射线衍射成像技术最新发展详解
第四讲X射线衍射方法

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新型探测器
SDD 探测器
硅漂移探测器(Sillicon Drift Detector),最近十年出现 的新型半导体探测器,首先为空间科学开发的。
50mm芯丝能同时测量12º范围。 适用于高速记录衍射花样,测量瞬时变化的研究对象(如相变),测
量那些易于随时间而变得不稳定的试样和容易受X射线照射损伤的试 样,测量那些微量试样和强度弱的衍射信息(如漫散射)。
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新型探测器
Si(Li)探测器
最早出现的半导体探测器。一般需要液氮制冷(不工作也 需要),体积大,应用不方便。
当然少不了X射线的发生装置----X光管; 为了使X射线照射到被测样品上需要有一个样品
台; 为了接受由样品表面产生的衍射线需要有一个射
线探测器,而且这个探测器应当安放在适当的角 度上,测角仪 检测系统,正比计数器等
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测角仪构造示意图
逆时针方向:100º 顺时针方向:165º 绝对精度: 0.01 º
倒装法
底片开口在后光阑两侧,显然,底片中部为背反射衍射 线,两端为前反射衍射线。衍射角按下式计算:
2π-4θ=S/R θ=π/2-S/4R(弧度)
以度为单位,2R=57.3mm时: θ=90-S/2
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各种安装方式衍射花样的计算
不对称装法
可以消除底片收缩和相机半径误差。 底片开两孔,分别被前、后光阑穿过,底片开口置于相 机一侧。不难看出,由前后反射弧对中心点的位置可求 出底片上对应180º圆心角的实际长度W,于是可用下式计 算衍射角:
291912年布拉格最先使用电离室探测1913年布拉格测定nacl等晶体结构的1943年弗里德曼设计了最初的近代射线衍射仪得到了普及应用1952随着科学技术的发展促使现代电子学集成电路和电子计算机等先进技术进一步与射线衍射仪向强光源高稳定高分辨多功能和全自动的联合组机方向发展可以自动地给出大多数衍射实验结果
同步辐射纳米成像技术的发展与应用

同步辐射纳米成像技术的发展与应用下载提示:该文档是本店铺精心编制而成的,希望大家下载后,能够帮助大家解决实际问题。
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x-ray 原理

x-ray 原理X射线(X-ray)是一种高能量的电磁辐射,具有极短的波长和高穿透能力。
X射线成像技术是利用X射线的特性进行医学诊断、材料检测等领域的重要工具。
本文将介绍X射线成像的原理及其应用。
一、X射线成像原理X射线成像的原理是基于X射线的穿透能力和吸收特性。
当X射线通过物体时,会根据物体的密度和厚度发生吸收和散射。
吸收较强的区域会使X射线通过的强度减弱,而吸收较弱的区域则会让X射线通过的强度增强。
通过测量X射线的强度变化,可以获得物体内部的结构信息。
二、X射线成像技术1. X射线摄影X射线摄影是最常见的X射线成像技术之一。
在X射线摄影中,被检查的物体放置在X射线束和感光介质之间。
当X射线经过被检查物体后,射线的强度会发生变化。
感光介质接受到射线的能量,形成X射线照片。
医生或检测人员通过观察照片上的密度差异,可以判断出物体的异常情况,如骨折、肿瘤等。
2. CT扫描CT(Computerized Tomography)扫描是一种三维X射线成像技术。
CT扫描通过多次旋转拍摄不同角度的X射线图像,然后使用计算机对这些图像进行重建,生成具有空间信息的三维图像。
相比于传统X射线摄影,CT扫描可以提供更详细的断层图像,对于复杂病变的检测和定位更加准确。
3. X射线衍射X射线衍射是一种通过测量物质晶格中原子的排列来研究材料结构的方法。
当X射线通过晶体时,会发生衍射现象。
通过测量衍射角度和强度,可以推断出晶体内原子的排列方式和间距。
X射线衍射技术在材料科学、结晶学等领域有着广泛的应用。
三、X射线成像的应用1. 医学诊断X射线成像技术在医学诊断中有着广泛的应用。
通过X射线摄影和CT扫描可以检测骨骼、器官和软组织的异常情况,如骨折、肿瘤、感染等。
此外,X射线还可以用于导管放置、血管造影等介入性操作的引导。
2. 安全检查X射线成像技术在安全检查中发挥着重要作用。
例如,机场安检中使用的行李X射线机可以检测行李中是否存在危险物品。
材料表征技术的进展和应用

材料表征技术的进展和应用材料表征技术是一种分析材料性质和组分的方法,具有非常广泛的应用范围。
在大多数材料科学和工程领域中,材料表征技术都是研究材料及其性质的重要手段之一。
近年来,随着材料领域能力的提高和技术手段的不断发展,材料表征技术也获得了快速的发展。
在本文中,我们将探讨材料表征技术的进展和应用,包括常见的X射线衍射和扫描电子显微镜技术,以及新兴的拉曼光谱和质谱成像技术等。
