电子显微镜使用说明书
GAOSUO Digital Microscope
User Manual
（中文）
首先非常感謝貴司（您）購買了GAOSUO數碼顯微鏡數碼顯微鏡應用範圍非常廣泛
主要有以下方面.
1工業方面：
a 、工業檢視，例如電路板、精密機械等
b 、印刷檢視，SMT焊接檢查
c 、紡織檢視
d、IC表面檢查
2美容方面
A、皮膚檢視
B、發根檢視
C、紅外理療（特定產品）
3生物應用
A、微生物觀察
B、動物切片觀察
4其他
A、擴視器，協助視障人士閱讀
B、寶石鑒定
GAOSUO數碼顯微鏡使用簡單，只需要同電腦USB介面連接就可以使用，
本產品還配備測量軟體，可做簡單的量測，非常的方便。為了更詳細的介紹本產品，敬請耐心的閱讀產下面的產品介紹，使用方法，注意事項。
規格：
傳感器：高性能感光晶片
主控晶片：專用主控16Bit DSP
放大倍率：200X.300X .600X. 500X.800X (各款機型)
拍照/錄影：內置
輔助光源：8顆白光LED燈
靜態解析度：640x480 最高可達1600x1200(可按需定制)
數碼變焦：多段式
成像距離：手動調節0~無限遠
影像解析度：標準640*480
固定底座：萬向金屬底座(可選配用升降支架)
光盤：內含驅動，測量軟體，說明書
支援系統：WIN XP/VISTA；WIN 7 32位和64位
電源：USB（5V DC)
電腦介面：USB 2.0 & USB 1.1 相容
動態幀數: 30f/s Under 600 LUX Brightness
照度範圍：0 ~ 30000LUX線控可調
硬體需求：奔騰主頻700M Hz或以上；1G硬碟CD ROM 光碟
機；
64MB 記憶體
支援語言：中文（簡）中文（繁體）英(其他語言需要定制)
產品顏色：磨砂黑色，其他顏色可定制
主體尺寸112 mm ( 長) 33 mm ( 外徑)
單機包裝重量380g
安全警告及注意事項
1. 勿自行拆解本產品，以避免靜電擊穿精密晶片。
2. 勿用酒精等有機溶劑清潔產品。
3. 勿用手指觸摸鏡頭，以免表面造成刮痕和贓汙。
4. 戶外使用時應避免高溫和高濕環境中，防電子器件短路。
本產品不具有防水功能，請應避免淋雨和進水。
5. 本產品的使用和存儲溫適度範圍：0°C ~ 40°C，相對濕度：45%RH ~85%RH
6. 若不慎使異物或水份/液體進入數產品內部，請先拔除USB 線。並送至維修中心檢修，切勿自行處理。
7 設備測量精度僅供參照，由測量誤差引起的糾紛與本產品無關。
配件說明
1. 數碼顯微鏡主體（1台）
2. USB 連接線(1.5m)
3. 萬向底座（1個）
4. 光碟(驅動程式，測量軟體，安裝說明書)
支援系統：Windows 2000、XP、VISTA、WIN 7。
硬體要求：
奔騰IV 1.5GCeleron
AMD 或以上的CPU。
64MB 記憶體。150MB 以上之硬碟空間(安裝驅動程式及應用軟體) 支援16-bit的顯示卡，
CD-ROM 光機，
USB2.0或USB1.1
安裝說明
GAOSUO數碼顯微鏡為無驅動產品，如果不需要一些特殊操作的話，在windows2000以上版本可直接運行。
1直接將本產品同過USB線連接到電腦上，然後點擊
2雙擊紅色標示內的設備圖示就可以正常使用。
驅動及測量軟體的安裝
請放入本產品附送的光碟，
1驅動安裝（安裝測量軟體需您的電腦作業系統NET檔為2.0以上）安裝過程中出現警告資訊，請直接點選“仍然繼續”即可。
打開光碟：
2 點擊紅色與綠色框內的安裝圖示, 然後點NEXT 直到完成
3 程式安裝成功後，點擊桌面圖示
4 按照提示，連接好設備，程式自動運行到主介面。
5 點擊
選擇視頻解析度，視頻解析度範圍320*240 ~1600*1200，解析度預設值為640*480.
6 點擊
採集圖片，可執行資料量測功能。由於動態影像不是很穩定，本
軟體將採用靜態模式下進行量測，測量精度會相應的提高
7 點擊可以打開之前存儲的圖片；點擊可以保存圖片到電腦指定文檔
8視頻暫停和終止點擊點擊為視頻設置
9圖像放大點擊圖示點擊圖示顯示如下帶尺規線介面
10點擊圖示進入測量精度校正功能
11為了提高測量精度，每次使用顯微鏡測量軟體前，倍率改變，校正也要改變，測量精度就可以達到99%。當然校正後的校正值可以保存，下次如有同樣倍率也可以使用，測量誤差相對較高。精度校正時，建議對同一個實際值進行多次測量取平均值的方式進行。另外本產品還配備專用校正尺，請不要使用其他尺規校正，以免影像測量精度。
輸入測量值，和相應的單位
校正就完成了，在這個倍率下就可以做量測了。注意：
放大倍率改變，必須重新校正。
標注方式和顏色選擇
測量的結果可以以Word，Excel，或郵件格式輸出。下面是一個測量結果Word的輸出範例
從左到右：
直線測量，圓測量。矩形測量，多邊形測量，折線測量，橢圓測量圓弧測量，點對點測量，點到線測量，平行線測量，角度測量。如下圖：
範例1：平行線測量
範例2：矩形測量
範例3，圓測量
S4800扫描电镜操作说明书
冷场发射扫描电子显微镜S4800操作说明（普通用户） 燕山大学材料学院材料管A104（场发射，钨灯丝） 编写人：李月晴吕益飞 普通用户在熟练操作1个月后，如无不良记录，可申请高级用户培训。 高倍调清晰：局部放大(Red) →聚焦Focus→消像散 一、日常开机 1，开启冷却循环水电源。 2，按下Display开关至，PC自动开机进入用户界面并自动运行PC_SEM程序，以空口令登入。 3，打开信号采集开关，位置打到1，为打开。 4，打开电源插排的开关。 5，打开装有EDS软件的主机电源。 6，记录仪器运行参数(右下角Mainte)，即钨灯丝真空度。如：IP1：0.0×10-8Pa；IP2：0.0×10-8Pa； IP3：9.6×10-7Pa。PeG-1，<1×10-3；PeG-2，<1×10+2。 注意：PeG≤1×10-3Pa时才能加高压测量。记录的参数：①点Flashing时会显示：In2(Ie)Flashing时电流最大值，如32.9μA；②加上高压后会显示，V ext=3.4kV。 二、轰击（点flashing，即在阴极加额外电压） 目的：高温去除针尖表面吸附的气体 1，最好在每天开始观察样品前一时做flashing； 2，选择flashing intensity为2 ； 3，若flashing运行时Ie小于20μA，则反复执行直至Ie值超过20μA且不再增加。 4，若flashing后超过8个小时仍继续使用，重新执行flshing 。 三、加液氮 容积不要超过1L，能维持4~6h。 四、样品制备及装入 样品制备简单，对样品要求较低，只要能放进样品室，都可进行观察。 1，化学上和物理上稳定的干燥固体，表面清洁，在真空中及在电子束轰击下不挥发或变形，无放射性和腐蚀性。 2，样品必须导电，非导电样品，可在表面喷镀金膜。 3，带有磁性的样品，由于物镜有强磁性，制样必须非常小心，防止在强磁场中样品被吸入
