《晶体材料制备原理与技术》课后思考题解答

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晶体学习题

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第一章晶体与晶体化学1、理想晶体与实际晶体的差别主要是什么?答:理想晶体是指按照点式的周期性在空间无限伸展的晶体。

实际晶体并不具有理想的、完整的、无限的理想结构:①实际晶体中的微粒总是有限的,表面或界面的结构与内部结构是不同的;②晶体中结构基元并不是静止的,它们在平衡位置附近不停地运动;③实际晶体中存在缺陷。

2、由电子衍射图如何确定被测样品是单晶、多晶还是非晶?答:单晶的电子衍射图为排列十分整齐的许多衍射斑点;多晶的衍射图是中间是衍射斑点,周围有一系列同心衍射环;而非晶的衍射图只有一个漫散的中心斑点。

3、晶体的均匀性和各向异性矛盾吗?为什么?(各向异性和均匀性如何表现在同一晶体上?)答:不矛盾。

(1)在宏观观察下,晶体每一点上的物理效应和化学组成均相同,这种性质称为晶体的均匀性。

晶体的有序排列决定了晶体的精确均匀性,这使它具有固定熔点。

(2)晶体的几何度量和物理效应常随方向不同而表现出量上的差异,这种性质称为各向异性。

晶体的各向异性是由晶体内部质点的有序排列决定的。

(3)如在晶体的每一点上按不同方向测量电导率,电导率除对称性联系起来的方向外都是不同的,这就是晶体的各向异性;而在晶体的任一点按相同方向测量的电导率都相同,这就是晶体的均匀性。

即晶体的各向异性均匀地在晶体各点上表现出来。

4、什么是同质多晶和类质同晶?答案1:(1)同质多晶:同样的分子或原子可以以不同的方式堆积成不同的晶体的现象。

如金刚石和石墨;二氧化钛的三种结构,锐钛矿、金红石和板钛矿。

(2)类质同晶:在两个或多个化合物或单质中,化学式相似,晶体结构形式相同,并能互相转换的现象。

成为类质同晶的条件:有相似的化学式,由相对大小相差不多的原子或离子组成,而且原子间的键合力也是相同的种类。

或:(课件)两种物质不仅具有相同的晶体结构,同时具有相同的化学键类型,相似的物理和化学性质,则称它们为类质同晶(象,形)。

类质同晶的化学式相似,单胞的点阵常数相近,晶体的宏观外形也十分相象。

材料制备技术考试及答案

材料制备技术考试及答案

1.简述鲍林离子晶体结构的规则。

①围绕每一阳离子,形成一个阴离子配位多面体,阴、阳离子的间距决定于它们的半径之和,而阳离子的配位数取决于它们的半径之比。

②静电价规则。

在一个稳定的晶体结构中,从所有相邻接的阳离子到达一个阴离子的静电键的总强度,等于阴离于的电价数。

对于一个规则的配位多面体面言,中心阳离子到达每一配位阴离子的静电键强度S,等于该阳离子的电荷数Z除以它的配位数n,即S=Z/n。

③在配位结构中,两个阴离子多面体以共棱,特别是共面方式存在时,结构的稳定性便降低。

对于电价高而配位数小的阳离子此效应更显著;当阴、阳离子的半径比接近于该配位多面体稳定的下限值时,此效应更为显著。

④在一个含有不同阳离子的晶体中,电价高而配位数小的那些阳离子,不趋向于相互共有配位多面体的要素。

⑤在一个晶体中,本质不同的结构组元的种类,倾向于为数最少。

这一规则也称为节省规则。

2.解释类质同像并指出发生类质同像的必备条件。

类质同像是指在晶体结构中部分质点为其他质点所代换,晶格常数变化不大,晶体结构保持不变的现象。

如果相互代换的质点可以成任意的比例,称为完全的类质同像。

如果相互代换只局限于一个有限的范围内,则称为不完全类质同像。

当相互代换的质点电价相同时称为等价类质同像,如果相互代换的质点电价不同,则称为异价类质同像,此时,必须有电价补偿,以维持电价的平衡。

类质同像的形成,必须具备下列条件:①质点大小相近。

相互代替的原子(离子)有近似的半径如以r1和r2表示相互代换的原于(离子)半径。

根据经验数据:(r1-r2 )/r2<15%,完全类质同像;(r1-r2 )/r2 =15%~25%,一般为有限的代换,在高温的条件下完全类质同像;(r1-r2 )/r2=25%~40%,在高温条件下形成有限的代换,低温条件下不能形成类质同像。

