1、功能测试概述
实验1TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用双四输入与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图1(a)、(b)、(c)所示。
(b)（a） (c)图1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1) 输出低电平V OL：输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。
测试电路如图2（a）所示。
（2）输出高电平V OH：输出高电平是指与非门有一个以上输入端接低电平时的输出电平值。
测试电路如图2（b）所示。
（a ）（b ）图2 V OH 、V OL 测试电路图(3)低电平输出电源电流I CCL 和高电平输出电源电流I CCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
I CCL 是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
I CCH 是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
通常I CCL ＞I CCH ，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为P CCL ＝V CC I CCL 。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
I CCL 和I CCH 测试电路如图3(a)、(b)所示。
[注意]：TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压V CC 只允许在＋5V ±10％的范围内工作，超过5.5V 将损坏器件；低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图3 TTL 与非门静态参数测试电路图(4)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iH 。
功能测试报告
功能测试报告
项目名称: 功能测试报告
测试日期: [测试日期]
测试人员: [测试人员]
测试概述:
本次功能测试主要针对[项目名称]完成了以下测试内容:
1.测试用例编写:
- [编写了哪些测试用例]
- [测试用例的编号、标题、前置条件、步骤、预期结果]
2.测试环境搭建:
- [描述测试环境的搭建过程]
- [列出测试环境的配置信息]
3.功能测试执行:
- [执行了哪些功能测试]
- [测试过程中的问题和解决方案]
4.测试结果总结:
- [对测试结果的总结和评价]
- [明确存在的问题和待解决的bug]
测试用例执行情况:
总共编写了[X]个测试用例, 其中[Y]个通过了测试, [Z]个未通过测试.
通过率: [通过率]
测试环境配置:
- 操作系统: [操作系统版本]
- 浏览器: [浏览器版本]
- 测试工具: [测试工具版本]
- 其他: [其他重要的测试环境配置信息]
测试结果总结:
- 通过的功能测试用例: [列出通过的功能测试用例编号和标题] - 未通过的功能测试用例: [列出未通过的功能测试用例编号和
标题]
- 存在的问题和待解决的bug: [列出存在的问题和待解决的bug]
结论:
本次功能测试覆盖了项目中的[列出覆盖的功能模块]模块, 完
成了[列出完成的测试内容].
通过率为[通过率], 遗留问题和待解决的bug[列出遗留问题和
待解决的bug].
综合评估项目的测试结果, 给出相应的建议和改进意见.。
数字实验一_TTL门电路的逻辑功能测试_实验报告
学生实验报告
院别电子信息学院课程名称电子技术实验
班级电科13B 实验名称实验一TTL门电路的逻辑功能测试姓名施俊伊实验时间 2015年4 月8 日
学号2013010202058 指导教师文毅
报告内容
一、实验目的和任务
1.测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2.了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理介绍
实验中用到的基本门电路的符号为：
在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。
三、实验内容和数据记录
1.依次选用芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00、74LS02、74LS86。
74LS0874LS32
A B L
0 0 0
0 1 1
1 0 1
1 1 1
A B L
0 0 0
0 1 0
1 0 0
1 1 1。
软件测试概要
第一章：软件测试概述①软件缺陷定义：（1）软件未达到产品说明书中已经标明的功能；（2）软件出现了产品说明书中指明不会出现的错误；（3）软件未达到产品说明书中虽未指出但应当达到的目标；（4）软件功能超出了产品说明书中指明的范围；（5）软件测试人员认为软件难以理解、不易使用，或者最终用户认为该软件使用效果不良。