电子显微镜使用说明书
GAOSUO Digital Microscope User Manual （中文） 首先非常感謝貴司（您）購買了GAOSUOX數碼顯微鏡數碼顯微鏡應用範圍非常廣泛 主要有以下方面. 1工業方面： a 、工業檢視，例如電路板、精密機械等 b 、印刷檢視，SMT焊接檢查 c 、紡織檢視 d、IC表面檢查
2美容方面 A、皮膚檢視 B、發根檢視 C、紅外理療（特定產品） 3生物應用 A、微生物觀察 B、動物切片觀察 4其他 A、擴視器，協助視障人士閱讀 B、寶石鑒定 GAOSUO數碼顯微鏡使用簡單，只需要同電腦USB介面連接就可以使用，本產品還配備測量軟體，可做簡單的量測，非常的方便。為了更詳細的介紹本產品，敬請耐心的閱讀產下面的產品介紹，使用方法，注意事項。 規格： 傳感器：高性能感光晶片 主控晶片：專用主控16Bit DSP 放大倍率：1X ~ 500X 拍照/錄影：內置 輔助光源：8顆白光LED燈 靜態解析度：640x480 最高可達1600x1200(可按需定制) 數碼變焦：多段式 成像距離：手動調節0~無限遠
影像解析度：標準640*480 固定底座：萬向金屬底座(可選配用升降支架) 光盤：內含驅動，測量軟體，說明書 支援系統：WIN XP/VISTA；WIN 7 32位和64位 電源：USB（5V DC) 電腦介面：USB 2.0 & USB 1.1 相容 動態幀數: 30f/s Under 600 LUX Brightness 照度範圍：0 ~ 30000LUX線控可調 硬體需求：奔騰主頻700M Hz或以上；1G硬碟CD ROM 光碟機； 64MB 記憶體 支援語言：中文（簡）中文（繁體）英(其他語言需要定制) 產品顏色：磨砂黑色，其他顏色可定制 主體尺寸112 mm ( 長) 33 mm ( 外徑) 單機包裝重量380g 安全警告及注意事項 1. 勿自行拆解本產品，以避免靜電擊穿精密晶片。 2. 勿用酒精等有機溶劑清潔產品。 3. 勿用手指觸摸鏡頭，以免表面造成刮痕和贓汙。 4. 戶外使用時應避免高溫和高濕環境中，防電子器件短路。 本產品不具有防水功能，請應避免淋雨和進水。 5. 本產品的使用和存儲溫適度範圍：0°C ~ 40°C，相對濕度：45%RH ~85%RH
讲义-高分辨电镜20130812
第六部分高分辨电镜的成像原理 及在材料科学中应用 6.1 高分辨电镜图像的类型 通过高分辨电镜得到的图像通常称为晶格像，这些图像中可以带给研究者的信息大不相同，主要是由于成像条件不同，以及样品厚度不同。了解这些影响因素才有利于研究者控制成像条件，获取研究所需要的有用信息。高分辨电镜图像可分为：晶格条纹；一维结构图像；二维晶格条纹；二维结构图像。 1)晶格条纹（lattice fringes） 晶格条纹像的成像条件没有严格限制，只要有两列电子波干涉成像即可，不要求对准晶带轴，在很宽的离焦条件和不同样品厚度下都可以观察到，所以很容易获得。在实际观测到的纳米颗粒（图6-1a）、微小第二相析出大都是晶格条纹像。这种图像只能用于观察对象的尺寸、形态，区分非晶态和结晶区，不能得出样品晶体结构相关的信息，不可模拟计算。尽管如此，当与材料制备加工的条件相结合，仍然可以有助研究分析。 2)一维结构图像(one-dimension structure images) 一维结构图像与晶格条纹像不同之处在于，成像时转动样品得到对应观察区域的一维衍射斑（图6-2），因此可以结合衍射斑和晶体结构模型来对观察区域的一维结构进行分析。在研究层错一位结构图像很有用。 图6-1a 纳米金颗粒的晶格条纹像
图6-2 一维结构图像 3)二维晶格像（two-dimensional lattice image） 大部分文献中出现的都是二维晶格像，此时晶体的某一晶带轴平行于入射电子束，因此相应的衍射花样对应晶胞的衍射谱。在不同的欠焦量下和样品厚度均可以获得二维晶格像，这是其大量出现的原因，也被广泛用于材料科学的研究中，用于获得位错、晶界、相界、析出、结晶等信息。要注意的是二维晶格像的花样是随着欠焦量、样品厚度以及光阑尺寸改变的，不能简单指定原子的位置。在不确定的成像条件下不能得到晶体的结构信息，可以计算模拟辅助分析。 4)二维结构图像(two-dimension structure images) 二维结构图像是严格控制条件下的二维晶格像，首先样品要很薄（小于10 nm），避免多次散射的不利影响；其次要使晶体的晶带轴严格平行于入射电子束；成像时欠焦量是控制（已知）的，通常最佳欠焦条件(Scherzer focus)下的图像衬度最大。尽管如此，晶体结构和原子位置并不能简单从图像上“看到”，欠焦量和样品厚度依然控制着晶格相的亮暗分布。 需要采用计算机辅助的图像模拟分析技术，才可能确定晶体结构以及原子位置。
(精品)JEM2100透射电镜简易操作说明
JEM-2100 操作说明 一、合轴操作 1．照明系统合轴 （1）.找亮：当打开灯丝，并且灯丝电流发射之后，应该在荧光屏上找到电子束，若打开灯丝后没有发现电子束，请进行以下操作：将放大倍数降低到10K左右，移动轨迹球，撤除所有光阑，基本上以上操作可以解决大多数没亮的情况 若仍然找不到亮，则需调整GUN TILT进行找亮 当然，也可以在用户模式下直接对GUN进行清零操作NTRL！正常情况下就能找到电子束了。
