杂散发射测量方法
CMU各功能模块的设置及测试基本操作
CMU200的基本设置及测试基本操作-----CDMA20001.CMU200仪器简介 (2)2.CMU200各功能模块相关设置简介 (2)2.1CMU手动测试前基本参数设置: (2)2.2SERVICE.CFG (3)2.3BSSIGNAL (4)2.4AF/RF (5)2.5NETwork (5)2.6NETworkstandard (6)2.71stServiceClass (6)2.8呼叫并建立连接 (7)3.具体测试项目 (8)3.1接收机灵敏度和动态范围 (8)3.2频率准确度 (11)3.3波形质量和频率准确度 (12)3.4最大射频输出功率 (13)3.5最小发射功率 (15)3.6门控输出功率 (16)3.7开环输出功率时间响应 (18)3.8发射机带内杂散抑制 (19)3.9码域功率 (20)3.10单频抗扰度 (21)3.11互调杂散响应衰减 (22)3.12接收机传导性杂散发射 (23)3.13闭环功率控制 (25)4.待定........................................ 错误！未定义书签。
1.CMU200仪器简介CMU200是Rohde & Schwarz公司研制出的移动台测试仪，可以测试NMT－450，US Celluar，Korean Celluar，TACS ，JTACS，North American 700，Secondary 800，US PCS，Korean PCS，1800MHz，IMT-2000等各个Band Class的移动台；可以进行CDMA One ，CDMA2000 1 X，WCDMA，Bluetooth，TDMA，GSM等各种系统的测试。
对于移动台的测试，测试项目基本含盖EIA/TIA－98D协议中的所有测试项，仪器本身已经按照98D协议要求设置了各项指标的协议要求，使用者可以一次设定所有测试所有测试项目的测试条件。
带外杂散测试标准
带外杂散测试标准带外杂散测试标准（EMI Testing Standards）是指对电子设备的电磁干扰（Electromagnetic Interference，简称EMI）进行测试的标准，以确保设备在正常操作期间不会产生对其他设备或系统的电磁干扰。
以下为常见的带外杂散测试标准的介绍：1. CISPR 22:1997（射频随机扰动的测量方法和限值）：该标准适用于数据处理设备、电信和广播接收设备等。
测试项目包括射频电缆辐射噪声的测量、射频电缆辐射抑制和射频电缆辐射电源线干扰的测量等。
2. CISPR 24:2010（信息技术设备的不同种类的电磁兼容性要求）：该标准适用于电信设备、网络设备、家用电器等。
测试项目包括射频辐射和射频传导发射、射频辐射和射频传导抑制、耦合到电源和信号线的射频抑制等。
3. CISPR 32:2012（多媒体设备的无线麦克风的辐射和抗干扰性能要求）：该标准适用于带无线麦克风的设备，如音频设备和无线通信设备。
测试项目包括射频辐射和传导抑制、麦克风的辐射测量和麦克风的抗干扰测量等。
4. ISO 11452-2:2004（道路车辆的电磁兼容性测试方法）：该标准适用于道路车辆及其相关电子设备。
测试项目包括电磁传导抑制、电磁辐射测量和电磁抗扰度测量等。
为了提高测试的准确性和一致性，通常在测试过程中会采用专业的测试设备和测试方法。
常见的测试设备包括频谱分析仪、信号发生器和示波器等。
在进行带外杂散测试时，需要注意以下几个方面：1.测试环境的准备：测试环境应满足要求的电磁隔离性能和屏蔽性能。
测试设备和设备之间应保持适当的距离，以防止相互干扰。
2.测试方法：根据不同的标准，采用相应的测试方法。
测试方法通常包括辐射测量和传导测量。
3.测试范围和限制：根据产品的特点和用途确定测试的频率范围和限值。
这些范围和限值通常在相关标准中有明确规定。
4.测试结果的判定和记录：根据测试结果判断设备是否符合相关标准要求。
移动通信基站的辐射杂散测试
移动通信基站的辐射杂散测试
黄友根;陈天华;朱建刚
【期刊名称】《上海计量测试》
【年(卷),期】2009(036)005
【摘要】@@ 无线产品如GSM、CDMA、WCDMA的基站杂散发射测试是评价基站的电磁发射的重要指标,也是基站入网测试时的一项必不可少的测试项目.杂散发射测试的测试参数是基站壳体处的最大有效辐射功率.本文从标准ETSI 300 220的定义法出发,介绍了由此衍生的其他几种杂散测试方法,并分别对这些方法的优劣进行了分析.