一、X射线衍射技术X射线衍射技术是一种通过测量材料样品所散射的X射线的强度和角度来研究其晶体结构的方法。
该技术已经成为研究材料结构、物理和化学性质的重要手段之一。
X射线衍射技术可用于研究许多有机和无机材料,如晶体、玻璃、陶瓷、金属合金、纤维等。
实际上,X射线衍射在材料科学中具有广泛的应用价值。
例如,它可用于研究高温材料的结构和热力学性质,如氧化铝、硅酸盐和氧化锆等。
在研究金属材料方面,X射线衍射可以用于研究金属晶体中的缺陷、晶格畸变和金属相变等。
在研究材料的表面化学性质时,X射线衍射也可以用于表征表面化学反应中产生的物种及其电荷转移过程,例如在催化反应中的应用。
二、扫描电子显微镜技术扫描电子显微镜技术是一种显微镜技术,它通过传输电子束照射样品,在样品表面上发生反射、透射和散射等几个过程中来获得具有微观尺寸尺度和高分辨率的图像。
这些图像可以用来研究材料的微观结构,包括材料表面和内部特征。
扫描电子显微镜技术在材料科学中的应用非常广泛。
例如,在纳米材料领域,扫描电子显微镜技术可以用于研究纳米材料的尺寸和形态、纳米颗粒的晶体结构、纳米孔的形状等。
另外,扫描电子显微镜还可以用于研究材料的表面性质、材料的磁性、电性等,例如研究磁记录材料、电池材料和太阳能电池等。
三、拉曼光谱技术拉曼光谱是一种通过测量样品散射的激光光谱来检测样品的分子振动信息的技术。
拉曼光谱技术在材料科学中具有广泛的应用价值。
例如,它可以被用于材料表征和生化实验,用于识别材料和检测污染物。
x射线衍射、电子衍射、中子衍射

物质结构的解析,准确说是晶体的结构解析,不可避免需要使用X射线衍射(XRD),中子衍射或电子衍射三种技术当中的一种。
三者各有优缺点,面对具体问题,一般只有一种技术是最有说服力的最佳选择,但是具体什么样的问题使用哪一种技术最有说服力?很多结构分析的朋友认识的不透彻,我经常看见有些人使用不是很有说服力的技术去尝试解决实际问题而闹出笑话而自己不自知:比如声称使用XRD精确确定氧、炭或氢的原子位置;比如认为中子衍射得到的晶格常数最可信;又比如以为选区电子衍射(TEM-SAD)的标定能精确得到晶格常数信息,等等。
所以这里笔者在这里抛砖引玉式的尝试探讨:哪一种衍射技术对于什么样的解结构问题最有说服力?为什么?在对这些问题展开讨论之后,小结在最后将会被给出。
希望大家在我的话题后面踊跃发表不同观点,如果我有什么疏漏、错误之处,还望不吝指教,笔者这里先多谢了!首先来谈谈X-射线、中子、和电子衍射的源-- X-ray,中子和电子的同和异。
最为突出的相同点,搞晶体结构分析的人都非常清楚,即他们都具有波动性,满足基本的波动规律--布拉格公式(Bragg Law):2d*sinθ=nλ(n是自然数)。
前面已经明确本文的动机,所以这里着重分析它们的差异。
i)表观上的差异,X-ray是光子(电磁波)、不带电没有磁性,电子带负电,中子不带电、质量较大而且具有磁性,这些是显而易见的常识,不多说。
ii)本质上的差异,参考图1所示:X射线是电磁波,没有静止质量,均匀介质中速度不变,波动行为在时空上的dispersion呈现简单的线性关系;而电子、中子是物质波,具有质量,均匀介质中运动速度可以变化,时空上的dispersion呈现平方项。
正是这样的本质差别导致波长(动量)与频率(能量)之间的关系在电磁波(这里是X-ray)和物质波(这里是电子、中子)之间的截然不同。
当然,物质波在运动速度接近光速的时候其dispersion会发生本质的转变,转变点如图1所示,不过这样的情况在实际的结构分析中碰不到,所以不用担心电子/中子在和光子的dispersion完全一致时的异常,反正迄今还没有见过这样的实验。
x射线相衬成像 原理 -回复

x射线相衬成像原理-回复[x射线相衬成像原理]引言:x射线相衬成像是一种传统放射学成像技术的改进,可以提供高分辨率、高对比度、三维形貌图像。
本文将以[x射线相衬成像原理]为主题,详细解释其工作原理、实现过程和应用。
第一部分:基本原理x射线相衬成像的基本原理是利用x射线与物质之间的相互作用来获得图像。
相比传统的吸收成像,相衬成像能够根据x射线被物质散射的信息提供更多的细节。
第二部分:物理原理相衬成像主要基于三个主要的相互补充的物理原理:干涉、衍射和像移。
1. 干涉效应:在传统的吸收成像中,x射线经过物体时会被吸收,而干涉效应产生的概率较低。
相衬成像则是利用x射线与物体的微小干涉来提高成像质量。
当x射线通过物体时,它们会与物体内部的结构和界面发生干涉,形成干涉图样。
这种干涉图样中的细微差异能够被探测器捕获,并用于图像重建。
2. 衍射效应:与传统吸收成像不同,相衬成像中,x射线的衍射效应被用来增强图像的细节。
衍射是x射线在物体表面和内部的衍射现象,它可以提供有关物体的边界、孔洞和界面等信息。
衍射效应通过变换x射线波前形状来产生强烈的干涉图样,从而提供更丰富的成像信息。
3. 像移效应:像移效应指的是在相衬成像中,不同部分的物体会在成像平面上产生不同的相移。
这些相移提供了一种对物体内部结构和界面的敏感度,从而产生高对比度的图像。
第三部分:成像过程x射线相衬成像通常包括以下步骤:x射线产生、相衬装置和图像重建。
1. x射线产生:通常使用x射线管作为x射线源,将高压电通过阳极产生x射线。
