瓷片电容检验规范
某司电容器检验作业指导
1 电容器检验作业指导 1 目的：掌握电容器检验标准，使来料质量更好的符合我公司的品质要求。 2 适用范围：电脑电玩厂所使用的电容器。 3 检验仪器和设备：LCR测试仪、漏电流测试仪、锡炉、游标卡尺、绝缘电阻测试仪。 4 检验项目及技术要求： 4.1 外观: 4.1.1 表面无脏污、破损，无混料,电容标识清晰、正确，电解电容器须有极性及额定电压标识，引线脚无氧化、弯曲、变形，瓷片电容器引线脚覆盖瓷粉不超过1.5mm。 4.1.2 瓷片电容温度特性范围为-25℃～85℃. 4.2 结构尺寸：电容器主体尺寸、引线脚尺寸应符合装配或样品要求。 4.3 引线脚抗折性：经抗折后，引线脚无松动、脱落。 4.4 电气性能： 4.4.1 电容量在标称容量允许偏差范围以内。 4.4.2 损耗角正切值(D): 4.4.2.1瓷片电容:C≥0.01μF 则D≤0.1; C<0.01μF 则D≤0.05. 4.4.2.2涤沦电容:D≤0.01 4.4.2.3电解电容D值参见电解电容损耗角正切值一览表. 4.4.3.1电解电容漏电流(IR)应符合:充电时间t≤1分钟 IR≤0.01CV或3μA(二者取大值) (注:C是电容量,V是电容的耐压值) 4.4.3.2瓷片电容绝缘电阻(R绝):在额定电压下测试 C≤221 则 R绝≥104MΩ 221 C>223 则 R绝≥102MΩ 4.4.3.3涤沦电容绝缘电阻(R绝): R绝≥104MΩ 4.5 可焊性：经可焊性后，引线脚浸锡部分上锡面应在98%以上。 4.6 丝印耐磨性:瓷片电容经耐磨测试后,丝印应清晰. 瓷片电容瓷粉耐热性:耐热试验后,瓷片电容无起泡,丝印无脱落、模糊。 2
5 检验方法 5.1 外观:目测法（瓷片电容用游标卡尺度量引线脚覆盖瓷粉长度） 5.2 结构尺寸:试装或用游标卡尺测量。 5.3 引线脚抗折性：从引线脚根部折引线脚900，来回折五次。 5.4 电气性能：用LCR测试仪、漏电流测试仪和绝缘电阻测试仪测量。 5.5 可焊性:将电容引线脚在锡炉中浸锡3-4秒后取出，锡炉温度245±5℃。 5.6 丝印耐磨性：用白布沾少量酒精往瓷片电容丝印处擦10次。 5.7 瓷粉耐热性：把瓷片电容引脚放入锡炉中浸锡10S后取出，锡炉温度为245±5℃。 6 缺陷分类(见附表) 7 抽样方案: 8 处理方法:按《进货检验标准总则》执行。
电容检验标准与规范
原材料名称：电容
页码
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4.特殊项目检验标准及检验方法
4.1电容材质保证：同一材质物料,供应商须向我司提供原胶料出厂材质证明书；每年核查一次，无材质证明书按MA判定处理。
4.2电容安规证书及型式检测报告：对于符合安规性电容,供应商须每年向我司提供最新版安规证书及型式检测报告：每年核查一次无提供安规资料或安规资料不真实有效按MA判定处理。
XXXX股份有限公司
文件编号
版次
原材料检验标准与规范
修订码
生效日期
2016
原材料名称：电容
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文件正式审批
编制部门
编制
审核
批准
品质部
XXXX股份有限公司
文件编号
√
1.0以上视力
包装标识内容无误
包装标识内容错误
√
本体
一般抽样
目视本全表面
外表光滑，印字清晰，无压伤、刮伤及破裂鼓顶；品牌规格一致，无混料且与资料要求相符
电解电容周期控制在1年内
外表粗糙，印字模糊，有压伤、刮伤及破裂；品牌规格与资料不符，有混料现象，周期≥1年
√
1.0以上视力
引脚
一般抽样
目视引脚
引脚光亮、无氧化成直线无弯曲现象；电解电容短的引脚应与电容管身上负极标示对应
按照规格书用漏电流测试仪器对其进行测试
符合规格书要求，且外观正常
不符合要求，外观炸裂等
√
漏电流
测试仪器
电容测试规范V1.1
1.目的 (2)2.适用范围 (2)3.名词解释 (2)4.测试流程图 (2)5.测试项目 (3)5.1.资料确认 (3)5.2.单体测试 (4)5.2.1.外观检测 (4)5.2.2.尺寸测量 (5)5.2.3.端子强度测试 (5)5.2.4.可焊性测试 (6)5.2.5.模拟过回流、波峰测试 (7)5.2.6.容值精度测试 (7)5.2.7.DF测试 (8)5.2.8.纹波电流测试 (9)5.2.9.寿命测试 (9)5.2.10.耐压、击穿电压测试 (10)5.2.11.绝缘电阻测试 (11)5.2.12.高低温存储测试 (12)5.3可靠性测试 (12)5.3.1温度循环 (12)5.4特别制造 (13)6附件 (13)7参考文献 (13)8相关记录表单/模板 (13)9解释权限及生效日期 (13)11.目的针对电容部品的替代，熟悉电容的测试方法以及评判标准，保证网络产品电容测试方法的一致及准确，提高网络产品部品测试的效率，确保部品的品质和可靠性。