【总页数】3页(P18-20)
【作者】黄友根;陈天华;朱建刚
【作者单位】上海市电磁兼容重点实验室;上海市电磁兼容重点实验室;上海市计量测试技术研究院
【正文语种】中文
【中图分类】TN92
【相关文献】
1.移动通信基站电磁辐射测试研究 [J], 刘国平
2.移动通信基站电磁辐射评估与测试 [J], 冯岩;王坦;杨文翰
3.关于3C测试中移动通信产品的辐射杂散骚扰测试 [J], 邹东屹
4.移动通信基站电磁辐射的测试 [J], 张海鹏;祁征
5.福州市蜂窝移动通信基站电磁辐射测试 [J], 刘国平
因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。
LTE杂散及部分接收项测试
LTE 复杂项测试指导书修订记录Revision record摘要：本文详细描述了LTE复杂项测试方法，结合协议，包括了各个指标测试的目的、影响、测试配置、协议要求、组网环境等内容，能够帮助刚刚上手学习LTE射频测试的同事，很快掌握LTE的复杂项目测试方法。
缩略语清单：发射机指标一、发射机杂散（6.6.3.1）1. 指标含义杂散是指发射机产生的一些有害的、无用的辐射信号，包括谐波辐射、互调产物及变频产物等。
2. 测试目的衡量UE对频段外的频谱干扰，它会成为其他频段的干扰信号，为了评估出这种干扰信号的强度大小，看会对其他频段产生多大的干扰，是否满足协议要求，所以进行该项测试。
3. 测试配置杂散测试的范围是距离中心工作频率BW/2+Δf OOB +MBW/2以外的频段，该频段以内的频谱测量由ACLR 和频谱模板两个指标进行测量，这样，从9k到12.75M的频带内我们都进行了频谱覆盖测试。
Table 6.6.3.1.3-1: Δf OOB boundary between E-UTRA channel and spurious emissiondomainΔf OOB 是指：距离信道边缘的频率间隔，是边缘，不是距离上行发射中心频点的频率间隔Table 6.6.3.1.4.1-1: Test Configuration Table4. 协议要求Table 6.6.3.1.3-2: Spurious emissions limits5. 环境及组网测试仪表配置：● 综合测试仪 R&S CMW500 ● 频谱分析仪 R&S FSQ● 带阻滤波器 主要作用是衰减工作频带内的发射信号，降低输入到频谱分析仪的混频器的输入端口信号强度，防止输入到频谱仪中的信号过大，导致频谱仪过载（overload ，频谱仪动态范围不够），进而失真导致结果出错；同时防止输入到频谱仪中的信号强度大，将频谱仪的底噪抬高将杂散信号淹没，导致的测试结果不正确；还可以防止大的发射信号与频谱仪产生交调，引入额外的频谱杂散分量，影响测试结果的真实性。
ITU-R SM.329-12 杂散域的无用发射建议书说明书
ITU-R SM.329-12 建议书(09/2012) 杂散域的无用发射SM系列频谱管理ii ITU-R SM.329-12 建议书前言无线电通信部门的作用是确保所有无线电通信业务，包括卫星业务，合理、公平、有效和经济地使用无线电频谱，并开展没有频率范围限制的研究，在此基础上通过建议书。
无线电通信部门制定规章制度和政策的职能由世界和区域无线电通信大会以及无线电通信全会完成，并得到各研究组的支持。
知识产权政策（IPR）ITU-R的知识产权政策在ITU-R第1号决议附件1引用的“ITU-T/ITU-R/ISO/IEC共同专利政策”中做了说明。
专利持有者提交专利和许可声明的表格可从http://www.itu.int/ITU-R/go/patents/en获得，该网址也提供了“ITU-T/ITU-R/ISO/IEC共同专利政策实施指南”以及ITU-R专利信息数据库。
电子出版物2013年，日内瓦©国际电联 2013版权所有。
未经国际电联书面许可，不得以任何手段翻印本出版物的任何部分。
ITU-R SM.329-12 建议书1ITU-R SM.329-12 建议书*杂散域的无用发射**(1951-1953-1956-1959-1963-1966-1970-1978-1982-1986-1990-1997-2000-2001-2003-2011-2012年)范围本建议书提供了杂散域的无用发射限值以及杂散域发射的测量方法。
