嵌入式系统实验五-ADC转换实验

《嵌入式系统》课程实验报告

学生姓名：

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指导教师：

记分及评价：

一、实验名称

ADC转换实验

二、实验目的

了解S3C2410X处理器ADC相关控制寄存器的使用；通过实验掌握模数转换的原理；掌握S3C2410X处理器的ADC转换功能。

三、实验内容

设计分压电路，利用S3C2410X集成的ADC模块，把分压值转换为数字信号，并通过超级终端和数码管观察转换结果。

四、实验原理

1、S3C2410X处理器的A/D转换

处理器内部集成了采用近似计数式的8路10位ADC，集成零比较器，内部产生比较时钟信号；支持软件使能休眠模式，以减少电压损耗。其主要特性：

—分辩率：10-位

—微分线性度误差：±1.0 LSB

—积分线性度误差：±2.0 LSB

—最大转换速率：500 KSPS

—低功耗

—供电电压：3.3V

—输入模拟电压范围：0 ~ 3.3V

—片上采样保持功能

—普通转换模式

—分离的X/Y轴坐标转换模式

—自动(连续) X/Y轴坐标转换模式

—等待中断模式

2、S3C2410X的AD转换的使用

寄存器组

处理器集成的ADC只使用到两个寄存器，即ADC控制寄存器（ADCCON）、ADC数据寄

存器（ADCDAT）。AD转换器的结构图如下：

五、实验结果

超级终端上显示以下信息：

六、练习题

参考实验程序，对第四通道的输入电压进行循环采样，循环周期为0.5S，并求出采样数据的平均值。

void adc_test(void)

{

int i,j;

UINT16T usConData;

float usEndData;

float usAllData=0.0;

float usArvData;

uart_printf("\n ADC_IN Test\n");

uart_printf(" ADC conv. freq. = %dHz\n",ADC_FREQ);

unPreScaler = PCLK/ADC_FREQ - 1;

rADCCON=(1<<14)|(unPreScaler<<6)|(1<<5)|(0<<2)|(1<<1);

uart_printf(" Please adjust AIN0 value!\n");

uart_printf(" The results of ADC are:\n");

usConData=rADCDAT0&0x3FF;

for(j = 0; j < 20; j++)

{

while(!(rADCCON & 0x8000));

usConData = rADCDAT0&0x3FF;

usEndData = usConData * 3.3000 / 0x3FF;

uart_printf(" %0.4f ",usEndData);

usAllData=usAllData+usEndData;

delay(5000);

}

usArvData= usAllData/20;

uart_printf("\n 平均值：%0.4f ",usArvData);

uart_printf(" End.\n");

}