2.适用范围适用于CE负责的电容部品认证。
3.名词解释名词英文全称解释ESR Equivalent Series Resistance 等效串联电阻DF dissipation factor 介质损失因数UR rated voltage 额定电压值4.测试流程图25.测试项目5.1.资料确认测试项目规格书、测试报告确认文档包括承认书、样品、试验报告、炉温曲线、ROHS报告等资料确认目的核对规格书，根据部品关键参数表，关键参数是否符合A配套要求或我司产品要求。
关键参数B配套参数如下：35.2. 单体测试 5.2.1. 外观检测电容器件选型入口表.xls另，需确认：1. 铝电解电容补充技术指标：a) 耐压指标：低压（低于180V)电解电容达到额定电压的130%以上；高压电解电容（200V以上）达到额定电压的120%以上；b) 温度寿命指标：105°C 使用5000小时以上。
电容检验标准
V
4
可焊性
炉温在250-270C状态下，浸锡时 间：1.5〜3S,观察引脚吃锡率〉95%以上。
浸锡 试验
经浸锡试验后，吃锡不良（吃 锡率小于95%）。
V
电容检验标准
文件名称电容检验标准文件编号页码2of2版本A/ 0
序 号
检验 项目
接收标准
检验工
具及 方法
缺陷描述
缺陷等级
致命 (CR)
严重
(MA)
轻微
(Ml)
5
电气 特性
电容量：在1KHZ条件下测试， 容量在规定偏差范围内。
LCR电 桥测试
仪
不符合要求。
V
损耗角正切值：在1KHZ条件下 测试损耗角正切值符合设计要求。
不符合要求。
V
耐压：电容器在室温下承受施加 于引脚间的，其值为2UR（额定电压）， 时间：60S的直流电压，漏电流设定1mA，无击穿现象。
小时，满足：
1） 损耗角正切值不大于原规定值2
倍；
2）容量变化不超过30%
不符合要求。
V
8
密封和 加热试 验
将未通电的电容器放置于烘箱
（需分散），在85C状态下恒温烘烤1小时，观察试验期间，电容不得出现 浸渍剂或填充料泄漏现象，电容器也 不得成为开路，试验后重新测试电容 器的容量、损耗角正切值符合原规定 要求。
主体有封装不良、表面不平。
V
引脚无发黑氧化、吃锡良好。
弓1脚有氧化、吃锡不良。
V
电容本体不能有破裂，表面涂覆 层脱落、露芯现象。
电容本体破裂，表面涂覆层 脱落、露芯现象。
V
3
结构
主体直径、长度、脚径符合设计要求。
电容器检验作业指导
4.7瓷片电容瓷粉耐热性：耐热试验后,瓷片电容无起泡，丝印无脱落、模糊。
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审核
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【MeiWei_81重点借鉴文档】
作业指导书
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标题
电容器检验作业指导
生效日期
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第 页共页
5检验方法
5.1外观:目测法（瓷片电容用游标卡尺度量引线脚覆盖瓷粉长度）
5.2结构尺寸:试装或用游标卡尺测量。
5.3引线脚抗折性：从引线脚根部折引线脚900，来回折五次。
5.4电气性能：用LCR测试仪、漏电流测试仪和绝缘电阻测试仪测量。
5.5可焊性:将电容引线脚在锡炉中浸锡3-4秒后取出，锡炉温度245±5C。
5.6丝印耐磨性：用白布沾少量酒精往瓷片电容丝印处擦10次。
作业指导书
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版本号
标题
电容器检验作业指导
生效日期
年月日
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1目的：掌握电容器检验标准，使来料质量更好的符合我公司的品质要求。
2适用范围：电脑电玩厂所使用的电容器。
3检验仪器和设备：LCR测试仪、漏电流测试仪、锡炉、游标卡尺、绝缘电阻测试仪。
4检验项目及技术要求：
4.1外观：
4.1.1表面无脏污、破损，无混料，电容标识清晰、正确，电解电容器须有极性及额定电压标
识，弓I线脚无氧化、弯曲、变形，瓷片电容器引线脚覆盖瓷粉不超过1.5mm。
4.1.2瓷片电容温度特性范围为-25 C〜85C .
