超声波探伤仪期间核查规程
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版本/版次：D/ 0 生效日期：2016-01-01 1.总则
本规程适用于超声波探伤仪定期进行的性能校验，以查明该设备是否达到足够的精度要求，从而保证所用仪器处于合格状态。 2.校验步骤
2.1 水平线性的校验方法：
2.1.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意合格直探头，探伤仪的抑制置于“0”或
“断”，其它调整取适当值（见图2.1）。
2.1.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合。调节
探伤仪的水平和增益旋钮，使屏幕上显示出第6次底波。
2.1.3 当底波B1和B6的幅度分别为50%满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度0和100
（设水平全刻度为100格）。
2.1.4 在依次分别将底波B2、B3、B4、B5调到50%满刻度，并分别读出底波B2、B3、B4、
B5的前沿与刻度20、40、60、80的偏差（以格数计），取其中最大的偏差值则为仪器的水平线性误差。
2.2 垂直线性的校验方法。 2.2.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0” 或“断”，
其它调整取适当值（见图2.2）。
2.2.2 将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂（如机油等），以保持稳定的声耦合，并将
某一次回波调至屏幕上时基线的近中央处。
2.2.3 调节衰减器和增益值，使回波高度恰为100%满刻度。
2.2.4 以每次2dB 的增量调节衰减器，每次调节后用满刻度的百分值记下回波幅度，一直
继续到衰减值为26dB ，测量精度为0.1%。波高测试值与理论值之差为偏差值，其最大正偏差与最大负偏差的绝对值之和即为仪器的垂直线性误差。 2.3 直探头分辨力的校验方法。
2.3.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意直探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，
其它调整取适当值（见图2.3）。
2.3.2 将探头压在试块上如图2.3所示，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，调
整仪器的增益并左右移动探头，使来自A 、B 两个方面的回波幅度相等并约为20%～30%满刻度，如图2.3中的h 1。
2.3.3 调节衰减器，使A 、B 两波峰间的波谷升到原来波峰高度，此时衰减器所释放的dB
数（等于用衰减器读出的缺口深度h 1/h 2之值）即为以dB 值表示的超声探伤系统的分辨力X 。 2.4 斜探头分辨力的校验方法。
2.4.1 采用CSK-ⅠA 型（或ⅡW 型）试块和一任意斜探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，
其它调整取适当值（见图2.4）。
2.4.2 根据斜探头的折射角或K 值，将探头压在CSK-ⅠA 试块上，中间加适当的耦合剂，
以保持稳定的声耦合，移动探头位置使来自φ50mm 和φ44mm 两孔的回波A 、B 高度相等，并约为20%～30%满刻度，如图2.4中的h 1。
2.4.3 调节衰减器，使A 、B 两波峰间的波谷上升到原来波峰高度，此时衰减器所释放的
dB 数（等于用衰减器读出的缺口深度h 1/h 2之值）即为用dB 值表示的超声波探伤系统
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（斜探头）的分辨力Z。
2.5 斜探头灵敏度余量的校验方法。
2.5.1 采用CSK-ⅠA型（或ⅡW型）试块和一任意斜探头，探伤仪的抑制置于“0”或“断”，
其他调整取适当值（见图2.5）。
2.5.2 将超声波探伤仪灵敏度调至最大，深度旋钮调至最小，探头悬空，调节衰减器使电
噪声电平降至10%满刻度，设此时衰减器的读数为a
。
2.5.3 将探头压在试块上，位置如图2.5所示，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦
合，调节衰减器使来自R100曲面回波高度降至50%满刻度，设此时衰减器的读数为a1
2.5.4 斜探头灵敏度余量由下式给出 a=a1-a0
3.判定标准
3.1 经过6次测得的水平线性误差，取算术平均值即为该仪器的水平线性误差，当a≤1%
时，则认为水平线性良好，反之则为异常。
3.2 当垂直线性误差在±5%范围之内，则为垂直线性良好，反之则为异常。
3.3 当直探头的分辨力x≥30dB时，则为该分辨力良好，反之则为异常。
3.4 当斜探头的分辨力z≥6dB时，则为该斜探头分辨力良好，反之则为异常。
3.5 当斜探头的灵敏度余量大于评定灵敏度10dB以上时，则为良好，反之则为异常。
4.检测人员及检验周期
4.1 检测人员。
4.1.1 从事焊缝探伤的检测人员必须掌握超声波探伤的基础技术，具有足够的焊缝超声波
探伤经验，并掌握一定的材料和焊接基础知识。
4.1.2 焊缝超声波检测人员应按有关规程或技术条件的规定经严格的培训和考核，并持有
相应考核组织颁发的等级资格证书，从事相对应考核项目的检测工作。
4.1.3 超声检测人员的视力应每年检查一次，校正视力不得低于1.0。
4.2 检验周期。
5.1超声波探伤仪期间核查记录(JF-QRGG-024)
图2.5 斜探头灵敏度余量的校验R 100
CSK－ⅠA试块探头
图2.4 斜探头分辨力的校验
CSK－ⅠA试块
探头h1
h2
A B