半导体器件电子学Ch1.pptx
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半导体器件基础课件(PPT-73页)精选全文完整版

有限,因此由它们形成的电流很小。
电子 技 术
注意:
1、空间电荷区中没有载流子。
2、空间电荷区中内电场阻碍P 区中的空穴、N 区中的电子(
都是多子)向对方运动(扩散 运动)。
所以扩散和漂移这一对相反的运动最终达到平衡, 相当于两个区之间没有电荷运动,空间电荷区的厚 度固定不变。
电子 技 术
二、PN 结的单向导电性
电子 技 术
1. 1 半导体二极管的结构和类型
构成:实质上就是一个PN结
PN 结 + 引线 + 管壳 =
二极管(Diode)
+
PN
-
符号:P
N
阳极
阴极
分类:
按材料分 按结构分
硅二极管 锗二极管 点接触型 面接触型 平面型
电子 技 术
正极 引线
N 型锗片 负极 引线
外壳
触丝
点接触型
正极 负极 引线 引线
电子 技 术
半导体中存在两种载流子:自由电子和空穴。 自由电子在共价键以外的运动。 空穴在共价键以内的运动。
结论:
1. 本征半导体中电子空穴成对出现,且数量少。 2. 半导体中有电子和空穴两种载流子参与导电。 3. 本征半导体导电能力弱,并与温度有关。
电子 技 术
2、杂质半导体
+4
一、N 型半导体
电子 技 术
三、课程特点和学习方法
本课程是研究模拟电路(Analog Circuit)及其 应用的课程。模拟电路是产生和处理模拟信号的电路。 数字电路(Digital Circuit)的知识学习由数字电子技 术课程完成。
本课程有着下列与其他课程不同的特点和分析方 法。
电子 技 术
半导体器件的基础知识幻灯片PPT

将而要施主出杂现质电因子失数去一大个于价空电穴子数成为或正空离穴子数。大而在于这电种子半数导。体 把 数中目载多流的子载主流要子是称自多数由 载电流子子,,自数由目电少子的带载负流子电 称荷少 数〔载Ne流ga子tiv。e〕是,自故由命电名为子N为型多半数导体还。是于空是穴用为这样多的数示,意取图 决 于表掺示。杂物质。少数载流子的浓度取决本征激发。
2. P型半导体
+4
+4
+4
+4
++43
+4
P型
+4
+4
+4
受主杂质
受主杂质容易获得一个价电子成为负离子,而在这种半 导体中载流子主要是空穴,空穴带正电荷〔Positive〕故命 名为P型半导体。于是用这样的示意图表示。
P型半导体中的多数载流子为空穴,少数载流子 为自由电子
1.1.4 PN结
1.PN结的形成
导电能力介于导体与绝缘体之间的物质称为半导体, 这类材料大都是三、四、五价元素,主要有:硅、锗、磷、
硼、在砷这、铟里等,,我他们们的的电目阻的率不在是10研-3~究10半7欧导.厘体米材。料 , 而是借助半导体材料的特性来建立一些概念和术 语半,导体如材多料数的、广少泛数应用载,流并子不,是P因型为半它导们的体导、电N能型力半介 于导导体体与,绝P缘N体结之,间载,而流是子它的们扩具散有一与些漂重移要运特动性:, PN 结1〕的当正半反导偏体置受,到外PN界结光的和热导的通激与发截〔止本等征。激发〕时,
2.PN结的单向导电性
1〕PN结的电阻
2〕由导于通空的间含电义荷区中的载流子极少,故PN结 改 的的的降3在〕厚导截变外电多落实P止度通和 加P阻,在N用N。越,控 电P很 假结结中N厚是制 压大 设的电结,电指电,, 在偏阻上为P阻此阻P与 两置。的N了的称越P端结大区改大为大加呈小和变小给电,现与N、。P压反区低N空控常,之结的电间制在可越设体阻电P认P小电置NN值荷为。结阻偏结,区其所N的相置上的反电谓厚比电加厚之压P要度压上度,N全大,一,有结 称部定简以关的 为, 称偏置。
2. P型半导体
+4
+4
+4
+4
++43
+4
P型
+4
+4
+4
受主杂质
受主杂质容易获得一个价电子成为负离子,而在这种半 导体中载流子主要是空穴,空穴带正电荷〔Positive〕故命 名为P型半导体。于是用这样的示意图表示。
P型半导体中的多数载流子为空穴,少数载流子 为自由电子
1.1.4 PN结
1.PN结的形成
导电能力介于导体与绝缘体之间的物质称为半导体, 这类材料大都是三、四、五价元素,主要有:硅、锗、磷、
