激光粒度仪分析方法 激光粒度仪常见问题解决方法
马尔文激光粒度仪遮光率
马尔文激光粒度仪遮光率1. 引言马尔文激光粒度仪是一种常用的粒度分析仪器，可以用于测量物料中颗粒的大小分布。
在进行粒度分析时，遮光率是一个重要的参数，它影响着仪器的测量精度和可靠性。
本文将详细介绍马尔文激光粒度仪遮光率的概念、影响因素以及如何进行校准和优化。
2. 遮光率的定义遮光率是指激光粒度仪中的光束经过样品时被吸收和散射的比例。
粒度仪通过测量散射光的强度来推断样品中颗粒的大小分布。
因此，遮光率的准确性对于测量结果的可靠性非常重要。
3. 遮光率的影响因素3.1 样品的光学特性样品的光学特性是影响遮光率的主要因素之一。
不同样品的光学特性可能会导致不同的吸收和散射现象，从而影响遮光率的测量结果。
一般来说，颗粒较大、形状规则、表面光滑的样品会导致较低的遮光率，而颗粒较小、形状不规则、表面粗糙的样品会导致较高的遮光率。
3.2 仪器的光路设计仪器的光路设计也会对遮光率产生影响。
光路设计不合理可能导致光束在经过样品时发生衍射、散射等现象，从而降低遮光率的准确性。
因此，在设计马尔文激光粒度仪时，需要考虑光路的优化，以提高遮光率的测量精度。
3.3 仪器的校准和维护马尔文激光粒度仪的校准和维护对于保证遮光率的准确性也非常重要。
定期对仪器进行校准和维护，可以及时发现和修复可能导致遮光率偏差的问题，从而提高测量结果的可靠性。
4. 遮光率的校准和优化为了保证马尔文激光粒度仪的遮光率准确性，需要进行校准和优化。
以下是一些常用的校准和优化方法：4.1 样品的选择在进行遮光率的校准和优化时，首先需要选择适合的样品。
样品的光学特性应与待测样品相似，以保证校准和优化的准确性。
一般来说，可以选择一种具有已知粒度分布的标准样品作为参照，通过比较标准样品的测量结果和已知粒度分布，来判断遮光率是否准确。
4.2 光路的优化光路的优化是提高遮光率测量精度的关键。
可以通过调整光路的参数，如光源的位置、光束的直径等，来优化光路的设计。
此外，还可以采用一些光学元件，如滤光片、偏振片等，来改善光路的性能。
激光粒度仪原理与应用
类型等→“下一步”→选择“输出 模板”→“下一步”→填写测量时 间（背景时间相同）、测量快照
（背景快照相同），也可设置遮光 度、洁净度超常报警限制→“下一 步”→泵（搅拌器）速、超声强度
设置→“下一步” →每个样循环
测量3次并创建平均结果，延迟 3~5秒→点击“完成”→保存后 缀为.SOP的文件即完成新建SOP 过程。
加所需内容。所有操作无需重 新编程。所得数据和图形可和 WINDOWS应用软件（如 Microsoft Word，Excel）动态 连接。
（一）激光粒度仪的操作步骤
1.分析用水和样品制备 激光粒度仪分析时需用较
多的洁净水来稀释样品浓度和 清洗样品池等，一般将自来水 存放24小时，把过多的气体释 放后即可作为分析用水。
样品制备内容包括过筛（去杂 质）、反凝剂分散（同吸管法）、 取代表样等。
2开机、关机及预热
开机顺序：附件（如Hydro 2000MU等）→仪器主机。
关机顺序：仪器主机→附件。
仪器开机后一般要求预热不少 于20分钟。
3 测量
（1）启动测量程序和建立测 量文件
双击Mastersizer 2000图标启 动测量程序，在Measurement
注：我们公司主要用它来测煤浆 粒度和催化剂粒度。
激光粒度仪测量的 基本原理
1.测量基本原理
激光粒度仪是根据颗粒能 使激光产生散射这一物理现象 测试粒度分布的。由于激光具 有很好的单色性和极强的方
向性，所以一束平行的激光在没有 阻碍的无限空间中将会照射到无限 远的地方，并且在传播过程中很少
有发散的现象。当光束遇到颗粒 阻挡时，一部分光将发生散射 现象，如图1.1-1。散射光的传 播方向将与主光束的传播方向 形成一个夹角θ。散射理论和
激光粒度仪使用说明书
激光粒度仪使用说明书使用说明书一、产品概述激光粒度仪是一种精密的仪器设备，用于测量物料或液体悬浮液中颗粒的粒径和粒度分布。
本说明书详细介绍了激光粒度仪的组成、操作流程及注意事项，以帮助用户正确使用该产品。
