一种星载电子产品老练试验加速因子估计方法
【加速老化实验】,加速老化试验计算公式
【加速老化实验】,加速老化试验计算公式【加速老化实验】加速老化试验计算公式加速寿命试验寿命试验(包括截尾寿命试验)方法是基本的可靠性试验方法。
在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去估计产品的各种可靠性特征。
但是这种方法对寿命特别长的产品来说，就不是一种合适的方法。
因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。
所以这种方法与产品的迅速发展是不相适应的。
经过人们的不断研究，在寿命试验的基础上，找到了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。
加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，加快产品失效，缩短试验周期。
运用加速寿命模型，估计出产品在正常工作应力下的可靠性特征。
下面就加速寿命试验的思路、分类、参数估计方法及试验组织方法做一简单介绍。
1 问题高可靠的元器件或者整机其寿命相当长，尤其是一些大规模集成电路，在长达数百万小时以上无故障。
要得到此类产品的可靠性数量特征，一般意义下的载尾寿命试验便无能为力。
解决此问题的方法，目前有以下几种：（１）故障数r=0的可靠性评定方法。
如指数分布产品的定时截尾试验θL=2S(t0)2χα(2)22S(t)χαα00为总试验时间。
为风险, =0.1时，.1(2)=4.605≈4.6；当α=0.05时，χ02.05(2)=5.991≈6。
（２）加速寿命试验方法如，半导体器件在理论上其寿命是无限长的，但由于工艺水平及生产条件的限制，其寿命不可能无限长。
在正常应力水平S0条件下，其寿命还是相当长的，有的高达几十万甚至数百万小时以上。
这样的产品在正常应力水平S0条件下，是无法进行寿命试验的，有时进行数千小时的寿命试验，只有个别半导体器件发生失效，有时还会遇到没有一只失效的情况，这样就无法估计出此种半导体器件的各种可靠性特征。
因此选一些比正常应力水平S0高的应力水平S1，S2，…，Sk，在这些应力下进行寿命试验，使产品尽快出现故障。
一种典型弹上电子产品加速贮存寿命试验设计方法
一种典型弹上电子产品加速贮存寿命试验设计方法发表时间：2020-12-08T02:23:10.628Z 来源：《中国科技人才》2020年第23期作者：石孟兵陈伟丁丹丹[导读] 本文针对一种贮存期间主要经受温度应力影响，寿命符合指数分布的弹上电子产品基于Arrhenius模型制定恒定温度应力加速贮存寿命试验方案，并通过某典型弹上电子产品的试验实施验证了该方法的工程实用性。
贵州航天计量测试技术研究所贵州贵阳市 550009摘要：弹上电子产品作为导弹重要组成部分，导弹的贮存寿命评估需要利用弹上电子产品的贮存寿命数据，因此如何高效验证弹上电子产品的高可靠性寿命是急需解决的工程问题。
本文针对一种贮存期间主要经受温度应力影响，寿命符合指数分布的弹上电子产品基于Arrhenius模型制定恒定温度应力加速贮存寿命试验方案，并通过某典型弹上电子产品的试验实施验证了该方法的工程实用性。
关键词：加速贮存寿命试验；弹上电子产品；设计方法 Arrhenius模型1 引言导弹武器装备具有长期贮存一次使用的特点，此类装备若按原有的寿命指标进行修理或报废将造成极大的浪费。
开展科学、严谨的寿命试验研究，对装备的贮存寿命进行评估充分挖掘导弹的寿命潜力，形成较好的军事和经济效益。
目前导弹贮存寿命评估方法，一般采用整弹的飞行试验数据和弹上产品的贮存寿命试验数据综合评估导弹的贮存寿命。
弹上电子产品的贮存寿命评估数据作为综合评估导弹贮存寿命的重要组成部分，应结合实际制定科学有效的弹上电子产品试验方案，利用有限的样品资源获取准确可靠的评估数据。