(2)灯丝像调节:放大倍数为X40K，将光斑用beam shift移动到屏幕中心，慢慢降 低灯丝电流，并且用BRIGHTNESS旋钮将光斑聚到最小，随着灯丝电流下降，可以观察到灯丝像出现。 如图所示标准的六硼化阑灯丝像是均匀对称的四瓣花型的，若发现花瓣不对称，说明灯丝偏了，需要用GUN TILT调节到对称即可。调节完毕后将灯丝电流升高到正常数值，即稍能看到一点灯丝像阴影。 （3）1、5合轴：将束斑调到SPOTSIZE 5，用beam shift 将束斑移动至屏幕中间，切换至SPOTSIZE 1 ，用gun shift将偏移的束斑移动至屏幕中间，重复此过程直到当切换SPOTSIZE1到5时束斑基本上不发生偏移即可。 （4）聚光镜消象散：观察各个束斑形状，如果发现束斑形状椭圆，则用CONDSTIG 键将束斑调圆即可。 （5）加聚光镜光阑：聚光镜光阑红点位置表示退出，其余的点的大小表示当前所加入的光阑孔大小，顺时针加入光阑至合适的孔径，一般用1号或2号光阑孔，加完后用beam shift 将光斑移动至屏幕中心，这时顺时针转动BRIGHTNESS将光斑放大到与屏幕同大，若光阑没有加正，则光斑不是均匀覆盖屏幕，即光斑补随BRIGHTNESS同心放大，此时调节光阑前端和右侧的两个旋钮使光斑圆心与屏幕同心即可。
JSM-6700F扫描式电子显微镜使用指导书
目錄 1.目的 (2) 2.範圍 (2) 3.權責 (2) 4.參考資料 (2) 5.儀器介紹 (2) 6.操作程序 (4) 7.注意事項 (8) .
1.目的 本文旨於介紹JSM-6700F掃描式電子顯微鏡之工作原理及操作方法等基本資料，以維顯微鏡之工作品質及人員與設備之安全。 2.範圍 HR-FESEM室JSM-6700F掃描式電子顯微鏡之操作。 3.權責 3.1本工作指導書由技術人員會同儀器負責教授訂定。修訂方式亦同。 3.2本工作指導書供相關操作人員參考。 4.參考資料 捷東JSM-6700F掃描式電子顯微鏡操作說明書。 5.儀器介紹
5.1 External view of JSM-6700F 5.2 General view of column
6.操作程序 6.1 開啟SEM OPE switch 6.2 打開SEM電腦主機&螢幕 6.3 點選操作軟體視窗-- JEOL PC-SEM 6700(桌面) 6.4 確認SEM操作前步驟OK，檢視以下數值： a.氮氣鋼瓶內壓1小格以上，操作壓力≥5Kg b.確認EDS及BEI detector已伸出chamber外 c.確認tilt位置在0 d.確認STAGE上WD在8mm及螢幕上WD在8mm e.確認STAGE歸至原位X=35.00、Y=25.00、R=0.00 (Soft:stage/exchange—選擇holder --exchange) f.確認放大倍率縮至最小(250倍) g.確認加速電壓是否在10KV h.確認ROTATION 與BEAM SHIFT是否已歸位 i.確認Probe Current是否在7 j.確認EXCHANGE CHAMBER抽真空 k.確認 l.close (橘色燈亮) 6.5 將樣品置入試片載台 a.試片大小需符合JEOL specimen holders，將試片處理完後放置於樣品 holder上，試片高度不可超過樣品holder上方0.5公分，並確認試片已固
透射电子显微镜实验讲义
一、实验名称 透射电子显微镜用于无机纳米材料的检测。 二、实验目的 1.认知透射电子显微镜的基本原理，了解有关仪器的主要结构； 2.学习利用此项电子显微技术观察、分析物质结构的方法，主要包括：常规成 像、高分辨成像、电子衍射和能谱分析等； 3.重点帮助学生掌握纳米材料等的微观形貌和结构测试结果的判读，主要包括： 材料的尺寸、大小均匀性、分散性、几何形状，以及材料的晶体结构和生长取向等。 三、实验原理 透射电子显微技术自20世纪30年代诞生以来，经过数十年的发展，现已成为材料、化学化工、物理、生物等领域科学研究中物质微观结构观察、测试十分重要的手段，尤其是近20多年来，纳米材料研究的快速发展又赋予这一电子显微技术以极大的生命力，可以这样说，没有透射电子显微镜，就无法开展纳米材料的研究。 透射电子显微镜在成像原理上与光学显微镜是类似的，所不同的是光学显微镜以可见光做光源，而透射电子显微镜则以高速运动的电子束为“光源”。在光学显微镜中，将可见光聚焦成像的是玻璃透镜；在电子显微镜中，相应的电子聚焦功能是电磁透镜，它利用了带电粒子与磁场间的相互作用。 在真空系统中，由电子枪发射出的电子经加速后，通过磁透镜照射在样品上。透过样品的电子被电子透镜放大成像。成像原理是复杂的，可发生透射、散射、吸收、干涉和衍射等多种效应，使得在相平面形成衬度（即明暗对比），从而显示出透射、衍射、高分辨等图像。对于非晶样品而言，形成的是质厚忖度像，当入射电子透过此类样品时，成像效果与样品的厚度或密度有关，即电子碰到的原子数量越多，或样品的原子序数越大，均可使入射电子与原子核产生较强的排斥作用——电子散射，使面通过物镜光阑参与成像的电子强度降低，忖度像变淡。另外，对于晶体样品而言，由于入射电子波长极短，与物质作用满足布拉格
电子显微镜入门手册(FEI)
nano e hnolo y nanotechnology note l
技术
EM 200
ISBN 978-0-578-06276-1
目录
本手册是电子显微镜和离子束显微镜的 启蒙读本，旨在引领学生和其他对此感 兴趣者进一步了解此迷人科学探索领域 背后的历史、技术和仪器。其目的在于 概要介绍电子显微镜和离子束显微镜的 工作方式，显微镜能够产生何种结果， 以及研究人员和科学家如何使用其数据 解决当前时代的一些最大挑战。 本手册中有不少令人惊叹的纳米级图 像，它们大多经过着色处理，这样便可 取得理想的视觉和艺术效果。 应用领域 ...................................................32 词汇表........................................................34 底层大有可为 (There’s Plenty of Room at the Bottom) ............................................. 2 介绍 .............................................................. 3 透射电子显微镜 .......................................9 扫描电子显微镜 .....................................20 扫描透射电子显微镜 ............................26 聚焦离子束系统和 DualBeam? 系统 ......................................28
常规电镜操作流程
