华中科技大学_物理实验_(考试_复习资料)

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温度测量及热传导实验报告

温度测量及热传导实验报告
硅橡胶盘的稳态过程记录
测量次数
1
2
3
平均
T1(℃) T2(℃)
58.2
58.1
58.3
58.2
44.3
44.4
44.4
44.4
圆柱体金属铝棒的稳态过程记录
测量次数
1
2
3
平均
T1(℃)
58.8
58.9
58.9
58.2
T2(℃)
52.2
52.2
52.3
52.2
(5) 散热速率的测量:
在读得稳态时的 T1、T2 后,即可将 B 盘移去,而使发热铝盘 A 的底面与散热铜盘 C 直接
二、实验内容与数据处理
【实验原理】
图 1 为稳态平板法测量物体导热系数的原理示意。其中,A 为发热铝 盘,C 为散热铜盘,均由热的良导体制成。B 为待测样品盘。在测量时, 发热铝盘 A 首先将热量传递到待测物体样品盘 B,再传到散热铜盘 C。由
发热盘 A 热
流 样品盘 B
于 A、C 盘是用热的良导体制成,与待测样品盘 B 紧密接触,所以当热传
线与测试支架上的三个插座连接,两个铂电阻测温传感器导线接到测试支架的切换开关上的插座
中,通过切换开关可与仪器机箱前面板上左侧的“测温传感器”插座相联。
(2) 安装待测样品: 在测试支架上,首先放置散热圆铜盘 C,再在 C 的上面放置待测样品盘 B,然后再把带发热 器的圆铝盘 A 放在盘 B 上,再调节三个螺栓,使样品盘的上下两个表面与发热铝盘 A 和散热铜盘 C 密切接触。将两个铂电阻测温传感器分别插入发热铝盘 A(上盘)和散热铜盘 C(下盘)上的小
然冷却。观察它的温度 T 随时间 t 变化情况,并由此求出 C 盘在 T2 的冷却速率 C 的散热速率与其冷却速率的关系为:

液体表面张力系数测量201309

液体表面张力系数测量201309

数字电压表
实验过程
1)力敏传感器定标 确定K值
次数 1 2 … 8 砝码 增重时读数 减重时读数 平均值 (g) (mV) (mV) (mV) 0.000 0.500 … 3.500
2) 测量液膜断裂前后力敏传感器的 输出电压。
次数 拉脱前瞬间 拉脱后
u1 (mV )
电压差
u (mV )
u 2 (mV )
其中d为毛细管内径, h为液柱高度。
实验装置
物镜
测微鼓轮上 下移动旋钮
读数盘 调焦螺旋水 平移动旋钮 读数标尺
目镜
实验过程 1) 清洗烧杯、毛细管
2) 观察毛细现象,准备测量
3)测毛细管中 水柱高度
次数 1
毛细管水面下沿(mm)
烧杯水面下沿
(mm)
毛细管内水柱高度
(mm)

5 平均 ----------
对毛细管内液体升高的情况,平衡 时,上升液柱的重力与液体由于表 面张力的作用所受到向上的拉力相 等,即:
2r cos r gh
2
当水和玻璃都很干净时,液面 为半球面,毛细管液面四周所 受到的表面张力竖直向上,θ角为零,同时水的 体积用水柱高度及毛细管内径表示, 这时有:
1 d dg(h ) 4 6
液膜拉破后:
'
F = mg
D D2 F F 2 L 2 1 2
'
U ( D1 D2 ) K
但力敏传感器输出的是 输出电压一般和 电压, 输入的力成线性关系的, 可以设:
U K F
于是,表面张力系数
U ( D1 D2 ) K
实验装置

力敏传感器 吊环 培养皿 升降调节螺母 底座及调节螺丝

实验34 自组望远镜(新)

实验34 自组望远镜(新)