x射线高能量的特性使其能够通过物体,与物体相互作用产生干涉、衍射和像移效应。
2. 相衬装置:相衬装置通常由关键元件组成,如相衬片、衍射光栅和像移器。
这些元件通过调整干涉、衍射和像移效应来对x射线进行精确的控制。
3. 图像重建:射线通过物体后,与相衬装置进行干涉、衍射和像移后,被探测器捕获并转换为电信号。
这些电信号经过处理和重建算法,用于生成最终的相衬成像图像。
X射线相位衬度成像

万方数据X射线衍射应用专题级的早期恶性肿瘤(癌症).这其中的原因在于人体软组织主要是由轻元素组成的,轻元素对于硬x射线几乎没有吸收,就像可见光透过水中的一个小玻璃球,几乎没有留下可以察觉的痕迹.目前癌症已经成为人类的主要杀手,实现癌症的早期诊断,是人类当前战胜这一恶魔的关键.因而需要发展一种方法,能清楚地分辨癌组织和正常组织,这就好像要想办法看清楚水中的一个小玻璃球.经过近十几年的研究,科学家发现,轻元素物质引起x射线相位改变的幅度是其对x射线的吸收值的一千倍到十万倍,利用相位信号形成的高衬度成像技术——x射线相位衬度成像,特别适合观察轻元素构成的物体,具有广阔的发展前景¨-1….比如,对于波长为0.1nm的x射线来说,需要穿透3mm厚的碳才能使光强衰减一半,而只需穿透301.Lm就能使x射线波阵面产生2at的相移旧J.图1为在北京同步辐射x射线光源上拍摄的吸收衬度成像和相位衬度成像对比¨1’12。
.图1中的比较充分说明了x射线相位衬度成像能够为轻元素样品提供比传统吸收衬度成像高得多的衬度,特别适合对人体软组织和轻元素构成的样品成像.为了使读者能较深入地理解x射线相位衬度成像的原理,本文第二节介绍x射线的性质,第三节介绍相位和相位信号等基本概念,从第四节开始介绍x射线相位衬度成像方法.图1左图为豚鼠耳蜗的吸收衬度像;右图为豚鼠耳蜗的相位衬度像(豚鼠耳蜗听觉灵敏,是耳科专家研究听力的好材料)2X射线的性质:波动性、粒子性和相干性x射线是德国科学家伦琴在1895年发现的,为此伦琴荣获第一届诺贝尔物理学奖.因为当时人们对这种神奇的射线一无所知,所以就用数学中表示・444・未知数的符号“x”来命名这种射线.经过多年的研究,现在已经搞清楚,x射线是一种波长比较短、穿透力比较强的光.其波长只有可见光波长的千分之一到万分之一,而其穿透力为电子所望尘莫及.既然x射线是一种光,它就具有光的普遍性质,如波动性、粒子性、相于陛等.下面介绍光的性质.光是一种波,波长是光前进的步长,光强等于光波振幅的平方;光又是一种粒子,称为光子,光强又等于光子流密度.由此会提出一个问题,光到底是波还是粒子?这个问题的答案,已经由上述光强的性质给出.根据光子流密度等于光波振幅平方,正确的答案是:光既是波,又是粒子,这就是人们常说的波粒二象性.在表面上看来,光波和光子是矛盾的,可是它们之问却存在着不可分割、相互依存的关系.一方面,无论何时何地,你用探测器去探测光,它总是以光子的形式出现;另一方面,光的行为规范却是由光波决定的.当没有相互作用时,光子可能出现在有光波的任何地方,可是当光和物质发生相互作用时,就会有反射波和衍射波,光子一定在光波干涉或衍射加强的地方出现的可能性大,而在光波干涉或衍射减弱的地方出现的可能性小,特别是光子绝对不会出现在干涉或衍射振幅为零的地方.因此,只要把光强看作光子出现的可能性,光的波粒二象性之间就会协调一致.当一群光子像纪律严明的军队,不但步长(波长)相同,而且步调一致向前进,我们称其为相干光;当一群光子像无组织的散兵一样,步调不一,我们称其为非相干光.衡量光源相干程度高低的指标是步调一致的光子数,即相干光子数.相干光子数越多,相干光的强度就越高.当研究对象是一个光子时,它一定是相干的,因为没有其他步调不一致的光子来捣乱.可是当研究对象是多个光子时,就会有相干光和非相干光之分.在光学的发展历史中,人们最先接触到的是非相干光,像太阳光、蜡烛光等.1801年英国医生托马斯・杨,用单缝从非相干光中滤出一些步调一致的相干光,光学发展历史上,做了一个开启相干光学发展先河的著名实验:杨氏双缝干涉实验,见图2.虽然从非相干光中可以获得相干光,但是这种方法要把大部分步调不一致的光滤除,获得的相干光强度非常弱.随着科学的发展,根据爱因斯坦1916年提出的受激辐射理论,美国科学家梅曼在1960年发明了激光,在实验室获得了众多光子步调一致的非常强的相干光.x射线经历了大致相似的物理 万方数据X射线衍射应用专题图2单缝滤波双缝干涉原理示意图发展历程.1895年,伦琴发明了能发射x射线的阴极射线管(即x光管).1947年,美国纽约通用电气公司的科学家在调试能量达70keV的电子同步回旋加速器时,在加速电子运动的切线方向上发现了方向性特别好的x射线(命名为同步辐射).虽然同步辐射x射线仍然属于非相干光,但是和x光管相比,其相干光子数获得了数量级的提高(相干光子数和光源亮度成正比).目前同步辐射光源已经从第一代发展到第三代¨3I,最近人们又在发展相干的x射线源,即众多x射线光子步调一致的x射线激光‘14|.3相位和相位信号相位就是人们常说的步调.在前进的队伍中,步调相差半步或半步奇数倍的两个人,手臂的摆动是相反的,称为相位相反;步调相差一步或一步整数倍的两个人,手臂的摆动是一致的,称为相位相同.