测试指导类-USB接口指标测试指导书
usb插拔测试标准
usb插拔测试标准USB插拔测试标准。
USB（Universal Serial Bus）是一种广泛应用于计算机和电子设备之间连接的通用接口标准。
为了确保USB接口的稳定性和可靠性，进行USB插拔测试是非常必要的。
本文将介绍USB插拔测试的标准和方法，以及测试过程中需要注意的事项。
首先，进行USB插拔测试时，需要根据国际标准ISO 12485-2进行操作。
该标准规定了USB接口的插拔测试方法和要求，包括插拔次数、插拔速度、插拔角度等。
在进行测试时，应严格按照ISO 12485-2的要求进行，以确保测试结果的准确性和可靠性。
其次，进行USB插拔测试时，需要使用专业的测试设备和工具。
通常情况下，会采用插拔测试机或者自动化测试设备进行测试。
在选择测试设备时，需要考虑设备的精度、稳定性和适用范围，以确保测试结果的准确性和可靠性。
在进行USB插拔测试时，需要注意以下几点：1. 测试环境，测试环境应该保持干净、整洁，避免灰尘和杂物进入测试设备和接口，影响测试结果。
2. 测试频次，根据ISO 12485-2的要求，确定测试的插拔次数和频次，以确保测试结果的准确性和可靠性。
3. 测试速度，在进行插拔测试时，需要控制插拔的速度，避免过快或过慢导致测试结果不准确。
4. 测试角度，根据ISO 12485-2的要求，确定插拔的角度范围，以确保测试结果的准确性和可靠性。
5. 测试记录，在进行USB插拔测试时，需要详细记录测试过程中的各项数据，包括插拔次数、测试时间、测试环境等，以便后续分析和评估测试结果。
总之，USB插拔测试是确保USB接口稳定性和可靠性的重要手段，通过严格按照ISO 12485-2的标准和要求进行测试，使用专业的测试设备和工具，以及注意测试过程中的各项细节，可以确保测试结果的准确性和可靠性。
希望本文介绍的USB插拔测试标准和方法对您有所帮助。
USB 2.0测试规范
USB 2.0 测试规范及影响因素一栏表
No. 测试项目 测试标准 Frequency(MH dB/Cable(Max Z) imum) 0.512 0.13 衰减 Signal 1 Pair attenuat ion 0.772 1 4 8 12 24 48 96 200 400 差模阻抗 Differen 2 tial Impedanc e 同模阻抗 Common 3 Impedanc e 延迟 Propagat 4 ion Delay 延迟差 Propagat 5 ion Delay Skew 0.15 0.2 0.39 0.57 0.76 0.95 1.35 1.9 3.2 5.8 测试仪器 影响因素 1. 信号线导体截面积与长度不 匹配 2. 加工信号芯线时伤到芯线导 NA（网络分 体 析仪）或依 EIA364-101 3.信号芯线导体材质 以 Open/Short 4.信号线导体的光泽度及纯度 量测 5. 信号线导体的绝缘材质（介 质常数) 6. 信号线的对绞绞距及包带异 常 1. 信号芯线ID； 2. 信号线的同心度及真圆度； 3. 信号线绝缘材质（介质常 TDR（时域反 数）； 射仪） 4. 焊接时锡点饱和度，有无锡 尖，芯线绝缘皮是否后缩 5. 线材与连接器阻抗匹配 备注
usb接口耐压测试标准
usb接口耐压测试标准USB接口耐压测试标准是确保USB接口在特定电压下能够正常工作并保证设备安全的一个重要环节。
在进行USB接口耐压测试时，需要遵循一系列的标准和规定，以确保测试的准确性和可靠性。
以下是关于USB接口耐压测试标准的详细介绍。
1. 测试目的USB接口耐压测试的目的是为了检测USB接口在承受一定电压下的电气性能和稳定性。
通过模拟实际工作环境中的电压波动和异常情况，确保USB接口在各种条件下都能可靠地工作，同时防止因电压异常导致的设备损坏或安全隐患。
2. 测试标准2.1 测试电压范围USB接口耐压测试的电压范围通常为5V±10%。
这意味着测试时会在4.5V至5.5V的范围内对USB接口进行电压加载。
这个电压范围是根据USB协议规定的标准电压范围而来，确保了接口在正常工作时能够稳定传输数据和电力。
2.2 测试信号波形USB接口耐压测试的信号波形应为直流平波。
