3.干扰类型及测定方法解析

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干扰实验

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干扰实验————————————————————————————————作者: ————————————————————————————————日期:1.干扰实验1.1干扰物对检测结果的影响1.1.1干扰物的干扰效果检测方法的总分析误差有3个主要来源:不精密度、方法特异性偏差、样品特异性偏差。

方法学评价时通常只考虑前2者,样品特异性偏差常被认为与特定样品有关,不属于方法学的计量特征。

但如果一种检测方法本身易受某种干扰物质的影响,则干扰物即可引起系统误差也可引起偶然误差。

当采用特异性更好的方法做为比对方法时,特定病人群体样品中某中干扰物的平均浓度可引起系统偏差,而偏离平均偏差的个体差异则成为总偶然误差的成份。

某些方法中随机干扰效果超过不精密度成为偶然误差的主要来源。

对于个体病人,干扰物的干扰效果可随样品中干扰物浓度的不同发生变化,这可被误认为是病人病情的改变。

干扰物对检测结果的影响可通过一些方法进行补偿或修正,使干扰效果在特定病人群体中减小。

对于常见的内源性干扰物(如胆红素、血红蛋白、脂类等),可通过样品前处理、样品空白、血清基质校准或数学修正等方法减少干扰效果。

1.1.2 干扰效果机制干扰物对分析过程的影响机制有:——化学效应:干扰物通过与试剂竞争或抑制指示反应改变反应结果,也可通过络合或沉淀作用改变分析物的形式。

——物理效应:干扰物可具有与被测量相近的性质,如荧光、颜色、光散射、洗脱位置或检测时的电极反应等。

——基质效应:干扰物可改变样品基质的物理特性,如粘度、表面张力、浊度或离子强度等,从而改变被测量浓度。

——酶抑制作用:干扰物可与金属激活因子形成螯合物、与催化位点结合、氧化必需巯基基团而改变被测量或试剂中酶的活性。

——检测方法的非特异性:干扰物以与被测量同样的方式参与反应。

尽管非特异性与干扰有所不同,但对实验结果的效果的相同的。

如:酮酸在碱性苦味酸法测肌酐时发生反应,吲哚硫酸盐在重氮法测胆红素时发生反应,免疫化学中的交叉反应等。

干扰的分类及抑制

干扰的分类及抑制

干扰的分类根据干扰源种类主要可分为三大类,脉冲干扰、交流声干扰及电磁辐射方式干扰。

脉冲干扰是由于脉冲器件产生的强电磁场耦合进入信道所致:开关电源时均会产生60Hz-2MHz的干扰,这些干扰的谐波分量会落入音、视频频带内;闪电还会产生2KHz-100MHz的脉冲噪声。

交流声干扰主要是由于地线系统设计不合理,不同接地点间存在电位差,使得地电流形成回路所造成的;高压输电线路和交流电气化铁路会引起交流声干扰,如交流电气化铁路产生的干扰除50Hz基频外,还有(2N+1)×50Hz等奇次谐波通过辐射方式干扰该频段内的通讯设备。

现代化的电力系统其本身就是强烈的电磁干扰源,主要通过辐射方式干扰该频段内的通信设备,长期处于电磁辐射干扰情况下,设备寿命被大大缩短。

除去闪电、矿物质等产生的辐射干扰外,人为原因干扰主要有以下几种;1、脉冲放电。

例如切断大电流电路时产生的火花放电,其瞬时电流变率很大,会产生很强的电磁干扰。

它在本质上与雷电相同,只是影响区域较小。

2、工频交变电磁场。

例如在大功率电机、变压器以及输电线等附近的电磁场,它并不以电磁波形式向外辐射,但在近场区会产生严重电磁干扰。

3、射频电磁辐射。

例如无线电广播、电视、微波通信等各种射频设备的辐射,频率范围宽广,影响区域也较大。

经过近年来的发展,铁路上也发展了大量的专用的抗干扰设备,来解决铁路各种设备的控制和通讯、视频信号的干扰问题,如铁路专用线缆、高频无线收发设备、地线回路平衡设备等等。