②软件缺陷的特征：•“看不到”——软件的特殊性决定了缺陷不易看到•“看到但是抓不到”——发现了缺陷，但不易找到问题发生的原因所在③软件缺陷产生原因：（1）软件产品说明书（需求）——56%（不专业—专业~~信息传递）（2）设计——27%（设计不规范）（3）编写代码——7%（4）其他——10%（软、硬件设备之间的配备问题）④软件测试发展历程：早期―→测试1957年―→为了确信自己的产品20世纪70年代―→Glenford Myers 《软件测试艺术》——“测试是为发现错误而执行一个程序或系统的过程”20世纪80年代早期―→软件质量、Bill Hetzel 《软件测试完全指南》——“测试是以评价一个程序或者系统属性为目标的任何一种活动。
测试是对软件质量的度量”20世纪90年代―→测试工具盛行2002年―→Rick和Stefan《系统的软件测试》——“测试是为了度量和提高被测软件的质量，对测试件进行工程设计、实施和维护的整个生命周期过程”⑤今天的软件测试面临的挑战：•软件在国防现代化、社会信息化和国民经济信息化中的作用越来越重要，由此产生的测试任务越来越繁重•软件规模越来越大，功能越来越复杂，如何进行充分而有效的测试成为难题•面向对象的开发技术越来越普及，但是面向对象的测试技术却刚刚起步•对于分布式系统整体性能还不能进行很好的测试•对于实时系统来说，缺乏有效的测试手段•随着安全问题的日益突出，信息系统的安全性如何进行有效的测试与评估，成为世界性难题⑥软件开发与软件测试的关系：•测试与开发各阶段的关系项目规划阶段，需求分析阶段，详细设计和概要设计阶段，编码阶段，测试阶段（软件开发生命周期）•测试与开发的并行性⑦软件测试的发展趋势：•测试工作将进一步前移。
实验一集成门电路逻辑功能测试实验报告
实验一集成门电路逻辑功能测试实验报告一、实验目的1、了解与掌握集成门电路的基本理论知识；2、了解和掌握使用示波器测量数字电路信号的原理；3、熟悉、掌握操作一个典型的集成门电路，能够完成输入、输出的测试；4、进一步学习实验技巧，提高操作及实际分析判断能力。
二、实验形式本实验采用实验班课题集成门电路逻辑功能测试的框架，使用典型的集成门电路元件，输入不同的控制信号，观察、量测集成门电路的输入输出行为，评价各个输入输出状态下系统的功能，分析和记录结果，探讨系统特性。
三、实验基础1、集成门电路：集成门电路是大规模集成电路中的一类电路，也称为数字逻辑电路。
它的基本功能就是进行逻辑运算，它通过特殊的电路结构，使多个信号输入后，经过基本的逻辑运算，呈现出几种功能或状态，对信号输入和输出做出反应，人们可以使用它来控制一系列的电子电路。
2、数字电路测试：数字电路测试技术是电子工程师经常采用的测量技术，是实现数字逻辑电路各种功能、参数的检测、测量技术，它是基于电路的特性、电路内外参数的变化，对具有规律数字变化的信号的变化情况进行观察与测量的技术。
3、示波器：示波器是一种常用的电子设备，它可以实时显示不同频率的电子信号的振幅及波形，是电子工程师的必备测量仪器。
示波器的采样速度必须高于测量信号最快变化率的2倍以上，以精确地记录信号振幅趋势，测量准确，结果真实可靠。
四、实验过程1、实验准备：根据实验要求准备相应的实验室、工装、测试电路，并根据实验要求搭建样板。
2、实验操作：（1）使用示波器观察不同输入情况下集成门电路输出信号的输出情况。
（2）重复进行输入信号的改变，记录示波器输出的曲线，比较输入信号的变化规律与输出信号的变化规律，得出系统的逻辑功能。
3、结果分析：根据测试结果，分析并记录系统及其输入输出信号的变化规律，分析系统的功能特性，探讨逻辑电路的应用和发展。
五、实验结果根据本次实验，我们对数字电路的操作和记录的结果，结果 depicted that the integrated gate circuit produced different output results when different input signals were applied. For example, when the input signal1 ‘A’was high andthe input signal2 ‘B’was low, the output was high; and when the inputsignal1 ‘A’was low and the input signal2 ‘B’was high, the output was low.充分表明了集成门电路的基本原理并且运用到实际的工程中。
ttl与非门逻辑功能测试 (1)
实验 TTL与非门逻辑功能测试一、实验目的1.熟悉集成门电路的外观和引线排列2.掌握TTL与非门逻辑功能二、实验设备5VDC电源、面包板、数字万用表、导线若干、逻辑电平指示器一组、逻辑开关一组、4输入端双与非门（74LS20）、双输入端四与非门（74LS00）三、实验内容及要求1.测试74LS20与非门的逻辑功能（1）画出实验电路图，设计实验表格（包括输入端的各种逻辑状态、输出端的逻辑状态及电平）。
（2）搭试电路验证，用万用表测量输出电压。
2.用74LS00芯片组成与、或、或非门电路（均为2输入端）（1）写出逻辑表达式，画出实验电路图，标明各管脚；（2）搭试电路进行验证；（3）列状态表验证结果。
3.用74LS00芯片组成异或门电路（1）写出逻辑表达式，画出实验电路图；（2）搭试电路进行验证；（3）列状态表验证结果。