②电价总和平衡。

在离子化合物中,类质同像代换前后,离子电价总和应保持平衡。

③相似的化学键性。

类质同像的置换受到化学键性的限制,离子类型不同,惰性气体型离子易形成离子键,而铜型离子趋向于共价结合,这两种不同类型的离子之间,不易形成类质同像代换。

《无机化学实验》思考题及参考答案

《无机化学实验》思考题及参考答案

《无机化学实验》思考题及参考答案《无机化学实验》是化学专业的一门重要实验课程,旨在培养学生的实验操作技能和化学思维能力。

在实验过程中,学生需要认真思考实验原理、操作方法、实验现象和结论,以达到对无机化学知识的深入理解和掌握。

在《无机化学实验》课程中,有些实验的思考题对于学生理解实验具有重要意义。

下面是一些常见的思考题及其参考答案:1、反应速率与哪些因素有关?如何控制反应速率?参考答案:反应速率与反应物的浓度、反应温度、反应物的性质、催化剂等因素有关。

控制反应速率的方法包括改变反应物的浓度、控制反应温度、选择合适的催化剂等。

2、如何制备纯净的化学物质?参考答案:制备纯净的化学物质需要遵循“无尘无水无油”的原则,即反应应在干燥、无尘、无水的环境中进行,使用的仪器应干燥、无油。

在实验过程中,还需要进行提纯和精制等步骤,以确保得到高质量的产物。

3、如何判断化学反应的可行性?参考答案:判断化学反应的可行性需要考虑反应物的性质、反应条件和产物的性质等因素。

例如,反应物必须是可溶性的,反应必须在一定的温度和压力条件下进行,产物必须具有良好的稳定性和纯度等。

4、如何使用滴定法测定未知溶液的浓度?参考答案:使用滴定法测定未知溶液的浓度需要掌握正确的操作步骤和计算方法。

具体步骤包括加入适量的标准溶液、搅拌、观察反应过程、滴加指示剂、读取滴定管的读数等。

计算方法则是根据滴定数据和标准溶液的浓度来推算未知溶液的浓度。

5、如何制备晶体?参考答案:制备晶体需要选择合适的溶剂、控制溶剂和溶质的比例、调节反应温度和pH值等。

在结晶过程中,还需要进行离心、洗涤、干燥等步骤,以确保得到高质量的晶体。

以上是一些《无机化学实验》中的常见思考题和参考答案,希望对于学生深入理解和掌握无机化学实验有所帮助。

纳米材料与技术思考题2016

纳米材料与技术思考题2016

纳米材料与技术思考题2016纳米材料简介综述(金、铜和钯纳米晶体样品在XXXX之前的弹性模量明显较低,主要是由于7。

纳米材料的热力学不稳定性表现在8两个方面。

纳米材料具有高比例的内部界面,包括等。

9。

根据原料的不同,溶胶-凝胶法可分为10。

隧道过程发生在。

11。

磁性液体由三部分组成:,和12。

随着半导体颗粒尺寸的减小,其带隙增大。

相应的吸收光谱和荧光光谱将向13的方向移动。

光致发光指的是被激发到高能级激发态的电子跳回到低能级激发态被空穴俘获并发光的微观过程。

仅当激发停止并持续发光一段时间时,激发过程中发出的光才为14。

根据碳六边形在碳纳米管中的不同轴向取向,可分为三种结构: 15。

扫描隧道显微镜成像的两种模式是和。

2。

简答题: (每题5分,共45分)1。

简述纳米材料技术的研究方法有哪些?2,纳米材料的分类?3、纳米粒子、微米粒子和原子团簇之间有什么区别?4,PVD制粉原理简介5,纳米材料与粗晶材料的电导(电阻)有什么不同?16,请分别从能带变化和晶体结构上解释7的蓝移现象,以及在化妆品中加入纳米粒子起到防晒作用的基本原理是什么?8,解释纳米材料的熔点降低9,原子力显微镜针尖条件如何影响图像?画一张图来说明1。

纳米科学与技术(Nano-ST):一项刚刚诞生于XXXX时代晚期并正在兴起的新技术是一门研究百万分之10-7到10-9米范围内原子、分子和其他类型物质的运动和变化的科学。

与此同时,在这个范围内操纵和处理原子和分子的技术也被称为纳米技术2。

什么是纳米材料和纳米结构?A:纳米材料:组成相或晶粒结构尺寸控制在100纳米以下的具有特殊功能的材料称为纳米材料,即在三维空间中至少一维小于100纳米的材料或以其为基本单元形成的具有特殊功能的材料可大致分为四类:纳米粉体、纳米纤维、纳米薄膜和纳米块体。

纳米材料具有两种含义:在至少一个维度方向上具有小于100纳米的一个维度,例如纳米颗粒、纳米线和纳米薄膜,或者构成整个材料的结构单元的维度小于100纳米,例如纳米晶体合金中的晶粒;第二,尺度效应:当尺度缩小到纳米范围时,材料的某些性质会发生神奇的突变,具有不同于常规材料的优异特征量子尺寸效应。

材料结构与性能思考题

材料结构与性能思考题

《材料结构与性能》思考题第一章金属及合金的晶体结构1.重要名词晶体非晶体单晶体多晶体晶粒晶界各向异性假等向性(伪各向同性)空间点阵阵点(结点)晶胞简单晶胞(初级晶胞)布拉菲点阵晶系晶面晶面指数晶向晶向指数密勒指数晶面族晶向族晶带晶带轴面间距配位数致密度点阵常数面心立方(A1)体心立方(A2) 密排六方(A3) 同素异构现象四面体间隙八面体间隙多晶型性(同素异构转变) 原子半径合金相固溶体间隙固溶体置换固溶体有限固溶体无限固溶体电子浓度无序分布偏聚短程有序短程有序参数维伽定律中间相金属间化合物正常价化合物电子化合物(Hume-Rothery相) 间隙相间隙化合物拓扑密堆相(TCP相) PHACOMP 方法超结构(有序固溶体,超点阵)长程有序度参数反相畴(有序畴)2.试述晶体的主要特征。