为了能用数学来描述运动的周期性,人们把它和旋转箭头(就像我们用钟表来记录日月的周而复始)的周期性联系起来,用箭头旋转一圈,即2a'r相位,表示一步、一个波长或者其他具有周期性的量.相位相差订或耵奇数倍,称为相位相反,相位相差2,rr或2耵整数倍,称为相位相同.两束相干光相遇,在相遇的地点,若两束光相位相同,则会互相加强,合振幅是两束光振幅之和,产生亮纹;若两束光相位相反,则会互相抵消,合振幅是两束光振幅之差,产生暗纹.两束非相干光相遇,它们之间的相位没有确定关系,其合成光强是各自36卷(2007年)6期光强之和.由此可以体会到,当两束光相干时,光子流向相位一致的地方,相位衬度成像就是利用相位调控光子流向的特点,对样品进行成像的.平面光波是最简单的光波,沿着一个方向传播.将平面波中相位为相同值的点联成面,就形成和传播方向垂直的平面波阵面.当平面光波经过样品时,可能引起波阵面发生三种变化:(1)样品像加速器或减速器,引起光波阵面出现超前或落后,与相位(移动)信号相对应;(2)样品像棱镜,引起光波阵面倾斜,导致光的折射,其折射角与相位一阶导数成正比;(3)样品像透镜,引起光波阵面弯曲,导致光的聚焦或者发散,可以用相位二阶导数描述波阵面的弯曲程度.4相位衬度成像的原理和方法根据前两节的介绍可知,虽然相位本身是看不见的,但是它可以通过调控光子的流向来表明它的存在.相位衬度成像的基本原理是通过探测相位引起的光强变化来探测样品的.目前已经发展了四种相位衬度成像方法,现分别介绍如下.4.1干涉成像法u,21通过干涉条纹移动探测样品引起的相位改变.图3为利用晶体干涉仪进行相位衬度成像的装置示意图.成像过程为:同步辐射白光经过双晶单色器和晶体准直器,成为单色准直的x射线光束,照射在第一块晶体上.第一块晶体将人射的单色x射线光束分为两束,一束用于照射样品,形成物光,另一束作为参考光.第二块晶体又将两束光会聚,在插人样品之前,拍摄一幅干涉条纹,插入样品后再拍摄一幅干涉条纹,将两幅干涉条纹进行比较,就可以探测到样品对x射线产生的相位移动,获得样品的相位衬度像.4.2衍射增强成像法H’41利用晶体对入射光的角度选择性,探测样品引起的折射角.图4是衍射增强成像装置示意图.晶体具有非常窄的接收角,只有当入射光沿着接收角的方向入射时,晶体才会反射入射光,当入射光沿着其他方向入射时,晶体拒绝反射入射光.成像过程为:同步辐射白光经过单色器晶体单色,形成单色准直光束照射在样品上,样品中密度不同或者结构不同的区域会以不同的折射角折射x射线,分析晶体通 万方数据X射线衍射应用专题同图3利用晶体干涉仪读取相位信号图4衍射增强成像装置示意图(利用分析晶体的角度选择性读取折射角信号)过旋转调节接收角度,可以任意选择某一折射角度出射的折射光,获得样品的折射衬度像.4.3光栅剪切相位衬度成像法悼’61利用光栅剪切干涉获得对样品折射光的角度选择性,探测样品引起的折射角.图5是光栅剪切相位衬度成像装置示意图.在没有样品时,自成像光栅通过衍射会形成一幅光栅的自成像,称为泰保效应(该效应可以看作是多种双缝干涉共同作用的结果¨纠).在光栅像的地方,插入一块空间周期和光栅像相同的分析光栅,随着分析光栅横向移动,探测器上的光强会出现强弱的周期性变化.在放入样品前,先调节自成像光栅和分析光栅的相对位置,使光栅像和分析光栅处于半对准状态,即光栅像上有一半光子通过分析光栅,到达探测器,另一半光子被分析光栅阻挡.放人样品后,样品的折射使光栅自成像发生扭曲,从而调控光栅像通过分析光栅的光子数,使探测器获得样品的折射衬度像.4.4相位传播成像法‘7卅1相位传播成像法又称为同轴相位衬度成像法,・446・图5光栅剪切相位衬度成像装置示意图(利用光栅剪切干涉的角度选择性读取折射角信号)图6相位传播成像光路示意图.利用自由传播将相位二阶导数转变为光强二阶导数在这种方法中,样品产生的波阵面弯曲经过一定距离d的自由传播,转变为光的聚焦与发散,相位二阶导数转变为光强的二阶导数,形成样品的像.图6为相位传播成像光路示意图.5非相干光相位衬度成像的原理迄今为止,国内外的绝大多数相位衬度成像研究都是在微焦点和同步辐射x射线光源上开展的u_12’16J.虽然微焦点x射线光源具有足够的相干性(采用微焦点x射线光源,相当于利用小孔获得相干光),但光束太窄,光通量太小.同步辐射x射线光源属于大型科学装置,其设备和维护成本高昂,将其作为医疗临床诊断设备,既不符合能源和资源有效利用的原则,其成像诊断费用也不是一般病人能承担得起的.虽然同步辐射x射线光源在探索新成像机制和人体成像研究方面,发挥了巨大的不可替代的作用,但是目前的同步辐射装置太大,不适合作为医疗临床诊断的工具‘17].德国‘18’191和日本Ⅲ,2¨均已开发出成熟的同步辐射人体成像技术多年,却不能推广到一般民众的临床诊断.因此,研制小型的用于医学临床诊断研究的同步辐射装置是发展方向之一.http://www.wuli.ae.cn物理 万方数据X射线衍射应用专题图7可利用常规x射线光源的相位衬度成像方法:光栅剪切相位衬度成像2006年3月26日,NaturePhysics发表了一篇极具创新思想的文章心2I,提出了将光栅剪切相位衬度成像和常规x射线光源结合的方法,见图7.图8右图就是利用这种方法拍摄的相位衬度成像结果.