熔融炉为X荧光光谱仪制备通用水泥样品
采用荧光分析仪检测固体废物生料水泥熟料中的重金属

采用荧光分析仪检测固体废物生料水泥熟料中的重金属唐鸿芳(江苏鹤林水泥有限公司,江苏镇江212114)摘要:在水泥企业处理固废的过程中,对固废、生料、水泥熟料的重金属必须进行检测和严格管控。
通过荧光分析仪,采用熔融法制样,利用土壤和沉积物标准样建立标准曲线,可以准确可靠地管控GB30760—2014(水泥窑协同处理固体废物技术规范》中规定的生料、水泥熟料中除Cd以外的七大重金属元素。
关键词:固废;重金属;荧光仪;熔融法;标准样品;标准曲线Abstract:In the process of solid waste treqtment in cement enterprises,heavy metal in solid waste,raw materials and clinker must be tested and strictly controlled.In this paper,by using a fluorescence analyzer, preparing samples though melting method and establishing the standard curve using standard soil and sediment, seven major heavy metal but Cd,which is explicitly specified to be controlled in raw materials and clinker by GB30760—2014Technical Specifications for Cement Kiln Co-processing Solid Waste can accurately and reliably measured.Key words:solid waste;heavy metals;fluoyometer;melting method standard sample;standard curve[中图分类号]TQ172.1+8[文献标识码]A[文章编号]1004-5538(2020)06-0039-040引言《水泥窑协同处理固体废物技术规范》(GB30760—2014)(以下简称《技术规范》)中规定,在处理固体废物时,生料、水泥熟料要进行八大重金属元素的管控,且检测之前需对样品用盐酸、硝酸、氢氟酸进行消解,采用原子荧光光谱法测定碑和铅,用石墨炉原子吸收分光光度法测定镉、锯、铜、镰,用火焰原子吸收分光光度法测定锌、猛,试验过程存在安全风险且试验程序繁锁,企业需购买三台仪器,价格昂贵,平时检测需耗费大量的人力资源。
x射线荧光光谱法在水泥生料检测中的应用

x射线荧光光谱法在水泥生料检测中的应用X射线荧光光谱法(XRF)是一种常用的材料成分分析方法,其在水泥生料检测中也有着广泛的应用。
以下是关于X射线荧光光谱法在水泥生料检测中应用的1000字介绍。
一、水泥生料概述水泥生料是水泥生产中的原材料,主要由钙质原料、硅质原料、铁质原料以及少量辅助性原料组成。
这些原材料按照一定的比例混合,经过粉磨后得到生料。
生料的化学成分和矿物组成对水泥的品质有着重要影响。
因此,对水泥生料进行准确的成分分析是保证水泥质量的关键环节。
二、X射线荧光光谱法基本原理X射线荧光光谱法是一种基于X射线照射样品,使样品中的原子或分子发生荧光发射,从而进行成分分析的方法。
当X 射线照射样品时,样品中的原子或分子会吸收部分X射线能量,并从基态跃迁到激发态。
当这些原子或分子从激发态返回到基态时,会发射出特征性的荧光X射线。
这些荧光X射线的波长或能量与被照射的原子或分子的种类和数目有关。
通过测量这些荧光X射线的波长或能量,可以确定样品中的元素种类和含量。
三、X射线荧光光谱法在水泥生料检测中的应用1.元素分析:X射线荧光光谱法可以快速准确地测定水泥生料中的多种元素,如硅(Si)、铝(Al)、钙(Ca)、铁(Fe)、镁(Mg)等。
通过对这些元素的含量进行精确分析,可以了解生料的化学成分和矿物组成,从而判断生料的质量和稳定性。
2.含量检测:X射线荧光光谱法可以测定水泥生料中各元素的含量。
通过对不同元素含量的分析,可以了解各原材料的比例和配合情况,从而控制生料的配方和生产过程。
此外,对于一些微量元素如铅(Pb)、汞(Hg)等,X射线荧光光谱法也能够进行准确测定,有助于保障水泥产品的环保性能。
3.过程控制:在水泥生产过程中,需要对生料的成分进行实时监测和控制。