硼、在砷这、铟里等,,我他们们的的电目阻的率不在是10研-3~究10半7欧导.厘体米材。料 , 而是借助半导体材料的特性来建立一些概念和术 语半,导体如材多料数的、广少泛数应用载,流并子不,是P因型为半它导们的体导、电N能型力半介 于导导体体与,绝P缘N体结之,间载,而流是子它的们扩具散有一与些漂重移要运特动性:, PN 结1〕的当正半反导偏体置受,到外PN界结光的和热导的通激与发截〔止本等征。激发〕时,
2.PN结的单向导电性
1〕PN结的电阻
2〕由导于通空的间含电义荷区中的载流子极少,故PN结 改 的的的降3在〕厚导截变外电多落实P止度通和 加P阻,在N用N。越,控 电P很 假结结中N厚是制 压大 设的电结,电指电,, 在偏阻上为P阻此阻P与 两置。的N了的称越P端结大区改大为大加呈小和变小给电,现与N、。P压反区低N空控常,之结的电间制在可越设体阻电P认P小电置NN值荷为。结阻偏结,区其所N的相置上的反电谓厚比电加厚之压P要度压上度,N全大,一,有结 称部定简以关的 为, 称偏置。
电工电子技术基础课件:半导体器件

是用平均值来表示,记为UO,根据半波整流波形在一个周期内积
分的平均有
UO
1 T
T
uidt
0
1 2π
π 0
2Ui sin tdt
2 π
Ui
0.45Ui
在本题中因为Ui =10V,所
以
UO 0.45Ui 4.5V
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半导体器件——二极管
(2)选择整流二极管主要是选择其参数,由于在负半周时二极 管不导通,这时加在二极管上的最大反向电压为10 2V的电压。在 二极管导通期间流过二极管的电流就是流过负载电阻的电流
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半导体器件——二极管
温度变化时的特性曲线
温度升高,正向特性左移,反向特性下移
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半导体器件——二极管
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三、主要参数
半导体器件——二极管
1.最大整流电流 IOM(IF)
二极管长期使用时,允许流过二极管的最大正向平均电流
当输入为正半周时二极管D导通,负载上得到正弦波 正半周信号。当输入为负半周时二极管D截止,在负载上 得到是一个单向脉动的电压。
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半导体器件——二极管
[例题]如图中 ui (t) 10 2 sin 31试4t,求R输L 出 4电压, 平均值,并选
择整流二极管。
[解](1)由于整流后的输出电压是脉动直流电压,通常它的大小
最大耗散功率PZM (电流IZM )
稳压管不因为过热而损坏的最大功率损耗值(电
流值),它取决于PN结面积和散热条件。IZm= PZM/UZ
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分的平均有
UO
1 T
T
uidt
0
1 2π
π 0
2Ui sin tdt
2 π
Ui
0.45Ui
在本题中因为Ui =10V,所
以
UO 0.45Ui 4.5V
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半导体器件——二极管
(2)选择整流二极管主要是选择其参数,由于在负半周时二极 管不导通,这时加在二极管上的最大反向电压为10 2V的电压。在 二极管导通期间流过二极管的电流就是流过负载电阻的电流
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半导体器件——二极管
温度变化时的特性曲线
温度升高,正向特性左移,反向特性下移
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半导体器件——二极管
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三、主要参数
半导体器件——二极管
1.最大整流电流 IOM(IF)
