series number
S-parameter Network Analyzer Time Domain Reflector(TDR)
Data Timing Generator
Manufacture
Agilent Keysight Keysight
.Device Under Test(DUT) Information
Part Number of Length( m) Temper ature Batch Number Testing followin Comme nts Technici an
1.8 20 USB2.0
Bruce
Tested
Pairs
Humidit
t Result
P.N.:S001
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Date:2019/08/31
Tester: Bruce
P.N.:S001
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Date:2019/08/31
Tester: Bruce
P.N.:S001
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Date:2019/08/31
Tester: Bruce
Num Result Spc Max Spc Min value Value △Value Avg
TDR测试原理及测试方法
TDR测试原理及测试方法TDR 测试原理及测试方法--BJLK1、TDR 的作用和工作原理随着数字电路工作速度得提高，PCB 板上信号的传输速率也越来越高，如PCI-Express 的信号速率已经达到2.5Gb/s，SATA的信号速率已经达到3Gb/s，新的标准如PCI-Express II、XAUI、10G 以太网的工作速率更高。
随着数据速率的提高，信号的上升时间会更快。
当快上升沿的信号在电路板上遇到一个阻抗不连续点时就会产生更大的反射，这些信号的反射会改变信号的形状，因此线路阻抗是影响信号完整性的一个关键因素。
对于高速电路板来说，很重要的一点就是要保证在信号传输路径上阻抗的连续性，从而避免信号产生大的反射。
相应的，对于测试来说也需要测试高速电路板的信号传输路径上阻抗的变化情况并分析问题原因，从而更好地定位问题，例如PCI-Express 和SATA 等标准都需要精确测量传输线路的阻抗。
下表是SATA 对于系统内连接的电缆和连接器的阻抗和衰减的要求：要进行阻抗测试，一个快捷有效地方法就是TDR(时域反射计)方法。
TDR的工作原理是基于传输线理论，工作方式有点象雷达。
如下图所示，当有一个阶跃脉冲加到被测线路上，在阻抗不连续点就会产生反射，已知源阻抗Z0，则根据反射系数ρ就可以计算出被测点阻抗ZL的大小。
最简单的TDR 测量配置是在宽带示波器的模块中增加一个阶跃脉冲发生器。
阶跃脉冲发生器发出一个快上升沿的阶跃脉冲，同时接收模块采集反射信号的时域波形。
如果被测件的阻抗是连续的，则信号没有反射，如果有阻抗的变化，就会有信号反射回来。
根据反射回波的时间可以判断阻抗不连续点距接收端的距离，根据反射回来的幅度可以判断相应点的阻抗变化。
下图是TDR 的工作方式和对一个被测件的TDR 波形。
TDR 通常显示反射和阻抗变化情抗，TDT(时域传输)通常显示传输延迟。
器件或者通道的阻抗不连续会导致传输信号失真，因此TDR/TDT是增强信号完整性的重要工具。
USB线材及连接器检验标准02-27
缺陷类别
B类
C类
●
●
● ● ● ● ●
●
●
检验工具 目视
目视 酒精、擦布
目视 目视 目视 工装手机
5.3 尺寸要求
序号 测量项目
测量方法
接受标准
1
尺寸超差
用卡尺或投影仪测量产品的关键、重要 尺 寸 在 工 程 设
尺寸及装配尺寸
计规格内
测量工具 卡尺
两端连接头与对应的手机和电脑不能出
2 配合不良
配合松紧适度
将数据线与其配套插头配合后测量其阻抗，每PIN引脚阻抗小于规格 书要求。 将数据线置1米高度，USB母座从正面和侧面分别跌落在水泥地板，跌 落次数10 次
静电放试验条件配合手机测试--接触放电：±4KV 空气放电：±8KV，USB母座 应无外观不良，功能良好
将数据线与其配套插头配合后测量其阻抗，每PIN引脚阻抗小于规格 书要求。 将数据线置1米高度，数据线两头的连接器部分从正面和侧面分别跌 落在水泥地板，跌落次数10 次
静电放试验条件配合手机测试--接触放电：±4KV 空气放电：±8KV，数据线 应无外观不良，功能良好
5.5.2 USB 母座可靠性测试：
52常规要求序号序号检验项目检验项目标准要求标准要求缺陷类别缺陷类别检验工具检验工具bb类类cc类类1型号型号线材型号等对比样品规格书是否一致目视2标识数据线上贴纸插头朝向标识是否与样品一致3胶体起泡缩水起丝脏污严重划伤和异色点目视4毛刺批锋不能有刮手的毛刺和批锋酒精擦布5破损线材胶体不能破损缺角露线材芯现象6锈蚀外露金属部分不允许有锈蚀目视7变形pin针不能有变形翘起现象目视8开裂在扣位和壳体结合处扳扣位或壳体结合处不能松动和开裂目视9挂钩弹性挂钩弹性良好装卸方便插上插头至少能承受200g拉力约大于1台手机重量5s不松脱工装手机53尺寸要求序号序号测量项目测量项目测量方法测量方法接受标准接受标准测量工具测量工具1尺寸超差用卡尺或投影仪测量产品的关键重要尺寸及装配尺寸尺寸在工程设计规格内卡尺2配合不良两端连接头与对应的手机和电脑不能出现不易插入或难取出配合松紧适度电脑54常规性能要求序号序号测试测试项目项目标准标准1连通性测试连接手机pc应能正常通信充电用万用表测试两端铁壳对地线端呈短路状态
高频线材测试标准
-20 dB/max@ 0.3~5000MHz
4125MHz
5100MHz 第五對：200MHz
5.2 ns/m
0.4 TPixel 2.42 ns (最嚴值)
0.4 TPixel 1.78ns (最嚴值)
ess than（小於） 15 ps/m