X射线荧光光谱法具有快速、准确和在线检测的特点,可以实时反馈生料的成分信息,帮助操作人员及时调整生产参数,确保生产过程的稳定性和产品质量的可控性。
水泥企业化验室X荧光分析作业指导书

水泥企业化验室X荧光分析作业指导书一、检验设备与仪器托盘天平,样品粉碎机,supreme8000型荧光分析仪,压片模具,半自动压样机,洗耳球。
二、编号方法1、在进行荧光分析时,要求样品按如下格式进行要求样品按如下格式进行编号:岀磨生料“RO+时间”、入窑生料“RI+时间”。
2、工作曲线,生料分析曲线:“yaobaishengliao”,熟料分析曲线:“yaobaishuliao”。
三、目的与范围目的:负责检测岀磨和入窑生料的各种半成品的化学成分分析,并及时地上报。
范围:适用于生料、熟料的全分析、半成品的分析。
四、操作过程1、生料的操作过程称取混匀缩分好的式样30g,置于干燥洁净的碳化钨磨盘内,魔环内外都应放料,(换外侧应多放料),向料中加三乙醇胺2滴,里外各一滴盖上盘盖,放入震动磨中,卡好磨盘,合上箱盖并压实,将旋转开关拧向左侧(此时电源指示灯亮),启动绿色按钮开始粉碎,粉碎时间150s后自动停止后。
取出磨盘,从磨盘中的样品里取出8g,倒入已放好的压片模具中进行压片,按“启动”按钮后,加压20s后自动停止,取出模具,拿出样环,用洗耳球吹掉鸦片表面上的残余细分,放进荧光分析仪1#位置,输入名称选好曲线进行测量。
2、熟料的操作过程称取试样15g置于磨盘内,磨盘内外都应放入式样,加入无水乙醇2滴,魔环内外各一滴,盖上磨盖,放入震动磨内,卡好磨盘,合上箱盖并压紧,将旋转开关拧向左侧(此时电源灯亮),启动绿色按钮开始粉碎,粉碎时间150s后自动停止,取出磨盘,称取均匀试样8g,放好的压片模具中,在表面均匀覆盖一层硼酸(约2.4g),装好模具放入压片机上,启动“自动”按钮后开始加压,20s后自动停止,取出压片,用洗耳球吹掉压片表面上的残余细分,放进荧光分析仪1#位置,输入名称,选择“yaobaishuliao”曲线进行测量。
五、制备样品注意事项1、没做完一个样品必须将磨盘擦拭干净,压片模具保持干燥洁净,以免残留的样品影响下一个样品的分析结果,必要时用酒精或标准沙清洗磨盘器具。
X射线荧光光谱分析熔融法制样的系统研究

X射线荧光光谱分析熔融法制样的系统研究李国会;李小莉【摘要】对X射线荧光光谱(XRF)分析的熔融法制样进行了系统地总结.内容包括熔剂的选择、氧化剂的选择、硫化剂的选择、重吸收剂的选择、脱模剂的选择,给出了氧化物、碳酸盐、硫化物、铁合金、石墨材料、铜精矿等几种典型样品熔融制备玻璃片的方法.介绍了铂黄合金坩埚和铸模的保养,而且对制备硼酸盐熔融玻璃片遇到的问题及解决办法都做了详细的说明,此外,还对3种不同类型的熔融设备及其特点做了介绍.研究内容对X射线荧光光谱分析工作者的熔融制样操作有一定指导意义.【期刊名称】《冶金分析》【年(卷),期】2015(035)007【总页数】9页(P1-9)【关键词】熔融玻璃片;硼酸盐混合熔剂;X射线荧光光谱分析【作者】李国会;李小莉【作者单位】中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所,河北廊坊065000;天津地质矿产研究所,天津300171【正文语种】中文X射线荧光光谱(XRF)是一种近代快速发展起来的仪器,它具有分析速度快、制样较简单、能进行多元素快速分析、重现性好、不破坏样品的特点。
因此在地质、矿山、环保、钢铁、水泥、化工等领域得到了广泛的应用。
现代X射线荧光光谱仪测量样品和数据处理都是在计算机控制下自动进行的,基本不需要操作者干预。
因此,样品制备(包括熔融玻璃片和粉末压片)就成了X 射线荧光光谱分析的主要工作。
硼酸盐熔片法最早是由Claisse[1]和Rose等提出的,其优点是能有效地消除颗粒度和矿物效应,由于熔融时可以用纯元素氧化物或在标准样品中加入氧化物,进而扩大了标准样品中各元素的含量范围。
由于样品和熔剂的质量比大于1∶5时有效地降低了元素间的吸收增强效应,使熔融制样成为精确分析样品中主元素的最重要的制样方法。
制备的均匀平滑的玻璃圆片可在干燥器中长期保存,这是此制样方法的优点之一。
其缺点是要消耗熔剂,增加了分析成本,制样时间较长;此外,由于稀释不仅降低了强度,而且由于熔片中含有大量的B和O元素,使背景强度增加,对痕量元素分析不利;又由于在熔融过程中As、Sb等元素挥发损失,会影响测量的准确度。
X荧光光谱分析仪在水泥生产中的应用

