SPC常用公式和参数
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R
X -一、 管制图公式说明
1. 计量值公式
管制图
1.1
X 管制图:n 为组内样本量,m 为抽样组数;
标准偏差n
σ
σ=
2
min max X X R -=
估计标准偏差2
^
d R =
σ 全距平均值m
R m R R R R m
i i
m ∑==+++=
121...... 管制上限→R A X R n
d X UCL 22)3
(
+=+= 中心线→X CL = 管制下限→R A X R n
d X LCL 22)3(-=-=
其中n
d A 223=
R 管制图:
R 的标准偏差)(
2
3d R d R =σ 管制上限→R D d R
d R R UCL R 42
3)(33=+=+=σ 中心线→R CL =
管制下限→R D d R
d R R UCL R 32
3)(33=-=-=σ 其中23331d d D -=,2
3431d d
D +=
m
x n
x x x x m
i i
n
∑=++++==++=
1
m ....32121 m x x x x x ......
X 管制图:
第i 组之标准偏差1
)(1
2
--=
∑=n x x
S n
i i
i
∑==m
i i S m S 1
1
估计标准偏差4
C S =
σ 管制上限→S A X S n C X UCL 34)3(+=+=
中心线→X CL = 管制下限→S A X S n
C X LCL 34)3(-=-=
其中n
C A 433=
S 管制图:
管制上限→S B UCLs 4= 中心线→S CLs =
管制下限→S B LCLs 3=
1.3 X-Rm 管制图
Rm 管制图:
移动全距1--=i i i x x MR
n
MR
MR n
i i
∑==
1
管制上限→MR D UCL 4=
中心线→MR CL =
管制下限→MR D LCL 3=
(当n=2时,3D 和4D 以样本数为2来查表)
个别管制图
管制上限→23d MR
x UCL +=
中心线→x CL =
管制下限→2
3
d MR
x LCL -= (当n=2时,2d 以样本数为2来查表)
**中位数随着计算机技术的发展,计算已经不是困难,逐步被淘汰**
2. 计数值公式
2.1不良率管制图 ( P Chart )
当每组之样本数均相同时:
中心线→∑==K
i i P K P 11
管制上限→) 1 , )
1(3min(n P P P UCL -+= 管制下限→) 0 , )
1(3
max(n
P P P LCL --=
当各组之样本数不相同时:
中心线→∑==N
i i i P n N P 1
1,其中k n n n N +++= (21)
各组管制上下限分别为 管制上限→) 1 , )
1(3
min(i
n P P P UCL -+= 管制下限→) 0 , )
1(3max(i
n P P P LCL --=
2.2不良数管制图 ( Pn Chart )
中心线→n P CL =
管制上限→ )1(3P P P UCL n n -+= 管制下限→ )1(3P P P LCL n n --=
其中n P 为各组之不合格数。
n P 为各组不合格数之平均值。
管制上限→ 3C C UCL +=
管制下限→ 3C C LCL -= 其中C 为平均不合格点数
k
C
C k
i ∑==
1
2.4单位缺点数管制图 ( U Chart )
中心线→u CL =
管制上限→ 3
n
u u UCL += 管制下限→ 3
n
u u LCL -= 其中:n = 样本大小 (检查的单位数) C = 各组的缺点数 u = 各组的单位缺点数 =
n
C ∑∑=n
C u
二、 统计指标说明
1. 制程能力指数 ( Process Capability Indexes )
★)
,max ()
(LSL SL SL USL SL Ca ---=
μ;其中μ:平均值
SL :规格标准 USL :规格上限 LSL :规格下限 ★σ6LSL)
-(USL Cp =;σ:估计标准偏差 ( Capability Sigma )。
★σμ3)
-(USL Cpu =;σ:估计标准偏差 ( Capability Sigma )。
★σ
μ3)
(Cpl LSL -=;σ:估计标准偏差 ( Capability Sigma )。
★),min(Cpl Cpu Cpk =
★USL X Cc =
★)
(61LSL USL CP CR -==σ;σ:估计标准偏差 ( Capability Sigma )。 ★2
2)
(6)
(SL LSL USL Cpm -+-=μσ;σ:估计标准偏差 ( Capability Sigma )。
2. 制程表现指数 ( Process Performance Indexes )