3.画出立方晶系中的下列晶面和晶向:(100), (111), (110), (123), (130)), (121), (225), [112], [312], 2]。

画出六方晶系中的下列晶面:(0001), (1120), (1011)。

[114.画出立方晶系(110)面上的[111]方向,(112)上的[111]方向。

在其(111)面上有几个<110>方向5.计算面心立方、体心立方、密排六方点阵晶胞的晶胞内原子数、致密度。

其中原子的配位数是多少6.面心立方和密排六方点阵的原子都是最密排的,为什么它们形成了两种点阵7.画图计算面心立方和体心立方点阵的四面体、八面体间隙的半径r B与原子半径r A之比。

8.铜的面心立方点阵常数为Å,计算其(122)晶面间距。

9.立方晶系中晶面指数和晶向指数有什么关系10.写出立方晶系{112}晶面组的全部晶面和<123>晶向族的全部晶向。

11.已知点阵常数a=2 Å,b=6 Å, c=3 Å, 并已知晶面与三坐标轴的截距都是6 Å,求该晶面的指数。

晶体结构习题答案

晶体结构习题答案

第一节晶体常识(1)晶体与非晶体参考答案1.D 2.CD 3.D 4.A 5.C 6.D 7.A 8.C 9.BC 10.A 11.AC12.晶体能自发性地呈现多面体外形的性质、晶体的生长速率适当;固定,无固定;x-射线衍射实验。

13.(1)熔融态物质凝固;(2)气态物质冷却不经液态直接凝固(凝华);(3)溶质从溶液中析出。

14.x-射线衍射实验。

15.⑴冷却碘蒸汽⑵烧杯中充满紫色的蒸汽,在表面皿上有紫黑色的晶体⑶晶体⑷凝华,熔融态物质凝固、结晶16.⑴加过量的硫酸铜是使晶体长大,晶体的大小不变,但是变规则⑵说明晶体的规则几何外形、晶体的各向异性第一节晶体常识(1)晶胞参考答案1.AC 2.B 3.D 4.A 5.D 6.B 7.C 8.A 9.B 10.A11.晶体结构中的基本单元、规则地重复排列、平行六面体、相邻晶胞之间没有任何间隙;所有晶胞都是平行排列的,取向相同。

12.(1)1/2;1;XY2(2)109.5° 13.(1)CaTiO3(2)614.1:1;C2D;EF;XY2Z第二节分子晶体与原子晶体(1)分子晶体参考答案1.B2.B3.D4.BC 5.C 6.D 7.C 8.BC 9.A 10.A 11.C 12.C 13.B 14.AB15.16.分子(2)(3)在加压条件下加热至熔融,测其导电性,若导电,则是离子晶体,若不导电,则为分子晶体。

17.BBr3是分子晶体,KBr是离子晶体。

18.4;分子间作用力较弱,在常温常压下晶体熔化呈气态。

第二节分子晶体与原子晶体(2)原子晶体参考答案1.A 2.BC 3.B 4.C 5.A 6.B 7.D 8.B 9.B 10.A 11.B 12.B 13.B 14.1:2 15.(1)原子;(2)Si3N4 ;(3)3SiCl4+2N2+6H2==Si3N4+12HCl16.(1)B;(2)分子(3)2;6 (4)2。