X荧光光谱分析仪在水泥生产中的应用摘要:介绍了X荧光光谱分析仪的原理和使用要求,结合近年来新型干法水泥生产技术的广泛应用和不断发展,通过在水泥企业中应用X荧光光谱分析仪和水泥企业传统化学分析方法的对比分析,深入阐述了在现代化水泥企业的生产和质量控制过程中使用X荧光光谱分析仪的必要性和重要性。
关键词:X荧光;光谱;分析;水泥Abstract: This paper introduces the X fluorescence spectrum analyzer principle and the use requirements, combined with the recent new dry cement production technology development and application in cement enterprises, through the application of X fluorescence analyzer and cement company of traditional chemical analysis method of comparative analysis, elaborated in the modern cement production and quality control process using X fluorescence spectrum analyzer and the importance and necessity of.Key words: X fluorescence; spectrum analysis; cement;1 引言众所周知,X荧光光谱分析仪是国际上公认的工业分析仪器。
早在上个世纪的80年代,西方发达国家已在石油、化工、冶金、建材、商检、质检、环保以及科研和大专院校广为使用。
X荧光光谱作为常规分析手段,已成为物质组成分析的必备方法之一。
X射线荧光仪在水泥生产过程中的一套监控方法

6
DXC 2008
如何获得可靠的分析结果 之一
一台稳定的仪器
7
DXC 2008
JC/T 1082-2008 仪器的精密度和稳定性
精密度 以谱线强度的变异系数来表示
• CaO: <0.15% • SiO2:<0.4% • SO3: <2.0%
稳定性 以谱线强度的极差来表示
• CaO: <0. 5% • SiO2:<1.5% • SO3: <5.0%
X射线荧光仪在水泥生产过 程中的一套监控方法
水泥行业的分析要求
原料
• 石灰石 • 粘土 • 矾土 • 铁矿 • 砂岩 • 石膏 • 矿渣、粉煤灰等
过程产品
• 生料 • 熟料
成品
• 各种牌号的水泥
2
DXC 2008
XRF在水泥生产过程中的应用
进厂原料(石灰 石、粘土等)
(生料) (mixing, milling)
欧盟标准 EN196-2《水泥试验方法 第二部分:水泥的化学分析》
4
DXC 2008
Bruker AXS 针对水泥行业的特殊解决方案
三款最新型号的X射线荧光光谱仪 S8 Tiger X射线荧光光谱仪(波谱,顺序道) S8 Lion X射线荧光光谱仪 (波谱,多道仪) S2 Ranger LE (能谱,可以分析C、O、F等轻元素)
CEM-Quant建议:不要用化学试剂或进厂原料混合来制备二级标准样品
35
DXC 2008
如何制备一系列可靠的校准样品 合适的制样设备和制样程序
制样的原则:
• 样品要研磨到足够细,以研磨的量和时间来控制粒度,而不是用筛子来控制 • 样品不粘磨盘,或尽量少粘磨盘 • 制样精密度好
X射线荧光光谱法测定水泥中Cl及水化物的方法

X射线荧光光谱法测定水泥中Cl及水化物的方法到目前为止,使用X射线荧光分析法测定水泥中的化学成分,已经得到了广泛的认可,但是,在实际应用过程中,仍需要进行改进,提高测量效果。
对于氯元素的测量,与其他元素之间还存在一定的差异性,主要体现在氯元素含量较少、易于挥发、校准样品含量较低等方面,会直接影响测量效果。
1 试验设置1.1 试验仪器和试剂试验仪器:X射线荧光光谱分析仪;振动磨;工作压力为20.0t的压样机;工作温度为950℃的高温炉。
试剂:四硼酸锂;氯化钠;30.0g/L 的溴化锂溶液。
1.2 校准样品首先,进行校准样本的制备。
为了有利于测量工作的开展,需要对水泥样品进行人工配制,具体制作过程中,取用比例为水泥200g,氯化钠试剂0.332g,然后使用振动磨搅拌60s得到样品,标记样品号为0,按照此方法,选取5个不同水泥样品,总计6个校准样品,采用的测定方法为代用法,也就是磷酸蒸馏—汞盐配位滴定法。