四、思考题1.逻辑值“1”是否是指电平为1V？2.在逻辑开关电路原理图中，没有1KΩ限流电阻行不行？为什么？3.在逻辑电平指示器电路原理图中，没有300Ω限流电阻行不行？为什么？五、附录1.逻辑开关及作用如图１所示，利用1kΩ电阻作为限流电阻，电键作为逻辑值输入（当电键按下，相对应的端子输出逻辑值“0”；当未按下电键，输出逻辑值为“1”）。
图1 逻辑开关电路原理图图2 逻辑电平指示器2.逻辑电平指示器及作用为了便于检验逻辑电路的输出逻辑值，我们采用发光二极管电路来检验逻辑电平的高低。
如图2所示，当某输入端为低电平时，对应的发光二极管不亮；当某输入端为高电平时，对应的发光二极管亮。
3.有关芯片外引线排列图如图3所示，分别为74LS20及74LS00芯片外引线排列图。
图3 芯片外引线排列图。
poc测试方案
poc测试方案一、背景随着技术的进步和发展，软件开发和企业应用中不可避免地涉及到各种系统的集成和接口的对接。
在进行系统集成与接口测试时，为了保证系统的稳定性和可靠性，以及验证系统按照需求规范运行，POC 测试方案应运而生。
二、POC测试概述1. POC（Proof of Concept）测试是指通过验证一部分关键功能点或业务流程，来证明系统或软件的可行性和可靠性，以及相应系统或软件的需求规格是否能得到满足，并辅助制定下一步完整系统的开发计划。
2. POC测试是在完整系统开发之前的验证测试过程，可以帮助发现设计缺陷、技术难题以及业务逻辑不一致等问题，减少开发成本和风险。
3. POC测试的结果应该是有明确结论和证据的，以便进行下一步决策。
三、POC测试步骤1. 需求梳理：明确POC测试的目标，确定要验证的关键功能点或业务流程，并明确测试范围和时间限制。
2. 环境准备：搭建POC测试环境，包括硬件设备、软件安装、网络连接等，确保测试时环境的可用性和一致性。
3. 测试用例设计：根据需求梳理的结果，设计符合POC测试目标的测试用例，包括正常情况和异常情况的测试场景。
4. 测试执行：按照设计好的测试用例，执行各项测试活动，记录测试过程中的关键操作和结果。
5. 结果分析：根据测试执行的结果，分析验证测试目标是否达到，发现的问题及其严重程度，给出改进方案或建议。
6. 编写报告：根据分析结果，编写POC测试报告，包括测试方法、测试结果、问题汇总、问题解决方案和下一步工作计划等内容。
四、POC测试注意事项1. 确定测试目标和范围：明确需要验证的功能点或业务流程，避免过于宽泛或过于狭隘。
2. 设计合理的测试用例：测试用例要全面覆盖验证目标，包括正常情况和异常情况的测试场景。
3. 准备可靠的测试环境：确保测试环境的可用性和一致性，以免影响测试结果。
4. 注意测试数据的准备：根据测试用例的设计，准备符合场景需求的测试数据，确保测试的有效性和准确性。
实验一基本门电路的逻辑功能测试
实验一基本门电路的逻辑功能测试一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2、了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理实验中用到的基本门电路的符号为：在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。
三、实验设备与器件1、数字逻辑电路实验箱。
2、数字逻辑电路实验箱扩展板。
3、相应74LS系列芯片若干。
四、实验内容测试TTL门电路的逻辑功能：a）测试74LS08（与门）的逻辑功能。
b）测试74LS32（或门）的逻辑功能。
c）测试74LS04（非门）的逻辑功能。
d）测试74LS00（与非门）的逻辑功能。
e）测试74LS02（或非门）的逻辑功能。
f）测试74LS86（异或门）的逻辑功能。
五、实验步骤1、按照芯片的管脚分布图接线（注意高低电平的输入和高低电平的显示）。
2、测试各个芯片的逻辑功能六、实验报告要求1.画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。
2.根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并判断逻辑门的好坏。
实验二编码器及其应用一、实验目的1.掌握一种门电路组成编码器的方法。
2.掌握8 -3线优先编码器74LS148，10 -4线优先编码器74LS147的功能。
二、实验原理1、8-3线优先编码器74LS148编码器74LS148的作用是将输入I0～I78个状态分别编成二进制码输出，它的功能表见表6-2，它的逻辑图见图6-2。
它有8个输入端，3个二进制码输出端，输入使能端EI，输出使能端7至I0递减。
