试卷分析的写法
试卷分析的写法
试卷的分析是一件十分讲究科学性的事情。中学由于有一个中考的问题，所以中学的分析一直以来都遵循教育统计学的方法进行的。小学却不知是什么原由，一直以来都是采用经验型的分析法，计算平均分、得分率，举出典型例子，然后根据教师的经验判断问题所在。而且问题所在往往只是学生方面的。
其实，影响一张试卷卷面成绩，一般有三个方面：教师的教学、学生的学习和试卷的编制，只要这三个方面之一出问题，就会影响答题的成败。
因此我们必须用一个比较科学的方法进行试卷的分析。纸笔考查测试，是检查学生学科学习质量的其中一个手段。通过对纸笔测试结果的分析，获取客观、全面的信息，改进教学，提高学生学习质量，是我们常做的工作。希望提供的资料对大家有所帮助。
一、测验结果分析的内容
测验结果分析包括分析测验质量和分析教学情况。通常我们可以采取下列工作步骤：
①抽样
②测验效度分析
③测验信度分析
④难度分析
⑤区分度分析
(一)抽样
在测验数量较大的情况下，我们不可能对每一份测验卷都进行分析，因为那样做，人力、财力消耗太大，时间也不允许。一般我们可以通过对部分试卷特征的研究，推断出试卷总体的特征。
因此我们抽取的试卷(称作“样本”)需要具备两个条件，一是它们是随机抽取出来的，二是它们的数量足够大，这样，它们对于试卷总体才能有较好的代表性。
所谓随机抽取，就是试卷总体中各份试卷都有同样被抽取的机会。随机抽样，是科学推断的前提。随机抽样的方法很多，对学科测验而言，较实用的是按分数段分层抽样的方法。具体操作步骤是：将全体考生的分数，按分数的大小划分若干分数段；统计出各分数段的试卷数量；计算出各段试卷数量占试卷总数的百分比；根据确定的样本容量，按上述比例计算出各段应抽的样本数。如果只是一、两个班，就可以是全样选取，即全部都做样本。(二)测验效度分析
所谓测试效度是指测试能代表所欲测量的内容和引起预期反映的程度。“所欲测量的内容”是指教材，“预期反映”是指学生的行为活动，即对教材的记忆、理解、运用等。测试效度的判断依据：1）分析测试编制的教材和测试对象学习的教材的一致性程度。如果两者一致，效度就高；反之，则低。2）比较测试题目与教材内容的一致性程度。即测试题目所检测的语文能力、知识是否与教材要求的一致，特别是所谓的语文知识。为什么在这里要强调“语文知识”呢？因为语文知识实在是太多太多了，一个字或一个词也是一个知识点，不像理科那样学了一个定律就可以推理应用，一把刀的“把”这个量词就不能推理用到“一把菜”上。效度的高低，同样与一致性相关了。
（三）测试信度分析
测试信度是指测试的可靠性，是指对相同的应试者多次测试结果的一致性的程度。如果在大体相同的条件，几次测试的结果大体相同，那么，这个测试的信度就较高；反之，则低。（因这个分析主要是针对测试题目的编制，在这里就不详细介绍）
(四)难度分析
试题的难度是指一组考生对该题作答的困难程度；一般用难度系数(P)表示。难度是衡量
试题质量的基本指标之一。计算公式：答对人数除与总人数等于难度系数（P）。一般常模参照测试，难度系数P以0.5为宜，P越大，说明此题难度越小；P越小，说明此题难度越大。
(五)区分度分析
区分度是表示试题区分能力大小的指标，使水平高的考生得高分，水平低的考生得低分的倾向力。区分度亦是衡量试题质量的基本指标之一。
试题的区分度计算步骤如下。
1．将参试学生的试卷按分数由高至低排列。
2．将学生参试人数乘以0．27，小数点后四舍五入，取整数n。
3．取n个最高分数，组成上组，再取n个最低分数，组成下组。
4．把该题上组答对人数减去下组答对人数，再除以n。
如：某题要求学生辨识比喻的修辞手法，参试学生总数为58人，n=58X0．27=15．66，取整数16，该题上组答对人数为8，下组答对人数为3，8-3=5，5/16=0.31，得出区分度为0．31。一般区分度总在—1和1之间，0为无区分度。区分度大于0．3，说明此题能很好地区分出学生水平。
区分度大于0．2且小于0．29说明此题尚能区分出学生水平，需改进。
区分度小于0．19，说明此题将淘汰或作较大修改。上例区分度为0．31，说明该题能很好地区分出学生水平。
三、测验结果分析表的编制
(一)测验结果分析表的编制
日常单元测验，或校内组织的测验，我们可以在抽样的基础上，借助下面三张表格进行结果分析。
（1）个别试题质量分析表
题号错误现象例举难度区分度原因分析
基础部分
第( )题
阅读部分
第( )题
作文部分
第( )题
“个别试题质量分析表”是一张分析测验卷上学生出错率高的试题的表格。该表通过计算该题的难度、区分度，结合效度分析，结合教学大纲或课程标准的要求，从而找出学生出错的原因，提出改进措施。—一般我们可从测验内容如基础部分、阅读部分、作文部分各选一、二题加以分析，但选几题及如何选并非固定不变的。
（2）测验质量定性分析表
序号内容简要说明
1 测验内容与双向细目表是否吻合。
2 试题难度与长度如何。
3 试题陈述是否简?洁明了。
4 试题题型是否合适。
材料研究方法期末复习资料(不错)
材料研究方法复习 X射线,SEM（扫描电子显微镜）,TA,DTA,DSC,TG,红外,拉曼 1．X射线的本质是什么？是谁首先发现了X射线，谁揭示了X射线的本质？ 本质是一种波长很短的电磁波，其波长介于0.01-1000A。1895年由德国物理学家伦琴首先发现了X射线，1912年由德国物理学家laue揭示了X射线本质。 2．试计算波长0.071nm（Mo-Kα）和0.154A（Cu-Kα）的X射线束，其频率和每个量子的能量？ E=hν=hc/λ 3．试述连续X射线谱与特征X射线谱产生的机理 连续X射线谱:从阴极发出的电子经高压加速到达阳极靶材时，由于单位时间内到达的电子数目极大，而且达到靶材的时间和条件各不相同，并且大多数电子要经过多次碰撞，能量逐步损失掉，因而出现连续变化的波长谱。 特征X射线谱: 从阴极发出的电子在高压加速后，如果电子的能量足够大而将阳极靶原子中内层电子击出留下空位，原子中其他层电子就会跃迁以填补该空位，同时将多余的能量以X射线光子的形式释放出来，结果得到具有固定能量，频率或固定波长的特征X射线。 4. 连续X射线谱强度随管电压、管电流和阳极材料原子序数的变化规律？ 发生管中的总光子数(即连续X射线的强度)与: 1 阳极原子数Z成正比; 2 与灯丝电流i成正比; 3 与电压V二次方成正比: I 正比于i Z V2 可见，连续X射线的总能量随管电流、阳极靶原子序数和管电压的增加而增大 5. Kα线和Kβ线相比，谁的波长短？谁的强度高？