1.3 样片制作1.3.1 粉末压片样片水泥样品12.5g,加入粘结剂甲基纤维素2.5g,异丙醇助磨剂3滴,进行混合,振动磨180s,在20t压力作用下压制成粉末样片,保压时间设置为20s。
1.3.2 玻璃熔片样片的制作水泥样品2.400g,四硼酸锂熔剂12.000g,4滴溴化锂脱模剂,在高温炉中熔融10min,然后将其导入铂金合金铸模当中,冷却至室温。
1.4 试验结果根据以上的情况,使用X射线荧光光谱法进行测量,主要分为静强度、背景强度和毛强度,其中静强度为毛强度和背景强度之差,测量之后的结果如表1所示:2 化学方法与压片法和熔片法测量对比分析2.1 测量结果对比为了增强研究的说服力,下面将使用化学法测量的结果与压片法和熔片法侧得的结果进行对比分析,所选取的测量对象来自于不同水泥厂以及同一水泥厂的不同型号水泥,具体结果如表2所示:由此可以看出,使用X射线荧光光谱法进行水泥中氯元素含量测定时,熔片法和压片法测得的结果相似度较高,但是,與化学法测得的结果偏差较大,超过了GB/T176-2008规定中的0.005%的限制,而压片法与熔片法之间的差距则在这一标准之内,所以说,需要对化学法进行改进。
X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法[技巧]
![X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法[技巧]](https://img.taocdn.com/s3/m/104c0b8627d3240c8547ef18.png)
X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法[技巧] X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法摘要本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。
根据70多篇文献和一些常见的资料,作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。
1 前言作为一种比较成熟的成分分析手段,XRF光谱分析在地质、冶金、环境、化工、材料等领域中应用广泛。
它的分析对象主要是块状固体、粉末、液体三种,其中,固体粉末是分析得最多的一种。
因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末,对于形状不规则的块状固体,由于直接分析技术还不成熟,往往也粉碎成粉末。
液体试样可放入液体样品杯中分析,但由于不能抽真空等原因,有时将液体转变为固体,一些预分离、富集的结果也常是粉末,因此,粉末试样的制样技术是XRF光谱分析中的重要研究课题。
XRF光谱分析粉末样品主要有两种方法:粉末压片法和熔融法。
,1,2,对于样品量极少的微量分析,还有一种薄样法,这里拟不介绍。
熔融法是应用较多的一种制样方法,它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。
但熔融法也有缺点:因样品被熔剂稀释和吸收,使轻元素的测量强度减小;制样复杂,要花费大量时间;成本也较高。
粉末压片法的优点是简单、快速、经济,在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍,也常用于痕量元素的分析。
从中国理学XRF光谱仪协会和中国菲利浦X射线分析仪器协会的最近两本论文集,3-4,来看,采取粉末压片制样的文章占了很大的比例。
在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中,粉末压片仍是一种应用很广泛的XRF制样法。
近年来,有关XRF及其应用的综述或评论很多,5-13,,其中包括样品制备方面的内容,还有一些专门介绍制样法的文章,14-15,。
本文根据收集到的70多篇文献,从样品制备、方法应用、理论校正等方面阐述粉末压片法的现状与进展。
2 样品制备粉末压片制样法主要分三步:干燥和焙烧;混合和研磨;压片,16,。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