0.25 TBit 151 ps (最嚴值)
-20dB/max @ 0.1 - 7.5GHz
11
Common mode Impedance 同模阻抗
TDR/TDR mode
Common-mode 12 Intra-Pair Skew
同模對內延遲差
13 单端延迟
TDR/TDR mode TDR/TDR mode
準
DP低速線--規格值
USB2.0
USB3.0
線材) 1 ns~ 2.5 ns
ector連接器 ) 0 ns~ 1 ns
0.25 TBit 112 ps (最嚴值) 第五對：111ps
30 ±Ω 6 Ω (cable) 1.7~3.2 ns
100 ps / cable
15 ps / m
250 ps max
NONE NONE
Less than（小於） 15 ps/m -20dB/max @ 0.1 - 7.5GHz
USB3.1
線材： 90 ± 5 Ω 85 Ω minimum 95 Ω maximum 連接器： 90 ± 10 Ω 80Ω minimum100Ω maximum
7
Differential Delay 差動延遲
TDR/TDR mode
8
Inter-Pair Skew 差分對間延遲差
TDR/TDR mode
USB 2.0 实体层测试操作
USB 2.0 實體層測試的理解與實際操作(上)〈主筆室〉前言參與USB 2.0 裝置設計、分析和驗證工作的設計人員，每天都面臨著縮短新產品上市時間的壓力。
Tektronix 的各種測試儀器，可使設計人員快速而精確地進行USB 建置者論壇(USB Implementers Forum，簡稱USB-IF) 建議的所有相容性認證測試。
通用串列匯流排(USB 2.0) 是一種連接技術規格，旨在連接電腦外面的週邊裝置，可在不打開電腦外殼安裝所需裝置，免除了開機箱插卡的麻煩。
USB 相容裝置為使用者提供使用方便、擴充性和高傳輸速度。
USB 2.0 技術已被今天的市場廣泛接受，它將資料處理速率提升了40 倍。
資料處理量的增加為許多新型週邊產品打開新天地，包括全動態視訊至輔助性的、只有錢包大小的硬碟機。
但是，隨著資料速率的急速升高，也出現了新的測試和量測方面的挑戰。
USB 2.0 規格推出了新的相容性要求。
在製造商將USB-IF「認證」標誌標籤貼在產品包裝之前，USB 2.0 裝置的設計人員必須恰當地鑑定其設計並檢驗產品是否符合業界標準。
因此，恰當的測試工具對USB-IF 相容性測試極其重要，這些測試項目包括低速、全速和高速裝置和集線器的眼狀圖和參數測試。
本文章將重點介紹對USB 2.0 實體層量測和電相容性測試（電測試和高速測試）的解說和實際操作，並介紹各項測試所需的儀器。
USB 2.0 的基本原理USB 2.0 是一種串列匯流排，使用四條線- VBUS、D-、D+ 和接地。
D- 和D+ 傳送資料。
VBUS 為來自主機(Host) 或集線器(hub) 的電源。
USB 2.0 規定了下列速度選擇和上升時間：USB 2.0 裝置可以自行供電（有自己的電源供應器），可由匯流排供電（電源來自主機）。
自行供電裝置須盡量少用電。
USB 2.0 規格中列有這方面的詳細測試規格。
USB 2.0 電測試USB 2.0 電測試包括訊號品質、峰值電流檢查以及壓降(Drop) 和浮動(Droop) 電壓測試。
线材行业高频线性能测试规范
一.目的：确保实验室测试人员能正确执行测试标准.特性定此办法二.范围: 实验室所有测试线材均适用三.高频线测试标准如下:B2.0线材特性测试标准(引用标准USB2.0协会标准 .相关规范 EIA-364-101 EIA-364-102EIA-364-103 EIA-364-08规范)B3.0线材特性测试标准. (引用标准USB3.0协会标准 .相关规范 EIA-364-101 EIA-364-102EIA-364-103 EIA-364-08规范)3. DVI线材特性测试标准(引用标准DVI协会标准 .相关规范 EIA-364-101 EIA-364-102EIA-364-103 EIA-364-08规范)标题高频线特性测试规范生效日期核准：审核：制文：4. HDMI1.4线材特性测试标准(引用标准HDMI协会标准 .相关规范 EIA-364-101 EIA-364-102EIA-364-103 EIA-364-08规范)标题高频线特性测试规范生效日期核准：审核：制文：5.Displayport线材测试标准.(相关规范 EIA-364-101 EIA-364-102 EIA-364-103 EIA-364-08规范标题高频线特性测试规范生效日期核准：审核：制文：标题高频线特性测试规范生效日期核准：审核：制文：6. 网络线材CAT.5E特性测试标准:(引用EIA/TIA规范)6.1IMPZ 要求100+/-15 Ohm6.2Return LossParameter: Return Loss Unit: dB Start 1 4 8 10 16 20 25 31.25 62.5 100 1 10 20 End 1 4 8 10 16 20 25 31.25 62.5 100 10 20 100 SPEC Hi -20 -23 -24.5 -25 -25 -25 -24.3 -23.6 -21.5 -20.1 Fn:1 -25 Fn:1 6.3 AttenuationParameter: Attenuation@20℃Start 1 4 8 10 16 20 25 31.25 62.5 100End 1 4 8 10 16 20 25 31.25 62.5 100SPEC Hi -- -- -- -- -- -- -- -- -- --实验室文件修订履历表。
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Date:2019/08/31
1
Pairs
40
%
Fail
Pass Pass Pass Fail Pass Tester: Bruce
