波长色散型X射线荧光光谱仪WDXRF
波长色散x射线荧光光谱法 检出限
波长色散x射线荧光光谱法检出限波长色散X射线荧光光谱法（Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectroscopy，简称WDXRF）是一种广泛应用于化学分析的快速、准确的技术方法。
通过测量样品中吸收入射X射线后产生的荧光X射线的发射特性，从而得到样品成分的定性和定量信息。
其中，检出限是衡量仪器分析灵敏度的一个重要参数。
一、波长色散X射线荧光光谱法原理WDXRF技术是基于X射线与物质之间的相互作用而建立的。
当X射线入射到样品上时，样品中的原子核和电子会吸收入射X射线的能量。
部分入射X射线被吸收后，样品中的元素会产生荧光X射线。
每个元素的荧光X射线具有特定的能量和波长，通过测量这些荧光X射线的能量和强度，可以确定样品中的元素种类和相对含量。
WDXRF仪器主要由X射线源、样品台、能量分散装置和探测器等组成。
X射线经过X射线源发射，进入样品台，与样品相互作用后，产生荧光X射线。
荧光X射线经过能量分散装置的分析晶体后，不同波长的荧光X射线被分散成不同角度。
最后，探测器将各个波长的荧光X射线接收并测量，得到荧光X射线的光谱图像。
二、检出限的概念和计算方法检出限是衡量仪器分析灵敏度的一个重要参数，指的是在给定的测量条件下，仪器可以检测到的最低浓度。
即当分析物的含量低于检出限时，仪器无法准确地测量其浓度。
WDXRF技术的检出限可以通过以下公式计算：检出限= 3δ/k其中，δ是空白样品的标准偏差，k是灵敏度因子，是由样品的荧光强度与元素浓度之间的线性关系决定的。
三、影响检出限的因素1.仪器性能：包括X射线源的能量和强度、能量分散装置的精度和灵敏度、探测器的计数效率等对检出限有很大影响。
2.样品性质：样品的结构、成分以及采样方式等都会影响检出限。
相对于单一元素的样品，多元素的样品检出限会比较高。
3.检测环境：仪器所处的环境条件也会对检出限产生一定的影响。
例如，空气中的背景X射线会增加背景噪声，从而降低仪器的灵敏度。
x射线荧光光谱仪 测镀层厚度
射线荧光光谱仪测镀层厚度
X射线荧光光谱仪（XRF）是一种分析仪器，用于测量材料中元素的种类和含量。
在测镀层厚度方面，X射线荧光光谱仪具有一定的局限性，因为镀层厚度测量会受到多种因素的影响，如镀层成分、厚度范围、样品形状等。
然而，通过合适的测量方法和参数设置，XRF可以用于镀层厚度的初步估算。
要使用X射线荧光光谱仪测量镀层厚度，需要注意以下几点：
1. 选择合适的仪器：根据测量需求，选择波长色散（WD-XRF）或能量色散（ED-XRF）X射线荧光光谱仪。
WD-XRF 在元素分析方面具有较高的分辨率，而ED-XRF在镀层厚度测量方面具有较好的灵敏度。
2. 制备样品：确保样品表面清洁、平整，无明显的凹凸不平。
样品厚度应尽量均匀，以减少测量误差。
对于不同厚度的镀层，可以采用多次测量后取平均值的方法提高准确性。
3. 设置测量参数：根据镀层成分和厚度范围，调整X 射线荧光光谱仪的测量参数，如射线能量、束流、探测器灵敏度等。
合适的参数设置有助于提高测量结果的准确性。
4. 数据处理：测量得到的原始数据可能包含基体和镀层的信号，需要通过数据处理软件进行分离和校正。
通常情况下，XRF测量结果会受到基体效应、化学计量误差等因素的影响，需要进行相应的校正。
5. 计算镀层厚度：根据测量得到的元素含量和已知镀层成分，可以通过合适的计算方法（如康普顿散射法、掠入射法等）估算镀层厚度。
需要注意的是，X射线荧光光谱仪在测量镀层厚度方面具有一定的局限性，对于非常薄或成分复杂的镀层，测量结果可能存在误差。
在这种情况下，可以考虑采用其他方法（如原子力显微镜、扫描电子显微镜等）进行精确测量。
XRF光谱仪原理和维护
X光管原理图
电流 灯丝
电子
Be窗口
阳极 X射线光子
Axios仪器的荧光激发源 X射线管
Hale Waihona Puke 最佳激发电压的选择1. 最佳激发电压应高于元素临界激发电位的 4 ～ 10 倍；
2. 激发轻元素时,选择低电压,高电流; 3. 激发重元素时,选择高电压,低电流;
最佳工作电压的选择
KV/KeV