常规电镜操作流程 以Spirit 120为例 1.电镜的日常维护 1.1如何加液氮 每天第一位使用的电镜的用户首先要检查电镜各项真空值是否正常，若正常可给电镜冷阱加注满液氮再观察使用。保持冷阱液氮液位的目的有二：（1）防止样品污染，（2）维持样品室真空度正常。 具体操作方法如下：将冷阱竖放置桌面上，向冷阱中倒入半罐液氮，待液氮表面平稳后，再将冷阱转移至电镜铜导线位置处，缓慢将铜导线放到冷阱中后放稳冷阱。完成以上步骤后再将冷阱中加满液氮，盖好盖子，冷却15分钟后再开始使用电镜。 1.2如何升/降高压 每日首位（最后一位）使用电镜的用户，需要给电镜升（降）高压，具体操作步骤如下： （1）升高压（Sprit 120电镜为例） 在Workset_Setup界面中找到High Tension以及Filament两项。下拉菜单选中40 kV后，再点亮High Tension按钮（颜色由灰色变为黄色），观察Filament中Emission电流变化情况，待电流值基本不变后，点击High Tension下拉菜单旁边向右按钮，高压值由40 kV 增至60 kV，再次观察Filament中Emission电流变化情况，待电流值基本不变后，再点击High Tension下拉菜单旁边向右按钮增加高
压值，如此几次直至高压升至100 kV。 高压升至100 kV后，勾上High Tension界面最下端的Free high tension一项，更改升高压的步长为3 kV后，点击这一栏中向右按钮将高压升至103 kV，观察Filament中Emission电流变化情况，待电流值基本不变后，再点向右按钮将高压升至106 kV，如此几次直至高压升至115 kV。 高压升至115 kV后，再将每次加高压步长缩小至1 kV，点击向右按钮缓慢将高压升至120 kV。注意：每改变一次高压值均要等电流稳定后再继续升高压。电压升至120 kV后勾掉Free high tension这项。 （2）降高压（Sprit 120电镜为例） 在Workset_Setup界面中找到High Tension以及Filament两项。点击下拉菜单旁边向左按钮，将电镜高压由120 kV降至100 kV，观察Filament中Emission电流变化情况，待电流值基本不变后，再点击下拉菜单旁边向左按钮继续降电镜高压。高压降至20 kV后，点High Tension按钮（由黄色变为灰色），关闭电镜高压。 1.3如何做Cryo-cycle 每天最后一位使用完电镜的用户，需要给电镜做Cryo-cycle，主要目的是维持电镜良好的真空状态。 Cryo-cycle的具体操作步骤如下：（1）首先要检查物镜光阑是否退出、样品台是否归零、放大倍数是否降至是几十倍、光斑是否扩至最大。（2）保证以上步骤完成后，先关column，再关灯丝电流，再逐级降高压至20KV后再关掉High tension。（3）扶稳冷阱，缓慢将冷阱从电镜上转移至桌面，注意不要碰到铜导线。将多余的液氮倒回保温瓶中备用，冷阱放回制定位置平放保存。（4）点击Cryo-cycle，待出现倒计时且进行1分钟后再刷卡下机。
JEM-1400电镜中文使用手册
JEOL 1400 TEM User Guide Prior to getting started 1.Turn on Monitors 1 and 2 2.Login to EMU server at Monitor 2 3.At Monitor 1, open the “TEM Centre” software 4.Make sure that “HT On” & “Beam Ready” are displayed in the HT/Beam condition window 5.Open Beam Controller window from Control menu ?Beam (dark) current should indicate: ?~44uA for 80kV ?~55uA for 100kV ?~65uA for 120kV 6.If HT is off, no beam current is displayed or you want to work at a higher or lower kV than that indicated, please seek help from Jenny, Sigrid or Katie
Loading a specimen 1.Remove the specimen holder from the microscope: ?Pull out in a straight line until it stops ?Turn anti-clockwise until it stops ?Pull out again for a short distance ?Turn anti-clockwise until it stops ?Pull out toggle switch and flip to AIR ?Wait 10 sec then remove holder from the microscope 2.Remove the specimen cartridge from the specimen holder ?Hold specimen cartridge with blunt forceps ?Insert levering rod into hole on specimen cartridge fastening jaw ?Raise the jaw by gently tilting the levering tool backward 3.Insert grid into specimen cartridge ?Use levering rod to hold back end of specimen cartridge down ?Use blunt forceps to lever up the brass specimen retainer ?Place a grid specimen side up into the retainer ?Again use the levering rod to hold the specimen cartridge down ?Use blunt forceps to clip the brass specimen retainer closed ?The brass specimen retainer should lie completely flat when closed