关键词发射限值、杂散域、参考带宽、分辨率带宽、视频带宽国际电联无线电通信全会，考虑到a) ITU-R SM.328建议书中的定义和解释说明，分别应用于处理带宽、信道间隔及各种干扰情况；区分带外发射和杂散发射以及规定带外发射的限值的情况；b) 在应用杂散发射限值时面临的一个困难是精确得到必要带宽的值和准确知道从频谱的哪一部分开始应用杂散发射的限值，特别是使用宽带或数字调制发射的业务，可能包含类似噪声和离散杂散分量；c) 有必要规定每个杂散域发射在一个或多个频率上最大允许的杂散域发射1限值，以保护所有的无线电业务；d) 严格的限值会导致无线电设备的体积或复杂性的增加，但会在总体上增加对其他无线电业务的保护，使其免受干扰；e) 对现存业务和新业务，在考虑到所涉及的无线电业务类型和种类、经济因素、技术限制以及降低高功率发射机谐波发射的困难性因素的情况下，应采取一切手段将杂散发射和带外发射的值保持在尽可能低的水平；f) 为了测量中心频率之外频率分量的功率，有必要对测量的方法、测量的单位和带宽以及测量中使用的带宽进行定义。
辐射杂散测试原理
辐射杂散测试原理
辐射杂散测试（Radiated Emission Testing）是测试电子设备辐
射出的电磁场中的杂散辐射强度。
其原理主要包括以下几个方面：
1. 电磁辐射：电子设备在工作过程中会产生电磁辐射，包括频率范围内的有线辐射和无线辐射。
有线辐射主要指通过导线和电缆传导的电磁能量，而无线辐射则是设备通过天线和其他辐射结构发射的电磁波。
2. 环境电磁湿度：电磁辐射的测试需要在无电磁干扰的环境中进行，因为外部干扰可能会对测试结果产生影响。
测试环境中的电磁湿度是指在被测设备附近的电磁场水平。
3. 测试设备：测试设备主要包括频谱分析仪（Spectrum Analyzer）和天线。
频谱分析仪可以测量电磁场中的频率、幅
度和相位等参数；天线用于接收被测设备发射的电磁波。
4. 测试方法：辐射杂散测试分为有线辐射测试和无线辐射测试。
有线辐射测试主要通过在设备电源线或其他导线上安装电流探头来测量电磁泄漏；无线辐射测试则是将天线靠近设备，并使用频谱分析仪测量电磁场的能量水平。
5. 测试标准：辐射杂散测试需要遵循相关的测试标准，如CISPR 22、FCC Part 15或EN 55022等。
这些标准规定了测试
的频率范围、测试环境、测量方法和限值要求等。
通过辐射杂散测试，可以评估电子设备在工作过程中可能产生的辐射干扰程度，确保设备符合相关的国家和地区法规要求，保证设备在使用过程中不会对其他设备和周围环境产生不良影响。
传导杂散测试方法
传导杂散测试方法
啥是传导杂散呢？简单说就是在传导过程中那些不应该出现的乱七八糟的信号。
那咋测试它呢？
咱得先准备好测试设备呢。
就像厨师做菜得有锅碗瓢盆一样，这测试传导杂散得有频谱分析仪呀，这可是个关键家伙。
它就像个超级侦探，能把那些杂散信号给揪出来。
还有信号源，这就像是给测试提供个信号样本似的。
有了设备，就得把要测试的设备连好啦。
这连接可不能马虎，就像系鞋带一样，得系紧系对咯。
要把被测设备的输出端口和测试设备稳稳地连接起来，这样信号才能好好地传输过去被检测。
然后呢，要设置好频谱分析仪的参数哦。
这就好比给这个侦探下任务指令一样。
设置好频率范围呀，分辨率带宽这些参数。
要是设置错了，就像给侦探指错了方向，那可找不到真正的杂散信号啦。
在测试的时候呢，要在一个相对安静的环境里进行。
就像你看书得找个安静的角落一样。
要是周围干扰太多，就像旁边有人在大声吵闹，那测试结果可就不准啦。
要是发现了杂散信号，还得分析分析它是从哪来的呢。
是被测设备内部的电路设计问题，还是受到了外界的干扰呀？这就像破案一样，得找到根源才行。
有时候呢，可能一次测试不太准确，那就多测几次呗。
就像拍照一样，多拍几张总能选出最满意的。
国标12572无线电发射设备参数通用要求和测量方法 检测
国标12572无线电发射设备参数通用要求和测量方法检测一、概述国标12572是针对无线电发射设备的标准，旨在规范设备的发射功率、频率、调制方式等参数，确保其符合相关法律法规和标准要求。