熔融炉为X荧光光谱仪制备通用水泥样品Mathieu Bouchard, John A. Anzelmo, and Sebastien Rivard (Corporation Scientifique Claisse)与Alexander Seyfarth, Larry Arias, Kaibehrens and Soodabeh Durali-Muller, Bruker-AXS 讨论了一种通用硼酸盐融片/XRF法应用于水泥行业中原材料分析。
引言前期论文描述了水泥样品熔融法制备及其X-射线荧光光谱(XRF)分析条件的校准。
依照两种知名的水泥化学分析标准方法的指导进行试验,并列出结果。
结果证明,这种稳定的分析方法能达到ASTM C 1142和ISO/DIS 29581-23标准要求。
此分析方法选用Claisse M4TM(图1)全自动熔样机进行样品制备,并与波长色散-X射线荧光光谱仪(WDXRF)联用,测定水泥行业相关的感兴趣的所有元素。
在第二页中将具体描述该方法应用于产成品、加工材料以及其他很多原料。
其中此方法报道了水泥、混合水泥、含添加剂的水泥、铝酸盐水泥、熟料、窑喂料、原料混合物、石灰石、石膏、砂子、黏土、铁矾土、硅粉、矿渣、粉煤灰和铁矿石等样品制备。
并由全电动熔样机TheOx TM fluxer(图2)按照有效的融片方法进行样品制备的调节与优化。
由于粉末样品具有矿物效应及粒度效应,很难将单一的XRF标准曲线应用于分析不同材料宽含量范围的粉末压片所制备的样品。
但将其熔融于硼酸盐玻璃融片中,所有的矿物效应及粒度效应会消除。
因此可以用单一的XRF标准曲线进行水泥行业原材料相关所有元素全范围含量分析。
本文将大量不同的原材料进行硼酸盐熔融制片法制样,通过实验探讨了原材料整个含量范围内校准曲线所用的X射线荧光光谱分析条件。
并对标准样品进行分析,得到了分析原材料普遍适用的XRF的校准曲线的精密度、准确度和检出限。
实验仪器设备及其条件前期论文1已经列出了Claisse M4 TM(图1)熔样机的仪器相关信息、样品制备方法的建立、熔融条件的优化以及熔融样品制备的制备方法的稳定性分析。
Bruker-AXS S4 顺序探测型WDXRF用于样品分析,并配有1000W端窗Rh 靶X-射线管。
通过逐步扫描具有典型应用的标准熔片的波长,设定和优化了光谱仪的分析条件如峰线、背景测量、背景位置、脉冲高度、计数时间和其它参数。
X射线荧光光谱仪测定原材料相关元素的分析条件如前文6所列。
因为给定了一些原料标准物质一些元素的标准值,所以可以选择特定元素的分析线加入到分析方法中。
并在真空状态使用28 mm的准直器面罩进行测定。
校准前准备工作选用大量下列品牌的标准物质进行WDXRF原料应用的校准Bureau of Analysed Samples Ltd(BAS):英国化学标准有证参考物质Domtar Inc. Research Center: 加拿大有证标准物质国家钢铁材料分析中心: NCS DC 标准物质欧盟钢铁标准: 标准化欧洲煤钢共同体(ECSO): 欧洲标准地球化学标准物质:GBW系列标准物质Instituto de Recherches de la Siderurgie(IRSID): Echantillon-TypeInstituto de Pesquisas Tecnologicas(IPT): 标准物质日本水泥协会(JCA): X-射线荧光分析标准物质美国国家标准与技术研究所(NIST): 标准物质斯洛伐克计量研究所(SMU): 斯洛伐克标准物质南非标准局: SARM有证标准物质表一列出了原始样品和灼烧后样品元素的浓度范围值。
Claisse M4TM全自动熔样机和TheOX TM熔样机制备了两套不同的标准物质的标准玻璃片。
第一组套用于绘制校准曲线。
一旦校准完成后,用第二套标准玻璃片作未知样品进行分析。
所得结果用于评估方法的精密度和准确度。
表1 标准物质氧化态的元素含量组分标准物质材料含量范围(%)原始样品灼烧后样品SiO20.02-99.78 0.03-99.86Al2O30.004-85.07 0.005-85.32Fe2O30.005-85.3 0.0005-91.03CaO 0.006-70 0.006-98.58MgO 0.001-21.25 0.001-39.66SO30.02-46.3 0.02-58.54Na2O 0.001-4.81 0.001-4.84K2O 0.001-4.99 0.001-5.02TiO20.004-3.76 0.004-3.77P2O50.003-8.42 0.003-8.62Mn2O30.0001-4.93 0.0002-5.05SrO 0.001-0.638 0.001-0.649Cr2O30.0002-0.474 0.0004-0.486ZnO 0.0001-0.107 0.0001-0.109ZrO20.005-0.14 0.005-0.2V2O50.0006-0.72 0.0007-0.75BaO 0.0012-0.66 0.0012-0.66结果与讨论熔融法的有效性与前文1一样,通用熔融法分析过程测定的样品必须为灼烧样。