在测试过程中，不应出现交流成分或任何突变波形，以确保模拟的正常工作条件。
2.3 测试持续时间USB接口耐压测试的持续时间应至少为1分钟。
这个时间长度旨在模拟设备在实际使用中可能遇到的各种长时间工作情况，从而确保USB接口在长时间内仍能保持稳定的性能。
2.4 测试环境条件在进行USB接口耐压测试时，应将设备放置在恒温、恒湿的环境中，以避免外部环境因素对测试结果产生影响。
一般而言，测试环境温度应保持在25℃±5℃，湿度应控制在50%±10%。
3. 测试步骤3.1 准备测试设备准备一台具备USB接口的待测设备，以及一台能够施加电压的电源设备。
同时，准备好用于记录测试数据的测量仪器，如万用表、示波器等。
3.2 连接设备将待测设备的USB接口与电源设备相连，确保电源设备能够为待测设备提供所需的电压。
同时，使用测量仪器监测设备的电压和电流变化。
3.3 加载电压在恒温、恒湿的环境下，将电源设备的输出电压调整到5V±10%的范围，然后将其加载到待测设备的USB接口上。
usb接口测试标准国标
usb接口测试标准国标
USB接口测试标准国标。
USB（Universal Serial Bus）接口是一种用于连接计算机与外部设备的通用接口标准。
随着USB接口在各种设备中的广泛应用，为了保证设备的兼容性和稳定性，制定了USB接口测试标准国标，以确保USB设备的质量和性能。
USB接口测试标准国标主要包括对USB接口物理连接、传输速率、电气特性、协议规范等方面的测试要求。
其中，物理连接测试主要包括对接口连接器、线缆连接、接地和屏蔽等方面的测试；传输速率测试主要包括对USB 2.0、USB 3.0等不同版本的传输速率进行测试；电气特性测试主要包括对电压、电流、功耗等参数进行测试；协议规范测试主要包括对USB通信协议遵从性、数据传输可靠性等方面的测试。
通过执行USB接口测试标准国标，可以确保USB设备在连接、传输和通信方面的稳定性和可靠性，提高用户体验和设备性能。
同时，符合USB接口测试标准国标的设备也能够更好地与其他USB设备兼容，避免出现兼容性问题。
总之，USB接口测试标准国标的制定和执行对于保障USB设备的质量和性能至关重要，也为USB设备的生产和应用提供了技术支持和保障。
希望未来能够进一步完善USB接口测试标准国标，促进USB设备技术的发展和应用。
usb接口测试标准
usb接口测试标准USB接口测试标准是指对USB接口进行测试时所遵循的一系列规范和要求。
USB接口是一种用于连接计算机和外部设备的通用接口标准，它可以实现数据传输、电源供应和设备控制等功能。
由于USB接口在计算机领域中应用广泛，因此对其进行测试是非常重要的，可以确保接口的稳定性和可靠性。
USB接口测试标准包括以下几个方面：1. 电气特性测试：主要测试USB接口的电压、电流、阻抗等电气特性是否符合规范要求。
这些测试可以通过使用专业的测试仪器来完成，例如示波器、信号发生器等。
2. 信号完整性测试：主要测试USB接口传输信号的完整性，包括信号的时钟频率、上升时间、下降时间、峰值电压等参数。
这些测试可以通过使用信号发生器和示波器来完成。
3. 功能性测试：主要测试USB接口是否能够正常地进行数据传输和设备控制。
这些测试可以通过使用专门的测试软件来完成，例如USB设备模拟器和数据包分析器等。
4. 兼容性测试：主要测试USB接口的兼容性，包括与不同操作系统、不同设备的兼容性。
这些测试可以通过使用各种设备和操作系统来完成。
5. 可靠性测试：主要测试USB接口在长时间使用和恶劣环境下的稳定性和可靠性。
这些测试可以通过使用长时间运行的测试设备和模拟恶劣环境来完成。
6. 安全性测试：主要测试USB接口是否存在安全隐患，例如是否容易受到黑客攻击或病毒感染等。
这些测试可以通过使用专门的安全测试工具来完成。
7. 性能测试：主要测试USB接口的传输速度和响应时间等性能指标。
这些测试可以通过使用专业的性能测试工具和设备来完成。
以上是USB接口测试标准的主要内容，通过对USB接口进行全面的测试，可以确保接口的质量和可靠性，提高用户体验。
同时，也可以帮助厂商识别并解决潜在问题，提高产品竞争力。
在进行USB接口测试时，需要遵循相关的标准和规范，并结合实际情况进行合理的测试方案设计和执行。