.-USB Eye Diagram
P.N.:S001 Pass
Summary Result
USB Attenuat ion summar y result.
Num Result Spc Max Spc Min value Value △Value Avg
Unit
D
Pass
39
21
33.53 30.32 3.21 31.93 Ohms
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Date:2019/08/31
Tester: Bruce
USPBaDir ifferential Mode Delay summary result @ 200 ps, (Low:10 %, High:90 %)
Part Number of Length( m) Temper ature Batch Number Testing followin Comme nts Technici an
1.8 20 USB2.0
Bruce
Tested
Pairs
Humidit
℃
y
Bundle
Number
Test Result
3
ENA-
Description with series number
S-parameter Network Analyzer Time Domain Reflector(TDR)
Data Timing Generator
Manufacture
Agilent Keysight Keysight
.Device Under Test(DUT) Information
Num Result Spc Max Value Unit
D
Fail
5.2 5.2894 ns/m
USPBaIirntra Pair Skew summary result @ 200 ps, (Low:10 %, High:90 %)
Num Result Spc Max Value Unit
D
Pass
100 27.51
ps
USPBaEirye Diagram summary result Num Result
D
Pass
P.N.:S001
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Tester: Bruce
P.N.:S001
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Tester: Bruce
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Tester: Bruce
Date:2019/08/31
(15:26: 01)
Tester: Bruce
Sign above
Sign above
P.N.:S001
.Test Equipments Information
ID Product and Serial Number
1 E5071C(MY46525218)
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E5071C()
P.N.:S001
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Tester: Bruce
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Tester: Bruce
P.N.:S001
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Date:2019/08/31
Tester: Bruce
D -0.097 -0.109 -0.222 -0.31 -0.383 -0.567 -0.753 -1.066 -1.51 -2.308 Pass
@(MHz) 0.772 1 4 8 12 24 48 96 200 400
Байду номын сангаас
USPBaDir ifferential Mode Impedance summaMrayxresult M@in200 ps, (Low:10 %, High:90 %)
Num Result Spc Max Spc Min value Value △Value Avg
Unit
D
Pass 103.5 76.5 93.94 90.47 3.47 92.21 Ohms
USPBaCir ommon Mode Impedance summarMy arexsult @M2i0n0 ps, (Low:10 %, High:90 %)
P.N.:S001
USB2.0 成品线材 Test
Report
Report To:
Tel:
Approved by: Printed Name:
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Presented By:
股份有限公司
Fax: Report Date:
Date:2019/08/31
Edited by: Printed Name:
.Tested Parameters List
.-USB Attenuat ion
.-USB Different ial Mode Impedan ce
.-USB Commo n Mode Impedan ce
.-USB Different ial Mode Delay
.-USB Intra Pair
Start 0.512 0.772
1 4 8 12 24 48 96 200 MHz
Stop 0.772
1 4 8 12 24 48 96 200 400 MHz
Lim From -0.1 -0.2 -0.2 -0.4 -0.6 -0.8 -0.9 -1.4 -1.9 -3.2
dB
Lim To -0.2 -0.2 -0.4 -0.6 -0.8 -0.9 -1.4 -1.9 -3.2 -5.8 dB