轻元素选择低电压, 高电流; 重元素选择高电压,低电流
AXioS 仪器的准直器系统
粗 高强度 低分辨率 中 分辨率及强度一般
细 高分辨 低强度
准直器/狭缝应用范围
准直器 100/150 mm
300 mm 700 mm
L - spectra U - Pb U - Ru Mo - Fe
K - spectra Te - As Te - K Cl - O
准直器 150 mm 550 mm 4000 mm
晶体分光原理与布拉格定律
入射波长
布拉格定律
准直器系统
1. 前级准直器的作用在于：控制入射光束的强度及分辨性能
2. 探测器准直器的作用在于降低杂散背景,提高灵敏度
3. 3. 通常具有两种准直器系统：
4.
平面晶体/准直器色散系统－非聚焦系统,用于顺序式仪器
5.
柱面弯曲晶体/狭缝色散系统－聚集系统,用于同时式仪器
XRF光谱仪原理及维护
一.X射线荧光仪概论
➢.炼钢炉前分析的发展
手动湿法分析 手动仪器分析 自动快速分析
➢.快速分析的几种模式
进样 制样（铣床）
试样归类存储
火花光谱
X荧光
机械手
➢X射线荧光仪分类
XRF光谱仪通常分成两大类： 能量色散光谱仪<EDXRF> 2. 波长色散光谱仪<WDXRF>
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别
波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别一．X射线荧光分析仪简介X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。
在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。
波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。
波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。
是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。
如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。
该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。
随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。
能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。
近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。
二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。
（一）原理区别X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。
波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。
单波长色散X射线荧光光谱仪
DO THE BEST INSTRUMENT
北京安科慧生科技有限公司 Beijing Anchor Wisdom Technology Co.,ltd
单波长色散X 射线荧光光谱仪 MWDXRF
应该称作单波长激发—波长色散X 射线荧光光谱仪
原理：用全聚焦型双曲面弯晶将微焦斑X 线管(可看作点光源)发射的原级X 射线的某个波长(通常选取出射谱中的特征X 射线)的X 射线单色化并聚焦于样品测试表面，激发样品中元素的荧光X 射线。
由于入射到样品的X 射线具有很好的单色性，几乎不存在连续谱，因此从样品出射的X 射线除了样品中的元素被激发产生的荧光X 射线(线光谱)和单色入射线的瑞利散射和康普顿散射以外，几乎不存在连续散射背景。
因此待测元素特征线具有极低的背景。
样品上出射的X 射线(可视作点光源)中待测元素的特征荧光X 谱线经全聚焦型双曲面弯晶衍射，得到具有极低背景的特征X 射线，并聚焦到探测器上进行探测，由特征X 射线强度进行元素含量的定量分析。