Kβ线比Kα线的波长短，强度弱 6．实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？ 实验中选择X射线管要避免样品强烈吸收入射X射线产生荧光幅射，对分析结果产生干扰。必须根据所测样品的化学成分选用不同靶材的X射线管。 其选择原则是： Z靶≤Z样品+1 应当避免使用比样品中的主元素的原子序数大2－6（尤其是2）的材料作靶材。 滤波片材料选择规律是： Z靶＜40时： Z滤＝Z靶－1 Z靶＞40时： Z滤＝Z靶－2 例如: 铁为主的样品，选用Co或Fe靶,不选用Ni或Cu靶；对应滤波片选择Mn 7. X射线与物质的如何相互作用的，产生那些物理现象？ X射线与物质的作用是通过X射线光子与物质的电子相互碰撞而实现的。 与物质作用后会产生X射线的散射（弹性散射和非弹性散射），X射线的吸收，光电效应与荧光辐射等现象 8. X射线强度衰减规律是什么？质量吸收系数的计算？ X射线通过整个物质厚度的衰减规律： I/I0 = exp(-μx) 式中I/I0称为X射线穿透系数，I/I0 ＜1。I/I0愈小,表示x射线被衰减的程度愈大。μ为线性吸收系数 μm表示，μm＝μ/ρ 如果材料中含多种元素，则μm＝Σμmi w i其中w i为质量分数 9．下列哪些晶面属于[111]晶带？ （111）、（3 21）、（231）、（211）、（101）、（101）、（133），（-1-10），（1-12）， （1- 32），（0-11），（212），为什么？
材料分析方法课后答案(更新至第十章)
材料分析方法课后练习题参考答案 2015-1-4 BY：二专业の学渣 材料科学与工程学院
3.讨论下列各组概念的关系 答案之一 (1）同一物质的吸收谱和发射谱； 答：λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射 (2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。 答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。任何材料对X射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。如Ni 的吸收限为0.14869 nm。也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。 (3）X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。 答：Z靶≤Z样品+1 或Z靶>>Z样品 X射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱，或X射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。在进行衍射分析时，总希望试样对X射线应尽可能少被吸收，获得高的衍射强度和低的背底。 答案之二 1）同一物质的吸收谱和发射谱； 答：当构成物质的分子或原子受到激发而发光，产生的光谱称为发射光谱，发射光谱的谱线与组成物质的元素及其外围电子的结构有关。吸收光谱是指光通过物质被吸收后的光谱，吸收光谱则决定于物质的化学结构，与分子中的双键有关。 2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。 答：可以选择λK刚好位于辐射源的Kα和Kβ之间的金属薄片作为滤光片，放在X射线源和试样之间。这时滤光片对Kβ射线强烈吸收，而对Kα吸收却少。 6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？ 答：eVk=hc/λ Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv) λ0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm) 其中h为普郎克常数，其值等于6.626×10-34 e为电子电荷，等于1.602×10-19c 故需加的最低管电压应≥17.46(kv)，所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。 7、名词解释：相干散射、非相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应 答：⑴当χ射线通过物质时，物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动，受迫振动产生交变电磁场，其频率与入射线的频率相同，这种由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射。 ⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射χ射线长的χ射线，且波长随散射方向不同而改变，这种散射现象称为非相干散射。
写好试卷分析具体方法
写好试卷分析具体方法 有一种说法：最有效的学习，就是从自己的失误中学。针对学生如此，针对我们教师也如此，应用于我们的教学上，那就是需要重视做好试卷的分析，它真是提高你学科成绩的一种有效的手段。 试卷分析报告，一段来说应包括试卷命题分析、答题状况分析、应对措施三个方面。 一、关于试卷命题分析。 1、揣测出题者的思想和策略。 主要写明通过考试引导学生重视哪些知识和能力，告诉学生哪些是重点的教学板块，哪些问题是容易出差错的。 2、试卷考查的内容。 主要写本学段教学的内容是什么，试卷是如何覆盖这些内容的；与上一学段或前面的知识有那些关联，巩固性内容占试题的比例。 3、试题分数权重。 主要写明全卷题分的比例分配，知识型、能力型和重点板块是如何安排的，是否恰当。 4、试题的难度及效度和信度。 难度是按什么比例分配的，如难中易的比例是3：6：1或3：5：2，考试结果和设想是否一致。（一般来说，容易题的