二极管长期使用时,允许流过二极管的最大正向平均电流
当输入为正半周时二极管D导通,负载上得到正弦波 正半周信号。当输入为负半周时二极管D截止,在负载上 得到是一个单向脉动的电压。
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半导体器件——二极管
[例题]如图中 ui (t) 10 2 sin 31试4t,求R输L 出 4电压, 平均值,并选
择整流二极管。
[解](1)由于整流后的输出电压是脉动直流电压,通常它的大小
最大耗散功率PZM (电流IZM )
稳压管不因为过热而损坏的最大功率损耗值(电
流值),它取决于PN结面积和散热条件。IZm= PZM/UZ
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半导体器件电子学-Ch1

UV Detectors GaAlN/GaN异质结探测器其波段覆盖太阳盲区,是理想的 紫外探测器材料。
"太阳光谱盲区"是指波长在220~280纳米的紫外 波段,这一术语来自下列事实:太阳辐射(紫外 辐射的主要来源)的这一波段的光波几乎被地球 的臭氧层所吸收,所以"太阳光谱盲区"的紫外 辐射变得很微弱。这样,由于空域内太阳光等 紫外辐射的能量极其有限,如果出现导弹羽烟 的"太阳光谱盲区"紫外辐射,那么就能在微弱 的背景下探测出导弹。
Effective conduction band density of states : 1.2 x 1018 cm-3 300K Valence band Energy of spin-orbital splitting Eso 0.02eV 300K
Effective valence band density of states 4.1 x 1019 cm-3 300K
exciton binding energy
3.4751(5) eV 1.6 K; A-exciton (transition from Γ9v)
3.4815(10) eV 1.6 K; B-exciton (transition from upperΓ7v)
3.493 (5) eV 1.6 K; C-exciton (transition from lower Γ7v)
X-Ray Detectors
• 制备X-ray探测器。
Conducting Windows for Solar Cells Optics Piezoelectronics Surface Acoustic Wave Generation Acousto-Optic Modulator Pyroelectricity:热电现象。 Negative Electron Affinity
"太阳光谱盲区"是指波长在220~280纳米的紫外 波段,这一术语来自下列事实:太阳辐射(紫外 辐射的主要来源)的这一波段的光波几乎被地球 的臭氧层所吸收,所以"太阳光谱盲区"的紫外 辐射变得很微弱。这样,由于空域内太阳光等 紫外辐射的能量极其有限,如果出现导弹羽烟 的"太阳光谱盲区"紫外辐射,那么就能在微弱 的背景下探测出导弹。
Effective conduction band density of states : 1.2 x 1018 cm-3 300K Valence band Energy of spin-orbital splitting Eso 0.02eV 300K
Effective valence band density of states 4.1 x 1019 cm-3 300K
exciton binding energy
3.4751(5) eV 1.6 K; A-exciton (transition from Γ9v)
3.4815(10) eV 1.6 K; B-exciton (transition from upperΓ7v)
3.493 (5) eV 1.6 K; C-exciton (transition from lower Γ7v)
X-Ray Detectors
• 制备X-ray探测器。