4.2结构尺寸：电容器主体尺寸、引线脚尺寸应符合装配或样品要求。
4.3引线脚抗折性：经抗折后，引线脚无松动、脱落。
4.4电气性能：
瓷片电容容量误差104z
瓷片电容容量误差104z
瓷片电容容量误差104Z表示误差为±80%/-20%。
104Z代表容量0.1uF，Z 代表误差。
这种瓷片电容一般被广泛应用于各种电子设备中，如电视机、电脑、手机等，作为高频、高压、大电流等电路中的隔直流或旁路电容。
在使用瓷片电容时，需要注意以下几点：
1. 选用合适的电容型号和规格，根据实际需求选择容量、耐压、耐温等参数符合要求的电容。
2. 注意电容的引脚排列和极性，避免接入电路时出现错误导致电路故障。
3. 在使用过程中，避免将瓷片电容置于高温、高压、强磁场等恶劣环境中，以免对电容造成损害。
4. 定期检查电容的外观和性能，如发现异常应及时更换。
总之，瓷片电容作为一种重要的电子元件，在电路中发挥着重要的作用。
在使用过程中，需要注意电容的选用、使用环境、检查和维护等方面的问题，以保证电路的安全和稳定。
贴片陶瓷电容、贴片电容试验指导书1.4
备
注 1、二类材质的电容需进行预处理后再进行试验，处理条件如下：150℃放置1小时，取出后在标准大气条件下恢复24 小时； 2、高压MLCC（500V以上）要做抗电强度测试，抗电强度测试时施加1.25倍额定电压*60S 3、试验2只适应附表1中带*的部分产品； 4、试验5只适用于0603的X7R、X5R、Y5V产品； 5、2、4试验后的恢复时间定为：NPO、X7R、X5R（<104)24小时，Y5V及X5R（≥104)48小时； 6、本试验需要样品数量为50PCS，试验周期：NPO：四天，X5R、X7R、Y5V:七天（含预处理时间）
对于NPO（即COG）：α≤±50ppm
（ppm） ，其中△T=T2-T1
对于X7R及X5R：T.C.≤±18%
变化率T.C.=（C2-C1）/C1*100%
施加电压：施加2倍额 定电压 NPO、X7R 温度：125℃ 时间：48h 恢复时间：24h
1 10 0
显微镜下检查：外观无明显异常及可见损伤，
拟制：杨圣杰 标准化审核：张彦强 审核：黄春旺
批准：黄春旺
1
3
NPO：击穿电压≥6倍额定电压 0 X7R/X5R：击穿电压≥4倍额定电压
穿，记录此电压值。
Ⅰ类陶瓷电容测试条件
备 Ⅱ类陶瓷电容测试条件 注
标称容量
C≤1000PF C＞1000PF 标称容量
C≤10μF C≤100PF
测试频率 1MHz 1KHz
测试频率 1KHz 1MHz
测试电压
1Vrms
测试电压 1Vrms 1Vrms
绝缘电阻≥1000M 或Rj×C≥25s
显微镜下检查，外观无明显异常及可见损 伤
温度：55±3℃
2
关于片式瓷介电容器检测分析
关于片式瓷介电容器检测分析[导读]摘要：电子元器件在军用和民用的各个领域有着广泛的运用，其使用环境必然不尽相同，有时还存在很大差异，因此电子元器件的特性也会有所不同。
摘要：电子元器件在军用和民用的各个领域有着广泛的运用，其使用环境必然不尽相同，有时还存在很大差异，因此电子元器件的特性也会有所不同。
本文以片式瓷介电容器对其在检测过程中所采用的国内外标准及一些常见失效作一整理分析。
关键词：多层片式瓷介电容器国标国军标国外标准失效分析 0 引言片式多层瓷介电容器(MLCC)——简称片式电容器,是采用烧结工艺将芯材（介质和电极材料）烧结成一个整体，它是在若干片陶瓷薄膜坯上覆以电极材料，经过一次性高温烧结成一块不可分割的整体，外面再用树脂包封而成。
从而形成一个类似独石的结构体，故也叫独石电容器。
片式电容器除有电容器“隔直通交”的通性特点外，其还有容量大、体积小、寿命长、可靠性高、电容量稳定、耐高温耐湿性好、适合表面安装等特点被广泛用于电子整机中的振荡、高频滤波和电源退耦、旁路电路等设备中。
片式电容器根据所使用的材料可分为三类：温度补偿类、高介电常数类和半导体类。
随着表面贴装技术（SMT）及便携式电子产品迅猛发展，近年来开发出各种尺寸小、性能好的贴片式元器件（SMD），贴片式多层陶瓷电容器（MLCC）就是十分出色的贴片式元件之一。