传统熔融法中,未经过灼烧处理的原料和掺有添加剂的水泥很难或者不可能进行熔融。
样品与熔剂比率为1:10的样品制备需要在一个1050℃左右准确加热13分钟的特定熔融程序下制备高铝或者高硅的稳定玻璃融片。
强力风冷下5分钟完成冷却过程。
为了论证该熔融方法的有效性,20多种不同类型的200多件不同样品用通用熔融法进行熔样。
样品列于表2。
此表不仅包含了很普通的原料,也包括了用作燃料后的废料。
以检验该方法应用于全球资源的局限性。
此通用熔融方法对除了三种样品(高磁铁矿、高铜铁矿和铜渣)之外,可对其它所有材料高效率的制备均匀稳定的硼酸锂玻璃融片。
表2 本实验材料用表# 材料类型实验个数实验成功个数# 材料类型实验个数实验成功个数1 水泥118 118 9 铁矾土 4 42 含添加剂的水泥A15 15 10 沙子7 73 铝酸盐水泥7 7 11 硅粉 3 34 熟料13 13 12 粉煤灰9 95 窑喂料/原料混合物11 11 13 矿渣B8 66 石灰石9 9 14 铁矿石C19 127 石膏7 7 15 其它 5 59 黏土7 7 总计242 233 A:表中所列均是确定添加剂成分的水泥;不同种类的水泥也可能含有不同的添加剂成分B:两个炉渣样品因含铜量过高而造成实验失败C:7个铁矿石样品也因为含铜量过高而造成实验失败校准表3列举了干扰元素校正的使用和类型。
也列出了标准材料在优化条件下被分析元素校准曲线的相关系数平方。
从不同元素的校准来看,三条校正曲线的校正含量和标准含量有特定的关系:如下图3所示为CaO的校准曲线,它是水泥产品的主要成分;图4所示为SiO2的校准曲线,其硅变量的矿物效应对XRF计量强度上有一定影响4;图5所示为SO3的校准曲线,而硫在不同氧化态下,其化合物具有挥发性。
表3 原料应用的干扰元素校正和相关系数的平方元素线干扰元素校正信息相关系数平方Al Kα固定α 1.0000Ba Kα固定α 与Ti重叠0.9982Ca Kα固定α 1.0000Cr Kα固定α 与V重叠0,9997Fe Kα可变α 1.0000K Kα固定α 0.9999Mg Kα固定α 0.9999Mn Kα固定α 与Cr重叠0.9998Na Kα固定α 0.9998P Kα固定α 1.0000S Kα可变α 1.0000 Si Kα可变α 1.0000 Sr Kα固定α 0.9995 Ti Kα固定α 0.9999 V Kα固定α 与Sr和Ba重叠 1.0000 Zn Kα固定α 0.9986 Zr Kα固定α 与Sr重叠0.9988图3:氧化钙校准曲线(校正结果与给定参考值之比)图4:二氧化硅校准曲线(校正结果与给定参考值之比)图5:三氧化硫校准曲线(校正结果与给定参考值之比)结果的灵敏度、精密度和准确度表4通过评估灵敏度、精密度、准确度来阐明结果。
使用光谱仪软件,用检出下限(LLD)来计算结果的灵敏度。
在特定含量基体(%)上,用M4TM和TheOx TM两种熔样机进行融片制备的样品,通过计算所有标准物质多次重复制样所得样品的分析元素其结果的最大差异来评估精密度。
在特定含量基体(%)上,用M4TM和TheOx TM两种熔样机进行融片制备的样品,通过计算制备的样品的测定值与所有标准物质的标准值之间的最大差异来评估准确度。
通过软件计算标准偏差并列于表中。
尽管元素范围广,但其结果仍然具有很好的准确度和精密度。
表4 原材料应用结果化合物检出限(ppm) M4TM熔样机最大偏差(%)TheOX TM熔样机最大偏差(%)标准偏差(%)与参考值最大偏差(%)SiO240 0.10 0.15 0.16 0.59Al2O361 0.11 0.16 0.105 0.34Fe2O351 0.12 0.11 0.089 0.36CaO 41 0.17 0.19 0.16 0.34MgO 84 0.04 0.04 0.081 0.22SO347 0.11 0.05 0.062 0.19Na2O 85 0.02 0.02 0.018 0.07K2O 17 0.02 0.02 0.011 0.04TiO242 0.02 0.01 0.0130 0.06P2O558 0.02 0.03 0.0074 0.03Mn2O325 0.009 0.012 0.012 0.04SrO 14 0.01 0.006 0.0044 0.014Cr2O334 0.006 0.005 0.0024 0.008ZnO 13 0.003 0.002 0.0010 0.003ZrO211 0.002 0.002 0.0032 0.007V2O515 0.003 0.001 0.0019 0.004BaO 57 0.01 0.006 0.0060 0.014结论和前文1一样,本文介绍了一种通用熔融/XRF法测定水泥行业相关材料的方法。