晶体光学课后答案

晶体光学课后答案

晶体光学课后答案【篇一:晶体光学复习题 (2)】lass=txt>晶体光学基础(判断对错/简答)1(t)2(f)3(t)4(f)5(t)6(f)7(t)8(f)9(t)10(f)11(f)12(t)1.除真空以外的任何介质的折射率总是大于1(t )2.折射定律表达为折射率为入射角与折射角的正弦之比,所以入射角越大,折射率越大;入射角越小,折射率越小(f )3.某介质绝对折射率为光在空气中传播速度与在该介质中速度之比,即n=co/v(t )4.光在某介质中传播速度愈快,折射率愈大( f )5.光由光疏介质射入光密介质,永远不会发生全反射(t)6.光由光密介质射入光疏介质,一定发生全反射(f )7.均质体有无数个相同的N或只有一个N(t )8.非均质体有几个不同的N(f )9.自然光射入均质体中,基本仍为自然光,偏光射入仍为偏光,不放生双折射( t)10.自然光射入非均质体中一般发生双折射形成两种偏光;偏光射入非均质体中,按入射偏光传播,不发生双折射(f )11.光在晶体中传播方向一致,则N一样( f)12.光在晶体中振动方向一致,则N一样(t )光率体基础1(f)2(f)3(f)4(f)5(t)6(t)7(t)8(t)9(t)10(f)11(t)12(t)13(t)14(t)15(f)16(f)17(f)18(f)19(t)20(f)1. 一轴晶有n e 、no两个折射率,二轴晶有n g 、nm 、np三个折射率 ( f )2. 一轴晶n e no , 二轴晶n g nm np ( f )3. 一轴晶正光性n e no ;负光性n e no ; 二轴晶正光性n g nm n p;负光性n g nm n p ( f )4. 一轴晶光率体切面始终有一个no,二轴晶光率体切面始终有一个nm(f )5. 无论是一轴晶还是二轴晶,具有最大双折率的切面一定平行光轴(t )6. 一轴晶有一个光率体圆切面,二轴晶有两个光率体圆切面(t )7. 一轴晶有两个主折射率n e 、no,二轴晶有三个主折射率n g 、nm、n p(t )8. 二轴晶光轴面一定是与n g n p面一致(t )9. 二轴晶垂直光轴面的任意切面总有一个半径是n m(t )10. 一轴晶最大双折率为︱n e–no︱,二轴晶最大双折率为n g–nm (f )11.12.13. 二轴晶bxa一定垂直bxo(t )二轴晶bxa和、bxo构成的切面也一定是与光轴面一致(t )二轴晶bxa或bxo不可能是nm(t )14. 一轴晶光率体的光轴始终是竖直的(t )15. 二轴晶光率体的n g始终是竖直的(f )16. 一轴晶n e与z轴始终一致,二轴晶ng与z轴始终一致(f )17. 二轴晶三个光率体主轴一定与三个结晶轴一致( f)18. 一轴晶光轴(ne)始终是竖直的,二轴晶光轴面(oap)则始终是竖直的(f )19. 二轴晶斜方晶系n g 、nm、np与x、y、z轴一致( t)20. 二轴晶单斜晶系一定是nm =y( f)单偏光镜下晶体光学性质1(t)2(t)3(f)4(f)5(f)6(t)7(f)8(f)9(t)10(f)11(t)12(t)13(t)14(t)15(t)16(f)17(f)18(f)19(f)20(f)1. 解理缝一般是暗色细缝(t )2. 当解理面与薄片垂直时解理缝最清楚(t )3. 某矿物切面见不到解理缝,说明该矿物一定不发育解理(f )4. 辉石和长石都发育两组解理,薄片中辉石见到解理的机会少,而长石机会多( f)5. 手标本上见到某矿物有颜色,则薄片中一定也有颜色( f)6. 均质体矿物在薄片中一定无多色性(t )7. 非均质体矿物在薄片中一定有多色性(f )8. 薄片中矿物有颜色的切面一定有多色性( f)9. 有多色性矿物的没有多色性的切面一般是光率体圆切面(t )10. 有多色性的一轴晶只有n eno面上有多色性,二轴晶只有n gnp面上有多色性(f )11. 电气石纵切面平行十字丝纵丝时,所见的颜色是no(t )12. 黑云母解理缝平行十字丝纵丝时,所见的颜色是np(t )13. 普通角闪石(010)面上多色性最明显,可以见到n g和np的颜色(t )14. 普通角闪石(001)面上可以见到两组解理,其锐夹角方向为nm的颜色( t)15. 普通角闪石(100)面上只能见到一组解理,也可以见到nm的颜色(t )16. 在薄片中某矿物颗粒贝克线在该矿物一侧,则该矿物N一定>1.54(f )17. 矿物突起越高,N越大,突起越小,N越小(f )18. 提升物台时,贝克线向折射率大的物质方向移动( f )19. 所有非均质体切面都具有闪突起(f )20. 所有非均质体椭圆切面都具有闪突起(f )正交偏光镜下晶体光学性质(一)1. 正交偏光间全消光的矿物颗粒一定是均质体(f )四明四暗”现象的颗粒一定是非均质体(t )3. 正交偏光间某矿物所有切面都呈全消光,该矿物一定是均质体(t )4. 非均质体所有切面都可以见“四明四暗”现象( f)5. 干涉色与单偏光镜下颜色的形成原理类似(f )6. 干涉色与光程差是一一对应的,只要干涉色颜色种类一样,则光程差一样(f )7. 灰色和黄色干涉色一定属于Ⅰ级干涉色(f )8. 蓝色和绿色干涉色至少是Ⅱ级或以上干涉色(t )9. 相邻色序对比,紫红对应的光程差一定小于蓝对应的光程差(t )10. 同一级别内,紫红对应的光程差也一定小于蓝对应的光程差( f )11. 同一薄片中,具有不同干涉色的颗粒,一定是不同种矿物(f )12. 同一薄片中,具有相同干涉色的颗粒,一定是同一种矿物(f )13. 每一种非均质体矿物,只有一种干涉色(f )14. 每一种非均质体矿物,只有一种最高干涉色(t )15. 具有最高干涉色的切面一定平行光轴(t )16. 平行光轴的切面,一定具有最高干涉色(f )17. 