对于己经出现问题的设备及线路,由于铁路现场返工难度大,以及专用设备造价成本高,使得很多的工程商在出现问题后对于问题的彻底解决望而却步。

导致故障的重复发生。

工程商也疲于解决发生的各种问题。

通过一些常规的技术,也可以在一定程度上解决铁路上发生的干扰问题,在一定程度上解决或降低干扰所带来的影响。

干扰的抑制1、脉冲干扰的抑制对于脉冲干扰,采取的解决办法就是加装滤波网。

在火线端和整流电源的输出端分别对地接入耐高压、大容量的电容器,形成低通滤波电路。

干扰分类分析方法

干扰分类分析方法

1 干扰分类干扰从它的来源可分为系统内部干扰和外部干扰;而从对通话链路的干扰方向来分又可分为上行干扰和下行干扰。

干扰分析图表1 干扰分类2 干扰定位分析方法2.1 下行干扰小区的定义及定位思路2.1.1 下行干扰定义目前网络中还没有直接可反映小区下行干扰程度的指标,本次评估通过MRR 报告统计结果中的下行强信号高质差小区来定位下行干扰小区(排除设备硬件故障、天馈异常及低话务造成的高质差),定义如下:a、MRR报告中下行质差话务比例大于等于5%,且下行弱信号话务比例小于5%的小区为强信号高质差小区;b、接收电平<-90dbm为弱信号话务样本,即小于-90dbm的采样点和 / 下行信号强度采样点总和 = 下行弱信号话务比例。

2.1.2 下行干扰原因定位思路1. 频率干扰频率干扰是常见的网内干扰的原因,通过被干扰系数定位下行频率干扰小区:被干扰系数大于0.4即可认为该小区受到了网络内部的频率干扰,会造成上、下行的网络干扰。

被干扰系数的计算方法请参见:频率干扰分析评估规范(v1[1].0).doc产生频率干扰的原因可能有:a. 频率资源应用瓶颈,在话务密集区域现有频率资源不足造成的分配冲突;覆盖影响(关联)小区集的总载频数大于可用频点数的小区,其中900M网络取大于95,1800M取大于125。

覆盖关联的定义:跟服务小区的CoInfRatio大于3%的小区认为有覆盖关联,这些小区集合做为覆盖关联集合。

具体还可细分为容量是否冗余,如果小区存在可减容余量,即按最忙时话务量和数据业务量折算的配置载波数可减容2个以上或半速率占比配置为20%时可减容载波数大于1的小区。

b. 因小区过覆盖(高层站、覆盖参数设置不当、湖面反射等)等造成的同邻频干扰冲突。

通过动态覆盖分析系统排查发现的过覆盖小区,及被过覆盖小区干扰的小区,都归结为过覆盖造成的频率干扰。

过覆盖小区:以服务小区覆盖方位角120度范围内最近的3个小区的距离做为服务小区的理想覆盖距离,以覆盖关联集合中跟服务小区的距离大于理想覆盖距离1.6倍的小区(过覆盖影响小区)的个数做为疑似过覆盖小区的判断标准,一般大于6个即可认为有过覆盖嫌疑。

干扰类型及测定方法详解课件

干扰类型及测定方法详解课件
静电屏蔽
利用绝缘材料制成的屏蔽体,将静电荷隔离,以避免静电积累和放 电干扰。
磁屏蔽
利用高磁导率材料制成的屏蔽体,将磁场隔离,以减少磁场对周围 环境的影响。
滤波技术
1 2
电源滤波
在电源线路上加装滤波器,以减小电源噪声对信 号的干扰。
信号滤波
在信号线路上加装滤波器,以减小信号噪声对接 收端的影响。
3
EMI滤波
工业数据
在工业自动化系统中,数据干扰可能 导致实时监测和控制数据失真,对生 产过程产生不良影响。
安全风险
网络安全
网络攻击和恶意软件可能利用干扰手段对网络安全构成威胁,如窃取机密信息 、破坏系统等。
人身安全
在某些危险环境下,如化工、矿山等,信号干扰可能导致安全预警系统失效, 增加事故风险。
03
干扰的测定方法
干扰滤波器测试法
测量目的
通过测试干扰滤波器的插入损耗和阻带特性,评估干扰滤波器的性 能和效果。
测量设备
使用信号源、功率计、示波器等设备进行测试。
测试方法
将信号源连接到被测滤波器输入端,调整信号源频率和电平,记录功 率计显示的输入和输出功率值,计算插入损耗。
04
抗干扰措施
屏蔽技术
电磁屏蔽
利用导电或导磁材料制成的屏蔽体,将干扰源隔离,以减少电磁 场对周围环境的影响。
静电干扰可能会导致电路或设备的误 动作,甚至损坏。
常见的静电干扰源包括摩擦起电、接 触起电、剥离起电和感应起电等。
磁场干扰
磁场干扰的形成
电流的变化会产生磁场,而磁场 的变化又会产生电流,因此磁场 干扰通常与电路或设备中的电流
变化有关。
磁场干扰的来源
磁场干扰主要来源于大电流设备、 高频设备、高压设备等。