二、产品组成1. 主机：激光粒度仪的核心部分，包含激光发射器、光散射探测器等关键元件，用于发射激光并检测散射光；2. 采样系统：包括进样装置和样品池，用于放置待测样品并实现样品进出；3. 分析软件：通过与主机相连，实时监测、分析和记录测量数据，提供可视化的结果展示。
三、操作流程1. 准备工作在使用激光粒度仪之前，确保工作环境干净整洁，以免影响仪器的测量效果。
同时，放置样品池时需保持平稳，避免产生振动。
2. 连接主机将激光粒度仪的电源线插入电源插座，并将主机与电源线连接。
确保电源稳定，避免因电压波动而影响测量结果。
3. 样品准备选择适当的样品进行测量前，首先需要清洗样品池，以确保样品不受外部污染的影响。
然后，按照样品要求，将合适的样品加入到样品池中。
4. 测量操作a. 打开激光粒度仪的分析软件，并确保与主机的连接稳定。
b. 选择测量模式，根据需要选择适当的粒径范围和测量时间。
c. 将样品池放置在激光粒度仪的适当位置，并确保样品池与激光光束垂直。
d. 点击软件上的“开始测量”按钮，激光粒度仪将开始进行测量，并实时显示测量结果。
e. 等待测量完成后，保存结果并进行数据分析。
四、注意事项1. 安全操作：使用激光粒度仪时，应保证自身安全，避免直接观察激光束，以防眼部受伤。
2. 清洁与保养：定期清洁激光粒度仪的各个部件，尤其是样品池，避免残留物的积累。
3. 校准与验证：定期进行激光粒度仪的校准和验证，确保仪器的测量准确性和稳定性。
4. 数据处理与分析：在进行数据处理和分析时，应注意避免误差的引入，选取合适的算法和统计方法。
五、故障排除1. 不能启动：检查电源连接是否松动或电源是否正常供电。
2. 测量结果异常：可能是样品准备不当或仪器存在故障，需进行相应的处理和检修。
激光粒度仪湿法测定粒径时粉体的分散方法
激光粒度仪湿法测定粒径时粉体的分散方法1.搅拌粉体样品并加入适量的溶剂，使其充分分散。
Mix the powder sample and add an appropriate amount of solvent to ensure full dispersion.2.使用超声波或搅拌器对粉体样品进行处理，以增加其分散性。
Use ultrasonication or a stirrer to treat the powder sample to enhance its dispersibility.3.确保搅拌过程中不产生气泡或振动，以防止分散效果的降低。
Ensure that no bubbles or vibrations are created during the stirring process to prevent the reduction of dispersion effects.4.使用适当的分散剂来增强粉体样品的分散性能。
Use appropriate dispersants to enhance the dispersibility of the powder sample.5.将分散后的样品放置一段时间，使其达到稳定状态。
Allow the dispersed sample to stand for a period of time to reach a stable state.6.避免在分散过程中引入过多的能量，以免影响后续的粒径检测结果。
Avoid introducing too much energy during the dispersion process to avoid affecting the subsequent particle size measurement results.7.在分散后及时进行粒度检测，以确保分散状态的准确性。
Conduct particle size measurements promptly after dispersion to ensure the accuracy of the dispersion state.8.对于难分散的样品，可以考虑采用特殊的分散技术来提高其分散效果。
MS2000激光粒度仪操作及技巧学习
MS2000激光粒度仪操作及技巧学习目的：提高样品检测的准确率及及时率。