难度系数为0.75以上，中档题为0.74-0.6，难题为0.59以下）效度，主要指考试的有效性，一是试题区分度高不高，即优生得高分，差生得低分，情况是否如此。（最差的题是没有区分度）。二是试题是否有效，如一道题100%考生都对或都错，该试题应视为无效，尤其是都错的题，应视为废题。信度，除了说明成绩的真实性之外，还要说明题目涉及的内容与教学的相关程度。 二、关于答题情况 关于答题情况主要写明如下内容： 1、得分情况，参考全年级的情况，主要包括：①均分； ②最高分，最低分；③各个层次考生的得分态势分布情况，各试题得分率（以表格形式最好）。 2、失分情况：主要有：①失分的主要原因；②失分在哪些题上；③失分率的统计。 3、对学情的分析。主要有：①考前预测和考试结果如何，有无相关；②有哪些问题是事先未想到的；③有哪些与预先估计相符。 4、对教学成败的分析，主要有：①考得好的题与教学的相关性。采取过什么措施；②考得不好的题。有什么疏忽； ③哪些题是教学未注意或未重视的。 三、今后的措施 这一部分主要写下阶段教学任务是什么，下阶段目标是什
材料分析方法复习总结
Ｘ射线：波长很短的电磁波 特征Ｘ射线：是具有特定波长的X射线，也称单色X射线。 连续Ｘ射线：是具有连续变化波长的X射线，也称多色X射线。 荧光Ｘ射线：当入射的X射线光量子的能量足够大时，可以将原子内层电子击出，被打掉了内层的受激原子将发生外层电子向内层跃迁的过程，同时辐射出波长严格一定的特征X射线 二次特征辐射：利用X射线激发作用而产生的新的特征谱线 Ka辐射：电子由L层向K层跃迁辐射出的K系特征谱线 相干辐射：X射线通过物质时在入射电场的作用下，物质原子中的电子将被迫围绕其平衡位置振动，同时向四周辐射出与入射X射线波长相同的散射X射线，称之为经典散射。由于散射波与入射波的频率或波长相同，位相差恒定，在同一方向上各散射波符合相干条件，称为相干散射 非相干辐射：散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，故这种散射是不相干的 俄歇电子：原子中一个K层电子被激发出以后，L层的一个电子跃迁入K层填补空白，剩下的能量不是以辐射 原子散射因子：为评价原子散射本领引入系数f (f≤E)，称系数f为原子散射因子。他是考虑了各个电子散射波的位相差之后原子中所有电子散射波合成的结果 结构因子：定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数，即晶体结构对衍射强度的影响 多重性因素：同一晶面族{ hkl}中的等同晶面数 系统消光：原子在晶体中位置不同或种类不同引起某些方向上衍射线消失的现象 吸收限 1 x射线的定义性质连续X射线和特征X射线的产生 X射线是一种波长很短的电磁波 X射线能使气体电离，使照相底片感光，能穿过不透明的物体，还能使荧光物质发出荧光。呈直线传播，在电场和磁场中不发生偏转；当穿过物体时仅部分被散射。对动物有机体能产生巨大的生理上的影响，能杀伤生物细胞。 连续X射线根据经典物理学的理论，一个带负电荷的电子作加速运动时，电子周围的电磁场将发生急剧变化，此时必然要产生一个电磁波，或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X射线谱。 特征X射线处于激发状态的原子有自发回到稳定状态的倾向，此时外层电子将填充内层空位，相应伴随着原子能量的降低。原子从高能态变成低能态时，多出的能量以X射线形式辐射出来。因物质一定，原子结构一定，两特定能级间的能量差一定，故辐射出的特征X射波长一定。 2 x 射线方向理论布拉格方程和艾瓦尔德图解 3 试述解决X射线衍射方向问题常用方法有哪些并进行比较 4 简述材料研究X射线试验方法在材料研究中的主要应用 精确测定晶体的点阵常数物相分析宏观应力测定测定单晶体位相测定多晶的织够问题 5 试推导布拉格方程，解释方程中各符号的意义并说明布拉格方程的应用 假设： 1）晶体视为许多相互平行且d相等的原子面 2）X射线可照射各原子面 3）入射线、反射线均视为平行光 一束波长为λ的平行X射线以θ照射晶体中晶面指数为(hkl)的各原子面，各原子面产生反射。 当Ⅹ射线照射到晶体上时，考虑一层原子面上散射Ⅹ射线的干涉。 当Ⅹ射线以θ角入射到原子面并以θ角散射时，相距为a的两原子散射x射的光程差为： 即是说，当入射角与散射角相等时，一层原子面上所有散射波干涉将会加强。与可见光的反射定律相类似，Ⅹ射线从一层原子面呈镜面反射的方向，就是散射线干涉加强的方向，因此，常将这种散射称
初三数学试卷分析及教学建议
初三数学试卷分析及教学建议 初三数学试卷分析及教学建议 初三数学试卷分析意见篇一：中考数学试题试卷分析及教学建 议 一、数学试题特点： 1.立足课本，注重考查“双基” 基础知识、基本技能是学生继续学习和进一步发展的基石，近几年的数学中考试题，大部分来源于课本，特别是基础题，往往是把 课本例题、习题改变知识的呈现方式，进行适当地调换和引申，并 为保证考试的合格率，大部分基础题目比课本上的原题还要简单。 试题覆盖到七、八、九三个学年的每一章，考查的代数知识与几何 知识的分值比始终控制在6：4左右。试题体现几何论证的适度性， 几何证明题的难度逐年降低。试题的运算量得到严格控制，没有一 些繁琐的计算题。 2.把握重点，突现思想方法 重点知识是支撑学科知识体系的主要内容，近几年的数学中考试卷中都保持了较高的考查比例，突出对一元二次方程、函数、统计 初步、相似形、锐角三角比、圆这六大块内容的重点考查，每年这 六大块内容的分值都在整卷分值的三分之二左右；最后两个综合题 考查的知识点也集中在函数、相似形、圆等重点知识上。数学思想 方法是数学知识在更高层次上的抽象和概括，在重点考查最基本、 通用的数学规律和数学技能的同时，试题突出考查学生对数学思想 方法的领悟，三年中考试题涵盖了初中阶段所涉及如字母表示数的 思想、方程思想、变量及函数思想、数形结合思想、分类讨论思想、图形运动思想、化归思想、整体代换思想、分解组合等主要数学思
想，常用的数学方法如换元法、配方法、待定系数法等在试题中也 得到充分的体现。 3.联系实际，强化应用意识 4.关注思维、加强能力考查 三年来，数学中考试卷加强了对探究能力、获取信息和处理信息能力、空间 二、对初中数学教学的几点启示： 1.重视课本、打好扎实基础 2.学会反思、发展能力 初三数学试卷分析意见篇二：试卷分析(初三数学) 二、试卷特点： 考试时间为90分钟,满卷120分。全卷共有三部分组成，分别是（一）选择题24分；（二）填空题24分；（三）解答题共9小题 共72分。 本卷命题紧扣《课标》、教材，考点覆盖面广，综合性较强，注重了基本知识和基本能力、综合能力以及基本的数学思想方法（如：数形结合思想、整体思想、转化思想等）。符合新课程的评价标准。试题内容丰富，题目灵活，试卷较全面地考查了本学期及之前所学 的知识。 三、学生答卷情况 （一）选择题24分 （二）填空题24分； （一）.填空题13、15、16失分过多，得分率低，出乎我的意料，除了图形转换没掌握外，有部分学生审题错误，说明学生审题读题 能力亟待提高、加强，这部分分是应该拿到的。