电子显微镜技术
显微分析技术 摘要：透射电子显微镜、扫描电子显微镜以及扫描探针显微镜已经成为了分析纳米材料的重要手段之一。本文简要的介绍了透射电子显微镜、扫描电子显微镜以及扫描探针显微镜的发展以及应用。 引言 纳米科技是在20世纪80年代后才逐渐发展起来的前沿性、交叉性的新型科学领域，纳米材料的性能与其微观结构有着重要的关系，因此，纳米材料微观结构的表征对于认识纳米材料，推动纳米材料的应用有着深远的意义。 自16世纪出现了光学显微镜以后，把正常人眼睛仅能分辨约0.2mm 细节的能力，延伸到可以看细菌和微生物。20世纪30年代，科学家利用电子源制造出了扫描电子显微镜，其分辨率远远超出了光学显微镜。1932年M.Knoll和E.Ruska 研制出了第一台透射电子显微镜实验装置(TEM)，1938年,V on.Ardence将扫描线圈加到透射电子显微镜上（TEM），制成了第一台扫描透射电子显微镜（STEM），放大倍数8000X，分辨率在500～1000 ?之间直到1952年，C.W.Qatley 和McMullan 在剑桥（Cambridge ）制成了第一台现代的SEM，分辨率达到500?，很大程度的提高了人类认识微观世界的能力。但是，后来人们发现，当显微镜的放大率提高到1000-1500倍时，受光的衍射效应影响，图像将变得不再清晰。1982年国际商业机器公司苏黎世实验室的葛·宾尼(Gerd Binnig)博士和海·洛雷尔(Heimich Rohrer)博士及其同事们共同研制成功了世界第一台新型的表面分析仪器——扫描隧道显微镜（简称STM）。它的出现使人类第一次能够实时的观察单个原子在物质表面的排列状态和表面电子行为有关的物理、化学性质，为科学家提供了一种前所未有的直接观察单原子、单分子的手段，从而从根本上改变了人类对微观（纳米）世界的认识水平。STM的探针是由针尖与样品之间的隧道电流的变化决定的，因此要求样品表面能够导电，从而使得STM只能直接观察导体和半导体的表面结构对于非导电的物质则要求样品覆盖一层导电薄膜，但导电薄膜的粒度和均匀性难以保证，且导电薄膜掩盖了物质表面的细节为了克服
各种显微镜的讲义.doc
几种特殊的光学显微镜 （一）暗视野显微镜 暗视野显微镜不具备观察物体内部的细微结构的功能，但可以分辨 0.004μm 以上的微粒的存在和运动。因而常用于观察活细胞的结构和细胞内微粒的运动等。暗视野显微镜的基本原理是丁达尔效应。 暗视野显微镜的基本使用方法如下： 1．安装暗视野聚光器（或用厚实的黑纸片制成遮光板，放在普通显微镜的聚光器下方，也能得到暗视野效果）。 2．选用强光源，一般用显微镜灯照明，以防止直射光线进入物镜。 3．在聚光器和玻片之间加一滴香柏油，避免照明光线于聚光镜上进行全反射，达不到被检物体，而得不到暗视野照明。 4．进行中心调节，即水平移动聚光器，使聚光器的光轴与显微镜的光轴严格位于一直线上。升降聚光器，将聚光镜的焦点（图2 中圆锥光束的顶点）对准待检物。 5．选用与聚光器相应的物镜，调节焦距，按普通显微镜的方法操作。 （二）体视显微镜
体视显微镜又称实体显微镜或解剖镜，其成像为正立三维的空间影像，并具有立体感强、成像清晰宽阔、长工作距离（通常为110 mm）以及连续放大观看等特点。生物学上常用于解剖过程中的实时观察（附图13）。 普通光学显微镜的光源为平行光，因而形成的是二维平面影像；而体视显微镜采用双通道光路，双目镜筒中的左右两光束具有一定的夹角体视角（一般为 12o15o），因而能形成三维空间的立体图像。体视显微镜与普通光学显微镜的使用方法相近，但更为便捷。二者的主要区别在于： 1.体视显微镜的镜检对象可不必制作成装片。 2.体视显微镜载物台直接固定在镜座上，并配有黑白双面板或玻璃板，操作者可根据镜检的对象和要求加以选择。 3. 体视显微镜的成像是正立的，便于解剖操作。 4. 体视显微镜的物镜仅一只，其放大倍数可通过旋转调节螺旋连续调节。 （三）荧光显微镜 荧光显微镜是利用细胞内物质发射的荧光强度对其进行定性和定量研究的一种光学工具。细胞内的荧光物质物质有两类，一类直接经紫外线照射后即可发荧光，如叶绿素等；另有一些
显微镜的使用方法
实验一显微镜的构造及使用方法二 一、目的要求 1.了解显微镜的构造、性能及成像原理。 2.掌握显微镜的正确适用及维护方法。 二、实验器材 1.显微镜、纱布、绸布 2.酵母菌示教标本 三、普通光学显微镜简介 微生物的最显著的特点就是个体微小，必须借助显微镜才能观察到它们的个体形态和细胞结构。熟悉显微镜并掌握其操作技术是研究微生物不可缺少的手段。 显微镜可分为电子显微镜和光学显微镜两大类。光学显微镜包括：明视野显微镜、暗视野显微镜、相差显微镜、偏光显微镜、荧光显微镜、立体显微镜等。其中明视野显微镜为最常用普通光学显微镜，其它显微镜都是在此基础上发展而来的，基本结构相同，只是在某些部分作了一些改变。明视野显微镜简称显微镜。 （一）显微镜的构造 普通光学显微镜的构造可以分为机械和光学系统两大部分。 图1-1 显微镜构造 1.目镜 2.镜筒 3. 转换器 4. 物镜 5. 载物台 6. 聚光器 7. 虹彩光圈 8. 聚光镜调节钮9.反光镜10. 底座11. 镜臂12. 标本片移动钮 13. 细调焦旋钮14. 粗调焦旋钮15.电源开关16.光亮调节钮17.光源 1.机械系统： （1）镜座Base：在显微镜的底部，呈马蹄形、长方形、三角形等。 （2）镜臂Arm：连接镜座和镜筒之间的部分，呈圆弧形，作为移动显微镜时的握持部分。 （3）镜筒Tube：位于镜臂上端的空心圆筒，是光线的通道。镜筒的上端可插入接目镜，下面可与转换器相连接。镜筒的长度一般为160mm。显微镜分为直筒式和斜筒式； 有单筒式的，也有双筒式的。 （4）旋转器Nosepiece：位于镜筒下端，是一个可以旋转的圆盘。有3~4个孔，用于安
2020年智慧树知道网课《生物电镜原理与技术》课后章节测试满分答案
第一章测试1 【单选题】(10分)人眼的平均分辨率为 A. 0.2μm B. 0.4mm C. 0.3mm D. 0.4μm E. 0.2mm 2 【单选题】(10分)电子枪产生的电子是 A. 弹性散射电子 B. 透射电子 C. 二次电子 D. 入射电子 E.