提高效率、缩短检测周期控制在3-5分钟/个（不包括混样过程）。
适用范围：干粉及湿料样品，粒径范围在0.02um-2000um之间的颗粒。
一：颗粒的粒径的认识：等效圆球概念：左侧的圆柱体与右侧的球体具有相同的体积最小粒径最大粒径现有粒径分析技术通过测量颗粒的一些参数来表示颗粒特征，等效圆球是一种表述方式粒径大小的意义：D10：11 小于11um的颗粒分布占10%D50: 18 小于18um的颗粒分布占50%，大于18um颗粒分布也占50%D90: 28 小于28um的颗粒分布占90%二：激光衍射粒度仪分析原理：1.以颗粒群的粒度大小为横坐标，颗粒的数量为纵坐标表示颗粒群粒径的分布，以累计分布的形式表示，粒度单位为μm。
也可称为粒度分布；利用激光衍射的光强度分布得到颗粒的粒径分布。
颗粒散射有很强的粒径依赖性，大颗粒为小散射角，小颗粒为大散射角，通过测量散射角的光强得到粒度分布。
2.激光衍射光路装置1.浊度探测器2.被散射光3.直射光4.傅里叶透镜5.未被透镜4收集的散射光6.颗粒7.激光源8.光束处理单元9.透镜4的处理距离 10.多元探测器11.透镜焦距3．M2000测试系统被设计成体积相关，因此测得的粒度分布即为体积分布4：取样应具有代表性粉体在生产过程中处于不同的运动方式（如：运输、堆放及袋装等），其粗细颗粒由于自身颗粒重力的影响容易产生离析现象（如堆放的物料细颗粒容易集中在中部，粗粒容易集中在周围；运输中物料粗粒在容器两侧和表面分布多等），如果采样时不根据其颗粒分布规律，盲目采样所得出的结果肯定是错误的。
从1吨石墨中抽样200克小样，怎样才能真实代表这一吨产品的粒径特征呢？物料中采样一般遵循以下 3 个原则：（1）最好在物料移动中采样（或生产过程中）。
（2）多点采样。
在不同部位和深度采样，每次取样将各点采集的试样混合后作为粗样。
马尔文激光粒度仪2000
影响粒度测量结果的因素分析
•干法
1.颗粒可以很容易的分散而不被打碎
•2.如果想看到团聚状态下的颗粒，如造粒后的粒径
•3.样品可以悬浮在空气流中
影响干法测量因素
1.料斗间隙
2.振动速度
3.分散气压
4.合适的遮光度（避免多重衍射）
小颗粒0.5-3
其他0.5-6
影响粒度测量结果的因素分析
光学参数建立 分散介质的折射率（Dispersant RI) 待测颗粒的折射率(Particle RI) 待测颗粒的吸收率(Particle Abs)
选分散介质中必须稳定，测试过程中不会溶解或者凝聚
影响粒度测量结果的因素分析
首先考虑是否有适当的介质分散样品 1.溶解性：样品在该溶剂中是否可溶，不溶还是微溶 2.反应：样品与介质是否会发生反应？介质是否会腐蚀仪 器？ 3.悬浮性：样品是否可以比较好的悬浮在介质中 4.分散剂的性质 粘度/纯度/折光率/透明度
小颗粒衍射角大
入射光
大颗粒衍射角小
三、激光衍射法
三、激光衍射法
大颗粒的衍射光强对角度有比较强的依赖性，但随着粒 径的减小，其衍射光对角度的依赖性明显降低，而几百 纳米以下的颗粒的衍射光几乎分布在所有的角度！
三、激光衍射法
三、激光衍射法
• 激光衍射法测得的是颗粒在一定范围内的 衍射光的强度，怎么得到颗粒粒径的具体 分布呢？
一、粒度的基本概念
如果给您一把尺子和一个如上图的长方体,让 您描述以上样品的粒度？ 对于这样的颗粒很难用一个值来表征它的尺寸
一、粒度的基本概念
• 通常我们所得到的粒径常常会引起困惑， 这往往是因为颗粒形状的多样性以及使用 不同的测试方法
1.Feret 直径 - 平行切面之间的距离. 2. Martin 直径 - 等分线直径最长直径 3. 最短直径 4. 等效周长直径 - 同等周长的圆圈直径 5. 等效投影面积直径 - 与投影面积相同的圆直径 6. 等效表面积直径 7. 等效体积直径
Horiba LA950 激光粒度仪 (中文操作手册)
一类激光产品标志
一级激光产品标志
安全预防和使用
