光缆测试方案

光缆测试方案

1.作业准备

1.1内业技术准备

在开工前组织技术人员认真学习实施性施工组织设计，阅读、审核施工图纸，澄清有关技术问题，熟悉规范和技术标准。制定施工安全保证措施，提出应急预案。对施工人员进行技术交底，对参加施工人员进行上岗前技术培训。

1.2外业技术准备

确认中继段光缆接续完成并全部符合接续测试指标。

2.技术要求

2.1光缆中继段光纤线路的测试值应小于光缆中继段光纤线路衰减计算值。其计

算值为

αl=α0L+αn+αc m(dB)

式中α

——光纤衰减标称值(dB/km)

α——光缆中继段每根光纤接头平均损耗（dB）

单模光纤α≤0.08dB(1310mm、1550mm)

多模光纤α≤0.2dB

αc——光纤活动连接器平均损耗（dB）

单模光纤α多模光纤αc

c

≤0.7dB ≤ 1.0dB

L——光中继段长度（km）

n——光缆中继段内每根光纤接头数

m——光缆中继段内每根光纤活动连接器数

2.2在一个光缆中继段内，每一根光纤接续损耗平均值应符合下列指标：单模光纤α≤0.08dB(1310mm、1550mm)

多模光纤α≤0.2dB

2.3对传输STM-4、STM-16的1310nm、1550nm波长光纤和传输STM-1的1550nm 波长光纤，应进行最大离散反射系数和S点最小回波损耗的测试，测试值应满足下列要求：

2.3.1光缆中继段S、R点间的最大离散反射系数：

STM-11550nm，不大于-25dB

STM-41310nm，不大于-25dB

STM-41550nm，不大于-27dB

STM-161310nm、1550nm，不大于-27dB

2.3.2光缆中继段在S点的最小回波损耗（包括连接器）：

STM-11550nm，不小于20dB

STM-41310nm，不小于20dB

STM-41550nm，不小于24dB

STM-161310nm、1550nm，不小于24dB

2.4对用于高速率密集波分复用（DWDM）系统的光纤需要进行偏振模色散（PMD）的测量：

偏振膜色散（PMD）的值应小于0.2ps/km。

2.5同一中继段光缆必须采用同一厂家光缆，且光缆的电气指数必须一致

2.6电性能测试

1.电性能测试应包括下列内容：

1)直埋光缆线路对地绝缘电阻；

2)防护接地装置地线电阻。

2.为保证光缆金属外护层免遭腐蚀，埋设接续后的单盘直埋光缆，其金属外护层对地绝缘电阻竣工验收指标应不低于10MΩ·km。目前暂允许10%的单盘光缆不低于

2MΩ·km。直埋光缆线路对地绝缘的测试方法应符合原邮电部《光缆线路对地绝缘指标及测试方法》的要求。

3.防护接地装置地线的接地电阻应小于2欧姆。

3.指标测试

1.光缆具体测试比例与要求如下：

1）用OTDR测试光纤通断，测试比例100％；

2）用光源、光功率计测试光纤双波长双向全程衰减，测试比例为所有纤芯的25％，尽量安排测试不同纤芯带或不同纤芯束的纤芯；

3）用OTDR测试光纤双波长单向后向散射曲线，测试比例为所有纤芯的25％，尽量安排测试不同纤芯带或不同纤芯束的纤芯；

4）测试光纤PMD值（中继光缆才需测试），测试比例为所有纤芯的25％，尽量安排测试不同纤芯带或不同纤芯束的纤芯；

5）测试1550nm波长的光缆接头插损，在所有接头中抽测一个，测试比例为所有纤芯的10％，尽量安排测试不同纤芯带或不同纤芯束的纤芯。

注：测试项目2、3、4和5中所选择的纤芯必须不相同。

2.接入光缆指标的测试比例与要求如下：

1）用OTDR测试光纤通断，测试比例100％；

2）用光源、光功率计测试光纤1550nm波长双向全程衰减，测试比例为所有纤芯的25％，尽量安排测试不同纤芯带或不同纤芯束的纤芯；

3）用OTDR测试光纤双波长单向后向散射曲线，测试比例为所有纤芯的25％，尽量安排测试不同纤芯带或不同纤芯束的纤芯；

4）测试割接接头1550nm波长插损值，在所有接头中抽测一个（尽量挑选与主干相接的接头），测试比例为所有纤芯的10％，尽量安排测试不同纤芯带或不同纤芯束的纤芯。

注：测试项目2、3和4中所选择的纤芯必须不相同。

4.施工程序与工艺流程

4.1施工程序

施工准备→测试端连接→读数记录→测试端移除。

4.2工艺流程

图4.2光缆中继段测试工艺流程图

5.施工要求

5.1施工准备

5.1.1检查光时域反射仪（OTDR）、光源、光功率计、PMD测试仪状态正常并在检定有效期内；

5.1.2检查仪表所需使用的电源是否正常。

5.2仪表测试

5.2.1用OTDR测试光中继段光纤接头平均衰减：

图5.2.1光中继段光纤接头平均衰减测试示意图测试步骤：

（1）测试前，清洗测试跳纤插头和法兰；

α = (∑ (a x + b x ) / 2) / n

（2） 用测试跳纤连接 OTDR 和 ODF 架的法兰头；

（3） 利用背向散射法测出每个接头点两个方向接头衰减值(a X 、b X )进行平均得 出光纤接头平均衰减值：

n

x =1

式中 a X --x 点从 A→B 方向测得的接头衰减值；

b X --x 点从 B→A 方向测得的接头衰减值；

n --OTDR 在光中继段上实际测得的接头点数。测试过程中发现损耗值过大时，分

两步进行处理：第一步是用 OTDR 测试光纤是否有故障点，如果有则需处理好故障点再

重新进行光缆中继段测试，第二步是用 OTDR 测试确定没有故障点，则需再次清洗测试 跳纤插头和法兰，以保证测试的准确性。

5.2.2 光中继段线路衰减值α 测试

方法 1：用 OTDR 测光中继段线路衰减值α 测试步骤：

（1） 测试前，清洗测试跳纤插头和法兰；

（2） 用测试跳纤连接 OTDR 和 ODF 架的法兰头（测试连接方式见图 5.2.1）； （3） 存储测试记录。

方法 2：用介入损耗法（光源、光功率计）测光中继段线路衰减值α

图 5.2.2 介入损耗法光缆中继段测试示意图

测试步骤：

（1） 测试前，清洗测试跳纤插头和法兰； （2） 用光纤连接器连接光源和 ODF 架的法兰头；

（3） 在另一端用光纤连接器连接光功率计仪和 ODF 架的法兰头；