由于它有极好的性能、多种不同的品种、规格齐全、尺寸小、价格便宜等特点，得到极其广泛的应用。
目前国内外片式电容器标准比较齐全，如IEC60384-21（22） ElA-198、MIL-C-55681、CECC32100、JIS-C-6429等，还有一些国外公司制定的采购规范和样本，如汤姆逊公司、菲利浦公司、松下公司等。
我国也根据国际标准和国外先进标准新制定了等同或等效采用的GB/T21041（2）-2007表面安装用1、2类多层片式瓷介电容器分规范(等同采用IEC60384-21（22）和GJB192A-1998有可靠性指标的无包封多层片式瓷介电容器总规范(等效采用MIL-C-5568lD)。
高压陶瓷电容如何测量好坏！
⾼压陶瓷电容如何测量好坏！
科技的迅速的发展，带动了电容⾏业。
那么我们如何测量⾼压陶瓷电容的好坏，今天⼩编教⼤家⼀个检测电容的⽅法。
快点拿起你⼿中的陶瓷电容按照此⽅法进⾏检测吧！
⾼压瓷⽚电容及⼀般电容器检测的⽅法
1.固定电容器的检测:
A检测10pF以下的⼩电容。
因10pF以下的固定电容器容量太⼩，⽤万⽤表进⾏测量，只能定性的检查其是否有漏电，内部短路或击穿现象。
测量时，可选⽤万⽤表R×10k挡，⽤两表笔分别任意接电容的两个引脚，阻值应为⽆穷⼤。
若测出阻值(指针向右摆动)为零，则说明电容漏电损坏或内部击穿。
B检测10PF～0 01µF固定电容器是否有充电现象，进⽽判断其好坏。
万⽤表选⽤R×1k挡。
两只三极管的β值均为100以上，且穿透电流要⼩。
可选⽤3DG6等型号硅三极管组成复合管。
万⽤表的红和⿊表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。
由于复合三极管的放⼤作⽤，把被测电容的充放电过程予以放⼤，使万⽤表指针摆幅度加⼤，从⽽便于观察。
应注意的是：在测试操作时，特别是在测较⼩容量的电容时，要反复调换被测电容引脚接触A、B两点，才能明显地看到万⽤表指针的摆动。
C对于0 01µF以上的固定电容，可⽤万⽤表的R×10k挡直接测试电容器有⽆充电过程以及有⽆内部短路或漏电，并可根据指针向右摆动的幅度⼤⼩估计出电容器的容量。
测量的⽅法有很多种，我们选择的⾼压陶瓷电容⼚家很多。
在这个假货满天飞的市场⾥，正确的选择很重要，⼚家的实⼒也很重要。
⼤家可以实地考察⼯⼚，可以查询证书号确认真伪。
2---X电容Y电容承认检验规范
电子负载机 示波器
厂商附检验报告
针对以上所列检测项目须有6PCS样品，100%测试OK方可承认.作业时间总计两天。 修 改 内 容 修改 记录 1 2 3 修改日期
作业时间 30分钟
检验工具或仪器 目 视
2
尺 寸
30分钟
游标卡尺
3
电容量
120分钟
LCR测试仪
4
DF值
120分钟
LCR测试仪
6
吃锡性
30分钟
锡炉
7
耐压
30分钟
高压机
8
绝缘电阻
60分钟
绝缘电阻测试仪
9
拉弧测试
60分钟
高压机
10
端子负荷
30分钟
拉力计
10文件级别：
文件名
标 题 类 别 目 的 检验规范： NO. 1 检验项目 外 观
零件承认检验规范
电容类
版本 页序 适用范围
A 2 X电容、Y电容系列
为确保本公司产品所使用之X1、Y1、X2、Y2电容均符合品质要求，达成用料统一。
检验方法 检验外观是否有破损、变形、氧化等不良.标识须清晰 无误,整脚是否符合插件要求.(须安规机种有报备之厂 牌方可承认) 依规格要求测量各部位尺寸,须符合实际装配要求. 置室温(25℃)环境1H后,以1KHz/0.3V测试其电容量是 否在规格范围内. 置室温(25℃)环境1H后,以1KHz/0.3V测试其DF值是否 在规格范围内. 将电容引脚浸入(245℃±5℃)锡炉3秒,引脚须有95%以 上吃锡. 依据规格书要求施加相应AC/DC电压,不可有耐压不良现 象. 在室温(25℃)环境,端子间加500V DC电压,测其绝缘电 阻值须符合规格要求. 在室温(25℃)环境,端子间加电容耐压值 (Y1:4KV/Y2:2.2KV),设定灵敏度为6,须符合规格要 求.(只限Y电容) 按规格书要求在电容端子间施加相应拉力、扭力,不可 有端子断裂或本体破损现象。 依据机种设定标准,实际装机测试其各项电气性能须符 合机种性能要求. 厂商附检验报告 凡本公司无法检测项目均由厂商保证品质。