请遵守下列细则以确保使用 LA-950 进行安全和准确的测量。操作地点必须满足第一部 分“安装条件”中规定的要求。 不可摇晃或撞击 LA-950。 确保使用专用的电源线（三相插头）让 LA-950 接地。 LA-950 使用精密的光学部件，激光发射源，高压电源和发动机。所以，必须小心 搬动设备。 开启电源后，LA-950 需要预热约 60 分钟，激光才变得稳定。 不要移动 LA-950 内的任何部件或修改设备。 LA-950 专门使用水作为分散介质。不可使用除水之外的任何其它分散液。 如果必须使用挥发性的分散剂： LA-950 内的分散和管道部件将会损坏。 发动机和其它部件产生的火花可能点燃挥发性的分散剂，LA-950 不提供防爆 装置。
概述11产品概述12la950系统设计13la950描述及功能131外观132样品池开始操作11确认操作条件12检查电线及水管连接13流动池检查项目基本操作31操作流程32开启及关闭系统321系统开启322系统关闭条件设置31系统条件设置32测量条件设定33计算条件设置34样品信息测量41使用流动池511测量512样品准备52使用微量池521测量522安装流动池座测量结果51测量数据52计算结果数据有用的测量技术81测量样品流程811使用粉末或液体812固体中的颗粒82样品分散方法821分散方法822分散剂的类型及作用维护91日常维护92故障检查10211022系统状态检查10其它101仪器技术指标102外观103104附件105供应条目106部件寿命107选项1071化学稳定性108测量原理109相对折射率表1091无机1092分散介质概述11产品概述la950是用于测量粒子尺寸分布的设备la950采用usb线与计算机通讯计算机控制测量及输出数据的整个过程粒子分布测量是可用于基础研究和很多领域的生产过程中的质量控制比如精细陶瓷水泥药物金属粉末矿石炸药固体燃料食品卫生用品和护肤品胶囊聚合体涂料和粘合剂色素和染料黑烟末和其它矿石添加剂橡胶中的填料塑料和造纸等工业
棒状和片状颗粒在激光粒度仪中的等效粒径
标题：激光粒度仪中棒状和片状颗粒的等效粒径探讨在激光粒度仪中，我们经常会碰到棒状和片状颗粒，它们的形状和结构会对激光粒度仪的测试结果产生一定影响。
本文将就棒状和片状颗粒在激光粒度仪中的等效粒径进行深入探讨，并结合个人观点和理解，希望能为读者提供一些有价值的信息和思路。
一、棒状和片状颗粒的特点棒状颗粒通常呈长条状，其长度远远大于直径，而片状颗粒则表现为平板状或薄片状。
这些非球形颗粒的几何形状与球形颗粒有很大不同，因此在激光粒度仪中的测试中会有一些独特的表现。
1. 棒状颗粒在激光粒度仪中，棒状颗粒的等效粒径会因为其长度和直径的比例不同而产生偏差。
由于激光粒度仪是基于光学原理进行测试的，对颗粒的形状和内部结构非常敏感，因此棒状颗粒的测试结果可能会偏小。
这也是由于棒状颗粒的实际表面积远远大于其等效球形颗粒表面积的原因。
2. 片状颗粒与棒状颗粒类似，片状颗粒在激光粒度仪中的测试结果也会受到形状的影响。
由于片状颗粒的薄片状结构，激光在测试中可能无法完全穿透颗粒，导致测试结果偏大。
在进行激光粒度仪测试时，需要对片状颗粒进行特殊的处理和分析，以获得准确的等效粒径数据。
二、激光粒度仪中棒状和片状颗粒的等效粒径计算针对棒状和片状颗粒，激光粒度仪通常会采用一些修正公式和算法来计算其等效粒径。
这些修正算法会考虑到颗粒的形状、长度、宽度等因素，以得出较为准确的等效粒径数据。
1. 棒状颗粒的等效粒径计算针对棒状颗粒，激光粒度仪通常会采用修正公式来计算其等效粒径。
这些修正公式会考虑棒状颗粒的长度、宽度等因素，以得出较为准确的等效粒径数据。
一些常用的修正算法包括拟合椭圆法、比表面积法等。
2. 片状颗粒的等效粒径计算对于片状颗粒，激光粒度仪也需要采用修正公式来计算其等效粒径。
由于片状颗粒在测试中可能会产生遮挡效应，因此需要采用一些特殊的算法和处理方法，以得出准确的等效粒径数据。
三、个人观点和理解在激光粒度仪测试过程中，棒状和片状颗粒的形状和结构确实会对测试结果产生一定影响。
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激光粒度仪分析方法激光粒度仪常见问题解
决方法