实验34 自组望远镜望远镜是常用的助视光学仪器,经常被组合在其它光学仪器中。

掌握其构造原理和调整方法,以及其放大率的概念和测量方法,有助于加深对透镜成像规律的理解。

一、实验目的1、进一步掌握透镜的成像规律。

2、掌握望远镜的构造及放大原理,以及其正确的使用方法。

3、设计组装望远镜。

4、测量望远镜的视觉放大率。

二、实验原理1、人眼的分辨本领和光学仪器的视觉放大率人眼的分辨本领是描述人眼刚能区分非常靠近的两个物点的能力的物理量。

人眼瞳孔的半径约为1mm,一般正常人的眼睛能分辨在明视距离(25cm)处相距为0.05~0.07mm的两点, 这两点对人眼的所张的视角约为'1,称为分辨极限角。

当微小物体或远处物体对人眼所张的视角小于此最小极限角时,人眼将无法分辨它们,需借助光学仪器(如放大镜、显微镜、望远镜等)来增大物体对人眼所张的视角。

在用显微镜或望远镜在作为助视仪器观察物体时,其作用都是将被观测物体对人眼的张角(视角)加以放大,这就是助视光学仪器的基本工作原理。

现在讨论在人眼前配置助视光学仪器的情况。

若同某一目标,通过光学仪器和眼睛构成的光具组,在视网膜上成像长度为'l;若把同一目标的物放在助视仪器原来所成像平面上,而用肉眼直接观察,在视网膜上所成像的长度为l,则'l 与l之比称为助视仪器的放大本领(视觉放大率),如图34-1所示。

在图34-1中,AB 表示在明视距离处的物,H 、H`为助视仪器的主点,0θ为直接观察时在明视距离处AB 的视角,θ为通过助视仪器所成像于明视距离处的视角,在人眼视网膜上的像长分别为l 和'l ,则仪器的视觉放大率M 表示为'00tan tan l M l θθθθ==≈ (34-1) 2、望远镜及其视觉放大率望远镜是帮助人眼观望远距离物体的仪器,也可作为测量和瞄准的工具。

望远镜也是由物镜和目镜组成的,其中对着远处物体的一组镜片叫做物镜,对着眼睛的镜片叫做目镜,物镜焦距较长,目镜焦距较短。

华中科技大学考研复试内容_复试参考书目_复试准备_复试资料

华中科技大学考研复试内容_复试参考书目_复试准备_复试资料

华中科技大学考研复试内容、参考书目、复试准备、复试资料011数学统计学院一、复试方式和内容1.笔试科目(学术型):数学分析、高等代数(专业型):统计学2.笔试要求:闭卷考试,时间为2小时,满分100分3.口语面试:以抽签方式回答或叙述有关应试问题及内容4.面试:以问答或叙述形式回答或叙述有关问题及内容。

范围涉及政治思想、政治态度、品德、身心健康;本科阶段所学全部知识及毕业设计有关内容,突出对所学数学知识的综合理解、应用能力的测试及解决实际问题能力测试;计算机使用能力等。

要求考生正面回答问题。

二、参考书目《数学分析》,华东师范大学(上、下册),高等教育出版社《高等代数》(第二版),北京大学数学系,高等教育出版社,1988《统计学原理》,黄良文、曾五一,中国统计出版社,2008三、复试分数线学术型:政治50 英语50 专业一90 专业二90总分:348专业型:政治60 英语60 专业一100 专业二100总分:380012物理学院一、复试方式及内容:3月22日上午8:30~11:50;下午2:00~5:30以二级学科点(或中心)组织面试考试(包括英语听说和专业面试),每个组点由3~5名教师及一名记录员组成。

1.英语听说面试前,做好命题准备工作,时间约为8分钟,考试全程录音,录音保存期为6个月。

(1)考生与主考就考生的大致背景进行简短问答交流,约3分钟。

(2)主考针对考生发言提问,进行交谈,约5分钟。

2.专业面试(1)面试内容应包括专业知识,综合素质和能力以及思想政治品德等考核内容。

每名考生面试约20分钟。

(2)要求各小组做好记录,在公平、公正基础上做好硕士生录取工作。

8:30 ~ 11:00 考试科目:力学(第二版)郑永令等编,高教出版11:00 ~ 11:50 有关政治表现等考查二、考试成绩的计算:复试成绩= 笔试(满分16分)+英语口试(满分8分)+专业面试(满分16分)物理学科(0702):政治45、外语45、数学80、专业课80,总分:300分以上。