这个方法的原理由两步组成:(1)利用多缝(光栅)将非相干光源分割成多个相互独立的相干缝光源.其中每条缝都能独立进行相位衬度成像或双缝干涉实验,可是因为相干光的强度太弱,以致于利用单缝光源要花很长时间才能完成实验.(2)想办法使各个缝光源产生相位衬度或双缝干涉条纹的位置重合.虽然这些相互独立的缝光源之间没有相干性,但是如果能使它们各自产生的相位衬度或干涉条纹的位置重合,不仅能利用非相干光源进行相位衬度成像,而且可以大幅度缩短曝光时间,满足生物样品快速成像的要求.为了使更多读者都能分享这篇文献中的创新思想,本文不打算详细介绍原理较深的非相干光光栅剪切相位衬度成像,而介绍本文根据这个创新思想设计的多缝滤波双缝干涉实验.在图9中,移动单缝的位置,使干涉条纹在屏幕上移动一个周期的整数倍.记录下这些单缝的位置,并按照这些位置加工多缝.利用加工好的多缝再做双缝干涉实验(见图10),就会发现此时的干涉条纹明亮了许多,其明亮程度与多缝的条数成正比.这其中的奥妙在于,虽然相邻两缝光源之间没有相干性,但是它们各自通过双缝干涉产生的亮纹位置和暗纹的位置是相同的,经过非相干迭加,就获得了比单缝滤波亮得多的双缝干涉条纹.由此也可以联想到,为什么一般的非相干光源得不到双缝干涉条纹.从多缝滤波双缝干涉实验中,可以充分体会非相干光相位衬度成像的原理,即想办法使各个独立的相干光源产生一致的相位衬度,并使它们非相干迭加,这样不但可以使非相干光源为相位衬度成像36卷(2007年)6期提供所需要的相干性,而且能保持足够光通量,以满足生物样品成像缩短曝光时间的要求.可以说,非相干光光栅剪切相位衬度成像方法开创了相位衬度成像的新纪元,x射线相位衬度成像从此可以用常规x射线光源.这个方法的巨大优势不仅在于使用光栅将非相干光源分割为多个并行的互相独立的缝相干光源,而且还在于通过选择光栅的空间周期,调节探测折射角的灵敏度和线性范围.因此,这里面蕴藏着巨大的机遇,多方面的机遇.除此之外,该方法还能推广到中子成像.非相干光光栅剪切相位衬度成像在推广到人体检测之前,还需要研制大面积的硬x射线光栅,光栅宽度和人体宽度相当,达到20cm以上,光栅的空间周期达到微米量级,光栅槽的深宽比达到十或几十比一,这对微加工技术提出了挑战.6相位衬度三维成像技术的发展相位衬度成像可以提供比吸收衬度成像高得多的衬度,然而它仍然是样品中不同结构相互重叠的二维投影像.为了解决二维投影像重叠问题,并进而获取高衬度和高分辨的三维影像,必须发展相位衬度三维成像技术.到目前为止,在x射线领域,计算机断层成像(简称CT)是最有效的三维成像方法.不论是x射线投影成像、x射线“透镜”成像旧3|,还是x射线全息成像Ⅲo(x射线荧光全息除外)和相干x射线衍射成像瞄J,都必须与CT相结合才能实现三维成像.上面介绍的几种相位衬度成像方法都属于投影成像的范畴,是投影成像方法的最新发展.要将相位衬度成像和CT结合,需要解决相位衬度成像中光线折射的问题.光的折射会引起两方面的问题:一方面,折射导致光线在样品中拐来拐去,不是一条直线;另一方面,折射角不是一个标量,它和方向有关.6.1相位衬度三维成像的条件CT对x射线的行为提出了要求:要求x射线经过样品时,走直线,各光线之间互不干扰,见图11.可以想象,由于折射的存在,光在样品中走的是一条弯弯曲曲的线.在进一步讨论之前,需要澄清几个观念.首先折射是一种普遍的相互作用,不仅存在于相位衬度成像之中,而且存在于吸收衬度成像之中.在吸收衬度成像中,绝对地说,光在样品中走的也是一条弯弯曲曲的线.绝对不是因为光在吸收衬度成像中没有折射,才可以利用CT进行三维成像的.・447・ 万方数据X射线衍射应用专题图8左图为鱼的吸收衬度像;右图为鱼的相位衬度像图9移动单缝,使双缝干涉条纹在屏幕上移动—个周期的整数倍图lO多缝滤波双缝干涉原理示意图(各单缝光源产生的亮纹位置和暗纹位置是相同的)由此产生两个问题:(1)为什么吸收衬度成像可以和CT相结合?(2)相位衬度成像中光线可以看作直线吗?下面通过研究折射角的大小,可以解决这两个问题.例如在硬x射线波段,轻元素折射率和空气折射率的差别约为10~一10~,因而x射・448・图11CT要求光在样品中走直线线通过样品的折射角约为0.1一lI.Lrad.设样品和探测器的距离为1m,这意味着光线在探测器上只产生0.1—1lxm的偏移.在实际成像过程中,折射角还要小,例如1cm厚的乳房组织对x射线的折射角只有0.001珈.01txrad,假设样品和探测器之间距离为1m,那么光线在探测器单元上只产生0.001珈.01仙m的偏移Ⅲ1,这远小于只有微米量级的x射线CCD像素.也就是说,对于像素为微米量级的探测器而言,不论是吸收衬度成像,还是相位衬度成像,硬x射线在样品中都是走直线的.所不同的是,在吸收衬度成像里,折射角对光强没有任何影响,而在相位衬度成像中,存在折射角选择机制,如此小的折射角却能以光强的增减形式表现出来,形成相位衬度.从上面的讨论可以总结出一个结论:对于分辨率为微米量级的探测器,不论是吸收衬度成像,还是相位衬度成像,x射线的行为都满足CT的要求.CT还对要重建的物理量提出了要求:要求重建的物理量满足旋转不变性.吸收衬度CT重建的是样品的吸收系数,吸收系数是一个标量,和x射线的方向无关,因而吸收系数满足旋转不变性.