熔融制备法可以对水泥和水泥厂的原料进行熔融,在一般的水泥厂均可实施。
水泥校正曲线能满足国际标准法(ISO/DIS 29581-2和ASTMC 114)分析水泥样品的准确度和精密度的要求。
本文证明了一条准确精密的通用校正曲线用于分析全球水泥行业大量原材料是行之有效的。
材料的范围包括水泥、混合水泥、含添加剂的水泥、铝酸盐水泥、熟料、窑喂料、原料混合物、石灰石、石膏、沙子、黏土、铁矾土、硅粉、矿渣、粉煤灰和铁矿石等。
参考文献1BOUCHARD, M., ANZELMO, J.A., RIV ARD, S., SEYFARTH, A., ARIAS, L., BEHRENS, K., DURALI-MÜLLER, S., “Global Cement and Raw MaterialsFusion/XRF Analytical Solution”, Advances in X-ray Analysis, V ol. 53, Proceedingof the 58th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis (Denver X-ray Conference), International Centre for Diffraction Data, ISSN1097-0002, 2010, pp. 263-279.2ASTM, Standard C 114-08, “Standard Test Methods for Chemical Analysisof Hydraulic Cement”, Annual Book of ASTM Standards, V olume 04.01, ASTMInternational, West Conshohocken, PA, 2008, pp. 150–157.3DIN EN ISO 29581-2 (Draft standard, 2007-07), “Methods of testing cement - Chemical analysis of cement - Part 2: Analysis by X-ray fluorescence”(ISO/DIS 29581-2:2007), 30 pp.4ANZELMO, J.A., “The Role of XRF, Inter-Element Corrections, and SamplePreparation Effects in the 100-Year Evolution of ASTM StandardTest Method C114”, Journal of ASTM International, V ol. 6, No. 2, Paper IDJAI101730, available online at , 2009, pp. 1-10.5SPANGENBERG, J. and FONTBOTÉ, L., “X-Ray Fluorescence Analysis ofBase Metal Sulphide and Iron-Manganese Oxide Ore Samples in FusedGlass Disc”, X-Ray Spectrometry, V ol. 23, 1994, pp. 83-90.6BOUCHARD, M., ANZELMO, J.A., RIV ARD, S., SEYFARTH, A., ARIAS, L., BEHRENS, K., DURALI-MÜLLER, S., “Global Cement and Raw MaterialsFusion/XRF Analytical Solution. II”, Powder Diffraction, V ol. 26, No. 2, International Centre for Diffraction Data ISSN 0885-7156, 2011, pp. 176-185.。