武器装备研制过程中，分系统整机的高可靠性、长寿命指标逐渐成为趋势，如果通过常规的寿命试验确定产品的寿命，将会产生极长的试验周期和较高的经费，为了缩短寿命试验周期，提出利用加速寿命试验进行验证的方式。
加速寿命试验的基本思想是既不改变产品的故障机制又不增加新的故障机理的前提下提高试验应力，利用高应力下的寿命特征去外推正常应力下的寿命特征，加速产品的故障进程缩短试验时间，然后再根据试验结果，估算正常应力下的产品寿命。
加速寿命测试 国标
加速寿命测试国标加速寿命测试国标简述加速寿命测试是利用实验手段对产品进行加速老化测试，通过模拟实际使用状况加速产品的老化程度，以预测其使用寿命。
此处，我将为您介绍加速寿命测试中的国标规范，以及相关需要注意的问题。
一、国标规范根据GB/T2423，电子电气产品环境试验标准和手册，以及GB31241-2014，节能评价产品性能和能源标签评价方法综述自定了加速寿命测试的规范。
GB/T2423.1-2001是关于电气和电子产品环境试验通用标准的基本规定，其中对于加速寿命测试进行了详细的规范，便于生产厂家对于电子电器产品的使用寿命进行测试。
二、测试方法加速寿命测试分为两种测试条件，一种是没有负荷测试，另一种是带负荷测试。
1. 无负荷测试条件下：在首次电气测试结束后，产品放置于环境箱中，设置测试温度和湿度，经过相应的时间后进行产品检测，检测指标包括：电气性能、机械性能、化学成分含量等。
2. 带负荷测试条件下：将产品和负荷牵引装置联通后，经过指定的时间，对于测试的产品进行机械、电气测试并进行检测。
三、注意事项1. 检验环境箱的监控和校准环境箱检测的温湿度、气氛等环境参数应符合规范要求，但在实际使用过程中会出现变化，因此需要进行监控和校准。
2. 注意产品的压力测试在产品加压工作中，需要特别注意产品结构的安全性。
3. 统计数据分析测试完成后，需要对测试数据进行统计分析，以评估产品使用寿命。
四、总结以上就是关于当前加速寿命测试国标规范的简介和需要注意的问题。
随着科技的不断发展，加速寿命测试将在越来越多的领域得到应用，测试规范和注意事项的掌握对于产品的研发和生产厂商来说是至关重要的。
(完整版)加速寿命试验公示计算汇总
加速寿命试验公示计算汇总一、前言新研究的医疗器械在上市前应确保在储存期( 通常 1 到5 年) 内产品的质量不应发生任何影响安全性和有效性变化，新产品一般没有实时和储存周围环境条件下确定有效期的技术资料。
如果按实际储存时间和实际环境储存条件进行检测需要很长的时间才能获得结果，为了在实时有效期结果获得以前，有必要进行加速老化实验提供确定有效期的实验数据。
医疗器械设计人员能够准确地预计聚合物性能的变化对于医疗器械产业化是非常重要的。
建立聚合物材料退行性变的动态模型是非常困难和复杂的，事实上材料短期产生的变化或变性的单速率表达形式可能不能充分反映研究的产品或材料在较长有效期的真实情况。
为了设计试验方案能准确模拟医疗器械时间相关的退行性变，有必要对材料的组成、结构、成品用途、组装和灭菌过程的影响、失效模型机制和储存条件有深入的了解。
一个给定的聚合物具有以各种方式( 晶体、玻璃、不定形等) 组成的许多化学功能基团，并含有添加剂如抗氧化剂、无机充填剂、色素和加工助剂。
所有这些变量的总和结合产品使用和储存条件变量决定了材料的化学性能的退行性变。
得庆幸的是，生产医疗器械的大部分都是采用常用的几种高分子材料，这些材料已经广泛使用并且都进行了良好的表征。
根据以碰撞理论为基础的阿列纽斯(Arrhenius) 模型建立的老化简化实验方案(Simplified Protocol for Accelerated Aging) ，也称“10 度原则”(10-degree rule) ，可在中度温度范围内适用于良好表征的聚合物，试验结果可以在要求的准确度范围内。