干扰实验

干扰实验

干扰实验1.干扰实验1.1 干扰物对检测结果的影响1.1.1 干扰物的干扰效果检测方法的总分析误差有3个主要来源:不精密度、方法特异性偏差、样品特异性偏差。

方法学评价时通常只考虑前2者,样品特异性偏差常被认为与特定样品有关,不属于方法学的计量特征。

但如果一种检测方法本身易受某种干扰物质的影响,则干扰物即可引起系统误差也可引起偶然误差。

当采用特异性更好的方法做为比对方法时,特定病人群体样品中某中干扰物的平均浓度可引起系统偏差,而偏离平均偏差的个体差异则成为总偶然误差的成份。

某些方法中随机干扰效果超过不精密度成为偶然误差的主要来源。

对于个体病人,干扰物的干扰效果可随样品中干扰物浓度的不同发生变化,这可被误认为是病人病情的改变。

干扰物对检测结果的影响可通过一些方法进行补偿或修正,使干扰效果在特定病人群体中减小。

对于常见的内源性干扰物(如胆红素、血红蛋白、脂类等),可通过样品前处理、样品空白、血清基质校准或数学修正等方法减少干扰效果。

1.1.2 干扰效果机制干扰物对分析过程的影响机制有:——化学效应:干扰物通过与试剂竞争或抑制指示反应改变反应结果,也可通过络合或沉淀作用改变分析物的形式。

——物理效应:干扰物可具有与被测量相近的性质,如荧光、颜色、光散射、洗脱位置或检测时的电极反应等。

——基质效应:干扰物可改变样品基质的物理特性,如粘度、表面张力、浊度或离子强度等,从而改变被测量浓度。

——酶抑制作用:干扰物可与金属激活因子形成螯合物、与催化位点结合、氧化必需巯基基团而改变被测量或试剂中酶的活性。

——检测方法的非特异性:干扰物以与被测量同样的方式参与反应。

尽管非特异性与干扰有所不同,但对实验结果的效果的相同的。

如:酮酸在碱性苦味酸法测肌酐时发生反应,吲哚硫酸盐在重氮法测胆红素时发生反应,免疫化学中的交叉反应等。

——水的取代效应:非水溶性物质(蛋白、脂类等)可通过取代液体血浆量影响活性测量。

但如测定的是血浆水中被测量的浓度,则不存在水的取代效应。

测绘技术中的干扰源检测方法解析

测绘技术中的干扰源检测方法解析

测绘技术中的干扰源检测方法解析近年来,随着城市建设的快速发展和社会进步的不断推动,测绘技术的应用越来越广泛。

然而,在实际测绘过程中,我们常常会遇到各种各样的干扰源,如地貌起伏、建筑物、树木等,这些干扰源可能导致我们在测绘过程中获取的数据不准确。

因此,如何有效地检测和排除干扰源成为了测绘技术中的重要课题。

在测绘技术中,干扰源检测的方法有很多种,下面将逐一进行解析。

一、影像处理法影像处理法是一种广泛应用于测绘技术中的干扰源检测方法。

这种方法通过对测绘区域的卫星或航空遥感影像进行处理,识别出其中的干扰源。

其中,常用的影像处理技术包括图像分割、图像分类和图像匹配等。

图像分割是指将影像中的各个目标分割开来,使得每个目标在图像中呈现出不同的特征,并且与其他目标之间有明显的边界。

通过适当选择合适的分割算法和参数设置,我们可以准确地将干扰源与其他地物区分开来。

图像分类是指根据影像中各个目标的特征,将其划分为不同的类别。