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CERAMIC CAPACITOR QUALITY CERTIFICATION REPORT
2013年4月22日
Customer.顧 客Part No零件代號Quantity
數 量
3
KPCS
Name CodeCAP.470PFTOL± 10%T.C.Y5PW.V.2KV.DC
INSPECTION RECORD & TEST CONDITION
Instrument儀器Freq. 頻率Temp. 溫度R.H. 濕度
檢 驗 記 錄 & 測 試 條 件Zentech-10125℃45%
ITEMDescriptionSpecificationSample SizeDefectsJudgment
NO.內 容標準（範圍）抽樣數不良數
判 定
Ac Re
NO.
Capacitance
靜電容量(PF)DF %(1)Apperance外 觀
1250
1478.91.35(2)
Capacitance
靜電容量(PF)
423~517
320
2453.81.34(3)
DF
＜ 2.5%0
3491.11.00(4)
Insulation Resistance
絕緣電阻 (MΩ)
＞ 10,0000
4474.21.14(5)
Lead Spacing
導線間格(mm)
7.5 ± 0.80
5490.31.63(6)
Coating on Lead
塗料長度 (mm)
＜ 30
6451.41.14(7)
Pull Test
拉力強度 (KGS)
＞ 10
7492.21.20(8)
Body Size
外 徑 (mm)
＜ 60
8492.21.64(9)
Thickness
厚 度 (mm)
＜ 40
9484.81.64(10)
Lead Length
導線長度 (mm)
20 T/P0
10462.41.22(11)
Temperature Charac.
溫度特性
Y5P
0
╴
X
477.141.330
(12)
Dielectric Strength
誘電體強度
3K
V.DC1250
INSPECTED SAMPLING 抽 樣 方 法型式：F.I型F.S型AA型 A2型
Item No.DefectsSampling PlanInspection
Remark
項 目缺 點 別抽 樣 計 畫檢驗別
備 考
(1)
次要缺點(Minor D.)MIL-STD-105E Single II1.5
(2) (3) (4)
主要缺點(Major D.)MIL-STD-105E Single S-40.4
(12)
特殊缺點(Critical D.)MIL-STD-105E Single S-40.1
(5) (6) (7)
次要缺點(Minor D.)
n=3 c=0
(8) (9) (10)
次要缺點(Minor D.)n=3 c=0檢驗量固定
(11)
特殊缺點(Critical D.)
n=3 c=0
CONCLUSION 檢 驗 結 果
InspectorChiefResultApprovalNOTE：
檢 驗審 核判 定核 決
Ac Re
JEC103-1
Lot No
製造批號
J2471K3DY5PS7TE
1KHZ 1.0V
陶瓷電容器品質檢驗書
實測記錄
AQL
Normal
正常
Tightened
加嚴
"
"
ˇ
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肖永星
盧蕊明
趙士宏
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"
3