医疗器械或材料的老化是指随着时间的延长它们性能的变化，特别是与安全性和有效性有关的性能。
加速老化是指将产品放置在比正常储存或使用环境更严格或恶劣的条件下，在较短的时间内测定器械或材料在正常使用条件下的发生变化的方法。
采用加速老化实验合格测试的主要原因是可以将医疗器械产品尽早上市。
加速疲劳试验方法
加速疲劳试验方法
加速疲劳试验方法是一种在短时间内模拟出长时间使用过程中的疲劳损伤，以评估材料或产品在实际使用条件下的疲劳寿命和可靠性。
下面是几种常见的加速疲劳试验方法：
1.频率加速法（Frequency Acceleration Method）：通过增加
疲劳载荷的频率，可以加速疲劳损伤的积累。
该方法适用
于频率对材料或产品的疲劳寿命影响较大的情况，如金属
材料的低周疲劳。
2.应力加速法（Stress Acceleration Method）：通过增加疲劳
载荷的水平，可以加速材料或产品的疲劳寿命消耗。
该方
法适用于应力对材料或产品的疲劳寿命影响较大的情况，
如金属材料的高周疲劳。
3.温度加速法（Temperature Acceleration Method）：通过提
高试验温度，可以加速材料或产品的疲劳寿命衰减。
该方
法适用于温度对材料或产品的疲劳寿命影响较大的情况，
如高温环境下的疲劳损伤。
4.循环加速法（Cycle Acceleration Method）：通过增加试验
循环次数，可以加速材料或产品的疲劳寿命磨损。
该方法
适用于循环次数对材料或产品的疲劳寿命影响较大的情况，如轮胎的耐久性测试。
需要注意的是，加速疲劳试验方法虽然能够在短时间内评估疲劳寿命和可靠性，但在试验设计和参数设定时需充分考虑应力、
应变、温度、循环次数等因素的相互影响与耦合，以保证试验结果的可靠性和真实性。
同时，试验过程中需要监测和记录材料或产品的疲劳性能参数，进行数据分析和解释，以得出相应的结论和改进意见。
高加速寿命试验
未知驱动探索，专注成就专业
高加速寿命试验
高加速寿命试验是对产品进行快速老化加速寿命测试的一
种方法。
该试验通过提高产品在短时间内的工作负荷和环
境条件，以加速产品的老化速度和寿命消耗，从而预测产
品在正常使用条件下的寿命。
与常规寿命试验相比，高加
速寿命试验可以更快地获取产品的可靠性和使用寿命信息。
高加速寿命试验常用于电子产品、汽车零部件、航空航天
等领域的研发和生产，以验证产品的可靠性和持久性。
在
试验过程中，可以通过同时提高温度、湿度、震动、振动
等环境因素的方式来加速产品的老化过程，然后通过监测
产品在不同条件下的工作表现和故障情况，来评估产品的
寿命和可靠性。
高加速寿命试验的目的是提前发现产品的潜在问题，改进
产品的设计和制造过程，从而提高产品的品质和可靠性。
然而，需要注意的是，高加速寿命试验只能提供对产品在
短时间内的可靠性评估，无法完全代表产品在长期使用条
件下的寿命情况，因此还需要结合其他实际使用场景的测
试和验证来综合评估产品的寿命和可靠性。
1。
【加速老化实验】,加速老化试验计算公式 加速老化试验计算公式
【加速老化实验】,加速老化试验计算公式加速老化试验计算公式【加速老化实验】加速老化试验计算公式加速寿命试验寿命试验(包括截尾寿命试验)方法是基本的可靠性试验方法。
在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去估计产品的各种可靠性特征。
但是这种方法对寿命特别长的产品来说，就不是一种合适的方法。
因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。
所以这种方法与产品的迅速发展是不相适应的。
经过人们的不断研究，在寿命试验的基础上，找到了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。