本文将介绍国标12572的通用要求和测量方法，帮助读者了解如何对无线电发射设备进行检测。
二、通用要求1. 发射功率限制：设备发射的功率应当符合国家标准的要求，不得超过规定的限值。
2. 频率准确度：设备应当在规定的频率范围内工作，并且频率准确度应当满足标准要求。
3. 调制方式：设备应当采用符合标准的调制方式，不得使用禁止的调制方式。
4. 杂散辐射：设备在工作频带以外的频率上产生的杂散辐射应当符合标准要求，不得对其他无线电设备造成干扰。
5. 安全性能：设备应当具备必要的安全性能，确保使用者的安全。
三、测量方法1. 测量发射功率：使用功率计对设备的发射功率进行测量，确保其不超过规定的限值。
2. 测试频率准确度：使用频率计和标准信号源配合使用，测试设备的频率准确度是否满足标准要求。
3. 检测调制方式：检查设备的说明书和型号标识，确保其采用符合标准的调制方式。
4. 测试杂散辐射：使用频谱分析仪测试设备在工作频带以外的频率上产生的杂散辐射，确保其符合标准要求。
5. 安全性能检测：检查设备的安全警示标识、电源线材质和尺寸、外壳接地等方面，确保设备具备必要的安全性能。
四、检测流程1. 准备检测设备：包括功率计、频率计、频谱分析仪等必要的测量仪器。
2. 确认设备型号和规格：确保设备符合国标12572的要求，并检查设备的型号和规格是否与销售凭证上一致。
3. 检测发射功率：按照国标要求对设备的发射功率进行测量，并记录测量结果。
4. 测试频率准确度：按照上述方法测试设备的频率准确度，并记录测量结果。
5. 检查调制方式：检查设备的调制方式是否符合标准要求，并记录检查结果。
6. 测试杂散辐射：使用频谱分析仪测试设备在工作频带以外的频率上产生的杂散辐射，并记录测量结果。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
杂散发射的测量方法Methods of Measurement of Spurious Emissions深圳市无线电监测站钱宁铁摘要：本文详细介绍了杂散发射的测量方法，内容包括：相关概念、测量仪器、测量的受限性、两种具体的测量方法，以及对测试场地的要求等。
Abstract: this article introduces the methods of measurement of spurious emissions in detail. It includes: relative definitions, measuring equipments and devices, measurement limitations, methods of measurement, and the requirements of test site.引言对无线电管理工作来说，杂散发射是产生干扰的重要原因，在无线电发射设备检测中，杂散发射是一个重要的必测项目。
那么，怎样正确测量杂散发射呢？本文参考国际电联的ITU-R SM .329-8文件，并结合实际工作中的体会，对杂散发射的测量方法做一详细的介绍。
1．相关的概念1．1 杂散发射 spurious emission杂散发射是在必要带宽外某个或某些频率上的发射，其发射电平可降低但不影响相应信息传递。
包括：谐波发射、寄生发射、互调产物、以及变频产物，但带外发射除外。
一般来说，落在中心频率两侧，必要带宽±250%倍处或以外的发射都认为是杂散发射。
1．2 带外发射 out-of-band emission带外发射是在紧靠必要带宽的外侧，由调制过程产生的一个或多个频率的发射，但杂散发射除外。
一般来说，落在中心频率两侧，必要带宽±250%倍处以内的无用发射都认为是带外发射。
但对于必要带宽很窄或很宽的情况，这种划分带外发射和杂散发射的方法并不适合。
1．3 参考带宽 reference bandwidth参考带宽通常采用下列各值：参考带宽是指在该带宽内规定了杂散发射电平值的带宽。