单偏光下具有闪突起的矿物颗粒,正交偏光下其干涉色一般比较高(t )18. 石英为一轴晶, no =1.544, ne =1.553,标准薄片厚度下,最高干涉色是Ⅰ级紫红(f )19. 方解石为一轴晶,no =1.658, ne =1.486,最高干涉色达到高级白(t )20. 某二轴晶矿物,ng=1.705, nm=1.70, np=1.693, 垂直bxa切面干涉色是灰色(t )正交偏光镜下晶体光学性质(二)1(t)2(f)3(f)4(t)5(t)6(t)7(f)8(t)9(t)10(f)11(f)12(f)13(t)14(t)15(f)1. 补色法则中,光率体半径同名平行时,结果干涉色一定比矿片原来的高(t )2. 补色法则中,光率体半径异名平行时,结果干涉色一定比矿片原来的低(f )9. 原干涉色为蓝色,加云母试板后,升高位一定变成绿色,降低位一定变成红色(t )10. 某矿物颗粒,加云母试板后,一个变成红,另一个变成绿,原来的干涉色一定是蓝色(f )11. 原干涉色为黄色,加云母试板后,升高位一定变成红色,降低位一定变成绿色( f)12. 某矿物颗粒,加云母试板后,一个变成红,另一个变成绿,原来的干涉色一定是黄色(f )13. 一轴晶矿物平行c轴切面为平行消光(t )14. 单斜晶系矿物普通角闪石nm =b,其平行(100)的切面是平行消光,平行(010)的切面是斜消光,平行(001)的切面是对称消光(t )15. 正光性矿物一定是正延性,负光性矿物一定是负延性(f )锥光镜下晶体光学性质(一)1(f)2(f)3(f)4(t)5(t)6(f)7(f)8(t)9(t)10(f)11(t)12(f)13(f)14(t)15(t)16(f)17(t)1. 正交镜下全消光的矿物切面,在锥光镜下也全消光(f )2. 只有光率体切面为椭圆的矿物颗粒,在锥光镜下才有干涉图(f )3. 一轴晶垂直光轴切面干涉图就是一个黑十字(f )4. 正交镜下最高干涉色越高的矿物,其垂直oa切面干涉图干涉色色圈越多(t )5. 单偏光镜下具有闪突起的矿物,其垂直oa切面干涉图干涉色色圈一般比较多(t )6. 一轴晶垂直oa切面,波向图中切线方向为no,放射线方向为ne(f )7. 一轴晶垂直oa切面,波向图中放射线方向一定为光率体椭圆长半径方向(f )8. 某一轴晶矿物颗粒在锥光下出现一黑十字,且四个象限均为灰色,现插入石膏试板,发现一、三象限变成蓝色,二、四象限变为黄色,该矿物为负光性(t )9. 根据上题,把石膏试板换成云母试板,则第一、三象限干涉色变为黄色(t )10. 具有多圈干涉色色圈的垂直oa干涉图,从中心向外干涉色逐渐升高,加入石膏试板后,干涉色仍然从中心向外逐渐升高(f )11. 具有多圈干涉色色圈的垂直oa干涉图,加入石英楔试板后,发现二、四象限干涉色色圈连续向外移动,该矿物为正光性(t )12. 偏心干涉图一般只见黑十字一条横臂或一条竖臂,均无法判断视域外黑十字中心的位置(f )13. 当视域内见一条横臂,顺时针转物台,其向上移动,说明黑十字中心在视域右侧(f )14. 当视域内见一条竖臂,顺时针转物台,其向左移动,说明黑十字中心在视域下方(t )15. 当视域内见一条竖臂,逆时针转物台,其向左移动,继续逆时针转动物台,当该竖臂转到离开视域后,则下一步将会看到一条横臂从上方进入视域(t )16. 接上题,当看到一条横臂从上方刚进入视域时,插入石膏试板,若视域的颜色由灰色变成蓝色,其光性符号为正(f )17. 具有闪图干涉图的矿物颗粒,去掉锥光系统后,在正交镜下,一般具有比较高的干涉色( t)锥光镜下晶体光学性质(二)1(f)2(f)3(t)4(f)5(t)6(t)7(f)8(f)9(t)10(f)11(t)12(f)13(f)14(t)15(f)16(f)17(f)18(t)19(t)20(f)2. 二轴晶垂直bxa切面干涉图的色圈,也是以黑十字交点为中心的同心园色圈(f )3. 二轴晶垂直bxa切面干涉图中,两个弯曲黑带顶点连线为ngnp面迹线方向(t )4. 二轴晶正光性垂直bxa切面干涉图与负光性垂直bxo切面干涉图一样(f )5. 二轴晶垂直bxa切面干涉图中,两个弯曲黑带顶点凸方连线方向为bxo投影方向(t )6. 二轴晶垂直bxa切面干涉图中,两个弯曲黑带顶点凹方连线方向为bxa投影方向(t )7. 二轴晶垂直bxa切面干涉图中,与两个弯曲黑带顶点连线方向相垂直的方向始终为光轴方向(f )8. 二轴晶垂直bxa切面干涉图中,弯曲黑带在Ⅱ、Ⅳ象限时,加试板后,Ⅰ、Ⅲ象限干涉色变化一致,Ⅱ、Ⅳ象限凸方与凹方干涉色变化也一致(f )色由灰变蓝,其光性符号是负( t)10. 垂直bxa切面干涉图(色圈多),弯曲黑带在Ⅰ、Ⅲ象限,从Ⅱ、Ⅳ象限插入云母试板,两个弯曲黑带凹方各出现一个对称的小黑团,其光性符号是正(f )11. 接上题,若使用石英楔代替云母试板,弯曲黑带顶点之间干涉色圈连续向内移动(t )12. 二轴晶垂直oa切面干涉图与一轴晶垂直oa切面干涉图很类似(f )13. 二轴晶垂直oa切面干涉图相当于垂直bxo切面干涉图的一半(f )15. 二轴晶垂直bxo切面干涉图,也会出现一个粗大黑十字,也叫闪图(f )16. 二轴晶垂直bxo切面干涉图与垂直bxa切面干涉图类似,只是中心出露轴不同(f )17. 二轴晶矿物ng np面干涉图一定为闪图;反过来,具有闪图特点的切面,一定是ng np面(f )18. 二轴晶闪图干涉图,去掉锥光系统后,在正交偏光间具有该矿物最高干涉色(t )19. 二轴晶垂直bxa切面干涉色一定低于垂直bxo切面干涉色(t )20. 二轴晶垂直bxa切面与垂直bxo切面干涉色的相对高低,视光性不同而不同(f )填空题1. ne=1.553,no=1.544,正光性,最大双折率为0.009,最高干涉色为Ⅰ级灰白。