一．型号：BN—01S二．量程：0.1—200um三.型号量程及性能特点：1. 激光粒度仪工作原理：米氏光散射理论 2. 激光粒度仪光源：He—Ne气体激光光源，波长0.6328um
一．型号：BN—01S
二．量程：0.1—200um
三.型号量程及性能特点：
1. 激光粒度仪工作原理：米氏光散射理论
2. 激光粒度仪光源：He—Ne气体激光光源，波长0.6328um,使用寿命大于10000小时。
3.激光粒度仪通道数：40路（单量程）
4.激光粒度仪测试速度：小于2分钟/次（单次测试总时间）
—专业分析仪器服务平台,试验室仪器设备交易网,仪器行业专业网络宣扬媒体。
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钕铁硼颗粒带有较强的磁性，极易团聚，因此不能用湿法测试。
而干法是通过高速气流瞬间分散，可以克服磁性引起的团聚，因此干法激光粒度仪成为测量钕铁硼的粒度分布的典型方法。
但是由于钕铁硼粉在空气中具有自燃性，就是暴露在空气中的钕铁硼粉在环境温度稍高时就会自燃，因此常常会烧毁吸尘器管路和滤网，使粒度测试无法正常进行，并且简单带来不安全。
实行的防备措施一是不用压缩空气作为气源，而用氮气等惰性气体作气源；二是要将吸尘器管更换成表面光滑的聚乙烯管，使颗粒不在管路中沉积；三是要选用水过滤的吸尘器收集样品而不能选用袋式过滤吸尘器收集样品。
所谓激光粒度仪是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布（散射谱）来分析颗粒大小的仪器。
依据激光散射原理，颗粒大小不同，散射光能量随散射角度的分布也不同，此种分布称为散射谱。
激光粒度仪就是通过检测颗粒群的散射谱反演颗粒大小及其分布的。
1、为什麽散射/衍射激光粒度仪必需接受激光作光源？
激光粒度仪是通过检测颗粒的散射谱来分析颗粒大小与分布的，因此能否获得清楚的散射谱至关紧要，激光是一种准直性，单色性良好的光源，只有接受激光才能在散射/衍射粒度仪器中得到清楚的散射谱分布。
用多种波长混合的光源不可能获得清楚的散射谱，只能获得多种散射谱的叠加，因此不能用于粒度仪。
在多种激光器中半导体激光与气体激光相比，气体光源波长短，线宽窄，单色性好，稳定性远优于半导体光源。
因此微纳与大多数专业公司选用了气体激光器作为测量光源。
2、激光粒度仪与其他方法相比有什么优势？
激光粒度仪的光路实际是一个二维傅立叶变换器，因此具有傅立叶变换的很多特点：
1、全部颗粒的散射信息是以光速并行传输到达光电探测器的，因此速度快无与伦比；
2、探测器可以做的特别窄大约几个微米，因此辨别率特别高；
3、测试过程颗粒散射不会受到人为因素的干扰，因此测试重复性超群；
4、依据傅立叶变换的平移不变性，颗粒在样品池中的运动速度不会影响频谱分布，因此适用于动态颗粒的测试，这是其他粒度测试方法所无法比拟的，这成为了颗粒在线测试理论依据。
3、激光粒度仪测量下限是多少？
激光粒度仪测量粒度的原理是MIE散射理论。
MIE散射理论用数学语言精准明确描述了折射率为n、吸取率为m的特定物质的，粒径为d球型颗粒，在波长为λ单色光照射下，散射光强度随散射角θ变化的空间分布函数，此函数也称为散射谱。
依据MIE散射理论可以看出颗粒越大，前向散射越强而后向散射越弱；随着颗粒粒径的减小，前向散射快速减弱而后向散射渐渐加强。
激光粒度仪正是通过设置在不同散射角度的光电探测器阵列，测试颗粒的散射谱，由此确定颗粒粒径的大小。
这种散射谱对于特定颗粒在空间具有稳定分布的特征，因此称此种原理的仪器为静态激光粒度仪。
但是当颗粒粒径小到确定的程度dm，与另一种更小颗粒dm—δ相比，假如二种颗粒的散射谱特别相像，以至不能被光电探测器阵列所辨别，就认为达到了激光粒度仪的测量极限，此粒径dm就是激光粒度仪的测量下限。
此极限还与激光波长有关，讨论表明红光635nm波长的激光测量极限为50纳米，而蓝光405nm波长的激光测量理论极限为20nm。
理论上，静态激光粒度仪欲辨别纳米级的颗粒至少需要二个条件：
1、具有测量后向散射的光电探测器阵列，
2、需要用波长更短的激光器。
在可见光的范围内，20nm是静态激光粒度仪的理论测量下限。