实验46 PN 结的物理特性及玻尔兹曼常数测定

实验46 PN 结的物理特性及玻尔兹曼常数测定

5/5
也是常数;U0 为绝对零度时 PN 结材料的导带底和价带顶间的电势差;I 为二 极管的正向电流。 将 (4)式代入 (3)式,由于 e qU / kT 1 ,两边取对数可得
U U0 (
kT c kT ln ) ln T r q I q
( 5)
其中非线性项
kT ln T r 相对甚小,可以忽略。 q
实验 46
PN 结的物理特性及玻尔兹曼常数测定
温度是一个历史很长的物理量,为了测量它,人们发明了许多方法。温度传 感器通过测温元件将温度转化为电学量进行测量,具有反应时间快、可连续测量 等优点。其中热电偶1、热敏电阻和 PN 结是常用的温度传感器,广泛应用于自动 控制、温度测量等现代技术中。 【实验目的】 了解半导体热敏电阻、 PN 结的电输运的微观机制及其与温度的关系; 了解利用半导体热敏电阻的电压 -温度曲线拟合计算热敏电阻的温度系数 (热敏指数)的原理; 了解利用半导体 PN 结的电压 -温度曲线计算 PN 结绝对零度下的禁带宽 度( Eg0)和玻尔兹曼常数 k 的原理; 测量半导体热敏电阻的电压 -温度曲线; 测量半导体 PN 结的电压 -温度曲线; 【实验仪器】 PN 结的物理特性及玻尔兹曼常数测定仪, 热敏电阻和 PN 结温度传感器, 导线,数据线,电源。 【实验原理】 1.半导体热敏电阻物理特性: 半导体材料的热电特性最为显著,因此,也最常用作温度传感器。一般 而言,在较大的温度范围内,半导体都具有负的电阻温度系数。半导体的导 电机制比较复杂,起电输运作用的载流子为电子或空穴。载流子的浓度受温 度的影响很大,因此半导体的电阻率受温度影响也很大。随着温度的升高, 热激发的载流子数量增加,导致电阻率减小,因此半导体呈现负的电阻温度 系数关系。 但在半导体中存在晶格散射、 电离杂质散射等多种散射机制存在, 使得半导体具有非常复杂的电阻温度关系。在实际应用中,半导体的导电性 质往往通过搀杂工艺来调控,掺杂杂质原子的激发对半导体的电输运性能产 生很大的影响。虽然半导体具有非常复杂的电阻温度关系,不能用一些简单 的函数概括,但在特定温度区间,其电阻温度关系可以用经验公式来概括, 如本实验中用的半导体热敏电阻,它的阻值与温度关系近似满足下式:

华中科技大学物理实验预约系统说明(学生版)

华中科技大学物理实验预约系统说明(学生版)
每周周一、下午5~6节 周三、
周五
实验室
西五楼115( Ⅲ 室——力、热) 西五楼115( Ⅲ 室——力、热) 西五楼107(Ⅰ室——电磁学)
每次每室最多能容纳30位学生,预约满额截止!
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液体表面张力系数的测量

液体表面张力系数的测量
5
的水平线与玻璃器皿中液体凹面的下沿相切,再记下该读数,两读数之差即为液柱高 h。 重复测量 5 次,将所得数据记入表格中。 3、将毛细管取出平放在木盒上,对准显微镜筒调节焦距,直至观察到清晰的毛细管圆 孔图像,测出内径 d,转动毛细管,放在不同的方位测五次,将所得数据记入表格中。 4、取干净的烧杯和玻璃毛细管,装入乙醇,重复上面的步骤。 三、选做内容:综合设计实验 1、设计实验,研究力敏传感器的特性。 2、研究在水中加入洗洁精等表面活性剂后表面张力系数的变化,解释原因。 3、研究磁流体的表面张力系数,以及加入磁场后磁流体的表面张力系数的变化特点。 4、利用现有的仪器,测量液体的粘滞系数。
r 的圆柱体体积和半径为 r 的球体积的一半之差,即V ' = π r 3 − 1 × ⎜⎛ 4 π r 3 ⎟⎞ = 1 π r 3 ,故被 2 ⎝3 ⎠ 3
图 3 FD-NST-I 液体表面系数张力测定仪
忽略的液体重量W ' = 1 π r 3 ρg 。当考虑这部分液重后,可得 3
σ = 1rρg⎜⎛ h + r ⎟⎞ = 1 dρg⎜⎛ h + d ⎟⎞ 2 ⎝ 3⎠ 4 ⎝ 6⎠
7
9、使用读数显微镜时要注意:为了防止回程误差,在测量时应向同一方向转动鼓轮使 叉丝和各目标对准,当移动叉丝超过了目标时,就要多退回一些,重新再向同方向转动螺轮 去对准目标。
2π rσ cosϕ = 2π rσ r = π r 2 ρgh
(8)
R
则有
1摘自《大学物理实验》,熊永红主编,华中科技大学出版社,2004。 3
σ = rρgh = Rρgh
(9)
2 cosϕ 2
若毛细管都非常清洁,有ϕ=0,R=r,则
σ = rρgh 2