材料分析方法答案
第一章 一、选择题 1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是（） A.X射线透射学； B.X射线衍射学； C.X射线光谱学； D.其它 2. M层电子回迁到K层后，多余的能量放出的特征X射线称（） A.Kα； B. Kβ； C. Kγ； D. Lα。 3. 当X射线发生装置是Cu靶，滤波片应选（） A．Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo。 4. 当电子把所有能量都转换为X射线时，该X射线波长称（） A.短波限λ0； B. 激发限λk； C. 吸收限； D. 特征X射线 5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（）（多选题） A.光电子； B. 二次荧光； C. 俄歇电子； D. （A+C） 二、正误题 1. 随X射线管的电压升高，λ0和λk都随之减小。（） 2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。（） 3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。（） 4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（） 5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。（） 三、填空题 1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。 2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、 、、、。 3. 经过厚度为H的物质后，X射线的强度为。 4. X射线的本质既是也是，具有性。 5. 短波长的X射线称，常用于；长波长的X射线称 ，常用于。 习题 1.X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？ 2.分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？ （1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射； （2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射； （3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。 3.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱
如何进行试卷分析讲解学习
如何进行试卷质量分析 试卷分析是对教学测试的反思、是对教师教的反思、也是对学生学的反思，试卷分析是提高命题水平必不可少的一个环节。试卷分析包括：⑴介绍考试基本情况；⑵介绍试卷的特点；⑶统计学生解答情况；⑷对今后教学的启示；⑸对今后命题的建议。 一、介绍考试类型 试卷分析要说明本次考试是什么类型、什么范围的考试，考试的目的是什么，试题由什么人命题的。 二、介绍试卷的特点试卷分析要介绍试卷考查的范围、知识点及分值、试卷结构（题型比例、分值）、命题特点等。 三、统计数据试卷分析要统计有关数据，数据来源：全体考生、也可随机抽取样本，样本容量尽可能大一些。有关数据包括： ⑴各题统计数据（难度、区分度）； ①难度计算 １．难度指应试者解答试题的难易程度，它是衡量测评试题质量的一个重要指标参数。客观题难度计算公式：P（难度指数）＝试题答对人数/考生人数；主观题难度计算公式：P ＝试题平均得分/试题满分。试卷难度计算公式：P＝为平均分，K为试卷满分值。易、中、难的标准为：易：P≥0.7，中：0.4≤P≤0.69，难：P≤0.39；P值越大，难度越低，P值越小，难度越高。一般来说，难度值平均在0.5最佳，难度值过高或过低，都会降低测验的信度。当然，在实际的评价过程中，测验的难度水平多高才合适，也还要取决于测验的目的。如果教师要对学生的知识准备状况进行一次诊断性测验，为了真实、准确地了解学生的知识掌握情况，测验难度大一点也是正常的。 ２．计算方法 （1）客观性试题难度P（这时也称通过率）计算公式： P=k/N（k为答对该题的人数，N为参加测验的总人数） （2）主观性试题难度P计算公式： P=X/M（X为试题平均得分；M为试题满分） （3）适用于主、客观试题的计算公式： P=（P H+P L）/2（P H、P L分别为试题针对高分组和低分组考生的难度值）
(完整版)材料分析方法期末考试总结
材料分析方法 1．x射线是一种波长很短的电磁波，具有波粒二相性，粒子性往往表现突出，故x射线也可视为一束具有一定能量的光量子流。X射线有可见光无可比拟的穿透能力，可使荧光物质发光，可使气体或其它物质电离等。 2．相干散射：亦称经典散射，物质中的电子在X射线电场的作用下，产生强迫振动。这样每个电子在各方向产生与入射X射线同频率的电磁波。新的散射波之间发生的干涉现象称为相干散射。 3．不相干散射：亦称量子散射，X射线光子与束缚力不大的外层电子，或自由电子碰撞时电子获得一部分动能成为反冲电子，X射线光子离开原来方向，能量减小，波长增加。 4．吸收限：物质原子序数越大，对X射线的吸收能力越强；对一定的吸收体，X射线的波长越短，穿透能力越强，表现为吸收系数的下降，但随着波长的的降低，质量吸收系数并非呈连续的变化，而是在某些波长位置上突然升高，出现了吸收限。 5．荧光辐射：由入射X射线所激发出来的特征X射线称为荧光辐射（荧光X 射线，二次X射线）。 6．俄歇效应：由于光电效应而处于激发态的原子还有一种释放能量的方式，及俄歇效应。原子中一个K层电子被入射光量子击出后，L层一个电子跃入K层填补空位，此时多余的能量不以辐射X光量子放出，而是以另一个L层电子活的能量跃出吸收体，这样的一个K层空位被两个L层空位代替的过程称为俄歇效应，跃出的L层电子称为俄歇电子。 7．光电子：当入射光量子的能量等于或大于吸收体原子某壳体层电子的结合能时，此光量子就很容易被电子吸收，获得能量的电子从内层溢出，成为自由电子，称为光电子。原子则处于激发态，这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。8．