优点：由于采用单波长激发并按波长色散原理进行待测元素的特征荧光X 射线检测，极低的背景带来极低的检出限，将X 射线荧光光谱分析的领域由微量(ppm 级)延伸到痕量(亚ppm 到ppb 级)。
结合X 射线荧光光谱分析的快速、无损的优点， 单波长激发波长色散X 射线荧光光谱仪在诸如食品安全、水质监测等常规XRF 无法涉足的领域必将得到广泛的应用。
缺点：全聚焦型双曲面弯晶制作工艺极其复杂，成品率低，成本较高。
轻质油品中氯和硅含量的测定波长色散x射线荧光光谱法
轻质油品中氯和硅含量的测定波长色散x射线荧光光谱法
轻质油品中氯和硅含量的测定可以使用波长色散X射线荧光光谱法（WDXRF）。
WDXRF是一种非破坏性分析方法，可以准确快速地测定样品中元素的含量。
在WDXRF方法中，样品首先用X射线激发，激发的X射线击中样品并引发样品中原子的内层电子跃迁，产生特定能量的特征X射线。
这些特征X射线将根据它们的能量和波长进行分散，然后由X射线荧光探测器进行检测和测量。
对于氯和硅的测定，可以选择适合它们的特征X射线，比如氯的Kα线（2.62 keV）和硅的Kα线（1.74 keV）。
通过测量这些特征X射线的强度，可以计算出样品中氯和硅的含量。
WDXRF方法具有很高的分析灵敏度和准确性，同时还具有快速、多元素分析的优点。
通过校准样品和标准曲线，可以准确地确定样品中氯和硅的含量。
需要注意的是，在进行WDXRF测定时，要确保样品制备的均匀性和充分代表性，以避免分析误差。
同时，仪器需要进行校准和质量控制，以确保测定结果的准确性和可靠性。
X射线荧光在水泥分析中的应用
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结论
以粉末压片法分析GSB 08-1110-1999标样 的校正曲线表明：在该标样的浓度范围内 ，直接用实验校正法制定校正曲线时，其 RMS、K 和校正曲线值与标样值均满足质 量控制要求。
结果表明：生料的元素间吸收增强效应可 以忽略。
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样品表面不均匀效应基本内容
样品表面的组成不均匀对X射线强度产生的影响，包括下述内容： (1).试样表面不均匀效应，它在粉末样品中包括： (A)矿物间效应(intermeneral effect)”，分析元素只存在于某一相之中，但两相或多相对于分析线的 吸收系数相差很大。此时分析线强度不仅取决于粒度，也取决于两相的吸收系数。 (B)矿物学效应(mineralogical effect)”，两相都含有待分析元素，但对分析线的吸收不同[1]。 为方便起见，将这两种效应均称作矿物效应。 (2).金属样品相组织差异致使表面不均匀。 (3).金属样品因加工工艺不同对X射线荧光强度产生影响。 (4).试样表面均匀但因化学态不一致对X射线荧光强度产生影响。
在上世纪八十年代末期由北京中产电子公司、上海硅酸盐研究所、成都地质学院、西安262厂、 西安海通原子能研究所、重庆地质仪器厂等相继研制了具有体积小、价格低，可同时分析多元素 的低分辨率能量色散谱仪。这些仪器适用于中小型企业和现场分析。现在一些企业生产的用 Si(Li)半导体探测器、Si-PIN电致冷探测器和封闭式正比计数管等多种型号的EDXRF谱仪。其中 用于水泥生料分析的钙铁煤分析仪，年产约500台左右。这几种产品在国内市场占有相当的份额 ，某些性能方面也已达到国际先进水平，如用于金首饰成分分析。
S8
14.844 14.83 0.01425 117.2378 116.8768
S9
波长色散x射线荧光光谱仪工作原理
波长色散x射线荧光光谱仪工作原理波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）是一种常用的分析仪器，广泛应用于材料科学、地质学、环境保护等领域，用于元素分析和组分分析。
它的工作原理基于X射线与样品相互作用后产生的荧光辐射，通过波长色散技术实现光谱分析。
WDXRF光谱仪主要由射线源、样品支架、能谱仪（色散器）、荧光探测器组成。