加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，加快产品失效，缩短试验周期。
运用加速寿命模型，估计出产品在正常工作应力下的可靠性特征。
下面就加速寿命试验的思路、分类、参数估计方法及试验组织方法做一简单介绍。
1 问题高可靠的元器件或者整机其寿命相当长，尤其是一些大规模集成电路，在长达数百万小时以上无故障。
要得到此类产品的可靠性数量特征，一般意义下的载尾寿命试验便无能为力。
解决此问题的方法，目前有以下几种：（１）故障数r=0的可靠性评定方法。
如指数分布产品的定时截尾试验θL=2S(t0) 2χα(2) 22S(t)χαα00为总试验时间。
为风险, =0.1时，.1(2)=4.605≈4.6；当α=0.05时，χ02.05(2)=5.991≈6。
（２）加速寿命试验方法如，半导体器件在理论上其寿命是无限长的，但由于工艺水平及生产条件的限制，其寿命不可能无限长。
在正常应力水平S0条件下，其寿命还是相当长的，有的高达几十万甚至数百万小时以上。
这样的产品在正常应力水平S0条件下，是无法进行寿命试验的，有时进行数千小时的寿命试验，只有个别半导体器件发生失效，有时还会遇到没有一只失效的情况，这样就无法估计出此种半导体器件的各种可靠性特征。
因此选一些比正常应力水平S0高的应力水平S1，S2，…，Sk，在这些应力下进行寿命试验，使产品尽快出现故障。
【加速老化实验】 加速老化试验计算公式
【加速老化实验】加速老化试验计算公式加速寿命试验寿命试验(包括截尾寿命试验)方法是基本的可靠性试验方法。
在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法去估计产品的各种可靠性特征。
但是这种方法对寿命特别长的产品来说，就不是一种合适的方法。
因为它需要花费很长的试验时间，甚至来不及作完寿命试验，新的产品又设计出来，老产品就要被淘汰了。
所以这种方法与产品的迅速发展是不相适应的。
经过人们的不断研究，在寿命试验的基础上，找到了加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法。
加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，加快产品失效，缩短试验周期。
运用加速寿命模型，估计出产品在正常工作应力下的可靠性特征。
下面就加速寿命试验的思路、分类、参数估计方法及试验组织方法做一简单介绍。
1 问题高可靠的元器件或者整机其寿命相当长，尤其是一些大规模集成电路，在长达数百万小时以上无故障。
要得到此类产品的可靠性数量特征，一般意义下的载尾寿命试验便无能为力。
解决此问题的方法，目前有以下几种：（１）故障数r=0的可靠性评定方法。
如指数分布产品的定时截尾试验θL=2S(t0)2χα(2)22S(t)χαα00为总试验时间。
为风险, =0.1时，.1(2)=4.605≈4.6；当α=0.05时，χ02.05(2)=5.991≈6。
（２）加速寿命试验方法如，半导体器件在理论上其寿命是无限长的，但由于工艺水平及生产条件的限制，其寿命不可能无限长。
在正常应力水平S0条件下，其寿命还是相当长的，有的高达几十万甚至数百万小时以上。
这样的产品在正常应力水平S0条件下，是无法进行寿命试验的，有时进行数千小时的寿命试验，只有个别半导体器件发生失效，有时还会遇到没有一只失效的情况，这样就无法估计出此种半导体器件的各种可靠性特征。
因此选一些比正常应力水平S0高的应力水平S1，S2，…，Sk，在这些应力下进行寿命试验，使产品尽快出现故障。
（３）故障机理分析方法研究产品的理、化、生微观缺陷，研究缺陷的发展规律，从而预测产品的故障及可靠性特征量。
某型舰载电子产品小子样可靠性评估研究