输入输出EI 0 1 2 3 4 5 6 7 A2A1A0GS EOH ××××××××H H H H HL H H H H H H H H H H H H LL ×××××××L L L L L HL ××××××L H L L H L HL ×××××L H H L H L L HL ××××L H H H L H H L HL ×××L H H H H H L L L HL ××L H H H H H H L H L HL ×L H H H H H H H H L L HL L H H H H H H H H H H L H3、10-4线优先编码器74LS14774LS147的输出为8421BCD码，它的逻辑图见图6-3，其功能表为：输入输出5 6 7 8 9 D C B A GS1 2 34H H H H H H H H H H H H H 0××××××××L L H H L 1×××××××L H L H H H 1××××××L H H H L L L 1×××××L H H H H L L H 1××××L H H H H H L H L 1×××L H H H H H H L H H 1××L H H H H H H H H L L 1×L H H H H H H H H H L H 1L H H H H H H H H H H H L 174LS147逻辑图三、实验设备与器材1、数字逻辑电路实验箱。
实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用
实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用一、实验目的1. 掌握TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法。
2. 掌握TTL器件的使用规则。
3. 熟悉数字电路实验仪的结构、基本功能和使用方法。
4. 练习熟练使用DS1052E型数字示波器。
二、实验原理门电路是构成各种复杂数字电路的基本逻辑单元，掌握各种门电路的逻辑功能和电器特性，对于正确使用数字集成电路是十分必要的。
目前应用最广泛的集成电路是TTL和CMOS。
TTL集成逻辑门电路根据其型号的不同，有不同的内部结构和引脚，在本实验中我们只选取了常用的与非门、与或非门来进行测试。
与非门是门电路中应用较多的一种，与非门的逻辑功能为，当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出为高电平；只有当输入全部为高电平时，输出才为低电平。
而与或非门的逻辑功能为，当同一个与门端组的输入端全部为高电平时，输出为低电平；当同一个与门端组中有一个或一个以上的输入端为低电平时，输出即为高电平。
实验前请认真阅读TTL集成电路使用规则。
数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。
对于普通的TTL门电路，由于输出级采用了推拉式输出电路，无论输出是高电平还是低点平，输出阻抗都很低。
因此，通常不允许将它们的输出端并接在一起使用。
集电极开路门和三态输出门是两种特殊的TTL门电路，它们允许把输出端直接并接在一起使用。
三、实验仪器及器件1. DS1052E型示波器2. EL-ELL-Ⅳ型数字电路实验系统3. DT9205数字万用表4.器件：集成电路芯片74LS00 74LS10 74LS51四、实验内容及步骤1.与非门逻辑功能测试（1）选用三输入端与非门74LS10，按图1-1连接实验电路，即将与非门的三个输入端A、B、C分别接至逻辑电平开关的电平输出插口，与非门的输出端Y接至显示逻辑电平的发光二极管的电平输入插口，同时将数字万用表调至直流电压档连接到门电路的输出端，测量输出电压值。
实验一集成门电路逻辑功能测试实验报告
数字电子技术实验报告实验名称：集成门电路逻辑功能测试一、实验目的：1、验证常用集成门电路的逻辑功能；2、熟悉各种逻辑门电路的逻辑符号；3、熟悉TTL集成电路的特点、使用规则和使用方法。
二、实验设备及器件：1、数字电路实验箱2、74LS00四2输入与非门1片74LS86四2输入异或门1片74LS11三3输入与门1片74LS32四2输入异或门1片74LS04反相器1片三、实验原理：集成逻辑门电路是最简单、最基本的数字集成元件，目前已有种类齐全集成门电路。
TTL集成电路由于工作速度高、输出幅度大、种类多、不易损坏等特点而广泛使用，特别对学生进行实验论证，选用TTL电路较适合，因此这里使用了74LS系列的TTL电路，它的电源电压为5V+10%，逻辑电平“1”时>2.4V，低电平“0”时<0.4V。
实验使用的集成电路都采用的是双列直插式封装形式，其管脚的识别方法为：将集成块的正面（印有集成电路型号标记面）对着使用者，集成电路上的标识凹口朝左，右下角第一脚为一脚，按逆时针方向顺序排布其管脚。
四、实验步骤：（一）、根据接线图连接，测试各门电路逻辑功能1、与门逻辑功能测试被测试器件为74LS11三3输入与门，其引脚图见实验教材P6。
（1）按图1-1（见实验教材P6）接线，门的三输入端节逻辑开关输出插口，以供“0”与“1”电平信号，开关向上，输出逻辑“1”，先下输出逻辑“0”。
门的输入端接LED发光二极管。
（实验时，利用DSWPK开关其电路图如下）（2）按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C的状态，借助指示灯观测个相应输出端F的状态，当电平指示灯亮时记为“1”，灭时记为“0”，把测试结果填入表1-1中。
表1-1 74LS11逻辑功能表2、或门逻辑功能测试（1）按图1-2接线(见实验教材P6)，按表1-2要求用开关改变输入端A、B的状态，借助指示灯各相应输出端F的状态，把测试结果填入表1-2中。
（其实验电路图如下）表1-2 74LS32逻辑功能表3、非门逻辑功能测试（1） 按图1-3接线（见实验教材P 7），按表1-3要求用开关改变输入端A 的状态，借助指示灯各相应输出端F 的状态，把测试结果填入表1-3中。