特征x射线 3 【单选题】(10分) 下面哪种电镜可以在观察结构的同时，对组织细胞内的元素成分进行分析 A. 扫描电镜 B. 扫描隧道显微镜 C. 透射电镜 D. 分析电镜 E. 冷冻电镜 4 【单选题】(10分) 世界上第一台电子显微镜是哪年出现的 A. 1924年 B. 1930年 C. 1935年
D. 1945年 E. 1932年 5 【单选题】(10分) 在样品的表面产生，产额与样品表面的凹凸程度有关的是 A. 入射电子 B. 特征x射线 C. 透射电子 D. 二次电子 E. 弹性散射电子 6 【单选题】(10分) 科学家们利用哪种电镜在金属镍表面上用35个惰性气体原子组成了IBM三个字母 A. 透射电镜 B.
扫描隧道显微镜 C. 分析电镜 D. 扫描电镜 E. 原子力显微镜 7 【单选题】(10分) 哪种电镜能够将活的生物分子进行冷冻，使分子机制可以图像化描述 A. 分析电镜 B. 透射电镜 C. 扫描电镜 D. 扫描隧道显微镜 E. 冷冻电镜 8 【多选题】(10分) 透射电镜可用于
A. 观察各种细胞器的超微结构 B. 用于观察细菌、病毒的超微结构 C. 观察组织细胞的超微结构病变 D. 用于核酸和蛋白质超微结构的研究 E. 观察组织细胞的正常超微结构 9 【判断题】(10分) 电磁透镜包括静电透镜和磁透镜 A. 对 B. 错 10 【判断题】(10分) 分辨率是指人眼或光学仪器观察和分辨物体最小细节的能力 A. 对 B.
电子显微镜使用说明书
Micro Capture User Manual （中文） 首先非常感谢您购买了本公司数码显微镜。这是本产品的基本功能示 意图描述: 数码显微镜使用简单，只需要同电脑USB连接就可以使用， 本产品还配备测量软件，可做简单的测量，使用非常方便。为了更详细的介绍本产品，敬请耐心阅读下面的产品介绍，使用方法，注意事项。 数码显微镜应用范围非常广泛：
主要使用有以下方面. 1工业方面： a 、工业检视，例如电路板、精密机械等 b 、印刷检视，SMT焊接检查 c 、纺织检视. d、 IC表面检查 2美容方面 A、皮肤检视 B、发根检视 C、红外理疗（特定产品） 3生物应用 A、微生物观察。 B、动物切片观察。 C、植物病虫观察。 4其他 A、扩视器，协助智障人士阅读 B、宝石鉴定 C、古董，字画，玉器文物等鉴定 D、其他一些视频图像分析领域 配件说明 1. 数码显微镜主体（1台） 2. 万向底座（1个）或万向升降支架（可选配） 3. 光碟（驱动程序，测量软件，安装说明书）
产品规格： 传感器：全系列高性能美国进口感光晶片 主控晶片： USB3.0超高速/USB2.0高速专用主控（视产品型号不同）放大倍率：1X ~ 1000X（具体产品型号倍率不同） 拍照/录影：内置 辅助光源：内置8顆SMT白光LED灯 静态解析度：640x480最高达4320x3240(可按需定制) 数码变焦：多段式 成像距离：手动调节0~无限远 影像解析度：640x480最高达4320x3240或720P/1080P(可按需定制) 固定底座：万向金属底座 (可选配用升降支架) 光盘：內含驱动，测量软件，说明书 支持系統：WIN XP/VISTA；WIN 7 WIN 8 32位和64位 电源： USB（5V DC) 电脑介面：USB 3.0&USB 2.0 相容 动态帧数 : 30f/s Under 600 LUX Brightness 亮度范围： 0 ~ 30000LUX线控可调 硬件需求：主頻700M Hz或以上；1G硬盘 CD ROM光碟机；64MB记忆件 支持语言：中文（简）中文（繁体）英(其他語言需要定制) 产品颜色：磨砂黑色，其他颜色可定制 主体尺寸112 mm（长 ) 33 mm ( 外径)
透射电子显微镜JEM2100PLUS的使用方法
透射电子显微镜（JEM2100 PLUS）的使用方法 一、操作规程 1、开机顺序： （1）检查各仪表的读数是否正常（一般一个月检查一次）； a. 离子泵（SIP）：开灯丝前应保证真空压力小于4*10-5Pa； b. 高压箱：未开高压时，高压箱SF6气压表0.47MPa；电子枪SF6气压表 0.28-0.32，该压力值不能低于0.28，低于该值不能启动，当前指针在0.3左右； （2）升高压（慢点好）： a.点HT ON，高压自动升到120KV； b.程序升高压，Target HT 160KV，间隔0.1KV，1sec，约6.7min，点START； c.程序升高压，Target HT 180KV，间隔0.1KV，2sec，约6.7min，点START； d.程序升高压，Target HT 200KV，间隔0.1KV，3sec，约10min，点START； （3）放样品：样品杆中放入待观察样品，单倾杆是铜网正面向上，双倾杆是铜网反面向上。在软件上选择合适的样品杆名称，放样品杆可与升高压过程同时进行。 （4）开灯丝：电脑屏幕上显示HT ON，Filament ready 状态下，点击Filament ON，开始观察。 2、关机程序（可以快）： （1）关灯丝Filament OFF. （2）软件上手动（步长10KV）降高压到120KV，关高压（点OFF）。 （3）如加过液氮，样品杆要拔出，用ACD程序烘烤。插入烘烤加热管。 二、注意事项 1、注意开机、关机的顺序； 2、注意主机上高压部位，防止触电； 3、仪器的工作环境，应避免阳光直射、避免强电场、避免与较大功率的电器设备共电、避开腐蚀性气体、避免震动； 4、制样时注意样品干燥，请勿将挥发性物质放入电镜测试以免污染镜筒 5、开灯丝前真空压力必须小于4*10-5Pa；