Conducting Windows for Solar Cells Optics Piezoelectronics Surface Acoustic Wave Generation Acousto-Optic Modulator Pyroelectricity:热电现象。 Negative Electron Affinity
半导体光电子器件讲解ppt

包括外延生长型、集成型、混合型等。
按制造工艺分
半导体光电子器件的结构
常见的半导体光电子器件结构包括:衬底、活性层、电极等。
衬底通常选用半导体材料,如硅、锗、三五族化合物等。
活性层是光电子器件的核心部分,用于实现光吸收、载流子产生、光电器件的作用。
电极的作用是收集和导出活性层产生的载流子。
半导体光电子器件的工作原理是当加电压时,即势垒降低,有大量电子从N区注入到P区,形成一定的电流,当没有光照时,只有热平衡反向电流,当有光照时,会形成附加的光生电流,从而实现了光电转换。
半导体光电子器件的工作原理
04
半导体光电子器件的性能参数
03
迁移率
指半导体材料中载流子的平均漂移速度,反映了半导体材料导电性能的好坏。
半导体光电子器件的电学参数
01
载流子浓度
指半导体材料中自由电子和空穴的浓度,可以反映半导体材料的导电性能。
02
电阻率
指半导体材料电阻的大小,通常与材料的载流子浓度和迁移率有关。
xx年xx月xx日
半导体光电子器件讲解ppt
CATALOGUE
目录
引言半导体光电子器件的基本原理半导体光电子器件的种类与结构半导体光电子器件的性能参数半导体光电子器件的生产与制造半导体光电子器件的应用案例
0器件简介
2
3
半导体光电子器件是利用半导体材料和器件实现光-电信号转换的器件。
半导体材料通常包括硅、锗、砷化镓、磷化铟等。
半导体光电子器件具有体积小、重量轻、稳定性好、寿命长等特点。
半导体光电子器件的历史发展
半导体光电子器件的起源可以追溯到20世纪60年代。
20世纪80年代,随着光纤通信技术的发展,半导体光电子器件在光纤通信领域得到广泛应用。
按制造工艺分
半导体光电子器件的结构
常见的半导体光电子器件结构包括:衬底、活性层、电极等。
衬底通常选用半导体材料,如硅、锗、三五族化合物等。
活性层是光电子器件的核心部分,用于实现光吸收、载流子产生、光电器件的作用。
电极的作用是收集和导出活性层产生的载流子。
半导体光电子器件的工作原理是当加电压时,即势垒降低,有大量电子从N区注入到P区,形成一定的电流,当没有光照时,只有热平衡反向电流,当有光照时,会形成附加的光生电流,从而实现了光电转换。
半导体光电子器件的工作原理
04
半导体光电子器件的性能参数
03
迁移率
指半导体材料中载流子的平均漂移速度,反映了半导体材料导电性能的好坏。
半导体光电子器件的电学参数
01
载流子浓度
指半导体材料中自由电子和空穴的浓度,可以反映半导体材料的导电性能。
02
电阻率
指半导体材料电阻的大小,通常与材料的载流子浓度和迁移率有关。
xx年xx月xx日
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目录
引言半导体光电子器件的基本原理半导体光电子器件的种类与结构半导体光电子器件的性能参数半导体光电子器件的生产与制造半导体光电子器件的应用案例
0器件简介
2
3
半导体光电子器件是利用半导体材料和器件实现光-电信号转换的器件。
半导体材料通常包括硅、锗、砷化镓、磷化铟等。
半导体光电子器件具有体积小、重量轻、稳定性好、寿命长等特点。
半导体光电子器件的历史发展
半导体光电子器件的起源可以追溯到20世纪60年代。
20世纪80年代,随着光纤通信技术的发展,半导体光电子器件在光纤通信领域得到广泛应用。
模电-第1章-半导体器件PPT优秀课件

21
3.4 PN 结的电容效应
1) 势垒电容
PN结外加电压变化时,空间电荷区的宽度将发生变 化,有电荷的积累和释放的过程,与电容的充放电相 同,其等效电容称为势垒电容Cb。
2)扩散电容
PN结外加的正向电压变化时,在扩散路程中载流子 的浓度及其梯度均有变化,也有电荷的积累和释放的 过程,其等效电容称为扩散电容Cd。
注意
空杂穴质-半--导-体多中子,;多子的浓度决定于掺杂原子的浓度; 电子----少子少.子的浓度决定于温度。
13
3 PN结 3.1 PN结的形成
P区
N区
物质因浓度差而产生的运动称为扩散运动。气体、液体、 固体均有之,包括电子和空穴的扩散!