其中射线源是由X射线管产生的，通常采用连续或称为白线辐射的X射线。
样品支架用于固定样品，并确保样品与射线之间的准直关系。
当射线源照射在样品上时，样品中的原子会吸收射线并激发到高能级，随后通过荧光放射回到基态。
这些荧光辐射的能量与样品中的元素类型相关，因此通过测量荧光辐射的能谱可以确定样品中的元素组成。
能谱仪（色散器）是WDXRF光谱仪关键的部分，它用于将不同波长的荧光辐射分离开来。
在能谱仪中，通常采用一系列的晶体或多层衍射片来实现波长色散。
这些晶体或衍射片的入射面和出射面都有倾角，使得入射的X射线和出射的荧光辐射有不同的入射角度和出射角度，从而实现波长分离。
具体来说，当荧光辐射通过能谱仪时，不同波长的荧光辐射由于经过晶体或衍射片后入射角度不同，会在晶体或衍射片中发生不同程度的衍射，进而出射角度和波长也会有差别。
通过调整晶体或衍射片的角度，可以选择不同的入射角度和出射角度，从而实现波长的选择性分散。
最后，荧光辐射被聚焦到荧光探测器上进行测量和分析。
荧光探测器通常采用多道光电二极管（PMT）或半导体探测器，可以高效地测量荧光辐射的强度。
将荧光辐射的能谱与已知元素的荧光辐射能谱进行比较，可以确定样品中含有的元素种类和浓度。
总之，波长色散X射线荧光光谱仪通过射线源产生X射线，并将其照射在样品上，样品中的元素吸收射线并发出荧光辐射。
通过波长色散技术将荧光辐射进行分散，最后荧光辐射被探测器测量并分析，从而实现元素分析和组分分析。
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波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）注：本文以下描述中，“＊"表示为关键项目.一、供货要求：1。
功能要求仪器采用当前最先进的技术，能够精确地对土壤及水系沉积物常见固体及粉末样品等进行元素定性定量分析，测试元素范围从O-U元素。
2。
仪器包括。
X射线发生器及固态高频发生器，一套；长寿命陶瓷X光管;高精密测角仪,一套：数字或光学定位，无齿轮；高灵敏度探测器，一套；真空系统,一套；准直器,至少4个；滤光片,至少6个;分光晶体至少5块晶体；进样系统，一套;粉尘收集系统,一套;100位以上位自动进样器,包含至少20个样品盒或者样品杯及配件；计算机控制系统，一套；数据处理软件、相关应用软件，一套；无标样定量分析软件(必须提供至少10块工厂漂移校正样）一套；配套辅助设备（稳压电源带延时，水冷机，压片机，减压阀)，一套。
*3.仪器型号必须为进口的生产厂家的最新款仪器型号波长色散X射线荧光光谱仪。
二、主要技术参数部分1。
X射线光源1.1 X射线发生器部分1。
1.1最大输出功率：≥ 4。
0kW1。
1。
2额定电压：不小于60kV1.1。
3额定电流：不小于140mA1。
2 X射线光管部分＊1.2。
1 X射线光管:Rh靶，陶瓷端窗X光管，不低于4.2kW,（需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料）。
1。
2。
2带有X光管防护罩，方便拆卸（需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料).1。
2。
3铍窗厚度:≤50μm.1.2。
4样品激发距离: ≤ 16 mm。
1。
2.5光管为美欧知名厂商生产,提供品牌，稳定性好，无衰减；光管头冷却回路，灯丝特殊表面处理，无挥发。
*1。
2.6 照射方式：下照射方式，即样品在X射线光管上方。
1.3固态高频发生器：外电压波动1％，输出电压的稳定性为 0。
00005% ,保证测试高精度。
2。
测角仪部分:2。
1驱动方式:θ—2θ分别驱动；2.2定位方式：数字或光学定位,测角仪需无齿轮,无机械磨损；2。
3最大定位转速：≥ 2400°/min；2.4角度重现性：优于±0。
0001°;2.5扫描方式：连续扫描,扫描速度可调；3。
探测器部分：配置两个探测器；3.1探测器类型:流气正比计数器、闪烁计数器；3.2最大线性计数：流气正比计数器≥2000kCPS；闪烁计数器≥1500kCPS；3。