现代电子技术Modern Electronics TechniqueJan. 2024Vol. 47 No. 22024年1月15日第47卷第2期0 引 言在装备研制过程中，产品可靠性评估经常会遇到不同环境条件下可靠性信息折算与综合问题，解决这类问题的关键是确定产品的环境因子[1‐5]。
本文通过引入环境因子的概念，将不同环境条件下产生的试验数据通过环境因子进行折合，转化为同一环境条件下的数据信息进行分析。
环境因子法可以有效综合产品不同环境下的可靠性信息，使可利用的可靠性数据信息更加充分，可靠性评估结果更加准确。
环境因子指的是装备在某种环境条件下的可靠性特征量与基准环境条件下的可靠性特征量之比，主要用来对产品在不同环境下的可靠性信息进行折算与综合[6]。
目前，对环境因子的研究方法基本可分为基于统计推断和基于预计技术两类[7]。
本文提出一种基于手册预计法的环境因子计算方法，该方法的基本思路是根据预计手册中提供的元件数据计算电子设备在不同环境下的失效率，根据一定的计算原则来获得相应的环境DOI ：10.16652/j.issn.1004‐373x.2024.02.016引用格式：刘超然，李天辰，李磊，等.某型舰载电子产品小子样可靠性评估研究[J].现代电子技术，2024，47（2）：85‐88.某型舰载电子产品小子样可靠性评估研究刘超然1， 李天辰2， 李 磊2， 王 陶1， 吴超云1（1.广电计量检测集团股份有限公司， 广东 广州 510656； 2.中国人民解放军92578部队， 北京 100161）摘 要： 可靠性评估是对产品可靠性水平进行评价，对产品可靠性要求进行验证的重要方法与手段。
为解决装备研制过程中遇到的小子样可靠性评估问题，引入环境因子和信息融合的概念，提出一种确定环境因子的方法和步骤。
首先，给出指数分布产品基于手册预计法的环境因子计算方法和步骤；然后，结合工程实例展示了产品环境因子具体的计算过程；最后，借助环境因子达到了不同环境条件下可靠性数据信息融合的目的，实现了产品的可靠性综合评估，解决了产品小子样可靠性评估的问题。
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的 可靠性 函数与 失效 率 （ 各器 件失 效率 之 和 ） ； Ｒ （ ｔ ） 、Ａ — — 加 大应 力 下 产 品 的可 靠 性 函数
与 失效率 将式 （ ２ ）的结 果代 入式 （ １ ） ，得 ：
作 失效 率 预计模 型 中失 效率 与 温度 的关 系 。
例如 ：单 片数 字集 成 电路 的＿ ［ 作失 效率 预计 模
型为 ：
Ａ ｐ ＝ 丌 Ｑ［ Ｃ １ ７ ｒ ｒ 刀
式 （ ４ ）中 ：仃 ７ ｒ 广 ７ ｒ
（ Ｃ ２ ＋ Ｃ ３ ）７ ｒ ７ ｒ
（ ４ ）
温度 下 的等效 试验 时 间 当前 ．对 于折 算 因子 的计
算 尚无统 一 的认识 ，例如 ：某 航天 项 目统一 给 定 了 各项 环境 试验 （ 含 老 练试 验 ） 的折 算 因子 ：另 一航 天项 目建 议 使 用 Ａ ｒ ｒ ｈ ｅ ｎ ｉ ｕ ｓ模 型 计 算 老 练试 验 的折
应力 等 ）加 速模 型
上 述加 速 寿命 模 型都可 能适 用 于星 载 电子产 品 温度 老练 试 验 ．但 为各类 电子器 件选 择 合适 的模 型 本 身 将 是 非 常 大 的挑 战 。此 外 。模 型 参 数 的 确 定
（ 如 ：Ａ ｒ ｒ ｈ ｅ ｎ ｉ ｕ ｓ 模 型 中 的激 活 能 ） 也 是 较 大 的 难 题 而 对一 类试 验 给定 一种 加 速 因子则 忽视 了不 同 类 型器 件之 间的差 异 ．给 出的 加速 因子 的物 理含 义 是 不 明确 的 对此 ．本 文提 出一种 基于 电子 产 品可 靠 性预 计 数据 的老 练试 验 加速 因子 计算 方法 该 方
Ｃ ． 、Ｃ 厂