在进行图像分类时,通常首先需要进行特征提取,即提取影像中每个目标的一些关键特征,如形状、纹理、光谱等。

然后,通过合适的分类算法,将提取到的特征与已知的类别进行匹配,从而实现目标的分类。

图像匹配是指将两幅或多幅影像进行对比,并找出其中相似或相同的特征。

通过图像匹配,我们可以检测到可能存在的重复干扰源,从而采取相应的措施进行处理。

二、激光雷达技术激光雷达技术是一种高精度、高分辨率的测绘技术。

激光雷达通过向目标物体发射激光束,并接收其反射回来的激光信号,从而获取目标物体的三维坐标信息。

在干扰源检测中,激光雷达技术可以通过激光信号的反射强度来判断目标物体的存在与否。

在激光雷达技术中,通常会选取一定的应用场景,如建筑物、树木等,将其作为干扰源进行检测。

通过激光雷达设备对这些目标物体进行扫描,我们可以获取到其反射回来的激光信号。

然后,通过对这些激光信号的处理和分析,如计算反射强度、波峰波谷的检测等,就可以得到目标物体的信息。

3.干扰类型及测定方法详解

3.干扰类型及测定方法详解

b.背景干扰校正方法
(1)氘灯连续光谱背景校正 旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提 供的共振线通过火焰;
连续光谱通过时:测定的为背景吸收 (此时的共振线吸 收相对于总吸收可忽略);
共振线通过时, 测定总吸收; 差值为有效吸收;
(2)塞曼(Zeeman)效应背景校正法
Zeeman效应:在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象;
1. 化学干扰的类型
(1)待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物, 致使参与吸收的基态原子减少。
例:a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。
(2)待测离子发生电离反应,生成离子,不产生吸收, 总吸收强度减弱,电离电位≤6eV的元素易发生电离,火焰 温度越高,干扰越严重,(如碱及碱土元素)。
2.与原子化器有关的干扰
a. 来自原子化器的发射和背景吸收 1)原子化器的发射 来自火焰本身或原子蒸汽中待测元素的发 射,可采用调制方式进行工作,但会增加信号噪声(可适当 增加灯电流,提高光源发射强度来改善信噪比) 2)背景吸收(分子吸收):来自原子化器(火焰或无火焰) 的一种光谱干扰。由气态分子(火焰中OH、CH、CO等分子 或基团、金属的盐类)对光的吸收以及固体微粒(进行低含 量或痕量分析时,大量基体成分进入原子化器,在原子化过 程中形成烟雾或固体颗粒在光路中阻挡光束)对光的散射引 起的,是一种宽频带吸收。——引起部分共振发射线的损失 而产生误差,随波长缩短而增大,同时随基体元素浓度的增 加而增大,并与火焰条件有关(无火焰原子化器较严重)。
分别测得吸光度为:AX,A1,A2,A3,A4……。
以A对浓度c做图得一直线,图中cX点即待测溶液浓度。
该法可消除基体干扰;