3非线性度:从0到最大计数率范围内偏差不大于1%；3.4死时间修正：电脑自动处理，具有自动灵敏度控制功能;3。
5探测器并联：两个计数器平行放置,全部在光谱室内。
4.光路部分4.1配备滤光片数量≥6片。
4.2初级准直器：程序控制,自动切换，配置至少4个准直器。
4。
3晶体选择：要求有比较先进的技术，以充分保证轻元素的检出能力。
4。
4最多可安装至少8块晶体。
至少配置5块晶体，高强度覆盖从O-U元素分析.4。
5每块晶体可单独加热控温，且晶体面积大于17cm2。
（需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料）。
4.6温度稳定性：整个光谱室温度稳定在±0.01℃；单独每块晶体温度稳定性在±0。
01℃。
(需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料）.5。
样品台：5。
1样品种类：固体、粉末压片等。
5。
2 配备双位置进样系统：第一个样品在分析状态时，第二个样品即进入预抽真空室进行预抽真空;待第一个样品分析完成退出时，第二个样品随即进入分析位置（需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料）.＊5。
3 配备粉尘收集系统：在预抽真空室下方,收集粉尘，可完全避免粉尘或液体对X射线管Be窗及光谱室的污染，可清洁和更换设计(需提供生产厂家盖章的部件功能证明材料）。
5.5配置一个带传感器(非软件设置）的优先进样位。
5.6配置100位以上全自动进样器，并包含一个紧急样品位,配套至少包含20套样品盒或者样品杯的进样附件。
6。
仪器控制和数据采集系统6.1计算机：四核主频3.2G Hz以上，8G内存，1TB硬盘，DVD-RW，液晶显示器，网卡。
6.2仪器控制和数据采集软件。
7.应用软件：要求提供以下应用分析软件7.1分析帮助专家软件系统:能够根据仪器的配置提供被选择元素的最佳分析参数；用最佳的谱线和分析参数进行被选择元素的快速扫描;用最佳谱线和分析参数进行被选择元素的能量描迹;它可以根据灵敏度、所选择的元素和可能的谱线重叠,用最佳元素线和分析参数建立分析程序等。
7.2无标样定量分析软件:必须配备能实现各种基体样品分析的无标样软件，该软件要求在无标样的情况下可顺利完成各类样品中的元素定量分析;必须匹配工厂校准。
可分析所有类型的大块样品、液体样品及不规则形状的小样品等.可实现背景、光谱线交迭、光谱线干扰、基体效应、物理效应、矿物效应的多重校正。
必须提供至少10块工厂漂移校正样,用以维护曲线的长期稳定性.8.配套辅助设备8。
1稳压电源：15KVA，带延时.8。
2循环水冷系统：满足相应系统连续满功率运行，制冷量不少于8KW。
8.3 压片机:带PVC模具一套.8。
4减压阀1个。
9.培训、安装、技术文件:9。
1 提供有关的全套技术文件。
9.2 从中国大陆地区指派经验丰富的工程师，到用户项目所在地进行安装调试验收等培训工作。
9。
3 安装验收期间，提供详细的培训方案及培训手册，对用户进行仪器的基本操作和日常维护的现场培训,内容包括仪器原理,使用方法和维护方法等;直至能独立操作.9。
4为买方指派的操作人员提供2人次国内培训中心免费培训（不含差旅费)。
9.5 由卖方指派专职应用工程师到用户现场进行应用培训，负责建立土壤应用分析方法。
9.6性能验收：使用国家有证标准物质进行试验；土壤测量项目选取《土壤和沉积物无机元素的测定波长色散x射线荧光光谱法》（HJ780-2015）中所包含项目，按照上述方法规定的检出限、精密度、准确度要求进行验收。
验收合格,用户方可签字验收,并附验收报告。
10.工作条件10.1电力供应:单相220V(±10%），50Hz。
10.2工作温度:10︒C —40︒C。
10。
3相对湿度：≤75％.10。
4仪器运行的持久性：能够满足长时间连续工作.11仪器及生产商必须满足的相关国际安全标准.11。
1质量标准：ISO9001 ＆ EN29002认证。
11.2欧洲安全标准：CE 认证。
＊11。
3 X射线防护标准：具备国家辐射安全豁免资质并提供相应的辐射豁免证书。
（需提供生产厂家盖章的证明材料）。
11。