参考带宽并非按照上表固定不变，例如所有空间无线电业务杂散发射的参考带宽一律为4kHz；欧洲制定的陆地移动业务固定台杂散发射的标准中，规定在近载波处杂散发射的参考带宽要小一些；还有对每一个雷达系统测量其杂散发射时，都必须重新计算参考带宽，ITU-R M.1177文件给出了具体的测量方法。
2．对测量仪器的要求2．1选频测量接收机选频接收机或者频谱分析仪都可用于测量传导到天线的杂散辐射和箱体辐射。
在测量过程中应注意以下几个方面：2．1．1测量仪器的加权功能 weighting function所有的测量接收机应具有平均值和峰值的加权功能。
2．1．2分辨带宽 resolution bandwidth（RBW）通常的原则是，测量接收机分辨带宽（末级中频滤波器的3dB带宽）应等于参考带宽。
但为了提高测量的精确性、灵敏度和效率，分辨带宽可以不同于参考带宽。
例如，在测量靠近中心频率的发射分量时，有时就需要采用较窄的分辨带宽。
当分辨带宽小于参考带宽时，测量结果应为参考带宽内各分量的总和（其和应为功率求和，除非特别要求杂散信号按照电压求和，或是按介值法判别，见注1）。
当分辨带宽大于参考带宽时，宽带杂散发射的测量结果应按带宽比例进行归一化。
但对于离散（窄带）杂散产物，不能采用归一化。
分辨带宽的修正因子需由测试接收机的实际分辨带宽（如：-6dB分辨带宽）和被测杂散发射信号特征而定（如：脉冲信号或高斯噪声）。
注 1：介值判别法——当采用PEP（峰包功率）法测量杂散发射，且分辨带宽小于参考带宽时，所测得的总功率可能不准确。
如果不知道求和法则，那么在参考带宽内所测得的总的杂散发射功率应按照功率合成法和电压合成法分别求得。
在每次测量中，如果用电压合成法求得的杂散发射值低于规定的限值，则满足要求；如果用功率合成法求得的杂散发射值高于规定的限值，则不满足要求。
2．1．3 视频带宽 video bandwidth (VBW)视频带宽至少与分辨带宽相同，最好为分辨带宽的3至5倍。
VBW反映的是测量接收机中位于包络检波器和模数转换器之间的视频放大器的带宽。
改变VBW 的设置，可以减小噪声峰-峰值的变化量，提高较低信噪比信号测量的分辨率和复现率，易于发现隐藏在噪声中的小信号。
2．1．4 测量接收机滤波器的形状因子 shape factor形状因子是描述带通滤波器选择性的一个参数，通常定义为阻带和通带带宽的比值。
理想滤波器的比值为1。
但是，实际上滤波器具有滚降衰减特性，远达不到理想状态。
例如：频谱分析仪在扫描状态下，被测信号通过的近似高斯滤波器是由多级可调滤波器构成，其形状因子通常规定为-60dB与-3dB的比值，范围在5：1到15：1之间。
2．2 基频带阻滤波器基频和杂散发射的功率比值可能在70dB以上。
这么高的比值经常导致基频输入电平过大，在选频接收机中造成非线形失真产物。
故此，在测量仪器的输入端通常接入一个基频带阻滤波器（在杂散发射分量不太靠近基频条件下适用）。
对于远高于基频的频段（如：谐波频率），也可采用带通或高通滤波器。
但这种测量杂散发射分量的滤波器的插入损耗不能太大，并且滤波器要具有非常好的频响特性。
常用的VHF/UHF频段电路型可变频带阻滤波器的插入损耗只有3-5 dB，甚至更小，1 GHz以上频段的大约为2-3 dB。
因受物理尺寸及插入损耗的制约，四分之一波长可调带通腔体滤波器只适用于50 MHz以上频率。
对于腔体陷波器而言，在远离陷波频率大约10%以上的频率处，插入损耗也小于1 dB。
通常多频段接收机都具有可变频的滤波器，以便跟踪被测系统的调谐频率。
用于测量杂散发射的可变滤波器的种类有：电调谐高频头和钇铁柘榴石（YIG）滤波器.这些滤波器比固定频点的滤波器有较大的插入损耗，但具有较小的通带，可以测量距发射频率较近的信号。
电调谐高频头通常用于50 MHz到1 GHz频段，其3dB带宽约为谐振频率的5%，插入损耗约 5-6 dB。
钇铁柘榴石（YIG）滤波器通常用于1-18 GHz频段，其3dB带宽在2GHz处约为15MHz，在18GHz处约为30MHz，插入损耗大约为6-8dB。
2．3 耦合器测量会用到可将基频发射功率耦合出来的定向耦合器。
在基频处，其阻抗必须和发射机的阻抗相匹配。
2．4 终端负载当按照方法1测量杂散发射功率时，被测发射机应连接测试负载或者终端负载。