材料分析思考题(答案).

材料分析思考题(答案).

材料分析思考题(答案).安徽⼯业⼤学材料分析测试技术复习思考题第⼀章 X射线的性质X射线产⽣的基本原理1 X射线的本质:电磁波、⾼能粒⼦、物质2 X射线谱:管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等连续谱短波限只与管电压有关,当固定管电压,增加管电流或改变靶时短波限λ0不变。

随管电压增⾼,连续谱各波长的强度都相应增⾼,各曲线对应的最⼤值和短波限λ0都向短波⽅向移动。

3⾼能电⼦与物质相互作⽤可产⽣哪两种X射线?产⽣的机理?连续X射线:当⾼速运动的电⼦(带电粒⼦)与原⼦核内电场作⽤⽽减速时会产⽣电磁辐射,这种辐射所产⽣的X射线波长是连续的,故称之为连续X射线。

特征(标识)X射线:由原⼦内层电⼦跃迁所产⽣的X射线叫做特征X射线。

X射线与物质的相互作⽤1两类散射的性质(1)相⼲散射:与原⼦相互作⽤后光⼦的能量(波长)不变,⽽只是改变了⽅向。

这种散射称之为相⼲散射。

(2)⾮相⼲散射::与原⼦相互作⽤后光⼦的能量⼀部分传递给了原⼦,这样⼊射光的能量改变了,⽅向亦改变了,它们不会相互⼲涉,称之为⾮相⼲散射。

2⼆次特征辐射(X射线荧光)、饿歇效应产⽣的机理与条件⼆次特征辐射(X射线荧光):由X射线所激发出的⼆次特征X射线叫X射线荧光。

俄歇效应:俄歇电⼦的产⽣过程是当原⼦内层的⼀个电⼦被电离后,处于激发态的电⼦将产⽣跃迁,多余的能量以⽆辐射的形式传给另⼀层的电⼦,并将它激发出来。

这种效应称为俄歇效应。

第⼆章 X射线的⽅向晶体⼏何学基础1 晶体的定义、空间点阵的构建、七⼤晶系尤其是⽴⽅晶系的点阵⼏种类型晶体:在⾃然界中,其结构有⼀定的规律性的物质通常称之为晶体2 晶向指数、晶⾯指数(密勒指数)定义、表⽰⽅法,在空间点阵中的互对应晶向指数(略)晶⾯指数:对于同⼀晶体结构的结点平⾯簇,同⼀取向的平⾯不仅相互平⾏,⽽且,间距相等,质点分布亦相同,这样⼀组晶⾯亦可⽤⼀指数来表⽰,晶⾯指数的确定⽅法为:A、在⼀组互相平⾏的晶⾯中任选⼀个晶⾯,量出它在三个坐标轴上的截距并以点阵周期a、b、c为单位来度量;B、写出三个截距的倒数;C、将三个倒数分别乘以分母的最⼩公倍数,把它们化为三个简单整数h、k、l,再⽤圆括号括起,即为该组晶⾯的晶⾯指数,记为(hkl)。

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第一章思考题:1、什么是单晶体、多晶体和非晶体?结构上有何区别?答:1)单晶体是由一个晶核各向均匀生长而成,晶体内部的粒子基本上保持其特有的排列规律,如:单晶硅、红宝石、金刚石;2)多晶体是由很多单晶微粒杂乱无规则的聚结而成的,各向异性的特征消失,使整体一般不表现各向异性,如:多数金属和合金等。

3)非晶体是指组成物质的分子(或原子、离子)不呈空间有规则周期性排列的固体,没有一定规则的外形,物理性质为各向同性,没有固定的熔点,属热力学上的亚稳态,如玻璃、松香、石蜡等。

单晶体在整个晶体中均保持有序的周期性;多晶体则只是在一个单晶微粒中保持有序的周期性,但整体上杂乱无章;非晶体是近程有序(在极小范围内规则排列),而远程无序。

2、分析晶体的宏观物理性质与其结构的关系答:由于晶体是具有格子构造的固体,因此,也就具备着晶体所共有的、由格子构造所决定的基本性质。

①均一性:宏观观察中,晶体在其任一部分上都表现出具有相同的各种特性。

也称为结晶均一性,与非晶体的统计均一性有本质的区别;②自范性:晶体在适当条件下可自发地(而非人为加工)形成封闭的凸几何多面体外形的特性,且几何多面体外形满足欧拉定律:W+V=E+2;③异向性:晶体的几何量度和物理性质因观察方向的不同而表现出差异的特性;④对称性:晶体的相同部分(外形上的和内部结构上的)或性质,能够在不同方向或位置上有规律地重复出现的特性;⑤最小内能性:在相同热力学条件下,晶体与同种物质的非晶体、液体或气体相比,其内能(包括质点的动能与位能)最小,故而结构也最稳定;⑥稳定性:在相同的热力学条件下,晶体比具有相同化学成分的非晶体稳定。