电路 复杂 度失 效率 ；
Ｃ —— 封 转复 杂度 失效 率 其 中 ．温度 应 力 系 数 ７ ｒ 取 决 于 电 路 的 工 艺 和 电路 的结温 。Ｇ Ｊ Ｂ ２ ９ ９ Ｃ 一 ２ ０ ０ ６给 出 了电路 结 温 的 计算 方法 ．对于 管壳 热 阻不能 确 定 的电路 还 给 出了
正 常 应 力 作 用 下 产 品
高 于产 品实 际工 作温 度 的老 练试 验 ．也可 以视 为 一类 温 度 加速 寿 命试 验 对 此 ．林 震 等 ［ ２ １详 细 地 探讨 了 Ａ ｒ ｒ ｈ ｅ ｎ ｉ ｕ ｓ 模 型 的线 性 化 寿 命 与 温度 关 系 的推 导 过程 ．模 型参 数 的意 义 ．并给 出 了加速 因子 的公 式 李进 和李传 日 ［ ３ １从 激 活 能 的定 义 和 物理 意 义 出发 ．提 出 了修 正 Ａ ｒ ｒ ｈ ｅ ｎ ｉ ｕ ｓ 加 速 因 子 石颉 等 基 于 低压 熔 断 器 金属 电迁 移 失效 寿 命 中值公 式推 导 了加 速 因子 ．进 而提 出 了变加 速 因子 的寿命 评估 方 法 李军 和 谬 海杰 ［ ４ ］简 述 了几 类 加 速 寿命 试验 模 型 ，介绍 了同样 描 述温 度 加速 效 应 的 Ｅ ｙ ｉ ｆ ｎ ｇ
ＡＦ ＝ Ｌ ｏ ／ Ｌ１ ＝ Ａ１ ／ Ａ ｏ （ ３）
１ ． ２ 器 件预 计 失效 率与温 度 的关 系
由式 （ ３ ）可 见 ．电子 产 品老 练 的加 速 因 子 可 以估计 为该 产 品在老 练 温度下 的失效 率 与工作 温 度
下 的失 效率 之 比 而 组成 电子产 品 的各类 器件 的预
为： Ａ Ｐ ＝ Ａ ６ ７ ｒ ’ ， ７ ｒ Ｆ （ ５ ）
性 预 计一 可靠 性 评 估 的定 量 可 靠性 指 标 设 计 、验 证 体 系
质 量 系数 ；
温度应 力 系数 ； 环 境系 数 ；
７ ｒ —— 电压应 力 系 组成 器件 预计 失效 率 与温 度应
力 的关 系 ．通 过 比较 产 品在不 同温度环 境 下 的不 同 预计 失效 率 以估计 温 度老 练试 验 的加 速 因子 由于
电子 产 品可 靠 性 与 环 境 试 验
２ ０ １ ３年
一
般 高于 产 品的实 际工 作 温度 ．因此 在进行 可 靠性
对 于 器件 串联 构成 的 电子产 品 ｆ 一 般该 类产 品
为开 展老 练试 验 的基本 单元 ） ，有 ：
ｆ∞
评 估 时需 要将 产 品老 练时 间折 算 为产 品在实 际 ＿ Ｔ 作
电子产 品 可靠 性 预计 方法 的广 泛使 用 ．该 方法应 用 简 便 ：同时 ．南于加 速 因子是 基 于可靠 性 预计模 型 估 计所 得 ．可 靠性 评 估 的结果 与 可靠性 预计 结 果更
具 可 比性 ．有 利 于建 立 起 统 一 的可 靠 性 分 配一 可靠
建议 值 。 同时 ，Ｇ Ｊ Ｂ ２ ９ ９ Ｃ 一 ２ ０ ０ ６还 给 出 了单 片 数字 集 成 电路 结 温 与温 度应 力 系数 ７ ｒ 的关 系 。 又 如 ：混 合 集 成 电路 的工 作 失 效 率 预 计 模 型
计 失效 率与 温度 的关 系 则可参 考 现行 有效 的国军 标 Ｇ Ｊ Ｂ ／ Ｚ ２ ９ ９ Ｃ 一 ２ ０ ０ ６《 电子 设 备 可 靠 性 预 计 手 册 》 及 其 实施 指南 本 文仅 举 ３个 例子 以说 明电子 产 品工
同敏 ［ ５ １综 述 了加 速 寿命 试 验 中 多 应 力 （ 温 度 、 电
算 因子等 。
ｏ ＝ｊ Ｒ ０ （ ｔ ） ｄ ｔ ＝ ｅ ｘ ｐ（ － Ａ ｏ ｔ ） ｄ ｔ ＝ ｌ ／ Ａ ｏ
∞
￡ ｌ ＝｝ Ｒ １ （ ｔ ） ｄ ｔ ＝ ｅ ｘ ｐ（ － Ａ １ ｔ ） ｄ ｔ ＝ ｌ ／ ａ ，
式 （ ２ ） 中 ：Ｒ 。（ ｔ ） 、Ａ 厂
（ ２ ）