扫描电镜操作手册
SEM操作手册 一、开机 在电镜基座的前面板上有绿（ON）、黄（STANDBY）、红（OFF）三个按钮，见图一 图一 a 接通电源后，按红色按钮，电镜通电。 b 按黄钮，真空系统开始工作，整机处于待机状态。 c 约1分钟后按绿钮，所有系统开始工作，同时电脑自动启动(或人工手动启动)，进入 系统。 d 双击SmartSEM并登陆。 二、放置样品 （1）从样品室放入样品 a 键盘点击Ctrl+G，打开扫描电镜控制窗口（SEM Control）。该窗口包括六个控制版面（如 图二）：电子枪（Gun）、探测器（Detector）、光阑（Aperture）、真空（Vacuum）、样品台（Stage）。 b选中Vacuum版面，点击Vent对样品室通入氮气（Vent前确保EHT已经关掉）。
图二 c等待几分钟后，样品室可以打开，放入样品（如图三），样品台卡在燕尾槽中，确认样品台卡紧了即可。 图三 （2）用Airlock放置样品 图四 a 确认Stage已经处于Exchange位置：在Smart SEM的菜单栏依次选择Stage→Store/Recal →$exchange。 b 点击Airlock面板上的Vent按钮，卸掉交换室中的真空，将样品台卡在交换室的燕尾槽中，用样品传输杆拧紧样品台。 c 点击Transfer按钮（抽真空时手推紧一下舱门），抽真空后隔离舱门打开，样品传输杆伸入样品仓内，将样品台卡在样品基座上的燕尾槽中，旋松螺丝后将样品传输杆拉出来。 d 点击Airlock面板上的Store按钮，关闭舱门。（注意：舱门关闭后Store灯才停止跳动，这段时间内舱门在向内平移，仍处于未闭合状态，不能泄真空）
显微镜使用调节说明书
显微镜结构示意图 1
显微镜使用说明 您现在使用的是1600倍生物显微镜，配有三个目镜（5X、10X、16X）和三个物镜（10X、40X、100X） 1．低倍目镜和低倍物镜的使用（低倍镜容易找到目标）：（1）准备：将显微镜取出，平放于桌面上，转动粗调焦旋钮，将镜筒略升高使物镜转换器与载物台距离拉开，以便安装物镜，按任意顺序装上三个物镜（物镜转换器有一个孔上有防尘盖，装物镜时需取下），物镜需顺着螺纹方向旋到底；取下目镜筒上的防尘盖并插上一个低倍的目镜，安装完毕将显微镜置于前方略偏左侧，必要时使镜臂倾斜以便观察。再旋转物镜转换器，将低倍物镜对准载物台中央的通光孔（可听到“咔哒”声）。 （2）对光：打开光圈，转动聚光镜使其上升(其作用是把光线集中到所要观察的标本上)，双眼同时睁开，以左眼向目镜内观察，同时调节反光镜的方向，直到视野内光线明亮均匀为止。反光镜的平面镜易把其他景物映入视野，一般用凹面镜对光,光线不足时,可使用电光源（电光源的安装见下文）。 （3）放标本片：标本片朝上放到载物台上用移动尺的两个夹子夹住标本片（640倍的显微镜是用压片压住标本），调节移动尺的两个旋钮把要观察的部分移到通光孔的正中央。 （4）调节焦距：从显微镜侧面注视物镜镜头，同时旋转粗调焦旋钮，使镜筒缓慢下降，大约低倍镜头与玻片间的距离约5mm时，再用左眼从目镜里观察视野，左手慢慢转动粗调焦旋钮，使镜筒缓缓上升，直至视野中出现物像为止。如物像不太清晰，可转动细调 2
焦旋钮，使物像更加清晰。 如果按上述操作步骤仍看不到物像时，可能由以下原因造成： ①转动调焦旋钮太快，超过焦点。应按上述步骤重新调节焦距． ②物镜没有对正，应对正后再观察。 ③标本没有放到视野内，应移动标本片寻找观察对象。 ④光线太强，尤其观察比较透明的标本片或没有染色的标本时，易出现这种现象，应将光线调暗一些后，再观察。 2．低倍物镜转高倍物镜（40倍物镜）的使用 （1）依照上述操作步骤，先用低倍镜找到清晰物像。 （2）眼睛从侧面注视物镜，用手转动物镜转换器，换高倍镜（40倍）。注意，此时不需要调节粗调焦旋钮。 （3）眼睛向目镜内观察，同时微微上下转动细调焦旋钮，直至视野内看到清晰的物像为止。 如按上述操作仍看不到物像时，可能由下列原因造成： ①观察的部分不在视野内，应在低倍镜下寻找到后，移到视野中央，再换高倍镜观察。 ②标本片放反了，应把标本片放正之后，再按上述步骤操作。 ③焦距没调好，应仔细调节焦距。 如需要更换标本片时，应该先把镜筒升高，然后把标本片取下再换上。 3．油镜的使用（100倍的物镜称为油镜） 应先按上述步骤用低倍镜、高倍镜找到要观察的物 像，然后再用油镜观察，操作如下： （1）先用10倍物镜观察标本的概况； （2）更换40倍物镜，把所要观察的部分移到视野中 3
电子显微镜S-3000N操作手册