串模干扰共模干扰概念以及抑制方法

串模干扰共模干扰概念以及抑制方法
另外,经常采用的抗干扰措施还有隔离,也是通过阻止干扰回路的形成来抑制干扰。这些方法的作用是叠加的。通常,我们会采取其中的一种或几种方法来提高信号测量的抗干扰能力。
事实上,由于二次仪表的外壳为了安全,是需要接地的。而仪表的输入端与外壳之间一定存在分布电容和漏阻抗,因此,浮地不可能把泄漏途径完全切断,因此,必要的时候,通常采用的是双层屏蔽浮地保护。也就是在在仪表的外壳内部再套一个内屏蔽罩,内屏蔽罩与信号输入端已经外壳之间均不做电气连接,内屏蔽层引出一条导线与信号导线的屏蔽层相连接,而信号线的屏蔽在信号源处一点接地,这样使仪表的输入保护屏蔽及信号屏蔽对信号源稳定起来,处于等电位状态。可以大大的提高仪表抗干扰的能力(具体可参见图2.2。)即便这样,其实也是存在一定的泄漏电流的,但是,抑制干扰的措施就是为了让干扰信号强度降低至相对与实际信号强度来说可忽略的程度。
根据仪表输入端干扰的作用方式,可分为串模干扰和共模干扰。串模干扰是指叠加在被测信号上的干扰;共模干扰是加在仪表任一输入端与地之间的干扰。
干扰来自于干扰源,它们在仪表内外都可能存在。在仪表外部,一些大功率的用电设备以及电力设备都可能成为干扰源,而在仪表内部的电源变压器、机电器、开关以及电源线等也均可能成为干扰源
以上的几种方法是主要是针对与不可避免的干扰场形成后的被动抑制措施,但是在实际过程中,我们应当尽量避免干扰场的形成。譬如注意将信号导线远离动力线;合理布线,减少杂散磁场的产生;对变压器等电器元件加以磁屏蔽等Βιβλιοθήκη ,采取主动隔离的措施。 2)
2) 共模干扰的抑制
由于仪表系统信号多为低电平,因此,共模干扰也会使仪表信号产生畸变,带来各种测量的错误。防止共模干扰通常采取的措施如下:
* 接地。通常仪表和信号源外壳为安全起见都接大地,保持零电位。信号源电路以及仪表系统也需要稳定接地。但是如果接地方式不恰当,将形成地回路导入干扰。如图1.3中就是这种情况,两点接地,由于存在地电位差,因此产生共模干扰。因此,通常,仪表回路采用在系统处单点接地。但是事实上,信号源侧对地不可能绝缘,因此,从这个意义上来说,不可能彻底的消除地电位差引进的干扰。所以为了提高仪表的抗干扰能力,通常在低电平测量仪表中都把二次仪表“浮地”,也就是将二次仪表与地绝缘。以切断共模干扰电压的泄漏途径,使干扰无法进入。在实际应用中,我们通常将屏蔽和接地结合起来应用,往往能够解决大部分的干扰问题。如果将屏蔽层在信号侧与仪表侧均接地,则地电位差会通过屏蔽层形成回路,由于地电阻通常比屏蔽层的电阻小的多,所以在屏蔽层上就会形成电位梯度,并通过屏蔽层与信号导线间的分布电容耦合到信号电路中去,因此屏蔽层也必须一点接地。并且,信号导线屏蔽层接地应与系统接地同侧。
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二、物理干扰及抑制
试样在转移、蒸发过程中物理因素变化引起的干扰效应 ,主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小 等。 可通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致的方法来抑 制。
三、化学干扰及抑制
指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效 应,主要影响到待测元素的原子化效率,是主要干扰源。
例:用N2O—C2H2火焰测钛时,在试样和标准溶液中加 入300mgL-1以上的铝盐,使铝对钛的干扰趋于稳定。
(4)电离缓冲剂—加入大量易电离的一种缓冲剂以抑制待 测元素的电离。例:加入足量的铯盐,抑制K、Na的电离。
§8-5 定量分析方法
1.标准曲线法
配制一系列不同浓度的标准试样,由低到高依次分析,
使用的是锐线光源,应用的是共振吸收线,吸收线的数目 比发射线数目少的多,谱线相互重叠的几率较小——吸收 光谱干扰小的重要原因。 原子吸收跃迁的起始态是基态,基态的原子数目受温度波 动影响很小,除了易电离元素的电离效应之外,基态原子 数近似等于总原子数——原子吸收分光光度法干扰比较小 的一个基本原因。 但在实际工作中仍不可忽视干扰的问题,主要有光谱干扰、 物理干扰和化学干扰三类。
2.与原子化器有关的干扰
a. 来自原子化器的发射和背景吸收 1)原子化器的发射 来自火焰本身或原子蒸汽中待测元素的发 射,可采用调制方式进行工作,但会增加信号噪声(可适当 增加灯电流,提高光源发射强度来改善信噪比) 2)背景吸收(分子吸收):来自原子化器(火焰或无火焰) 的一种光谱干扰。由气态分子(火焰中OH、CH、CO等分子 或基团、金属的盐类)对光的吸收以及固体微粒(进行低含 量或痕量分析时,大量基体成分进入原子化器,在原子化过 程中形成烟雾或固体颗粒在光路中阻挡光束)对光的散射引 起的,是一种宽频带吸收。——引起部分共振发射线的损失 而产生误差,随波长缩短而增大,同时随基体元素浓度的增 加而增大,并与火焰条件有关(无火焰原子化器较严重)。
2.化学干扰的抑制