微波迈克尔逊干涉与布拉格衍射解读

微波迈克尔逊干涉与布拉格衍射解读

八、相关文献
[1] 唐超群主编 近代物理实验讲义 2008.2 [2] 王圩,半导体微结构物理效应及其应用讲 座-第1讲 布拉格衍射效应在半导体光电子器件 中的应用与发展,物理,2004,33(8)597-604.
华中科技大学物理系物理实验中心
微波迈克尔逊干涉与布拉格衍射
一、开篇设问
1. 微波迈克尔逊干涉与传统的光波迈克尔逊干涉有何 本质区别? 2. 微波布拉格衍射与晶体中的布拉格衍射有何本质区 别?要实现微波布拉格衍射,其模拟晶体的晶格常 数应该在什么量级? 3. 模拟晶格中有多个晶面,微波布拉格衍射实验过程 中是否可以同时观测到多个晶面发生衍射?为什么? 4. 微波迈克尔逊干涉得到的微波波长值与波导测量线 测得的微波波长值是否一致?
1、微波布拉格衍射实验 布拉格晶体衍射原理如图2所示
相邻晶面散射X射线发 生干涉加强的条件是
2d sin n
图2、布拉格衍射实验原理图
四、实验仪器
本实验采用北京大华无线电仪器厂生产的DH926B 型微波分光仪,结构图如图3、4所示。
A固定板 B移动板 接收喇叭
发射喇叭
检流计
微波信号源 图3、微波迈克尔逊干涉装置图
2、分布布拉格反射激光器 在半导体激光器内部建立一个布拉格光栅结构,用光 栅代替激光器的腔面来分布式地反馈光。
七、最新进展
3、可调波长DFB/ DBR激光器 基本工作原理也是以布拉格衍射效应为基础,通过 改变注入到布拉格光栅区的电流,(根据等离子体效 应) 使光栅区的有效折射率发生改变,其布拉格波 长也就会有相应的移动。 4、光纤布拉格光栅( FBG) 采用全息曝光技术在光纤上制作各种波长的布拉格光 栅。
二、背景介绍
191 彰他们在的杰出用X射线研究 晶体结构方面所作出贡献。 1912年,W.L.布拉格在德国物理学家 M.von劳厄发现X射 线通过晶体产生衍射的基础上, 进行了一系列实验, 1913年提出布拉格公式。 他们父子二人研究出晶体结构 分析的方法,从理论及实验上证明了晶体结构的周期性 和几何对称性,奠定了X射线谱学及X射线结构分析的基 础,从而为深入研究物质内部结构开辟了可靠的途径
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. 2、RLC电路

【Q】在测量RC串联电路的时间常数时,若充电的时间不够或充电过快,对结果有何影响? 【A】充电不足不就是充电过快么?充电不足使得最大值未达到就放电,此时下降到一半(0.5E)的的时间td变长,故偏大。

【ALL_Q】 (1) 试分析方波信号频率对观察和测量RLC电路暂态过程的影响? (2) 依据现有装置,拓展设计对电路内阻r的测量方案与分析。 (3) 估计和检验实验测量结果的正确性与合理性的经验分享。 (4) 实验中如何判断弱阻尼、临界阻尼和过阻尼状态?简述理由。 (5) 实验电感的电阻值,是否影响RLC电路的振荡特性?为什么? (6) 测量RC电路 τ 时,充电不足或过快对测量结果有何影响? (7) 判定临界阻尼现象、改善和提高 Rc 测量的精度的经验分享。 (8) RLC电路实验的总结(经验分享、体会、感想、讨论、建议等)。

(2) 依据现有装置,拓展设计对电路内阻r的测量方案与分析。通过本次的三个实验,都可逆向求解电路内阻r. ①RC电路中,调节电阻箱使Vc(t)末端走平且R最大,由半衰法求解τ,由τ=RC可求出r=R-R电阻箱。 可以调节C值,并多次测量求平均值。缺点:判断E/2处时,波形线较粗,光标较细,会造成一定的误差。 ②RLC电路中,将电阻箱置零,调节C与L的值(可使一值不变,只调节另一值(控制变量)),由实验方法测量3-5组T值,并由T=(2π√LC)/[√(1-R²/4L)]可求解R值,即r。

此方法较为准确,当调节光标时可以利用波峰的对称性来确定其位置,且每次测量时两光标之间相隔3-4个周期,测出的T较为精确。

③临界阻尼状态下,Rc=2√(L/c)=R电阻箱+r。此方案在测量时较难确定其临界状态,对r的值确定影响较大。 当调节方波的U与T(1/f)值,使波形本身放大,从而使图像更加清晰。