usb接口测试标准
usb接口测试标准USB接口测试标准。
USB（Universal Serial Bus）是一种用于连接计算机与外部设备的通用接口标准。
USB接口测试是确保USB设备和主机之间正常通信的重要步骤。
USB接口测试标准是为了保证USB设备在各种环境下都能正常工作而制定的一系列规范和要求。
本文将介绍USB接口测试的标准内容及其重要性。
首先，USB接口测试标准包括物理层测试、传输层测试和协议层测试。
物理层测试主要包括信号完整性测试、电气特性测试、连接器测试等内容，旨在验证USB接口的物理连接是否良好。
传输层测试主要包括端点测试、带宽测试、传输速率测试等内容，用于验证USB接口的数据传输能力。
协议层测试主要包括协议兼容性测试、协议一致性测试等内容，用于验证USB接口是否符合USB协议规范。
其次，USB接口测试标准的重要性不言而喻。
首先，符合USB接口测试标准的设备能够保证与各种主机的兼容性，从而提高设备的通用性和适用性。
其次，通过严格的USB接口测试，可以有效提高USB设备的稳定性和可靠性，减少因接口问题导致的故障率。
此外，USB接口测试还可以有效减少设备的功耗和电磁干扰，提升设备的性能和用户体验。
总之，USB接口测试标准对于保证USB设备的质量和性能至关重要。
只有通过严格的测试，确保设备符合USB接口测试标准的要求，才能够让用户放心使用，并且能够在各种环境下正常工作。
因此，制定和遵守USB接口测试标准是每一个USB设备制造商和用户都应该重视的事情。
在实际的USB接口测试过程中，需要严格遵循相关的测试流程和标准要求，采用专业的测试设备和工具，进行全面而系统的测试。
只有这样，才能够保证USB设备的质量和性能达到标准要求，从而满足用户的需求。
综上所述，USB接口测试标准是保证USB设备质量和性能的重要保障，只有严格遵守相关的测试标准和要求，才能够确保USB设备在各种环境下都能够正常工作。
希望本文对USB接口测试标准有所帮助，谢谢阅读。
测试指导类-USB接口指标测试指导书
USB接口指标测试指导书最小部门：（企业业务BG—企业数通产品线—企业数通研发管理部—企业数通硬件开发部）评审记录：所属产品：来源：关键词：USB接口指标；USB眼图测试；Chirp测试；Droop测试。
1、USB接口指标描述为了顺应市场的要求，目前的产品大部分都出的是的接口，而且我们产品都是作为HOST 端，一共提供3种速率，如下表。
当我们的设备是作为HOST端是，数据方向是Down Stream，其关注的指标有：1、信号质量1)眼图测试(Eye-Diagram testing)2)信号速率(Signal Rate)3)包结尾宽度(End of Packet Width)4)JK抖动(JK jitter)5)KJ抖动(KJ jitter)6)连续抖动(Consecutive jitter)7)单调性测试(Monotonic test (for HS))8)上升与下降时间(Rise and Fall times)2、Droop(电压跌落)3、Chirp (Shake Hands)2、USB接口指标测试方法（1）信号质量测试由于我们的设备都是作为HOST端，在这里只介绍HOST端的接口指标测试方法。
1)USB High Speed信号质量测试方法a)连接好被测设备(DUT)、测试夹具和示波器，具体的连接示意图如图1所示。
图 1 High Speed信号质量测试连接示意图b)DUT上电，启动USB测试包，发送测试命令，使USB端口能够发送出测试码流，具体的码流波形如图2所示。
图 2 High Speed信号质量测试波形c)运行示波器上的USB测试软件，在Analyze菜单中选择Test 启动后的界面如图3所示。
在软件的Measurements菜单中选择Select，然后选择High Speed，选择测试项，在这里可以点击Select All，将信号质量的测试项全部选上。
在这个界面上还有一个选项Config，该选项是用来初始化Monotonic Property，选择后的界面如图4所示，是用来初始化边沿的单调性是从高低电平的多少百分比开始Check。
USB数据线检验测试标准