晶体的稳定性是最小内能性的必然结果;3、根据晶体的功能并结合其主要应用领域,人工晶体如何分类?答:光功能晶体,半导体晶体,压电晶体,热释电晶体,超硬晶体等4、什么是光功能晶体?举出其中一到两个在高新技术中有广泛应用的晶体。

答:在外场(电、光、磁、热、声、力等)作用下,利用材料本身光学性质(如折射率、感应电极化或非线性效应等)发生变化的原理,实现对入射光信号的获取、调制、传输、显示、能量或频率转换、受激发射等目的的无机晶体之总称。

如氟化钡,KTP,KDP晶体等。

5、晶体与非晶体融化过程的不同。

答:晶体有固定的熔点,在熔化过程中,温度始终保持不变。

而非晶体是近程有序,远程无序,属热力学上的亚稳态,没有固定的熔点。

6、人工晶体的研究趋势答:不仅研究晶态而且还涉及非晶态;不仅研究体单晶而且还涉及薄膜晶体和纳米晶;不仅研究通常的晶格而且还涉及超晶格;不仅研究单一功能而且还涉及多功能;不仅研究体性质而且还涉及表面性质;不仅研究无机而且还涉及到有机;晶体材料功能小型化、低维化、集成化与多功能化;晶体材料制备大规模、高质量、低成本7、名词解释:晶面角守恒定律,结晶习性,晶体生长①晶面角守恒定律:同一物质的不同晶体在同一温度和压强下晶面的数目、大小、形状可能有很大的差别,但对应的晶面之间夹角是恒定的;②结晶习性:在一定的外界条件下,某种晶体总是趋向于形成某一种特定形态的现象,称结晶习性。

化学成分、晶体结构、pH值、过饱和度、粘度、共存的杂质以及空间条件等均对结晶习性有显著影响。

可将结晶习性分为:一维延伸型、二维延展型和三维等长型;③晶体生长:物质在一定温度、压力、浓度、介质、pH等条件下由气相、液相、固相转化,形成特定线度尺寸、满足一定技术要求的晶体的过程称为晶体生长;第二章思考题:1、什么是晶体生长的技术要求和生长方法选择的基本原则?①晶体生长的技术要求:合理的驱动力场分布;驱动力场的稳定、可控;各生长技术参数的良好匹配;精确配料和必要、合理的热处理;力求避免各种形式的污染。

②生长方法选择的基本原则:满足相图的基本要求;有利于快速生长出具有较高实用价值、符合一定技术要求的晶体;有利于提高晶体的完整性,严格控制晶体中的杂质和缺陷;有利于提高晶体的利用率、降低成本。

生长大尺寸的晶体始终是晶体生长工作者追求的重要目标;有利于晶体的后加工和器件化;有利于晶体生长的重复性和产业化。

2、熟悉晶体生长常用工艺方法和其局限性1、熔体法(P37)1.1 提拉法优点:便于精密控制生长条件,可以较快的速度获得优质大单晶;可以使用定向籽晶,选择不同取向的籽晶可以得到不同取向的单晶;可以方便地采用“回熔”和“缩颈”工艺,这项工艺对于降低晶体中的位错密度,提高晶体完整性都很有用;可以在晶体生长过程中直接观察晶体。

缺点:一般要用坩埚做容器,导致熔体有不同程度的污染;当熔体中有易挥发的物质时,则存在组分控制的困难;不适合生长冷却时存在固态相变的材料。

1.2下降法优点:可以把原料密封在坩埚中,可以减少挥发所带来的影响,带来的好处是除了晶体成分易控制之外,对于某些有害气体也不至于泄露;操作简单,可以生长大尺寸的晶体,可以生长的晶体品种也很多,且易于实现程序化生长;由于每一个坩埚都可以单独成核,因此可以在一个结晶炉中放入多个坩埚。

缺点:不适宜生长在冷却时出现体积增大的晶体(负膨胀系数);由于晶体在生长过程中直接和坩埚接触,因此容易在晶体中引入较大的内应力和杂质;晶体生长过程中难于直接观察,生长周期也比较长;若在下降法中采用籽晶生长,如何保证在高温区既不溶解掉,又必须使它有部分溶解以进行完全生长,是比较困难的。

1.3 焰熔法优点:生长中不需要坩埚,可以有效节约坩埚材料,且可以避免坩埚带来的污染;氢氧焰燃烧时,温度可以达到2800℃,所以原则上讲高熔点的单晶只要不会发,不怕氧化,都可以用这种方法生长;生长速度快,且可以生长尺寸比较大的晶体;设备简单。

缺点:火焰中的温度梯度大,造成结晶层纵向温度和横向温度梯度大,生长出来的晶体质量欠佳;因为发热源是燃烧的气体,故其温度不可能控制得很稳定;生长出来的晶体位错密度高,内应力也比较大;对于易挥发和易氧化的材料,不适合用该方法;生长时估计有30%的原材料损失掉。