4仪器运行的持久性：能够满足长时间连续工作。
12技术服务：12.1 免费质保期一年,包含整机,X光管及固体高压发生器，从签字验收通过开始计算。
*12。
2 厂家在国内要有维修中心，要有专职的维修工程师，要有备品备件库。
在提出维修要求后，能在4小时内作出维修响应，2— 4个工作日内到达用户现场。
12。
2要求厂家在国内有专属于厂家的应用实验室，并提供实验室照片及地址等证明资料。
12。
3要求投标厂商的售后服务必须是厂商直属的服务团队，不允许服务外包，并提供3名以上员工的公司工牌号照片，公司邮箱及详细联系方式等证明材料。
12。
4厂家必须有2名以上的应用专家以提供周到的设备应用培训及今后的应用支持。
进口便携式水质多参数测定仪1 用途：便携式水质测定仪可测定多种参数，例如pH 值、电导率、盐度、总溶解固体、溶解氧等。
可用于市政污水、工业污水、饮用水、环境监测、等领域的水质分析。
2 进口便携式多参数测定仪主机2。
1 工作条件2.1.1电源要求：两种供电模式（1） AA 碱性电池或镍氢电池（4个）、（2）外置的 USB/DC 电源适配器：100~240 V， 50/60 Hz输入； 4.5～ 7。
5 V （7 VA) 输出(外置电源及USB适配器可以选配)。
2。
1。
2 存储温度：–20 ～+60 °C2。
1.3 操作温度： 0 ～+60 °C操作湿度： 90% (无冷凝）2.2技术性能指标2。
2。
1 语言：支持多国语言2.2。
2显示：可显示1个电极的读数（1）pH电极：pH、mV、温度（2）电导率电极:电导率、盐度、总溶解固体、温度(3）溶解氧电极:溶解氧、压力、温度2。
2。
3 数据内存：不小于500 组数据2.2.4 数据存储：校准数据都存贮在日志中。
在“按下即读”模式和间隔测量模式时可自动存储。
在“连续读数”模式时需手动存储。
2.2。
5 数据传输：通过USB转接下载至电脑或U盘,读数时同步传输2。
2。
6 温度自动修正/ 补偿2。
2。
7 锁定显示数据功能2.2。
8 自动识别校准标准：2。
2。
9 键盘：通过USB外接键盘2。
2.10防水性：测定仪外壳可在1 米深的水中浸泡30 分钟(IP67）3电极技术性能指标3。
1温度量程：-10.0～110。
0℃分辨率：0.1℃准确度：±0。
3℃3.2 pH电极量程：0~14分辨率:0.1/0。
01/0.001可选3.4 电导率电极电导率:量程：0.01 μS/cm ～ 200.0 mS/cm分辨率：0.01 μS/cm(最大0。
05μS/cm）电阻率：量程：2.5~49欧姆·厘米分辨率:0。
1欧姆·厘米（最大0.05欧姆·厘米）盐度：量程:0～42g/kg或‰分辨率：0。
01ppt总溶解性固体：量程：0。
0~50.0g/L 以NaCl计算分辨率:0。
1 mg/L3.5 溶解氧—荧光法量程： 0。
05~20.0 mg/L1~200％饱和度分辨率:0。
01 mg/L，溶解氧的准确度：在 0.1~8 mg/L时，为±0。
1 mg/L大于8。
0 mg/L时，为±0.2 mg/L防水性:标准电极:IP68,3米深的水中，24小时内有防水效果电缆长度: 3米4 仪器配置进口便携多参数水质分析仪主机(并包含一台主机更换套件）*1；pH电极*2、电导率电极*2和溶解氧电极＊2，各3米线缆；便携箱电极箱（可容纳三个电极）*2。
进口等离子发射光谱仪技术参数注：本文以下描述中，“*”表示为关键项目。
1。
应用范围：适用于对各类样品中主量、微量及痕量元素的定性、半定量和定量分析。
2供货要求：2.1 仪器类型：生产厂家的最新款进口全谱直读型电感耦合等离子体发射光谱仪2。
2 数量:1套2。
3 内容：2.3.1 电感耦合等离子体发射光谱仪主机1套2.3。
2 冷却水循环系统1套2。
3.3 计算机及打印机各1套2.3。
4 自动进样器1套，配套样品瓶1000个.2.3.5 两年消耗件：矩管2根，中心管4根，泵管24根,废液管24根，雾化器1套，氩气过滤包一套,耐氢氟酸进样系统1套。
2。
3.6 10KW带交流滤波功能稳压电源2.3。
7 安装用全套标准溶液一套3.技术指标3。
1 仪器工作环境3.1.1 电压:220VAC±10％3。