综上,方案二测出的r值更为准确。 (7) 判定临界阻尼现象、改善和提高 Rc 测量的精度的经验分享。 . 在测量过程中,我尝试使用两种方法来确定临界阻尼,①调节时间轴最短,U轴最大,从而使弱阻尼状态下震荡个更加明显,,但此种方法使曲线更粗,难以判断波形。②将横向和纵向都调节到最大,寻找无震荡且最陡的曲线,但在临界状态附近仍难以判断。

思考:假设波形放的更大能更加准确的测定临界状态,但由于示波器有其防大范围,所以可以适当放大方波的U与T(1/f)值,使波形本身更大,从而使波形在临界状态下的波形更清晰。(但也有可能波形变粗使其难以判断)。

(1) 试分析方波信号频率对观察和测量RLC电路暂态过程的影响? 方波信号频率决定了电容的充电时间的长短,当频率较大即时间较小时,电容不能完全的充放电,得到的V-t图中,电压还没到饱和值变成水平线时便开始放电下滑了;当频率较小即时间较长时,得到的V-t图中,电压上升所占的比率较小,难以从图中清晰地看到电容充放电的具体过程。故综上,应当选取适当的频率以获得合适的,刚好充满整个坐标的电容充放电的V-t图

(4) 实验中如何判断弱阻尼、临界阻尼和过阻尼状态?简述理由。 在RLC电路的暂态过程周期图中,若电压V经过震荡后才逐渐稳定,则为弱阻尼状态;逐渐增大电阻R,若电压V从大幅震荡逐渐减小至刚好无震荡,则此时的电阻为临界阻尼状态;再逐渐增大R,从刚好无震荡变成以缓慢递增的变化方式逐渐趋于稳定状态,则此时为过阻尼状态。

(6) 测量RC电路 τ 时,充电不足或过快对测量结果有何影响? 充电不足,则导致电压还没上升到最大值时便开始放电下降,此时根本不能测得 τ 值;当充电过快时,虽然电容是完全地进行了充放电,但所占时间比例较小,很难精确地测得半衰期,所得结果自然不准。

(8) RLC电路实验的总结(经验分享、体会、感想、讨论、建议等)。 在判断临界阻尼现象时,一定不要局部地放大震荡部分,如此的话,会是原本曲率较大的震荡部分被拉平,导致人无法准确地判断临界阻尼状态。应当适当地放大或缩小示波器上的图像以便准确地观察到震荡部分的变化和消逝

第1题:方波信号频率过大,会导致其周期过小,从而示波器上显示的曲线半周期内t方向上过窄,不利于观察。而且需要将R调节地很小才能使曲线末端水平,而R的调节是要求在千欧级调节的,故实验的精确度会降低。而方波信号频率过小,会导致其周期过大,同样不利于实验现象的观察和测量。

第6题:充电不足不符合半衰期测量法的充电完毕的前提,而充电过快即调节的R过小,而R的调节是要求在千欧级调节的,故这样会使实验精度降低。

一、对于电路测量,误差的来源有多方面。 首先的,示波器的图像的粗细与清晰状况,直接相关于光标的标定,于是时间的测量有相当的误差。 然后,载入示波器后,电路的阻抗变了,响应有变化,会造成一定的实验测量误差。 再者,本实验只有一组数据测量,存在偶然误差。 另外,观察阻尼振动信号时,后半部的波峰—波谷起伏变小,对测量造成影响。 二、关于RLC串联电路中测定Rc的值,我们有采样法与峰值法。试验中,用采样法时,波形在拐点处平缓,观察"突起"应不断地调大与调小“秒/格”按钮。峰值法,波形的变化随着R的增大而变化明显。俩种方法都可以在试验中用一用,实际检查效果。 . 三、思考题分析。 (一)分析方波信号的频率f对观察和测量RLC电路暂态过程的影响? 分析: T=1/f 因此f的改变会导致周期的改变,而电容与电感的充放电过程是需要时间的,于是f的改变便影响了电路的充放电过程。

当RC<当RC>>T/2时,因充放电时间的不足,使电量未释放完全从而多次充放电后U会逐渐增大。

3、导热系数 【Q】讲义中,导热系数的测量式成立的前提条件是什么? 【A】 1.环氧盘B的厚度足够小,使得可以近似的认为环氧盘B的侧面没有热量损失;