14
3.1 PN结的形成
I扩
在交界面,由于两种载流子的浓度差,产生 扩散运动。
小功率 二极管
大功率 二极管
稳压 二极管
发光 二极管
25
• 二极管的伏安特性及电流方程
二极管的电流与其端电压的关系称为伏安特性。
i f (u)
u
击穿
iIS(eU T1) (常温 U T下 2m 6 V)电压
温度的 电压当量
材料 硅Si 锗Ge
开启电压 0.5V 0.1V
导通电压 0.5~0.8V 0.1~0.3V
15
3.1 PN结的形成
耗尽层(电荷层、势垒层)
空间电荷区
I漂
在交界面,由于扩散运动,经过复合,出现空 间电荷区
16
3.1 PN结的形成
PN结
I扩 I漂
当扩散电流等于漂移电流时,达到动态 平衡,形成PN结。
17
1.由于扩散运动形成空间电荷区和内电场;
2.内电场阻碍多子扩散,有利于少子漂移;
3.4 PN 结的电容效应
1) 势垒电容
PN结外加电压变化时,空间电荷区的宽度将发生变 化,有电荷的积累和释放的过程,与电容的充放电相 同,其等效电容称为势垒电容Cb。
2)扩散电容
PN结外加的正向电压变化时,在扩散路程中载流子 的浓度及其梯度均有变化,也有电荷的积累和释放的 过程,其等效电容称为扩散电容Cd。
注意
空杂穴质-半--导-体多中子,;多子的浓度决定于掺杂原子的浓度; 电子----少子少.子的浓度决定于温度。
13
3 PN结 3.1 PN结的形成
P区
N区
物质因浓度差而产生的运动称为扩散运动。气体、液体、 固体均有之,包括电子和空穴的扩散!
14
3.1 PN结的形成
I扩
在交界面,由于两种载流子的浓度差,产生 扩散运动。
小功率 二极管
大功率 二极管
稳压 二极管
发光 二极管
25
• 二极管的伏安特性及电流方程
二极管的电流与其端电压的关系称为伏安特性。
i f (u)
u
击穿
iIS(eU T1) (常温 U T下 2m 6 V)电压
温度的 电压当量
材料 硅Si 锗Ge
开启电压 0.5V 0.1V
导通电压 0.5~0.8V 0.1~0.3V
15
3.1 PN结的形成
耗尽层(电荷层、势垒层)
空间电荷区
I漂
在交界面,由于扩散运动,经过复合,出现空 间电荷区
16
3.1 PN结的形成
PN结
I扩 I漂
当扩散电流等于漂移电流时,达到动态 平衡,形成PN结。
17
1.由于扩散运动形成空间电荷区和内电场;
2.内电场阻碍多子扩散,有利于少子漂移;
半导体器件 PPT课件

6
本征半导体:完全纯净的、结构完整的半导体晶体。 在硅和锗晶体中,原子按四角形系统组成晶 体点阵,每个原子都处在正四面体的中心,而四 个其它原子位于四面体的顶点,每个原子与其相 临的原子之间形成共价键,共用一对价电子。
硅和锗的晶 体结构:
7
硅和锗的共价键结构
+4 +4表示除 去价电子 后的原子
+4
21
空间电荷区, 也称耗尽层。
20
内电场越强,就使漂移 运动越强,而漂移使空 间电荷区变薄。 P型半导体漂移运动 内电场 Nhomakorabea N型半导体
- - - - - -
- - - - - - - - - - - - - - - - - -
+ + + + + +
+ + + + + + + + + + + + + + + + + + 扩散的结果是使空间电 荷区逐渐加宽,空间电 荷区越宽,
二、P 型半导体
在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼 (或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质 取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相邻的 半导体原子形成共价键时, 空穴 产生一个空穴。这个空穴 +4 可能吸引束缚电子来填补, 使得硼原子成为不能移动 的带负电的离子。由于硼 +3 原子接受电子,所以称为 硼原子 受主原子。
你们好
模拟电子技术基础
第一章
半导体器件
2
第一章
§ 1.1 § 1.2 § 1.3
半导体器件
半导体的特性 半导体二极管 双极结型三极管
本征半导体:完全纯净的、结构完整的半导体晶体。 在硅和锗晶体中,原子按四角形系统组成晶 体点阵,每个原子都处在正四面体的中心,而四 个其它原子位于四面体的顶点,每个原子与其相 临的原子之间形成共价键,共用一对价电子。
硅和锗的晶 体结构:
7
硅和锗的共价键结构
+4 +4表示除 去价电子 后的原子
+4
21
空间电荷区, 也称耗尽层。
20
内电场越强,就使漂移 运动越强,而漂移使空 间电荷区变薄。 P型半导体漂移运动 内电场 Nhomakorabea N型半导体
- - - - - -
- - - - - - - - - - - - - - - - - -
+ + + + + +