通过在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来抑制或 减少化学干扰: (1)释放剂—与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释 放出来。例:锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。 (2)保护剂—与待测元素形成稳定的络合物,防止干扰物 质与其作用。 例:加入EDTA生成EDTA-Ca,避免磷酸根与钙作用。 (3)饱和剂—加入足够的干扰元素,使干扰趋于稳定。
1. 化学干扰的类型
(1)待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物, 致使参与吸收的基态原子减少。
例:a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b、生成离子,不产生吸收, 总吸收强度减弱,电离电位≤6eV的元素易发生电离,火焰 温度越高,干扰越严重,(如碱及碱土元素)。
校正原理:原子化器加磁场后,随旋转偏振器的转动,当平 行磁场的偏振光通过火焰时,产生总吸收;当垂直磁场的偏 振光通过火焰时,只产生背景吸收;
见下页图示: 方式:光源调制法和共振线调制法(应用较多),后者又分 为恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。 优点:校正能力强(可校正背景A 1.2~2.0);
可校正波长范围宽:190 ~ 900nm ;
仪器分析课程讲义
第八章 原子吸收光谱分析
2004.12
目录
• §8-4 干扰的类型及其抑制 • §8-5 定量分析方法 • §8-6 测定条件的选择 • §8-7 灵敏度、特征浓度及检测极限
• §8-8 原子吸收分光光度分析法特点及其应用
• §8-9 原子荧光光谱法
§8-4 干扰的类型及其抑制
原子吸收分光光度计的特点:
b.背景干扰校正方法
(1)氘灯连续光谱背景校正 旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提 供的共振线通过火焰;
连续光谱通过时:测定的为背景吸收 (此时的共振线吸 收相对于总吸收可忽略);
共振线通过时, 测定总吸收; 差值为有效吸收;
(2)塞曼(Zeeman)效应背景校正法
Zeeman效应:在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象;
一、光谱干扰
待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全,这类干扰主
要来自光源和原子化装置
1. 与光源相关的干扰: 1)在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线。 可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。 2)空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射。
换用纯度较高的单元素灯减小干扰。
3)灯的辐射中有连续背景辐射。 用较小通带或更换灯
分别测得吸光度为:AX,A1,A2,A3,A4……。
以A对浓度c做图得一直线,图中cX点即待测溶液浓度。
该法可消除基体干扰;
不能消除背景干扰;
§8-6 测定条件的选择
1.分析线:一般选待测元素的共振线作为分析线,测量高 浓度时,也可选次灵敏线 2.空心阴极灯电流:在保证有稳定和足够的辐射光通量的 情况下,尽量选较低的电流。 3.火焰:依据不同试样元素选择不同火焰类型。 4.观测高度:调节观测高度(燃烧器高度),可使元素通 过自由原子浓度最大的火焰区,灵敏度高,观测稳定性好。 5.通带(可调节狭缝宽度改变)无邻近干扰线(如测碱及 碱土金属)时,选较大的通带,反之(如测过渡及稀土金属 ),宜选较小通带。
将获得的吸光度A数据对应于浓度作标准曲线,在相同条件下
测定试样的吸光度A数据,在标准曲线上查出对应的浓度值; 或由标准试样数据获得线性方程, 将测定试样吸光度A数据带入计算。 注意在高浓度时,标准曲线易发
生弯曲,压力变宽影响所致;
2.标准加入法
取若干份体积相同的试液(cX),依次按比例加入不同量 的待测物的标准溶液(cO),定容后浓度依次为: cX , cX +cO , cX +2cO , cX +3cO , cX +4 cO ……
§8-7 灵敏度、特征浓度及检测极限
1. 灵敏度及特征浓度
(1)灵敏度(S)——指在一定浓度时,测定值(吸光度) 的增量(ΔA)与相应的待测元素浓度(或质量)的增量 (Δc或Δm)的比值(待测元素的浓度或质量改变一个单 位时吸光度A的变化量): Sc=ΔA/Δc 或 Sm=ΔA/Δm (2)特征浓度——指对应与1%净吸收的待测物浓度(cc), 或对应与0.0044吸光度的待测元素浓度.
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