滤波片的作用：滤波片是利用吸收限两侧吸收系数差很大的现象制成的，用以吸收不需要的辐射而得到基本单色的光源。 9．布拉格方程只是获得衍射的必要条件而非充分条件。 10．晶面（hkl）的n级反射面（nh nk nl），用符号（HKL）表示，称为反射面或干涉面。 11．掠射角是入射角（或反射角）与晶面的夹角，可表征衍射的方向。 12．衍射极限条件：在晶体中，干涉面的划取是无极限的，但并非所有的干涉面均能参与衍射，因存在关系dsinθ=λ/2,或d>=λ/2,说明只有间距大于或等于X 射线半波长的那些干涉面才能参与反射。 13．劳埃法：采用连续X射线照射不动的单晶体，因为X射线的波长连续可变，故可从中挑选出其波长满足布拉格关系的X射线使产生衍射。 14．周转晶体法：采用单色X射线照射转动的单晶体，并用一张以旋转轴为轴的圆筒形底片来记录。 15．粉末法：采用单色X射线照射多晶体，试样是由数量众多、取向混乱的微晶体组成。 16．吸收因数：由于试样本身对X射线的吸收，使衍射强度的实测值与计算值不符，为了修正这一影响，则在强度公式中乘以吸收因数。 17．温度因数：原子热振动使晶体点阵原子排列的周期性受到破坏，使得原来严格满足布拉格条件的相干散射产生附加的相差，从而使衍射强度减弱。为修正实验温度给衍射强度带来的影响，需要在积分强度公式中乘以温度因数。
如何撰写试卷分析报告
如何撰写试卷分析报告 试卷分析报告一般由几个部分组成，即试卷评价，成绩统计及分析，教学中存在的主要问题，今后的教学改进措施及建议。 一、试卷评价 1、试卷卷面题型分析：试卷有多少大类题型，总分是多少，各种题型所占分值比重是多少。哪类题型学生已见过，哪类题型学生初次见面。哪些题型是考查基本知识和基本技能的。哪些内容为考察的重点，所占分值较大。 2、命题知识点和考点分析：各种题型在教材中的章节分布，是否覆盖所有章节。有哪些章节中的内容在试卷中所占比例较大。基础知识题与基本技能题的考察是否都能够兼顾到。试卷包括了那些考点、知识点。 3、试卷命题科学性分析：学生在规定时间内试卷完成度是多少？是否都能在规定的时间内完成试卷内容。试卷中基本题、有一定难度题、拔高题（难度较大）所占比重是否合理，有无偏题、怪题等。 二、成绩统计及分析（全班学生） 1、一分三率统计。 一分即平均分，班级平均分是多少。 三率即及格率、优秀率（80以上）、低分率（40分以下），三率计算分别是及格人数、优秀人数、低分人数除以班级人数乘以100%。 从平均分看，与平行班、与以前考试比较，如果低于正常值，或有较大差距，就要反思自己的教学水平、班级管理等方面的问题。 从一分三率可以客观看出班级学生的层次，不同学生掌握程度。如果差生人数多，说明教学中不够重视补差工作。如果优分人数少，说明平时提优不够。 2、分数段统计。 最高分、最低分各是多少，各个分数段有多少人，以教学班为单位，每10分一段。 从最高分可以看出自己教学的全面性与命题要求、与兄弟班级还有多大差距。如果本班的最高分与其它班级相差较大，（低于5分）那就要反思有哪些知识点、学生掌握不够，教学有疏漏之处。 分数段分布是否符合正态分布，可以看出本班学生在各个层次上的分布情况，教师可以针对情况查漏补缺。 3、各题的得失分统计。 逐题统计学生得分情况，每道题的得失分是多少或者说正确率是多少。通过每题得失分统计，分析学生对本次考试内容的掌握程度。不同的题型，诊断的功能不同，可以看出学生思考的误区，了解学生“选择题、填空题、解答题”等题型的解题能力。 4、知识结构分析：通过对知识板块得分情况分析，了解学生知识板块的掌握程度及教学目标达成情况；了解学情，把握教学定位是否准确。 三、教学中存在的主要问题（可采用抽样分析，抽取60%好、中、差不同试卷分析）
材料分析方法课后习题答案
第十四章 1、波谱仪和能谱仪各有什么优缺点 优点:1）能谱仪探测X射线的效率高。 2）在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。 3）结构简单，稳定性和重现性都很好 4）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。 缺点：1）分辨率低。 2）能谱仪只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。 3）能谱仪的Si(Li)探头必须保持在低温态，因此必须时时用液氮冷却。 分析钢中碳化物成分可用能谱仪；分析基体中碳含量可用波谱仪。 2、举例说明电子探针的三种工作方式（点、线、面）在显微成分分析中的应用。 答：(1)、定点分析：将电子束固定在要分析的微区上用波谱仪分析时，改变分光晶体和探测器的位置，即可得到分析点的X射线谱线；
用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部元素的谱线。 (2)、线分析：将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置把电子束沿着指定的方向作直线轨迹扫描，便可得到这一元素沿直线的浓度分布情况。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。 (3)、面分析：电子束在样品表面作光栅扫描，将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置，此时，在荧光屏上得到该元素的面分布图像。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。也是用X射线调制图像的方法。 3、要在观察断口形貌的同时，分析断口上粒状夹杂物的化学成分，选用什么仪器用怎样的操作方式进行具体分析 答：（1）若观察断口形貌，用扫描电子显微镜来观察：而要分析夹杂物的化学成分，得选用能谱仪来分析其化学成分。 (2)A、用扫描电镜的断口分析观察其断口形貌：
试卷分析及其基本方法(整理精校版)
试卷分析及其基本方法 教学相长 1230 10:35 ：： 一、关于试卷分析 （一）为什么要做试卷分析？ 试卷分析对于教师来说早已是司空见惯的事，而其具体做法也大同小异。譬如统计一下本班考试的平均分、及格率、各分数段分布等等，然后跟别的教师比较一下；若成绩不理想，则设法加大训练量、或增加课时，并督促学生认真学习、继续用功，……。然而仔细观察试卷分析的过程，就可以发现一些问题：许多教师往往没有深入研究影响教学效果的主要因素，而一味在与他人比拼分数上下功夫，以致造成同事关系紧张、师生关系对立、学生更加厌学等问题。 “试卷分析”的重要功能是了解教学效果，了解学情，了解教学定位、方法、策略是否得当，了解学生掌握知识的水平，哪些知识点的掌握还不到位，学习效果与教师的预期有怎样的差距，等等。根据发现的问题，寻找产生的原因、寻求解决的办法，由此调整教学策略，改进教学方法，提高教学质量。因此，需要我们科学的手段进行试卷分析：收集数据、激活数据，反思教学过程，找到问题的答案。换言之，用数据说话，而不是凭感觉下结论。