+ + + + + + + + + + + + + + + + + + 扩散的结果是使空间电 荷区逐渐加宽,空间电 荷区越宽,
二、P 型半导体
在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼 (或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质 取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相邻的 半导体原子形成共价键时, 空穴 产生一个空穴。这个空穴 +4 可能吸引束缚电子来填补, 使得硼原子成为不能移动 的带负电的离子。由于硼 +3 原子接受电子,所以称为 硼原子 受主原子。
你们好
模拟电子技术基础
第一章
半导体器件
2
第一章
§ 1.1 § 1.2 § 1.3
半导体器件
半导体的特性 半导体二极管 双极结型三极管
电工电子技术多学时1章半导体器件63张幻灯片

稳压管常用参数见表2.1.1
1.2 半导体二极管
1.2.5 特殊二极管
三、光电二极管
是一种将光能转换成电能的器件,其反向 电流随光照强度的变化而上升。 光电二极管的图形、等效电路及伏安特性
伏安特性:
光电二极管的反向 电流与光照度成正 比。
应用:
1、光电二极管的 管壳上有一个玻璃 窗口以便接受光照;
向
稳 压 管 是 一 种 符号及伏安特性
击 穿
特殊的面接触型半
导体硅二极管。专
DZ
区
为在电路中稳定电
压设计,故称为稳
压管。。
图2.1.10 稳压管符号
特点: 1、正向特性曲线同二极管;
2、反向击穿电压较低,反向特性曲线
图2.1.11 稳压管
比较陡;UZ为稳压值。
伏安特性曲线
3、正常的工作区域为反向击穿区,且可逆。
1.1.2 本征半导体和杂质半导体
在外电场作用下,
自由电子定向运动, 价电子填补空穴。
价电子填补空穴
在半导体中,同时 存在着自由电子导 电和空穴导电。这 就是半导体导电方 式的最大特点。
Si
Si
Si
Si
自由电子和空穴都 被称为载流子。
自由电子定向运动 本征硅示意图
1.1.2 本征半导体和杂质半导体
大功率二极管
1.2.1 二极管的基本结构
半导体二极管结构
由一个PN结加电极引线与外壳制成。
阳极或正极
阴极或负极
阳极或正极
PN
D
阴极或负极
D
图2.1.4 二极管符号
1.2.1 二极管的基本结构
根据PN结接触面的大小,二极管可分点接触型与面接触型。
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GaN体材料是最理想的。但目前还不能生长出大尺寸 的材料。 掺杂:n-GaN: Si,Ge,Sn(Selenium)
p-GaN:Mg,(1989)Zn,Be,Hg,C Basic Parameters :
Zinc Blende crystal structure
Energy gaps, Eg Energy gaps, Eg Electron affinity
半导体器件电子学
北工大电控学院
半导体器件电子学
§1.2 新型宽带半导体材料的特性 1。GaN半导体材料的特性
由三族元素Ga和五族元素N,III-V族化合物半导体。 晶体结构分为: 闪锌矿结构(Zinc Blende crystal structure)立方晶 纤锌矿结构(Wurtzite crystal structure )六角 GaN在1932年人工合成。 (参考书:Nitride Semiconductors and Device
第二章 载流子输运特性及非平衡态(14学时)
§2.1 体材料半导体载流子的性质及电流密度 §2.2 小尺寸下半导体材料中迁移率退化和速度饱和 §2.3 器件的小尺寸带来的热问题 §2.4 小尺寸下的量子效应
§2.5 小尺寸器件中的量子力学机理
§2.6 二维电子气的输运 §2.7 调制掺杂结构和场效应晶体管 §2.8 强磁场中的二维电子气 §2.9 掺杂对输运特性的影响
半导体器件电子学
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北京工业大学电控学院
2006年9月
北工大电控学院
半导体器件电子学
《半导体器件电子学》课程大纲
第一章 现代半导体材料晶体结构和特性(10学时)
§1.1半导体的基本特性与常见半导体材料 §1.2 新型宽带半导体材料的特性 §1.3 Si材料的SOI结构特性 §1.4半导体材料的压电特性
立方晶体衬底长出闪锌矿结构
目前常用的衬底:sapphire Al2O3,蓝宝石 缺点:晶体结构不好,与氮化物的热匹配不好
优点: 来源广,六角结构,容易处理,高温稳定。
由于热匹配不好,缓冲层要厚。
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SiC作为衬底,热匹配和晶格匹配比较好。