1.4导模法导模法可以直接从熔体中拉制出丝、管、杆、片、板等异型晶体,而且尺寸可以控制。

其缺点是生长条件控制比较严格,模具会给晶体带来一定的污染等。

1.5 冷坩埚法有些无机非金属材料熔点很好,能承受该高温的坩埚很少,而且不希望因坩埚而引入污染,冷坩埚法就解决了这一问题。

1.6 熔盐法(助熔剂法)优点:适应性强,几乎对所有的材料,都能找到合适的助熔剂,从中将晶体生长出来,特别适合于新材料的探索;生长温度低于材料的熔点温度,有利于获得高质量的晶体;设备简单。

缺点:晶体生长速度慢,生长周期长;晶体生长过程中不易观察生长现象;许多助熔剂都含有毒性;所生长的晶体尺寸较小;由于采用的助熔剂往往是多种组分的,在这样复杂组分体系中生长,各组分之间的相互干扰和污染难以避免。

1.7浮区法该方法缺点是只能通过固体棒的旋转来进行搅拌,熔体混合不良,掺杂表面的径向变化比提拉法晶体中的径向变化大,生长的晶体热应力比较大,对设备要求也比较高。

2、溶液法(P24)溶液法特点:在远低于熔点温度下生长,避开了可能发生的分解和晶型转变;热源、生长容器、控制系统容易选择;降低了黏度,使高温冷却时不易形成晶体的物质形成晶体;温场分布均匀,宜于生长小应力、大尺寸和均匀性好的晶体;晶体的自范性得以充分体现;多数情况下,生长过程易观察,设备也较简单;生长速度慢、周期长,对设备的稳定性要求高;组分多,影响的因素也较多。

2.1 降温法降温法适合于溶解度和溶解度系数都比较大的物质,不利于生长大单晶。

2.2 恒温蒸发法适合于生长溶解度大而溶解度温度系数又很小的物质,不利于生长大单晶。

2.3 循环流动法设备复杂,管道易堵塞。

2.4温差水热法优点:温差水热法的有点是可以生长由于存在相变或者会形成玻璃体,在熔点时不稳定的结晶相,以及在接近熔点时,蒸汽压高的材料(如ZnO)或者要分解的材料(如VO2);适合于生长比熔体法生长的晶体有较高的完整性的优质大晶体,或者在理想配比较困难时,要更好地控制成分的材料。

缺点:需要特殊的高压釜和防护措施;需要优质籽晶;整个生长过程不能观察。

3、气相法(P59)气相法的特点:生长条件和薄膜成分精确可控,具有很好的重复性;薄膜的完整性好,纯度高,但生长速度慢;生长过程种可以随时监控薄膜的取向、表面结构和形态;适合生长超晶格的量子阱结构材料;与其他制备工艺有较好的相容性,适应性广,可以制备多种晶态和非晶态薄膜;有一系列难以控制的因素,如温度梯度,过饱和比,携带气流的速度等。

3、讲述提拉法生长技术的主要特点及其操作基本过程4、提拉法的几个改进分别解决了什么问题?5、PVD和CVD的基本原理第三章思考题:1、名词:临界点,同成分点,共晶点,包晶点,固溶度曲线,相区接触法则答:1)同成分点:具有最高/最低熔点的二元连续固溶体相图如上图中的C和M点,在该点上除了两相的浓度相同外,两相的其余性质都不相同,该点代表两相共存状态。

2)临界点:具有液相分层的二元系统相图如上图中的K点所示,这样的点上不仅两相浓度相同,而且两相所有其他性质也都相同,也就是说此时两相合为一相。

3)共晶点E低共熔点E 的理解:冷却时当温度到达T E 时,体系中的液相L E 会按E 点对应的A 、B 比例同时析出A 晶相和B 晶相,E L A B +。

加热时当温度到达T E ,体系中的A 晶相和B 晶相会按E 点对应的A 、B 比例,“共同熔融”成为L E 的液相。

4)包晶点P当温度降到转熔温度T P ,根据水平PD 相线可知此时到达三相平衡状态,即存在L P ,A(B)C S ,(A)D B S 三相,这时将发生转熔过程:(A)A(B)D C P B L S S +,刚才已经析出的S B(A)再次熔融,即液相回吸(A)D B S 晶相,析出A(B)C S 晶相。

反应初期,在固液界面处由(A)D B S 和L P 直接反应生成A(B)C S ,于是(A)D B S 很快就被反应产物A(B)CS 所包裹,因此称为“包晶反应”。

5)固溶度曲线:固溶度曲线是指固溶体中溶质的最大含量随着温度的变化曲线,也就是溶质在溶剂中的极限溶解度随温度的变化曲线。

6)相区接触法则:在二元系相图中,除点接触外相邻相区的相数差永远是1。

即在两个“单相区”之间必定有一个由这两个相组成的“两相区”隔开,而不能以一条线接界。

两个两相区必须以单相区或者三相区(水平线)隔开。

2、什么是组元?独立组元?相?相与组元有什么不同?答:1)系统中每一个可以独立分离出来并能独立存在的化学物质均称为“组元”;2)凡是在系统内可以独立变化而决定着各相成分的组元,称为“独立组元”;3)“相”是指物质系统中具有稳定和相同的化学组成、晶体结构、聚集状态以及相同物理、化学性质的完全均匀一致的所有部分的总和。

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