（二）试卷分析与试卷讲评区别 很多教师将试卷分析与试卷讲评混为一谈，往往在教室里将试题逐一讲解，就以为是进行试卷分析了。实际上，“试卷分析”是根据考试的卷面结果所反馈的大量信息，通过数据收集与处理，进行知识掌握、能力培养等一系列教学效果分析，得出定量或定性结果的教学反馈环节之一，是为教师进行教学调控提供依据的重要手段之一，简单的说，就是给教师自己“看”的。而“试卷讲评”则是根据试卷分析的结果，面向学生进行的、着重于反馈与更正的一种教学行为，即是给学生“看”的。 （三）几个概念： 1、难度与难度系数。 难度：指应试者解答试题的难易程度，是描述性语言。通常说“这个题目难度大”，就是指该题比较难。 难度系数：“难度系数”也可以理解成“容易度系数”，是0～1之间的量值，难度系数越大，说明题目难度越小。“难度系数”一般分整卷难度系数和单题难度系数。 2、期望难度与实际难度。 期望难度：根据应试者的实际情况和考试所要承当的功能，命题时预设的难度系数。譬如：对于选拔性考试,如高考，一般设置期望难度系数为0.55左右，使其能够较好地区分考生的学业水平，达到选拔的目的。而水平性考试，如高中学业会
现代材料分析方法试题及答案2
1. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足什么公式？写出数学表达式，并说明d、θ、λ的意义。（5分） 答：. X射线衍射的几何条件是d、θ、λ必须满足布拉格公式。（1分）其数学表达式：2dsinθ=λ（1分）其中d是晶体的晶面间距。（1分）θ是布拉格角，即入射线与晶面间的交角。（1分）λ是入射X 射线的波长。（1分） 4. 二次电子是怎样产生的？其主要特点有哪些？二次电子像主要反映试样的什么特征？用什么衬度解释？该衬度的形成主要取决于什么因素？（6分） 答：二次电子是单电子激发过程中被入射电子轰击出的试样原子核外电子。（1分） 二次电子的主要特征如下： （1）二次电子的能量小于50eV，主要反映试样表面10nm层内的状态，成像分辨率高。（1分） （2）二次电子发射系数δ与入射束的能量有关，在入射束能量大于一定值后，随着入射束能量的增加，二次电子的发射系数减小。（1分） （3）二次电子发射系数δ和试样表面倾角θ有关：δ(θ)=δ0/cosθ（1分） （4）二次电子在试样上方的角分布，在电子束垂直试样表面入射时，服从余弦定律。（1分） 二此电子像主要反映试样表面的形貌特征，用形貌衬度来解释，形貌衬度的形成主要取决于试样表面相对于入射电子束的倾角。（1分） 2. 布拉格角和衍射角： 布拉格角：入射线与晶面间的交角，（1.5 分） 衍射角：入射线与衍射线的交角。（1.5 分） 3. 静电透镜和磁透镜： 静电透镜：产生旋转对称等电位面的电极装置即为静电透镜，（1.5 分） 磁透镜：产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。（1.5 分） 4. 原子核对电子的弹性散射和非弹性散射： 弹性散射：电子散射后只改变方向而不损失能量，（1.5 分） 非弹性散射：电子散射后既改变方向也损失能量。（1.5 分） 二、填空（每空1 分，共20 分） 1. X 射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。 2.扫描仪的工作方式有连续扫描和步进扫描两种。 3. 在X 射线衍射物相分析中，粉末衍射卡组是由粉末衍射标准联合 委员会编制，称为JCPDS 卡片，又称为PDF 卡片。 4. 电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。 5.透射电子显微镜的结构分为光学成像系统、真空系统和电气系统。 1. X射线管中，焦点形状可分为点焦点和线焦点，适合于衍射仪工作的是线焦点。 2. 在X 射线物象分析中，定性分析用的卡片是由粉末衍射标准联合委员会编制，称为JCPDS 卡片，又称为PDF(或ASTM) 卡片。 3. X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和衍射仪法。 4. 电磁透镜的像差有球差、色差、轴上像散和畸变。 5. 电子探针是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。 二、选择题（多选、每题4 分） 1. X射线是（ A D ） A. 电磁波； B. 声波； C. 超声波； D. 波长为0.01~1000?。 2. 方程2dSinθ=λ叫（ A D ） A. 布拉格方程； B. 劳厄方程； C. 其中θ称为衍射角； D. θ称为布拉格角。 3. 下面关于电镜分析叙述中正确的是（ B D ） A. 电镜只能观察形貌； B. 电镜可观察形貌、成分分析、结构分析和物相鉴定； C．电镜分析在材料研究中广泛应用，是因为放大倍数高，与分辨率无关； D．电镜在材料研究中广泛应用，是因为放大倍数高，分辨率高。
小学三年级语文试卷分析
小学三年级语文试卷分析 为检验课改实施水平，了解新课程下学生知识、能力等方面的达成情况，进一步引导教师反思教学工作，促进学生和谐发展。我们于1月12日对全县三年级进行了学科调研测试，现对测试情况作一简要分析。 基本情况 本次调研测试全县应参加考试人数5326人，实参加考试人数5287人，均分75.82分，及格率89.19%。从整体情况看来，学生语文素养呈可喜的上升趋势。 试题特点 三年级为中年级，尤其是第一学期，这种过渡性很关键,因此本次命题既遵循《语文课程标准》的要求，又关注中年级过渡期学生的思维特点与知识储存量，依据教材而不拘泥于教材，力求把基础知识与基本技能的考察相结合，把课内知识与课外知识的考察相结合，把语文知识放置在一定的语境中，与学生生活紧密相连，关注难度、区分度、信度与效度。本份试题呈现如下特点： 1、基础性按照《语文课程标准》的内容和要求，兼顾不同层次学习水平和不同发展状态的学生，着力加强基础知识、基本能力、基本方法、基本态度的考查，让每个学生都能最大限度地发挥自己的水平。