检验工具
抽样数量
1
接触阻抗
将数据线与其配套插头配合后测量其阻抗
每 PIN 引脚阻
抗小于规格书要求
万用表
5pcs/lot
2
自由跌落
将数据线置1米高度，数据线两头的连接器部分从正面和侧面分别跌落
在水泥地板，跌落次数 10 次
数据线外观无明显不良，接线
头无松动现象，
跌落机
5pcs/20K
功能良好
3
USB数据线检验测试标准
1.常规标准要求
序号
检验项目
标准要求
缺陷类别
检验工具
B 类Leabharlann C 类1型号型号，线材型号等对比样品、规格书是否一致
●
目视
2
标识
数据线上贴纸、插头朝向标识是否与样品一致
●
3
胶体
起泡、缩水、起丝、脏污，严重划伤和异色点
●
目视
4
毛刺批锋
不能有刮手的毛刺和批锋
●
酒精、擦布
5
破损
线材、胶体不能破损、缺角，露线材芯现象
数据线应无外
观不良，功能良好
静电枪
5pcs/20K
9
恒定湿热
将数据线放置于温度为40±2℃，相对湿度为93%±2的恒温恒湿箱中48个小时，然后在正常气候条件下恢复
2 小时
外观无异常，数据线端子无腐蚀、满足电气性
能要求
恒温恒湿箱
5pcs/20K
10
盐雾
箱内温度35℃，盐溶液浓度5±1％；PH值为 6.5～7.2；盐雾沉降量为1～2ml/80cm2.h；试验时间24h。试验完成后取出试件，尽快以低于38℃的清水洗去粘附的盐粒，用毛刷或海绵除去其它腐蚀生成物，并使用不含油雾的压缩空气吹干试件。并在
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USB接口指标测试指导书最小部门：（企业业务BG—企业数通产品线—企业数通研发管理部—企业数通硬件开发部）评审记录：主审人评审专家所属产品：来源：关键词：USB接口指标；USB眼图测试；Chirp测试；Droop测试。
1、USB接口指标描述为了顺应市场的要求，目前的产品大部分都出的是USB2.0的接口，而且我们产品都是作为HOST端，USB2.0一共提供3种速率，如下表。
数据速率上升时间Low Speed 1.5Mbps 75~300nsFull Speed 12Mbps 4~20nsHigh Speed 480Mbps >500ps当我们的设备是作为HOST端是，数据方向是Down Stream，其关注的指标有：1、信号质量1)眼图测试(Eye-Diagram testing)2)信号速率(Signal Rate)3)包结尾宽度(End of Packet Width)4)JK抖动(JK jitter)5)KJ抖动(KJ jitter)6)连续抖动(Consecutive jitter)7)单调性测试(Monotonic test (for HS))8)上升与下降时间(Rise and Fall times)2、Droop(电压跌落)3、Chirp (Shake Hands)2、USB接口指标测试方法（1）信号质量测试由于我们的设备都是作为HOST端，在这里只介绍HOST端的接口指标测试方法。
1)USB High Speed信号质量测试方法a)连接好被测设备(DUT)、测试夹具和示波器，具体的连接示意图如图1所示。
图 1 High Speed信号质量测试连接示意图b)DUT上电，启动USB测试包，发送测试命令，使USB端口能够发送出测试码流，具体的码流波形如图2所示。
图 2 High Speed信号质量测试波形c)运行示波器上的USB测试软件，在Analyze菜单中选择USB2.0 Test 启动后的界面如图3所示。
在软件的Measurements菜单中选择Select，然后选择High Speed，选择测试项，在这里可以点击Select All，将信号质量的测试项全部选上。
在这个界面上还有一个选项Config，该选项是用来初始化Monotonic Property，选择后的界面如图4所示，是用来初始化边沿的单调性是从高低电平的多少百分比开始Check。
图 3 TEK USB测试软件图 4 High Speed信号质量测试初始化界面d)选择眼图的模板。
在USB 2.0的标准协议中，一共有4种模板。
其测试模板的选择和端口的数据方向和测试点的选择有关。