值得注意的是杂散发射电平会受发射机末级、传输线和测试负载间阻抗匹配程度的影响。
2．5 测量天线测量时会用到增益已知的谐振偶极子天线或等效全向天线作为参考天线。
2．6 调制状况测量应尽可能在发射机正常工作时，最大调制状态下进行。
有时为了发现一些特殊的杂散频率，也需在无调制条件下进行测量。
但必须指出，此时并非所有杂散发射都能检测出来，因加入调制后可能会产生其它杂散频率分量。
3．测量的受限性3．1 带宽限制依照±250%倍必要带宽的限值，规定了杂散发射测量范围的起始频率。
但某些情况不能这样划分，因为非杂散发射量会造成严重的测量误差。
重新确定杂散测量范围的分界线，可不采用±250%倍必要带宽的划分办法，而采用一种新的划分方法（见下式）。
另外，也可以不改变以±250%倍必要带宽划定的频段范围，而改用较小的分辨带宽进行测量。
新划分的频段范围和分辨带宽存在下式关系：()()2/≤-⨯RBW-k21NBWOOBRBW：分辨带宽(resolution bandwidth)k：形状因子(shape factor)OOB：带外带宽(Out-of-band boundary)NBW：必要带宽(necessary bandwidth)由上式可知：如果分辨带宽不变，可计算出带外带宽的范围，反之亦然。
假设一个信号的必要带宽是16kHz，用±250%必要带宽得出的带外带宽（设为40kHz）的范围不变。
如果测量分辨带宽滤波器的形状因子是15：1，对带内的功率抑制比为60dB，那么分辨带宽应约为4.5 kHz, 计算如下：()()1NBWO O BRBW≤k-2/2-/则：RBW≤ 2 (40–16/2)/(15–1)得：RBW≤ 4.5 kHz另一方面，给定同样的信号和测量接收机参数，如果分辨带宽固定不变，为100kHz，那么带外带宽可利用上式重新算得。
对于上例，如果分辨带宽是100kHz，那么算出的带外带宽为708kHz。
3．2 灵敏度限制由于连接用的转换器件和线缆的损耗，导致频谱分析仪测量灵敏度降低。
但这可以通过采用低噪声放大器来克服。
在个别情况下，如在26 GHz以上，调制状态下，测量被测设备（EUT）是否符合规范要求时，主要因为测试装置采用外部混频器，仍无法获得足够高的灵敏度；而在载波（CW）状态下，杂散发射的测量可能是准确的，因为那些由调制造成的发射分量在总量上等于被测设备（EUT）的调制损耗。
3．3 时间限制对于输出幅度随时间变化的任何有用信号（例如：非恒包络调制），为保持测量值的连续稳定性，至少取十次测量的平均值。
4．测量方法4．1 概述这里介绍两种杂散发射的测量方法。
在方法1和方法2中必须注意，由测试所产生的辐射不得干扰测试环境中的测试系统。
同时必须注意，正确选用杂散发射标准中特别规定的功率加权功能。
（参见2.1.1）方法1-用于测量输出到被测设备（EUT）天线端口的杂散发射功率。
方法2-用于测量杂散的等效全向辐射功率（e.i.r.p），需要用到一个符合条件的测试场地。
如果方法1满足测量要求，则尽可能采用方法1。
使用波导的系统应采用方法2，因为在波导终端的转换器件会带来很多测试问题。
假若天线端口是波导法兰，那么在波导向同轴转换的过程中，远端的杂散发射会被大大地衰耗。
只有在测试电缆与波导连接的一端加上特制的锥型波导器件，才能采用方法1测量。
同样，VLF/LF频段的发射机也应采用方法2测量，因为发射机、馈线、天线之间并没有清晰的界限划分。
雷达系统的测量方法ITU另有文件说明（ITU-R M.1177）。
因为对雷达系统尚没有特别完善的测量方法，必须根据杂散发射限值的具体要求进行实际可行的测量。
4．2方法1-输出到天线端口的杂散发射的测量方法此方法无需特殊的测试场地或电波暗室，测试结果也不会受到电磁干扰（EMI）的影响，但须考虑馈线影响。
此方法忽略了因天线失配造成的衰耗和任意杂散产物的无效辐射，还有天线本身产生的杂散产物。
杂散发射功率测量装置的框图如图1所示：图1 杂散发射功率测量装置的框图4．2．1 直接连接法在这种方法中，要求对所有的测量部件（滤波器、耦合器、电缆）分别进行校准，或者把这些部件连成一个整体进行校准。