2、综合性命题以全面考查学生的语文素养为宗旨，不仅考查语文知识、能力水平，还关注学生掌握语文学习方法的情况以及情感、态度、价值观的发展状况。注重考查学生对语言的理解和运用能力，分析问题和解决问题的能力，以及探究新知识的能力。 3、人文性体现语文学科工具性和人文性相统一的基本特性，力求符合学生生活和社会发展的实际情况，与学生的已有经验和身心发展相适应。既重视语文积累和运用的考查，也注重祖国语言独特的人文价值导向，关注学生在语文过程中的感悟、体验和审美活动，注意通过测试发现学生的潜能，关注他们在已有水平上的发展，理解并尊重学生在发展过程中的个体差异。 4、实践性根据《语文课程标准》的要求和学生的经验水平，选择浅显易懂的文章作为阅读测材料，所选材料将注意思想内容的价值导向和语言表达的规范的有机统一，恰当控制难度和篇幅。 5、生活性习作命题力求富有生活气息与儿童趣味，努力设计符合学生认识水平和生活实际的试题，有利于学生表达对于自然、社会和人生的感受和理解，有利于学生展开联想和想象。鼓励学生自由地表达，有创意地表达。
(完整版)材料分析方法_俞建长_试卷5
材料现代分析方法试题5 材料学院材料科学与工程专业年级班级材料现代分析方法课程200—200学年第学期（）卷期末考试题（ 120 分钟） 考生姓名学号考试时间 题号得分分数 主考教师：阅卷教师： 材料现代分析方法试题5（参考答案） 一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？ 答：1.5kW/35kV=0.043A 2．证明（）、（）、（）、（01）、（12）晶面属于[111]晶带。 答：根据晶带定律公式Hu+Kv+Lw=0计算 （）晶面：1×1+1×+0×1=1—1+0=0 （）晶面：1×1+1×+1×1=1—2+1=0 （）晶面：×1+2×1+1×1=（—3）+2+1=0 （01）晶面：0×1+×1+1×1=0+（—1）+1=0 （12）晶面：1×1+×1+1×2=1+（—3）+2=0 因此，经上五个晶面属于[111]晶带。 3．当X射线在原子例上发射时，相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍，则此方向上必然不存在放射，为什么？
答：因为X射线在原子上发射的强度非常弱，需通过波程差为波长的整数倍而产生干涉加强后才可能有反射线存在，而干涉加强的条件之一必须存在波程差，且波程差需等于其波长的整数倍，不为波长的整数倍方向上必然不存在反射。4．某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来，其θ较高抑或较低？相应的d较大还是较小？ 答：背射区线条与透射区线条比较θ较高，d较小。 产生衍射线必须符合布拉格方程2dsinθ=λ，对于背射区属于2θ高角度区， 根据d=λ/2sinθ，θ越大d越小。 5．已知Cu3Au为面心立方结构，可以以有序和无序两种结构存在，请画出其有序和无序结构[001]晶带的电子衍射花样，并标定出其指数。 答：如图所示： 6．（1）试说明电子束入射固体样品表面激发的主要信号、主要特点和用途。（2）扫描电镜的分辨率受哪些因素影响? 给出典型信号成像的分辨率，并说明原因。（3）二次电子（SE）信号主要用于分析样品表面形貌，说明其衬度形成原理。（4）用二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处? 答：（1）背散射电子:能量高；来自样品表面几百nm深度范围；其产额随 原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。 二次电子:能量较低；来自表层5－10nm深度范围；对样品表面状态十分敏感.不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。
试卷分析报告范文6篇
试卷分析报告范文6篇 试卷分析是教学环节中不可缺少的部分,它可以反映出学生的学习情况。试卷一直以来被用来检验教学成果,试卷帮助教师了解学生在每个阶段、每门课程的学习情况。如果能够对试卷质量进行量化分析,记录每位学生每一道题的答题情况,教师就可以有 针对性的对不同学科的重点和难点进行合理规划,使教学和指导复习真正做到有的放矢。本文是小编为大家整理的试卷分析报告范文，仅供参考。 试卷分析报告范文篇一:试卷分析报告参考模板 一、原始成绩分布情况分析 文学院2005级汉语言文学专业本科1班应考人数73人，实际参考人数72人，平均分为75、95、从成绩分布情况来看，最高分89、5分，最低分50分;80-90段30人，70―80段24人，这两段学生最多;60-70段14人，90分以上的没有，60分以下的4人。从总体看来，该班成绩分布合理，能够反映出学生学习的实际情况。 二、存在的主要问题及优点、典型性错误的分析 (一)试题内容分析 1、试题题型多样，题量合适 试题题型分为:填空题、选择题、判断题、名词解释、简答题、论述题、分析题等，按照认知能力，分为识记、理解、应用三个层次进行命题，既重视理论知识的考查，又重视应用能力的考查。填空题、名词解释、简答题主要考查学生对基础概念、基本理论的掌握情况;论述题重在考查学生利用所学理论分析问题和解决问题的能力;三个分析 题从不同角度考查学生语言分析和应用能力。
2、试题难度适中 本次考试依照考试大纲出题，既有对学生进行基本知识记忆考查的题目，又有考查学生分析能力的题目。试题的难度适中，各个等级所占的分数比例大体是:容易的占20%，较易的占30%，难度适中的占20%，较难的占30%。试题充分注意到语言学基本知识和语言应用分析能力的考查，同时也注意到适宜学生水平的发挥。例如义素分析、歧义结构分析等题目，可以考出各种程度学生的真实水平，能够拉开成绩档次。 3、试题题目设计较科学合理 各层次题目所占分数比例大体上是:识记占30%，理解占30%，应用占40%。命题覆盖各章，既全面考核，又突出重点。各章题量所占比例是:导言、语言的社会功能、语言是符号系统占20%，语音占15%，汉字占5%，词汇占15%，语法占25%，语言的发展、语言的接触占20%。试题设计合理，表述清晰规范，语言简洁明了，考查问题明确;参考答案以及评分标准准确、具体。总的来说，符合试题设计的要求，没有知识性、技术性等方面的错误;同时为了配合学生的考研，注重了对学生运用知识的能力的考查，如用国际音标拼写古诗，在很大程度上满足了学生学以致用的需求。 由此可见，本套试题基本达到了要求的信度、效度，能够达到考查学生学习情况和各种能力的目的。 (二)典型性错误分析 从答卷的整体情况来看，客观题的答卷质量参差不齐，有的学生在填空题、名词解释这两种题型上得分较高，总体得分率应该在80%以上，显示了基础知识掌握的牢固性;但也有不少学生在这两道题上得分不高，例如填空题10分，有个别学生仅得1分;名词解释15分，个别学生仅得6分。究其原因，在于这部分学生学习态度不够认真，对教师平时课堂上补充的内容如"语义场"、"自源文字"等等不够重视，不记笔记，所以失分较多。选择题、判断题，学生的得分率较高，大部分学生这两题的失分率在20%以下，说明学生对于给出答案然后进行选择或判断还是有较强能力的。分析题，部分学生只记