协议中定义个测试点的选择及对应的模板选择。
如图5和图6所示。
图 5 USB2.0标准中的测试模型图 6 USB2.0标准中关于模板选择的描述不同的模板对应的眼高和眼宽要求不一样，如果我们的设备是作为HOST端，数据流向是Down Stream，测试点可以选择TP2和TP3，如果设备对外宣传是标准的USB2.0接口，就说明我们设备的USB端口上是可以再加USB延长线的，即USB Cable。
当然测试点的选择就是在TP2了，测试的模板就是Template 1，其对应在示波器上九应该选择Down Stream+Near End，对应示波器的选择如下图所示。
如果设备内部已经经过了连接器和排线，对外宣称只支持USB2.0的设备，那如果我们在设备的出端口测试，模板就选择Template 2，其对应在示波器上应该选择Down Stream+Far End。
其Template 1和Template 2两个模板对应的大小和参数如图7和图8所示。
总结如下，在测试时，根据不同的测试场景，选择不同的测试模板。
Host 测试点模板示波器设置TP2 Template 1 Down Stream+Near End TP3 Template 2 Down Stream+Far End图7 USB2.0标准Template1模板的要求图8 USB2.0标准Template2模板的要求图9 High Speed信号质量测试中Tier的选择选择完模板后，在图9中还有Tier选项需要选择，为了能够支持Hub级联，我们选择Tier6，具体的解释可以参考USB2.0协议中4.1.1。
在图10中还有一个Configure选项，需要初始化使用的通道和选择的探头类型。
如图10所示。
图10 High Speed信号质量测试中Configure的选择e)示波器设置好后，就可以点击示波器软件上的RUN开始测试。
测试完后，会生成一个测试报告，保存测试报告在Utilites选项中，选择Report Generator，如图11所示。
图11 生成High Speed信号质量测试报告其中报告中截图如图12所示，其信号质量的测试数据全部都在报告中体现了，每个测试项是否满足要求，都能在报告中找到答案。
图12 High Speed信号质量测试报告的具体内容2)USB Full Speed信号质量测试方法和High Speed信号质量测试不同的地方在于测试组网的方式不一样，具体的测试组网如图13所示。
有几个需要注意的地方是USB夹具需要5V供电，需要一个将夹具设置到Initial状态，Initial指示灯点亮。
在测试Host Full Speed信号质量时，需要一个Full Speed的从设备，该供设备需要是USB协会认证的设备。
在这里不在用差分探头了，需要用两个单端探头，注意D+，D-的对应连接的示波器通道。
图13 Full Speed信号质量测试组网示意图测试组网连接好后，不用发送测试命令，示波器上就应该能抓到所需要的测试波形，如图14所示。
图14 Full Speed信号质量测试波形示波器其他的测试和High Speed一样，不同的地方是测试项的选择，需要选择Full Speed，其测试项还是选择Select All。
3)USB Low Speed信号质量测试方法Low Speed的测试组网方式和Full Speed测试组网方式一样，不一样的地方是这次用的是Low Speed从设备，可以使用鼠标等从设备。
测试时选择Low Speed，测试项选择Select All。
示波器上就应该能抓到所需要的测试波形，如图15所示。
图15 Low Speed信号质量测试波形与Full Speed测试方法不同的是，测试Low Speed时需要使用Cross，具体的设置在File菜单中，选择Preferences，会弹出一个设置窗口，在此窗口中需要将图中所示的选项选中，选择后就可以用Cross来指示有效的Low Speed信号，具体的设置方法如图16所示。
图16 Low Speed信号质量测试设置方法（2）Droop测试这里的Droop测试就和电源中的USB插拔冲击电流和Drop测试内容是一致的，但是我们通常通过直接插拔U盘来测试VBUS上的电压跌落情况，其实这种测试方法是不正确的，因为根据USB2.0的标准定义是当端口上有100mA的负载变化时，VBUS上的电压跌落要求小于330mV，这里为什么需要关注VBUS的电压跌落，主要担心USB端口负载的变化影响VBUS电源上其他器件和USB端口的正常工作。