相位衬度CT重建的是样品的折射率、折射率一阶导数和折射率二阶导数.折射率是一个标量,满足旋转不变性;折射率一阶导数是折射率梯度的分量,不是一个标量,不满足旋转不变性;折射率的二阶导数也是与方向有关的量.本文作者所在的研究小组,根据旋转不变性的要求,找到了使折射率一阶导数旋转不变http://www.wuli.ae.cn物理 万方数据x射线衍射应用专题的旋转因子,成功地重建了折射率一阶导数和折射率梯度,有兴趣的读者可以参阅文献[27,28].限于篇幅,本文不打算进一步讨论这个问题.6.2相位衬度三维成像的基本原理CT断层成像的理论基础是傅里叶中心切片定理,不论是吸收衬度三维成像,还是相位衬度三维成像,都是以这个定理为基础的.这个定理告诉我们,如何获取样品内部结构的傅里叶频谱.傅里叶分析理论告诉我们,在不能直接获得样品内部结构信息的情况下,如果能得到样品结构的傅里叶频谱,并对傅里叶频谱进行逆傅里叶变换,就可以获得样品内部结构信息.也就是说,样品结构的傅里叶频谱和样品结构本身等价.下面介绍如何从投影像中获取样品的傅里叶频谱.投影像有一个非常显著的特征,即对垂直于投影方向的结构变化敏感,而对平行于投影方向的结构变化不敏感.傅里叶中心切片定理就是根据这一特征,将各个方向的投影图进行傅里叶变换,获取样品断层结构的傅里叶频谱的.图12形象地描述了获得样品断层傅里叶频谱的过程:第一步,先对样品某一断层沿各个方向进行投影,图12左图中显示了四个方向的投影;第二步,将获得的各方向的投影图进行傅里叶变换;第三步,将各方向的傅里叶频谱以零频为中心,按原来方向依次排列,就得到该样品断层的、以零频为中心的二维傅里叶频谱,见图12右图.因为这种方法是先获得各方向的傅里叶频谱,即先获得二维傅里叶频谱的一个切片,然后以零频为中心将各个切片按方向排列,所以这种从样品断层投影图获得样品断层傅里叶频谱的方法称之为傅里叶中心切片定理.图12左图为样品断层投影成像示意图,将获得的四个方向的投影分布进行傅里叶变换,并以零频为中心,按照垂直于投影方向排列这些一维傅里叶频谱,就得到样品断层的二维傅里叶频谱,见右图36卷(2007年)6期相位衬度CT和吸收衬度CT的不同之处在于,吸收衬度CT只考虑吸收系数的投影,而相位衬度CT在考虑折射率的投影之外,还要考虑折射率一阶导数的投影和折射率二阶导数的投影.不论要重建的物理量是标量、矢量,还是其他性质的量,在重建时都必须以傅里叶中心切片定理为基础.作为这一节的结束,图13列出本文作者所在研究小组对直径为3mm的六齿塑料齿轮的断层重建口9I,图(a)是利用吸收信号重建的断层像,(b),(c),(d)和(e)是利用折射角信号重建的断层像,这五幅像都是傅里叶中心切片定理在重建吸收系数、折射率、折射率一阶导数和折射率梯度中的应用.7相位衬度成像的回顾和展望相位衬度成像的概念最早是由德国科学家泽尼克提出的.早在1935年,他就将相位衬度引入光学显微镜,发展了光学相衬显微镜的理论和方法,为生物学家研究弱吸收的透明组织提供了有效的观察方法,为此他荣获了1953年的诺贝尔物理学奖.在上世纪70年代初,日本科学家安藤…又将相位衬度引入了x射线投影成像领域,即图3所示的干涉成像方法.在这之后,经过各国科学家的研究,提出了本文第四节所介绍的四种x射线相位衬度投影成像方法,不但将相位衬度成像的研究内容从相位扩展到相位一阶导数和相位二阶导数,而且将相位衬度二维成像研究扩展到相位衬度三维成像.我国的科学家是在上世纪末开始研究x射线相位衬度成像的[30,31],进入本世纪以来,我国的科学家在北京同步辐射装置上,开展了一系列的理论和实验研究,做出了杰出的贡献.其中比较重要的贡献为:提出了普遍的衍射增强成像方程旧2|,提出了折射率的重建算法口3I,提出了折射率一阶导数的重建算法悼刊和折射率梯度重建算法心8|,首次将迭代算法引入折射率重建∞4|,提出用一套360度投影数据重建吸收系数、折射率、折射率一阶导数和折射率梯度的方法心9|,见图13.目前,相位衬度成像正在进一步向广度和深度发展.在此,我们对相位衬度成像下一步的发展趋势做一展望.我们认为,相位衬度成像将会在以下三个方面取得令人瞩目的重大进展.7.1相位衬度三维成像的理论发展在相位衬度三维成像的研究中,虽然国内外的科学家已经分别根据相位信号、相位一阶导数信号http://www.wuli.ae.en 万方数据。
扫描X射线粉末衍射(XRPD)

扫描X射线粉末衍射(XRPD)弗雷德里克·范梅尔特(Frederik Vanmeert)1.分类扫描X射线粉末衍射(X-ray powder diffraction,XRPD)是一种化合物特异性成像技术,利用的是电磁频谱中的X射线。
属于非破坏式技术,可按分析样品类型分为侵入式检测(如小块颜料样品)和非侵入式检测(如整件艺术品)。
2.说明扫描XRPD是用X射线衍射对艺术品内部的结晶材料(颜料层和底料层的矿物和颜料粉)进行可视化处理。
当单色(即具有单一能量的)X射线与结晶材料相互作用时,每种晶体都会产生一种独特的衍射图形。
用已知矿物和化合物的数据库来比对这种“指纹”,就可以辨识各种晶体。
与XRF(X射线荧光)成像类似,扫描XRPD使用小型准直或聚焦X射线束对近似平面对象的表面进行光栅扫描,同时记录每个点的衍射图形。