电子显微镜S-3000N操作手册 SEM开机 请依照下列程序开启电子枪体及操作系统，我们可由以下整理齐全 的开机程序来进行开机。 (1) 开起冷却循环水，确认水流量设定在1至1.5公升/分钟 的流量，水流量计在电子枪体之左侧。 (2) 打开NFB(在配电盘上)主电源开关。 (3) 打开EVAC POWER真空系统电源开关，打开后RP会开始运 转，真空操作面板上的LOW指示灯及WAIT指示灯会亮。 (4) 将真空控制板上的EVAC/AIR按键，押至EVAC位置。 NOTICE：大概约20分钟左右WARM UP灯会熄灭，自动真空系统启动，抽至高真空时HIGH的指示灯会亮。 (5) 将DISPLAY POWER开关打开。 (6) PC进入操作系统。 (7) 上步骤(6)做完之后，下一步会进入user name及 Password，输入正确的使用者名称及密码注册后，随及进入操作 画面。 使用者名称：PC-SEM 密码：没有设定 user name和passward设完成后将OK按下即可进入(请不 要设定Administrator的密码)。 SEM样品置换 (1)请确认HV是否关掉，若无将HV OFF。在取出样品之前样品轴 五轴要归位(Tilt:0,Z轴:白点对白点,X轴:30,Y 轴:20,Rotation:随意) (2)在关掉高压等待5-10分钟之后,将真空控制板上EVAC/AIR按 键， AIR，此时LOW的指示灯亮，真空室内进入空气，样品 室将会破真空。
(3) 等待2-3分钟,样品台与样品室有明显缝隙后,顺着样品台轨 慢慢轻柔的将样品座拉出(在等待时间内,请不要用力向外拉 样品台)。 (4) 将样品放置于样品座上面顺时针旋紧至固定牢靠,使样品的上 表面与标尺的中间刻线齐平,后把样品轻轻的放入样品台,使 样品固定环的上表面与样品固定槽座的上表面齐平。请再此 确认样品轴五轴归位. (5) 将放置好样品的样品台，轻轻推回主体之样品室内，用手推 样品台,使样品台与样品室门压在一齐.后将EVAC/AIR之开关 切至EVAC,直到机台后马达声响起后,把手松开。 NOTICE：如果背向散射电子侦测器是在放入的位置，注意Ｚ轴(W.D) 的位置在10mm至35mm和T轴是0°，再进入样品室内。 (6) 等待高真空(High)指示灯亮起(大约3到4分钟)。 (7) 当真空计于操作屏幕上颜色出现蓝色，则HV的按键出 现于工作列上，此时可加加速电压然后操作观察影像。 导电性非导电性样品的观察 1.导电性样品可以在高真空下观察SE影像 BSE影像， 低真空下只能观察BSE影像.不会有放电现象发生 2.非导电性样品,只能在低真空进行BSE观察，在高真空情况 下,样品会发生放电现象 SE BSE影像的区别 1.SE 只能在高真空下进行观察，BSE不但可以在高真空下进 行观察,也可以在低真空下观察 2.SE 观察的是样品表面结构像,BSE观察的是样品成分像 3.SE像的分辨率比较高，容易观察；BSE像的分辨率比较 差，不易观察。 SE影像观察 1.通过Signal select按键选择信号为SE，设置好样品后， 把样品放进样品室进行抽真空 2.3分钟后真空面板上High 灯会亮,显示器上真空状态条由红
电镜使用方法
第2 章透射电子显微镜 催化作用是发生在催化剂表面上的原子或分子的相互作用。为了理解其本质，必须弄清楚催化剂的微观结构：形貌、相组成、化学组成、表面结构、负载催化粒子的大小，分布等和催化性能的关系。因化学处理及热处理引起的变化都会对催化剂的性能有影响。所以在设计发展高选择性、高活性、长寿命的催化剂，必须对其做出纳米级乃至原子尺度的表征。 透射电子显微镜是提供催化反应在纳米尺寸信息的技术。揭示并正确诠释原子核内层电子间相互作用所提供信息的综合学科 传统的一些表征手段： 现代的一些表征手段 目前常见的电子分析方法有：透射电子显微镜(TEM)可简称透射电镜；扫描电子显微镜(SEM)可简称扫描电镜；分析电子显微镜等。 2.1透射电子显微镜简介
透射电子显微镜是由电子源与照明系统，成像系统和记录系统所组成。如图2-1。大致如下，电子从灯丝被发射出来，经过灯丝和阳极间的电势加速。利用会聚透镜和光阑把发射出来的电子会聚形成相应大小的电子束，用来照射样品。与样品相互作用后透射的电子被聚焦在物镜的后焦面上并进入第一、第二极中间镜。投影镜形成最后的放大图像或者衍射斑点并投影呈现在荧光屏上。 电子源 照明系统 成像系统 2.1.1 电子枪 电子枪也就是电子源，是用热灯丝或者从场发射灯丝发射出来的，用来产生图像或衍射斑点的电子束器件。 灯丝具有一定的尺寸大小，发射电子的区域非常小，另外在灯丝的不同区域均可以激发出点子。电子发射可以是由钨或LaB6被加热到发射电子所需要的逸出功，或者是灯丝在强
电场下通过隧道效应拉出来。 如图2-2电子从灯丝中射出，电子束在电子枪和聚光灯之间的电场中得以加速。 (a)中钨或LaB6灯丝被用来作为三叉极系统的阴极，高压电缆连接着阴极和高压箱，阳极则是中间有孔的接地圆盘，电子从灯丝射出经阳极和阴极之间的栅极Wehnelt环，通过改变Wehnelt环的偏压值，可以改变电子束斑的分布。 (b)场发射电子枪的结构不同于热灯丝电子枪，场发射电子枪中电子枪也作为阴极，但同时使用两个阳极，第一阳极具有上千伏的正偏压，即抽出电压，它在灯丝尖部产生一巨大电场，通过隧道效应把电子拉出灯丝。脱出的电子通过第二阳极的静电场被加速。两个阳极的合并电场作用就像静电透镜一样控制电子束的位置和大小。 3.8kV左右 2.1.2 照明系统 照明系统的主要作用是根据需要把电子枪产生的电子束调为平行或会聚电子束，并改变电子束斑的大小,它通常包括第一、第二聚光镜，现代的扫描透射电子显微镜上还会有第三会聚镜来调整电子束。 电子枪发出的电子源作为第一聚光镜的物，形成缩小的像通过改变第二聚光镜的焦距可把这一像成为照射样品的平行或会聚电子束。电子束的会聚角和强度是由第二聚光镜及其光阑控制的。第二聚光镜光阑调节照射样品的电子束强度。如图2-3