2.外界条件不变,对实验没有影响;圆盘之间接触紧密且大小相等,保证热量能完全充分地交换; 3.加热盘A,环氧盘B,散热盘C均为理想圆柱; 4.热电偶的插头与加热盘A,环氧盘B紧密接触,能正确的显示其温度 1.发热盘A和散热盘C是用热的良导体做的; 2.样品盘与发热盘和散热盘紧密接触; 3.热传导的方向垂直于样品盘的上下表面; 4.外界环境较稳定。 【Q】实验中如何做可使测量更准确些? 【A】 1.实验过程中,环氧盘B的侧面的散热没做考虑 solution:增大环氧盘B的半径,减小厚度,使侧面积与表面积之比尽可能低 . 2.加热盘A,环氧盘B,散热盘C之间存在缝隙,没能紧密接触 solution:实验开始时尽量将他们压紧

3.错误地判定稳态,没到稳态时便开始测定冷却速率 solution:耐心等到温度不再上升,只是在一定范围内波动时再进行下一步实验

4.热电偶的插头未与加热盘A,环氧盘B紧密接触,导致测温不准 solution:实验开始前,尽量确保它们紧密接触 5.实验开始时,所测加热盘A,散热盘C的温度不一致;计算导热系数时没将此误差计算在公式中。 solution:实验开始前将温度差记下,处理数据时记得将其带入

4、组合光学 【Q】为什么检流计读数最大值要求100以上? 【A】首先,因为第2高峰的数值是第一个的5%,如果第一个小于100,则第二个高峰小于5,数据太小,不便于直观反映图像,而仪器的误差范围是一定的,相对来说,数据小的误差更大。而且我认为,数据太小,在移动架鼓轮时,移动的距离也小一些。可以通过增大单缝的宽度来增大最大值,但是不能超过量程,而且需要保证衍射现象明显。

【Q】做牛顿环实验调节条纹时,一部分清晰一部分暗,不能清晰读条纹,是什么原因?怎样调出清晰条纹? 【A】可能的原因:可能是因为牛顿环与读数显微镜不平行或不同轴,导致牛顿环只有部分区域在显微镜的聚焦范围内;还有可能是因为钠光灯位置没调好,导致一部分亮一部分暗。//焦距没有调好?

调整办法:首先进行粗调,尽量使牛顿环与读数显微镜同轴等高相互平行,再从读数显微镜中观察进行细调,直至图像清晰。如果仍然亮度不够,可以调节钠光灯的照射角度及其位置,以保证图像的清晰和实验的精确

5、液体表面张力 【Q】简要说明毛细管内液面能升高的原因? 【A】因为,水能润湿玻璃。即,其“附着力”大于“内聚力”,液体会眼固体表面扩张。 表面张力沿切线方向,其大小与周长成正比。即F=T*2pi. 比例常数T 为水的表面张力系数。正是F 沿铅直方向的分力Fco sH使管内水面最低点相对管外水面升高。 因此,页面会升高。根据相关公式,我们即可进行定量计算~

【Q】为什么液膜破裂前的一瞬间读出U1 值,而不是将数字电压表显示最大值作为U1? . 【A】因为,当输出最大值U1时,并非为“临脱状态”,液膜较厚,液膜重量较大。

而书中的计算方法要求“忽略液膜重量”,因此,会带来实验误差。 经计算比临脱状态测量相对误差大1%~2%[1]. 【Q】若吊环的下沿所在平面与液面不平行,表面张力系数怎么变? 【A】使测量值偏小。

因为当吊环不水平时,一边的液膜会先破裂,而此时另一侧还未达到“临界状态”。 因此测得拉力小于实际值,导致结果偏小。 【Q】表面张力与哪些因素有关?实验中应注意哪些因素才能减小误差? 【A】 减小误差的方法:

(一)拖拉法 a、降低平台时,应尽量缓慢。(因为,液面震动会使液面提前破裂。) b、测量前,应将吊环口擦净。(为去除油污) c、不要过于缓慢,以防止液膜蒸发 d、防止外界环境变化,如较大的空气流动。 e、吊环要水平。

(二)毛细管法 a、清洗毛细管 b、调整毛细管高度,在不同高度测量(防止毛细管内径不均匀)。 c、注意要让液体充分湿润内壁。

7、偏振光实验 【Q】获得椭圆偏振光的条件是什么? 【A】光束入射光学各向异性晶体后,因折射率不同分为o光与e光,o光e光出射时有相位差Δφ=2π*d*(no-ne)/λ。倘若

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