材料现代分析方法试题七和参考答案
材料现代分析方法试题7（参考答案） 一、基本概念题（共10题，每题5分） 1．欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射，所需施加的最低管电压是多少？激发出的荧光辐射的波长是多少？ 答：欲使Cu 样品产生荧光X 射线辐射，V =1240/λCu=1240/0.15418=8042，V =1240/λCu=1240/0.1392218=8907 激发出荧光辐射的波长是0.15418nm 激发出荧光辐射的波长是0.15418nm 2．判别下列哪些晶面属于[-111]晶带：（-1-10），（-2-31），（231），（211），（-101），（1-33），（1-12），（1-32），（0- 11），（212）。 答：（-1-10）（321）、（211）、（1-12）、（-101）、（0-11）晶面属于[111]晶带，因为它们符合晶带定律：hu+kv+lw=0。答：（-1-10）（321）、（211）、（1-12）、（-101）、（0-11）晶面属于[111]晶带，因为它们符合晶带定律：hu+kv+lw=0。 3．用单色X 射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成什么图案？为摄取德拜图相，应当采用什么样的底片去记录？ 答：用单色X 射线照射圆柱多晶体试样，其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案；为摄取德拜图相，应当采用带状的照相底片去记录。 4．洛伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？ 答：洛伦兹因数是表示掠射角对衍射强度的影响。洛伦兹因数表达式是综合了样品中参与衍射的晶粒大小，晶粒的数目和衍射线位置对衍射强度的影响。 5．给出简单立方、面心立方、体心立方以及密排六方晶体结构电子衍射发生消光的晶面指数规律。 答：常见晶体的结构消光规律 简单立方 对指数没有限制（不会产生结构消光） f. c. c h. k. L. 奇偶混合 b. c. c h+k+L=奇数 h. c. p h+2k=3n, 同时L=奇数 体心四方 h+k+L=奇数 6．透射电镜的成像系统的主要构成及特点是什么? k k k V eV hc 24.1==λk eV hc ≤λ
月考后正确的试卷分析方法
月考后正确的试卷分析方法 一、从逐题分析到整体分析 从每一个具体的错题分析入手,分析错误的知识原因、能力原因、解题**惯原因等。 (1)这道题考察的知识点是什么? (2)知识点的内容是什么? (3)这道题是怎样运用这一知识点解决问题的? (4)这道题的解体过程是什么? (5)这道题还有其他的做法吗? 在此基础上,我们就可以进行整体分析,拿出一个总体结论了。以理学科为例,丢分原因大体包括三种,即:知识不清、问题情景不清和表述不清。 所谓知识不清,就是在考试之前没有把知识学清楚,丢分发生在考试之前,而不仅仅发生在考试的过程之中。 所谓问题情景不清,就是审题不清,没有把问题看明白,或是不能把问题看明白,这是一个审题能力、审题**惯问题。 所谓表述不清,指的是虽然知识具备、审题清楚,问题能够解决,但表述凌乱、词不达意。上述问题逐步由低级发展到高级。 研究知识不清、问题情景不清和表述不清所造成的丢分比例,用数字说话,也就能够得到整体结论,找到整体方向了。 二、从数字分析到性质分析 (1)以数字回答各个原因的丢分数值。如计算失误失分;审题不清失分;考虑不周失分;公式记错失分;概念不清失分等等。 (2)以数字回答最不该丢的5—10分。“最不该丢的5—10分”是最有希望获得的,找出来很有必要。在后续学**中,努力找回这些分数可望可及。如果真正做到这些,那么不同学科累计在一起,进步也就很可观了。 (3)任何一处丢分,在存在偶然性的同时都存在着必然性。建议会学**的同学能够做到既看到现象更看到本质,他能够以自己的分析来回答:丢分的实质是什么? 三、从口头分析到书面分析
在学**过程中,反思十分必要。所谓反思,就是自己和自己的对话。这样的对话可能是潜意识的,可能表现在口头上,最好是表达在书面上。从潜意识的存在到口头表达是一次进步,从口头表达再到书面表达又是一次进步。书面表达是卷面分析的最高级形式。所以,建议大家在考试过后写出书面的试卷分析。这个分析是反观自己的一面镜子,是后来进步的重要阶梯。 四、从归因分析到对策分析 现象分析、归因分析与对策分析是逐层递进的分析,现象分析是基础,归因分析是桥梁,对策分析是目的。现象分析回答了“什么样”,归因分析回答了“为什么”,对策分析回答了“怎么办”。如果我们能够把这些分析“格式化”(拿出固定样式),把每次的分析都做出相互对比,那么进步与退步的历程就清晰了,眼前发展的路径也就明朗了。所以改完的考试卷子发下来后,考生有下面三件事要做 1.要“马上写”: 首先把做错的题,重新抄一遍, 然后写出正确的答案(包括过程,可以问老师,也可以问同学)。 其次要求写出前一段学**中哪些知识的掌握存在问题或是对老师的教学有什么要求。 2.要“及时析”: 这一条最为重要,及时写出试卷自我分析。包含以下要素: ①考试的综合评价,即哪些题目做得比较好,哪些题目存在失误? ②错题纠正,即要写出正确答案,主观性试题还应根据老师讲解的解题思路补全点。 ③对错题进行归类,找准原因,对症下药。就错误原因而论,一般有三种情况: 一是对教材中的观点、原理理解有误,或理解不广、不深、不透; 二是对某些题型的解题思路技巧未能掌握.或不能灵活地加以运用; 三是表现在答题时的非智力因素方面,如遇到复杂些的论述题,便产生恐惧心理等,从而造成失误。 如果是第一种情况的原因,就应针对题目所涉及的有关知识要点及原理内容认真地加以再复**巩固,真正把其弄懂弄通