测试组网如下图所示，需要将测试夹具连接到被测端口，用USB端口给夹具供电。
需要使用2个探头来来进行测试，一个探头用于Triger，点在负载端口上的VBUS 信号上，另一个探头点在总线的VBUS信号线上。
测试组网如图17所示。
图17 Droop测试组网示意图具体的示波器设置，选择Analyze菜单——>USB2.0 Tset Package——>Measurements，选择High Speed菜单中Droop测试项。
测试时，需要根据实际的应用进行Config设置，如图18所示。
1）需要选择Port，对应测试夹具上实际使用的Port；2）Hub菜单选择，一般我们测试的都是Host，所以选择Bus Powered；3）Select Source选择，需要选择Live/Ref，其中的VBus 需要对应上实际使用的探头对应的通道，Trigger选择点在被测端口的通道上。
设置完后，按下RUN，此时需要将测试夹具上的选择开关从无负载拨到有负载的情况，以便能让示波器抓到电压Droop信号。
图18 Droop测试时示波器设置测试到的波形如图19所示，最后软件会测试到实际的电压Droop。
图19 Droop测试波形（3）Chirp测试USB全速外设备和低速外设是通过在D+或D-数据线上上拉1.5K的电阻予以区别，D+上拉为全速外设，D-上拉为低速外设。
高速外设的识别则比较复杂，需要通过主机与高速外设握手才能识别。
本篇对高速USB握手进行说明。
高速外设最初以全速外设的形式出现，即：高速外设在插入USB HUB/HOST时D+数据线上拉1.5K的电阻；高速握手成功之后，外设与主机进入高速模式。
如果握手不成功，则返回全速模式；在高速握手过程中，USB HUB/HOST要判定与其相连的外设是否支持高速模式，外设也要判定USB HUB/HOST是否支持高速模式。
下面将具体说明高速设备的握手过程，其整个过程如图20所示。
图20 USB HOST与Device整个握手过程1)USB HUB/HOST检测到插入的外设为全速外设，即：D+数据线被上拉；2)USB HUB/HOST检测到插入的外设为全速外设后，复位总线。
即：向总线发送SE0。
此SE0的持续时间不得小于2.5微秒。
本例的SE0持续时间为3.63微秒；3)高速外设检测到总线上SE0的持续时间不小于2.5微秒后，向总线发送Chirp K信号。
此Chirp K信号的持续时间不小于1毫秒且不大于7毫秒。
本例的Chirp K信号持续时间为2毫秒；4)高速外设发送Chirp K信号结束后，总线回复到SE0状态。
如果USB HUB/HOST支持高速模式，则必须在Chirp K信号结束后100微秒内做出响应。
本例中USB HUB/HOST在Chirp K信号结束后58.23微秒时做出了响应；5)HUB/HOST在Chirp K信号结束后100微秒内做出了响应，向总线发送连续的ChirpK/J对，每个Chirp K信号或Chirp J信号的宽度不小于40微秒且不大于60微秒（本例为50-60微秒之间），每2个相邻的Chirp K和Chirp J信号之间的间隔不应大于2.5微秒。
6)高速外设在检测到连续的最少3对Chirp K/J对后，在500微秒内必须断开D+上的上拉电阻，并连接D+和D-上对地的高速端接电阻，完成高速握手，进入高速传输模式。
在USB标准组织中，对EL_33, EL_34, EL_35这三个参数有要求，EL_33是指Chirp Response Time，指高速Device做出Chirp K信号响应结束后，到HOST做出响应的时间，标准要求小于100us；EL_34是指Chirp-K&J Duration，指HOST和Device连续发送每个Chirp K信号或Chirp J信号的宽度，标准要求在40us和60us之间；EL_35是指从HOST发送Chirp-J/K结束到HOST发送SOF信号开始的时间，标准要求在100us和500us之间。