缺点:SiC常规工艺很难处理,SiC的结构变数太大。
第三章 半导体结特性的电子学分析(6学时)
§3.1 PN结的模型 §3.2求解空间电荷区的近似解析模型
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第一章 现代半导体材料晶体结构和特性
§1.1半导体的基本特性与常见半导体材料 一、半导体的基本特性 电阻率:介于10-3-106Ω.cm,
金属:10-6Ω.cm 绝缘体:1012Ω.cm 纯净半导体负温度系数 掺杂半导体在一定温度区域出现正温度系数 不同掺杂类型的半导体做成pn结,或金-半接触后,电 流与电压呈非线性关系,可以有整流效应 具有光敏性,用适当波长的光照射后,材料的电阻率 会变化,即产生所谓光电导 半导体中存在着电子与空穴两种载流子
Hadis Morkoc)
III族的氮化物有三种晶体结构:
闪锌矿结构、纤锌矿结构、盐石岩结构(NaCl) 对于AlN、GaN和InN,室温下:热力学动力学稳定的结构是纤 锌矿结构。 GaN、InN通过薄膜外延生长在立方晶的(110)晶面上,如Si, MgO,GaAs,才能生长出闪锌矿结构。
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纤锌矿结构六角的,有两个晶格常数c和a,是复式格子。 沿c轴方向移动5/8c形成。 闪锌矿结构(Zinc Blende crystal structure)立方晶 单胞中含有4个基元(4个III族原子和4个V族原子) 复式格子。
GaN材料的外延生长:
其结构取决于使用的衬底类型
六角晶体衬底长出纤锌矿结构
3.28 eV 3.2 eV 4.1 eV
0K 300 K 300K
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Conduction band Energy separation between Γ valley and X valleys EΓ 1.4eV 300K Energy separation between Γ valley and L valleys EL 1.6~1.9eV 300K
能带工程:由于可能通过选取不同比例的x,而改变混晶的
物理参数(禁带宽度, 折射率等),这样人们可以根据光
学或电学的需要来调节配比x。
通过调节不同元素的组分,才能实现禁带宽度的变化。在光 电子、微电子方面有很重要的作用。
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半导体器件电子学 三、常见半导体的结构类型
◆金刚石结构:Si、Ge ◆闪锌矿结构:GaAs、InP、InAs、InSb、AlP、
AlSb、CdTe ◆纤锌矿结构:GaN、AlN、SiC 金刚石结构:
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◆闪锌矿结构
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◆纤锌矿结构
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Ⅱ-Ⅵ 族化合物(AIIBVI) Ⅱ-Ⅵ:Zn,Cd,Hg —— S,Se,Te ZnO、ZnS、TeCdHg等
Ⅵ-Ⅵ 化合物(AIVBiV) SiGe、SiC。
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半导体器件电子学 混合晶体构成的半导体材料 ◆两种族化合物按一比例组成,如 xAⅢCⅤ+(1-x)BⅢCⅤ,
xAⅡCⅥ+(1-x)BⅡCⅥ,SixGe1-x,
Effective conduction band density of states : 1.2 x 1018 cm-3 300K Valence band Energy of spin-orbital splitting Eso 0.02eV 300K
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二、常见的半导体材料
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半导体器件电子学 构成半导体材料的主要元素及其在元素周期表中的位置
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元素半导体
Si:是常用的元素半导体材料,是目前最为成熟的材料,广 泛用于VLSI。
Ge:早期使用的半导体材料。
化合物半导体
Ⅲ-Ⅴ族化合物(AIIIBV) Ⅲ-Ⅴ:Al,Ga,In —— P,As,N,Sb(碲) GaAs、InP、GaP、InAs、GaN等。