经过高级数据分析,就可将各种晶体材料在物体内的分布可视化。
根据仪器的几何条件,可以只获取最表层信息(反射模式),也可以获取构成艺术品外观的所有层信息(透射模式)。
3.应用扫描XRPD是一种化合物特异性成像技术,用于显示(非)原始结晶材料在准平面艺术品上的分布。
这项技术主要用于无机化合物的鉴定和可视化,特别适合分辨含有相同元素的不同化合物,例如赤铁矿(Fe2O3)与针铁矿(α-FeOOH)、孔雀石(CuCO3·Cu(OH)2)、蓝铜矿(2CuCO3·Cu(OH)2)、水白铅矿(2PbCO3·Pb(OH)2)和白铅矿(PbCO3)。
艺术家为制造理想的视觉效果,会使用多色层叠压的技法,针对这种情况,可将微型颜料样品(通常<0.5mm)送至同步辐射设备,用非常窄的X射线束(约1 μm2)来研究颜料层的序列。
利用这种技术,除了可以深入了解艺术家的绘画技巧外,还可以揭示更多颜料层内部自发性劣化过程的信息。
此外,也可以通过研究晶体结构的具体变化来获得陶器和瓷器的生产过程相关信息。
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第 1 页 课程论文 题 目 X射线衍射成像技术的 原理以及最新发展及应用 学 院 专 业 班 级 学 生 学 号 二〇年 月 日
摘 要 随着科技的发展,基于傅里叶光学的X射线衍射技术发展越来越先进,形成了X射线衍射成像(X-ray diffraction imaging,XDI)和相干X射线衍射成像(coherent X-ray diffractive imaging,CXDI/CDI)等技术,它们广泛应用于材料、医学、生物、物理等领域,为人们探索微观世界的结构提供很好的工具。本文主要论述了X射线衍射的基本原理,并讲述了它们在不同应用中的最新发展,包括X射线衍射成像和相干X射线衍射成像的二维、三维成像等技术,同时简单的说明了它们在一些领域的应用。 第 2 页
关键词: X射线衍射;X射线衍射成像;相干X射线衍射成像 1 前言
近几十年来,X射线衍射成像技术得到快速发展,它具有不损伤样品、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点,大量的用于材料内部结构分析、生物分子探究、医学以及危险品扫描等领域。近一个世纪以来,科学家们不断探索测定物质结构的方法,希望能够看到物质内部的原子是如何排列的。而传统用的最多的方法是X射线晶体衍射分析的方法(XRD)能够实现物质的结构的测定,但它存在一定的局限性,然而在实际应用中,会受到很多的限制,为了更好的研究物质的结构,科学家们做了大量的工作,对X射线衍射技术进行改进升级,取得了一些最新的更成果,例如X射线衍射成像技术(X- ray diffraction imaging,XDI)、相干X射线衍射成像技术(coherent X-ray diffractive imaging,CXDI/CDI)等。 近年来,X射线衍射增强成像(X Ray Diffraction enhanced imaging,DEI)也发展迅速。射线相位衬度成像是一种新型的X射线成像技术,通过记录射线穿过物体后相位的改变对物体进行成像,可以提供比传统的X射线吸收成像更高的图像衬度以及空间分辨力。衍射增强成像方法(X Diffraction enhanced imaging,DEI)是X射线相位衬度成像方法之一,利用一块放置在物体和探测器之间的分析晶体提取物体的吸收、折射以及散射信息并进行成像。但是它跟X射线衍射成像方法不同,不是同一种第 3 页
技术。 2 X射线衍射基本原理
2.1 傅里叶变换及衍射 光是一种波,它具有传播速度、相位等信息,它可以发生干涉、衍射等现象。光场可以用数学表达式来描述。当光经过晶体时,会发生衍射现象。 图2.1 光的传播图像 光衍射的数学表达式: •所有有散射体的空间rderfkrkti)()()( (2.1)
现在扩展)(rf的定义域到整个空间,可得: •全空间rderferkiti
)(
(2.2) 从上式可看出衍射就是一个傅里叶变换。 而傅里叶逆变换为: •空间所有KrkjkdekFrf)(21)(
(2.3) 上式说明,收集到所有的衍射信息,是能回推出所有晶体信息)(rf的,所以可以通过合适的方法利用该式得到晶体的内部信息。 X射线衍射运动学理论:该理论把衍射现象作为三维Fraunhofer衍射问题来处理,认为晶体的每个体积元的散射及第 4 页
其它体积元的散射无关,而且散射线通过晶体时不会再被散射。这样处理可以得出足够精确的衍射方向,也能得出衍射强度。
2.2 X射线衍射的基本工作原理 将具有一定波长的X射线照射到结晶性物质上时,X射线因在结晶内遇到规则排列的原子或离子而发生散射,散射的X射线在某些方向上相位得到加强,从而显示及结晶结构相对应的特有的衍射现象。图2.2为晶体衍射图。 衍射X射线满足布拉格(W.L.Bragg)方程: .sin2nd(n=0,1,2,3…) (2.4) 式中:λ是X射线的波长;θ是衍射角;d是结晶面间隔;n是整数。 图2.2 晶体衍射图 波长λ可用已知的X射线衍射角测定,进而求得面间隔,即结晶内原子或离子的规则排列状态。将求出的衍射X射线强度和面间隔及已知的表对照,即可确定试样结晶的物质结构,此即定性分析。从衍射X射线强度的比较,可进行定量分析。 衍射实验方法中,基本方法有单晶法、多晶法和双晶法。下面将简单的介绍这几种方法。 单晶X射线衍射分析的基本方法为劳埃法及周转晶体法。 劳埃法以光源发出连续X射线照射置于样品台上静止的单晶体样品,用平板底片记录产生的衍射线。劳埃法的衍射花样由若第 5 页
干劳埃斑组成,每一个劳埃斑相应于晶面的1~n级反射,各劳埃斑的分布构成一条晶带曲线。 图2.3 劳埃法结构图 周转晶体法以单色X射线照射转动的单晶样品,用以样品转动轴为轴线的圆柱形底片记录产生的衍射线,在底片上形成分立的衍射斑。这样的衍射花样容易准确测定晶体的衍射方向和衍射强度,适用于未知晶体的结构分析。周转晶体法很容易分析对称性较低的晶体(如正交、单斜、三斜等晶系晶体)结构,但应用较少。 多晶X射线衍射方法包括照相法及衍射仪法。 照相法以光源发出的特征X射线照射多晶样品,并用底片记录衍射花样。根据样品及底片的相对位置,照相法可以分为德拜法、聚焦法和针孔法,其中德拜法应用最为普遍。 图2.4 德拜法原理图 图2.5 德拜法窄条底片 德拜法以一束准直的特征X射线照射到小块粉末样品上,用卷成圆柱状并及样品同轴安装的窄条底片记录衍射信息,获得的衍射花样是一些衍射弧,如图2.5所示。 X射线衍射仪以布拉格实验装置为原型。衍射仪由X射线发生器、X射线测角仪、辐射探测器和辐射探测电路4个基本部分组成,如图2.6所示,是以特征X射线照射多晶体样品,并以辐射探测器记录衍射信息的衍射实验装置。衍射仪法以其方便、快捷、第 6 页
准确和可以自动进行数据处理等特点在许多领域中取代了照相法,现在已成为晶体结构分析等工作的主要方法。 图2.6 X射线衍射仪 双晶衍射仪用一束X射线照射一个参考晶体的表面,使符合布拉格条件的某一波长的X射线在很小角度范围内被反射,这样便得到接近单色并受到偏振化的窄反射线,再用适当的光阑作为限制,就得到近乎准值的X射线束。把此X射线作为第二晶体的入射线,第二晶体和计数管在衍射位置附近分别以Δθ 及Δ(2θ)角度摆动,就形成通常的双晶衍射仪。 以上为最基础的X射线衍射成像技术知识,一切X射线衍射成像都要用到这些基本的知识。 3 X射线衍射成像
3.1 X射线衍射成像 相对来说:X射线衍射及X射线衍射成像有一定的区别和联系。 联系是最基本的原理是一样的,X射线衍射是最基本的技术,而X射线衍射成像是在这技术上发展而成的。 主要的区别是: XRD = X-ray diffraction:是用一维检测器(one-dimensional detector)检测。 XDI = X-ray diffraction imaging:是用二维检测器(two-dimensional detector)检测得到的影像。 第 7 页
通过检测器得到的数据,进行分析计算,利用计算机处理可得到图像。
3.2 X射线衍射成像应用 现在X射线衍射成像已经广泛应用于物质结构检测、生物分子结构检测等领域。 同时X-射线衍射成像(XDI)在安全检查有一些应用,包括检测毒品和多种炸药:有机(塑料)炸药,液体,自制爆炸物(热湿交换器)和特殊核材料(SNMS)。它主要是利用X射线衍射(XDI)原理,对物质进行分析及对比,同时利用电脑断层扫描等技术对物品实现成像。现在已经发展到第三代:第零代,经典X射线仪。第一代,单点断层X射线衍射成像,如图3.1;第二代,线平行X射线衍射成像,如图3.2;第三代,面平行x射线衍射成像,如图3.3。 图3.1 第一代X射线衍射成像原理图 图3.2第二代X射线衍射成像原理图 图3.3 第三代X射线衍射成像原理图 而第四代,体平行X射线衍射成像,迄今面临难以逾越的障碍:这是不可能设计一个检测方案,可以单独低角度相干散射的一次X光线入射到同一检测器上。 图3.4 第四代X射线衍射成像原理想象图 4 相干X射线衍射成像 传统的X射线晶体衍射成像方法(XRD)能够实现物质的高分辨第 8 页
三维测定,但是需要的样品是晶体. 然而在实际应用中,有许多材料不能得到足够好的结晶体,甚至根本无法结晶,因此对于这些非周期性样品来说,不能通过传统的 XRD的方法来测定它们的结构。相干衍射成像 (CDI) 方法是近年来发展起来的一种新颖的无透镜显微成像技术, 在材料、生物、医学等领域的二维和三维成像中具有重要的应用。
4.1相干X射线衍射成像基本原理 当一束相干或者部分相干的 X 射线穿透样品时,其波前受到调制在不同厚度或者折射率突变的地方发生传播方向的改变,透过样品后 X 射线在远场区域遵循夫琅和费衍射原理,像面上探测到的衍射花样的强度连续分布,结合过采样理论采集衍射场分布,然后将采样得到的连续强度分布代入相位重建算法,重建丢失的相位信息就可以获得样品的重构图像。 图4.1 相干X射线衍射成像原理图 而相位重建主要依靠傅里叶变换。在物空间,假定物函数为),(yxf,其傅里叶变换为:
dxdyuyuxiyxfvuivuFvuF)(2exp),(),(exp),(),( (4.1) ),(vu是傅里叶频谱的相位分布函数。 在实验中,只有衍射场的强度可以被探测到,即2),(vuF,而相位信息),(vu丢失了,这就是所谓的相位问题。